JPH01112342A - 論理回路のシミュレーション方法 - Google Patents
論理回路のシミュレーション方法Info
- Publication number
- JPH01112342A JPH01112342A JP62269350A JP26935087A JPH01112342A JP H01112342 A JPH01112342 A JP H01112342A JP 62269350 A JP62269350 A JP 62269350A JP 26935087 A JP26935087 A JP 26935087A JP H01112342 A JPH01112342 A JP H01112342A
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- JP
- Japan
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- rank
- elements
- logic
- logic circuit
- simulation
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- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、論理回路のシミュレーション方法に関する。
従来、この種の論理回路のシミュレーションを実行する
論理シミュレータは、ソフトウェアあるいはハードウェ
アで実現される(ニせよ、1個の被モデルでは1個分の
シミュレーションしか実行出来なかった。(例えば、佐
々木他の17・ミックスト・レベル・シミュレータ・フ
ォー・ラージ・ディジタル・システム・ロジック・ベル
フィケーンヨン(A Mixed LevelSimu
later for Large Digital S
ystemLogic Verification )
” 17th DA Conf。
論理シミュレータは、ソフトウェアあるいはハードウェ
アで実現される(ニせよ、1個の被モデルでは1個分の
シミュレーションしか実行出来なかった。(例えば、佐
々木他の17・ミックスト・レベル・シミュレータ・フ
ォー・ラージ・ディジタル・システム・ロジック・ベル
フィケーンヨン(A Mixed LevelSimu
later for Large Digital S
ystemLogic Verification )
” 17th DA Conf。
pp、 626−63−3(1980))以下余日
〔発明が解決しようとする問題点〕
上述した従来の論理シミュレータは、シミュレータ上に
1モデル分のデータのみ格納するため、実行時には1モ
デル分のみの演算しか行なえない。そのため、故障シミ
ュレーションのように、同一回路に対して多数の故障を
シミュレーションしなければならないものC:対しては
。
1モデル分のデータのみ格納するため、実行時には1モ
デル分のみの演算しか行なえない。そのため、故障シミ
ュレーションのように、同一回路に対して多数の故障を
シミュレーションしなければならないものC:対しては
。
極めて多大な時間が掛るという欠点がある。
本発明による論理回路のシミュレーション方法は2回路
の素子(素子とはゲート、機能ブロック等)および素子
間の接続情報として1モデル分のデータのみ使用し、k
(k≧2)個の素子の演算機構により同時に最大に個の
シミュレーションを実行し、論理の伝播をに個の対応す
るモデル番号及び論理値によって行ない、イベントが起
った素子のみシミュレーションの対象とする。
の素子(素子とはゲート、機能ブロック等)および素子
間の接続情報として1モデル分のデータのみ使用し、k
(k≧2)個の素子の演算機構により同時に最大に個の
シミュレーションを実行し、論理の伝播をに個の対応す
るモデル番号及び論理値によって行ない、イベントが起
った素子のみシミュレーションの対象とする。
又2本発明では、接続情報を含んだ被モデルをn個のサ
ブモデルに分割し、n個のサブモデ−ルを同時(−実行
する。
ブモデルに分割し、n個のサブモデ−ルを同時(−実行
する。
更に2本発明では、素子をプライマリー入力からプライ
マリ−出力、あるいはレジスタからレジスタに向ってラ
ンク付し、ランク単位で実行する。
マリ−出力、あるいはレジスタからレジスタに向ってラ
ンク付し、ランク単位で実行する。
次に1本発明の実施例について図面を参照して説明する
。
。
第2図を参照すると2本発明のシミュレーション方法を
説明するために使用される論理回路は、プライマリ−入
力端子1’0 、11 、12及び16とプライマリ−
出力端子50 、51とを有し、それらの間に論理回路
を構成する素子20.30及び40が接続されている。
説明するために使用される論理回路は、プライマリ−入
力端子1’0 、11 、12及び16とプライマリ−
出力端子50 、51とを有し、それらの間に論理回路
を構成する素子20.30及び40が接続されている。
プライマリ−入力端子10は信号線60を介して素子3
0の一方の入力端子に接続され、プライマリ−入力端子
11及び12はそれぞれ信号線61及び62を介して素
子20の第1及び第2の入力端子に接続され、プライマ
リ−入力端子16は信号線63を介して素子40の一方
