JPH01113657A - 陽イオン分析装置 - Google Patents
陽イオン分析装置Info
- Publication number
- JPH01113657A JPH01113657A JP62271560A JP27156087A JPH01113657A JP H01113657 A JPH01113657 A JP H01113657A JP 62271560 A JP62271560 A JP 62271560A JP 27156087 A JP27156087 A JP 27156087A JP H01113657 A JPH01113657 A JP H01113657A
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- Japan
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- switching valve
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- Treatment Of Liquids With Adsorbents In General (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は、被測定液中の陽イオンを分析する陽イオン分
析装置を校正する方法に閏づる。
析装置を校正する方法に閏づる。
〈従来の技術〉
第４図は従来の陽イオン分析装置の構成訳明図である。
この図において、送液ポンプ２ａが駆動すると、溶離液
槽１ａ内の溶離液が、送液ポンプ２ａ→第１切換弁３の
第１及び第２の接続口３ａ。
槽１ａ内の溶離液が、送液ポンプ２ａ→第１切換弁３の
第１及び第２の接続口３ａ。
３ｂ→第２切換弁４の第１及び第２の接続口４ａ。
４ｂ→分離カラム５→検出器６を経由し、廃液槽１Ｃへ
と流れる。送油ポンプ２ｂが駆動すると、試料Ｗ１１ａ
内の被測定液が、送液ポンプ２ｂ→第２切換弁４の第４
及び第３の接続口４ｄ、４ｃ→濃縮カラム４９→第２切
換弁４の第６及び第５の接続口４ｆ、４ｅを゛経由し、
廃液槽１ｄへと流れる。尚、分離カラム５と検出器６は
、恒温槽γ内に収納されて一定温度（例えば４０６Ｃ）
に保たれることが多い。このような構成からなる従来の
装置においで、シリンジ３ｈを用いて一定量の被測定液
が第１切換弁３の第５接続口３ｅに注入されると、該被
測定液によって計量管３Ｑ内が満たされるようになる。
と流れる。送油ポンプ２ｂが駆動すると、試料Ｗ１１ａ
内の被測定液が、送液ポンプ２ｂ→第２切換弁４の第４
及び第３の接続口４ｄ、４ｃ→濃縮カラム４９→第２切
換弁４の第６及び第５の接続口４ｆ、４ｅを゛経由し、
廃液槽１ｄへと流れる。尚、分離カラム５と検出器６は
、恒温槽γ内に収納されて一定温度（例えば４０６Ｃ）
に保たれることが多い。このような構成からなる従来の
装置においで、シリンジ３ｈを用いて一定量の被測定液
が第１切換弁３の第５接続口３ｅに注入されると、該被
測定液によって計量管３Ｑ内が満たされるようになる。
この状態で、第１切首弁３がオンにされ内部流路が第４
図の実線接続状態から破線接続状態に切換えられると、
上記計量管３ｇ内の被測定液が溶離液で搬送されて分離
カラム５に至り、ここで該被測定液に含まれている陽イ
オンが分離され、その後、検出器６で検出される。
図の実線接続状態から破線接続状態に切換えられると、
上記計量管３ｇ内の被測定液が溶離液で搬送されて分離
カラム５に至り、ここで該被測定液に含まれている陽イ
オンが分離され、その後、検出器６で検出される。
このようにして検出器６で検出された信号は、図示しな
い表示装置（例えば記録計）に導かれクロ、−マドグラ
ムを描くようになる。
い表示装置（例えば記録計）に導かれクロ、−マドグラ
ムを描くようになる。
一方、上記分離カラム５は次のよ・うにしてチェックさ
れていた。゛即ち、シリンジ３ｈを用い、２ｏｐｐｍの
ＭＯ２＋イオンと５０ｐｐｍのＣＢ ２＋イオンを含む
試料（ｌ！下、「第１試料」という）を一定量（例えば
１００μりだけ第１１ｉ７］換弁３の第５接続口３ｅに
注入し、上述のようにして表示装置に描かれたクロマト
グラムから分離カラム５の分離性能をチェックするよう
にしていた。また、上記濃縮カラム４ｑは次のようにし
てチェックされていた。即ら、５ｐｐｂのＭ ｏ ２＋
イオン。
れていた。゛即ち、シリンジ３ｈを用い、２ｏｐｐｍの
ＭＯ２＋イオンと５０ｐｐｍのＣＢ ２＋イオンを含む
試料（ｌ！下、「第１試料」という）を一定量（例えば
１００μりだけ第１１ｉ７］換弁３の第５接続口３ｅに
注入し、上述のようにして表示装置に描かれたクロマト