の入力端子に接続されている。素子20の出力端子は信
号線64を介して素子30の他方の入力端子に接続され
、信号線65%介して素子40の他方の入力端子に接続
されている。素子30の出力端子は信号線66を介して
プライマリ−出力端子50(−接続され、素子40の出
力端子は信号線67を介してプライマリ−出力端子51
(=接続されている。
0の一方の入力端子に接続され、プライマリ−入力端子
11及び12はそれぞれ信号線61及び62を介して素
子20の第1及び第2の入力端子に接続され、プライマ
リ−入力端子16は信号線63を介して素子40の一方
の入力端子に接続されている。素子20の出力端子は信
号線64を介して素子30の他方の入力端子に接続され
、信号線65%介して素子40の他方の入力端子に接続
されている。素子30の出力端子は信号線66を介して
プライマリ−出力端子50(−接続され、素子40の出
力端子は信号線67を介してプライマリ−出力端子51
(=接続されている。
第2図中の左側の■〜■で示されるパターンは、それぞ
れ本論理回路をシミュレーションする際に使用されるテ
スト・データ(パターン)であり、右側の■〜■で示さ
れるパターンは。
れ本論理回路をシミュレーションする際に使用されるテ
スト・データ(パターン)であり、右側の■〜■で示さ
れるパターンは。
それぞれ本論理回路をシミュレーションした結果を示す
Z結果データ(パターン)である。
Z結果データ(パターン)である。
又、ランクは9図示の如く、プライマリ−入力端子から
プライマリ−出力端子に向ってふられている。すなわち
、プライマリ−入力端子10.11.12及び13には
ランク1が、素子20(二はランク2が、素子30及び
40にはランク3が、プライマリ−出力端子50及び5
1にはランク4がふられている。
プライマリ−出力端子に向ってふられている。すなわち
、プライマリ−入力端子10.11.12及び13には
ランク1が、素子20(二はランク2が、素子30及び
40にはランク3が、プライマリ−出力端子50及び5
1にはランク4がふられている。
第1図は本発明によるシミュレーション方法を説明する
ための図である。第1図(二おいて。
ための図である。第1図(二おいて。
素子群21〜23.31〜33及び41〜43は、それ
ぞれ第2図の素子20.30及び40に対応している。
ぞれ第2図の素子20.30及び40に対応している。
素子群20〜23.30〜33及び40〜46は、シミ
ュレーション時には素子の演算C:対応している。本例
では、素子群の個数には4個となっている(k=4)が
、この個数には2以上の任意の個数に設定できる。従っ
て2本例では、第2図に示された4つのテスト・パター
ン■〜のを、以下に詳細に述べるように、同時に輪環シ
ミュレーションすることができる。
ュレーション時には素子の演算C:対応している。本例
では、素子群の個数には4個となっている(k=4)が
、この個数には2以上の任意の個数に設定できる。従っ
て2本例では、第2図に示された4つのテスト・パター
ン■〜のを、以下に詳細に述べるように、同時に輪環シ
ミュレーションすることができる。
次(−1本発明によるシミュレーション方法(第1図)
で、第2図C:示された論理回路を。
で、第2図C:示された論理回路を。
テスト・パターン■〜■で論理シミュレーションする場
合の動作について説明する。
合の動作について説明する。
1)まず、ランク1のプライマジー入力端子10〜16
にテスト・パターン■〜■が設定される。
にテスト・パターン■〜■が設定される。
11)これらテスト・パターン■〜■は、信号線60〜
66を伝って、ランク2および6の素子の演算機構に伝
わる。テスト・パターン■〜■は、それぞれ第3図に示
されるように。
66を伝って、ランク2および6の素子の演算機構に伝
わる。テスト・パターン■〜■は、それぞれ第3図に示
されるように。
素子の演算機構20〜23.30〜33゜40〜43に
対応して伝わる。
対応して伝わる。
1ii) ランク1での論理値伝播が終ると、ランク
2の素子群20〜25の演算が行われる。この素子群2
0〜23の演算は、同時に行われる。ここで、素子群2
0〜23の出力が前状態に比べて変化しているか否か、
換言すればイベントが発生しているか否かを調べる。本
例の場合、素子群20〜23の初期値を0″とすると、
素子20,22.23が変化した形になる。従っで、素
子20,22.23の出力が、それぞれ次のランク(ラ
ンク3)の素子30,32.33及び40 、42 、
43に伝播する。伝播時には、対応するモデル番号と論
理が伝わる。
2の素子群20〜25の演算が行われる。この素子群2
0〜23の演算は、同時に行われる。ここで、素子群2
0〜23の出力が前状態に比べて変化しているか否か、
換言すればイベントが発生しているか否かを調べる。本
例の場合、素子群20〜23の初期値を0″とすると、
素子20,22.23が変化した形になる。従っで、素
子20,22.23の出力が、それぞれ次のランク(ラ
ンク3)の素子30,32.33及び40 、42 、
43に伝播する。伝播時には、対応するモデル番号と論
理が伝わる。
iv) ランク2での演算が終わると、ランク6の素子
群30〜33.40〜43の演算が同時(二行われ、そ
れらの演算結果がプライマリ−出力端子50.51に伝
播する。
群30〜33.40〜43の演算が同時(二行われ、そ
れらの演算結果がプライマリ−出力端子50.51に伝
播する。
第3図(−は、各パターンが各ランクで、どの素子演算
機構(=対応し、論理シミュレーションされていくかの
様子が示されている。
機構(=対応し、論理シミュレーションされていくかの
様子が示されている。
この様に2本発明のシミュレーション方法では、同時に
複数個のテスト・パターンを論理シミュレーションする
ことができる。
複数個のテスト・パターンを論理シミュレーションする
ことができる。
第4図は第2図の素子入力に定義された0゜1−縮退故
障を示している。fl r f2は、それぞれ素子20
の第1の入力端子(二定後された〇−縮退故障、1−縮
退故障を示しrf5は素子20の第2の入力端子(二定
後された1−縮退故障を示す。同様に+f4+f5は、
それぞれ素子60の一方の入力端子に定義された〇−縮
退故障、1−縮退故障を示しrf6は素子30の他方(
一定義された1−縮退故障を示す。更に+f8は素子4
0の一方の入力端子に定義された〇−縮退故障を示し+
f7 + f9は、それぞれ素子40の他方の入力
端子(二定後された〇−縮退故障。
障を示している。fl r f2は、それぞれ素子20
の第1の入力端子(二定後された〇−縮退故障、1−縮
退故障を示しrf5は素子20の第2の入力端子(二定
後された1−縮退故障を示す。同様に+f4+f5は、
それぞれ素子60の一方の入力端子に定義された〇−縮
退故障、1−縮退故障を示しrf6は素子30の他方(
一定義された1−縮退故障を示す。更に+f8は素子4
0の一方の入力端子に定義された〇−縮退故障を示し+
f7 + f9は、それぞれ素子40の他方の入力
端子(二定後された〇−縮退故障。
1−縮退故障を示す。
第5図は第4図のテスト・パターン■(二対して、ラン
ク2の素子20の入力での故障fi+f2 r f5が
シミュレーションされる例を示している。
ク2の素子20の入力での故障fi+f2 r f5が
シミュレーションされる例を示している。
1)ランク1の入力端子に設定されたテスト・パターン
■は、ランク2および3の素子の演算機構に伝わる。
■は、ランク2および3の素子の演算機構に伝わる。
II)ランク2の素子20は正論理シミュレーションに
使用され、素子21.22及び23には、それぞれ〇−
縮退故@f+、1−縮退故障f2及び1−縮退故障f3
が設定される。
使用され、素子21.22及び23には、それぞれ〇−
縮退故@f+、1−縮退故障f2及び1−縮退故障f3
が設定される。
山)故障設定されると、ランク2の素子20〜23は同
時にシミュレーションされる。素子20の正論理シミュ
レーションの値と異なる素子は、素子21のみであるか
ら、この〇−縮退故障f1が次のランク(ランク3)の
素子31.41に伝わる。伝播時には、対応するモデル
番号と故障番号(本例では、1番目のモデルで、〇−縮
退故障f1)が伝わる。
時にシミュレーションされる。素子20の正論理シミュ
レーションの値と異なる素子は、素子21のみであるか
ら、この〇−縮退故障f1が次のランク(ランク3)の
素子31.41に伝わる。伝播時には、対応するモデル
番号と故障番号(本例では、1番目のモデルで、〇−縮
退故障f1)が伝わる。
iv)次に、ランク3で、正論理シミュレーションと伝
播した〇−縮退故障f1のシミュレーションが同時に実
行され、結果が比較される。
播した〇−縮退故障f1のシミュレーションが同時に実
行され、結果が比較される。
その結果、素子31の出力のみ正論理の値と異なるので
、〇−縮退故障f1は、プライマリ−出力端子50まで
伝播し、故障検出されたことになる。
、〇−縮退故障f1は、プライマリ−出力端子50まで
伝播し、故障検出されたことになる。
第6図(二は、同様に、第4図のテスト・パターン■に
対して、ランク3の素子60の入力での故障f4 r
f5 t f6をシミュレーションする例が示されてい
る。この例では、1−縮退故障f6が検出される。
対して、ランク3の素子60の入力での故障f4 r
f5 t f6をシミュレーションする例が示されてい
る。この例では、1−縮退故障f6が検出される。
以上のよう(二1本発明によれば、複数の故障(一般に
は、(k−1)個の故障1本例では6個の故障)を同時
(ニシミュレーションすることができる。
は、(k−1)個の故障1本例では6個の故障)を同時
(ニシミュレーションすることができる。
本実施例では、規模の小さい論理回路に適用した例を示
したが、大規模な論理回路(二対しては1回路をn個の
サブモデルに分割して、ランクの等しいサブモデル内の
素子を同時にシミュレーションすれば、処理速度は更に
速くなる。
したが、大規模な論理回路(二対しては1回路をn個の
サブモデルに分割して、ランクの等しいサブモデル内の
素子を同時にシミュレーションすれば、処理速度は更に
速くなる。
この様な分割による割付は、演算機構をハードウェア化
して実行する場合、特C:有効である。
して実行する場合、特C:有効である。
以上説明したように本発明は、k(k≧2)個の演算機
構を有することにより、論理シミュレーション時にはに
個のテスト・パターンを同時にシミュレーションでfi
、 故障シミュレーション時には(k−1)個の故障を
同時にシミュレーションできるという効果がある。
構を有することにより、論理シミュレーション時にはに
個のテスト・パターンを同時にシミュレーションでfi
、 故障シミュレーション時には(k−1)個の故障を
同時にシミュレーションできるという効果がある。
第1図は本発明(:よるシミュレーション方法を説明す
るための図、第2図は本発明のシミュレーション方法を
説明するために使用される論理回路を示す回路図、第3
図は第1図の回路を用いて、複数のテスト・パターンに
対する複数のモデルの演算過程を示す図、第4図は第2
図に示された論理回路の素子入力に定義された故障を示
す図、第5図は第4図の回路を用いて。 テスト・パターン■に対するランク2の素子の入力での
故障f1 + f2 + f3をシミュレーション子の
入力での故障f4 、f5 + f6をシミュレーショ
ンする例を示す図である。 10〜13・・・プライマリー入力、20〜23゜30
〜33.40〜43・・・素子、50.51・・・プラ
イマリ−出力端子、60〜67・・・素子間の信号線。 第2図 −ランク 第6図 −一ランク 0100ロコー 3図
るための図、第2図は本発明のシミュレーション方法を
説明するために使用される論理回路を示す回路図、第3
図は第1図の回路を用いて、複数のテスト・パターンに
対する複数のモデルの演算過程を示す図、第4図は第2
図に示された論理回路の素子入力に定義された故障を示
す図、第5図は第4図の回路を用いて。 テスト・パターン■に対するランク2の素子の入力での
故障f1 + f2 + f3をシミュレーション子の
入力での故障f4 、f5 + f6をシミュレーショ
ンする例を示す図である。 10〜13・・・プライマリー入力、20〜23゜30
〜33.40〜43・・・素子、50.51・・・プラ
イマリ−出力端子、60〜67・・・素子間の信号線。 第2図 −ランク 第6図 −一ランク 0100ロコー 3図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、回路の素子および素子間の接続情報として1モデル
分のデータのみを使用し、k(k≧2)個の素子の演算
機構により同時に最大k個のシミュレーションを実行し
、論理の伝播をk個の対応するモデル番号及び論理値に
よって行ない、イベントが起った素子のみシミュレーシ
ョンの対象とする論理回路のシミュレーション方法。 2、接続情報を含んだ被モデルをn個のサブモデルに分
割し、n個のサブモデルを同時に実行する特許請求の範
囲第1項に記載の論理回路のシミュレーション方法。 3、素子をプライマリー入力からプライマリー出力、あ
るいはレジスタからレジスタに向ってランク付し、ラン
ク単位で実行する特許請求の範囲第1項又は第2項に記
載の論理回路のシミュレーション方法。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62269350A JPH0827743B2 (ja) | 1987-10-27 | 1987-10-27 | 論理回路のシミュレーション方法 |
| US07/263,217 US4961156A (en) | 1987-10-27 | 1988-10-27 | Simulation capable of simultaneously simulating a logic circuit model in response to a plurality of input logic signals |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62269350A JPH0827743B2 (ja) | 1987-10-27 | 1987-10-27 | 論理回路のシミュレーション方法 |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7236561A Division JP2972558B2 (ja) | 1995-09-14 | 1995-09-14 | 論理回路の故障シミュレーション方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01112342A true JPH01112342A (ja) | 1989-05-01 |
| JPH0827743B2 JPH0827743B2 (ja) | 1996-03-21 |
Family
ID=17471153
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62269350A Expired - Lifetime JPH0827743B2 (ja) | 1987-10-27 | 1987-10-27 | 論理回路のシミュレーション方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0827743B2 (ja) |
-
1987
- 1987-10-27 JP JP62269350A patent/JPH0827743B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0827743B2 (ja) | 1996-03-21 |
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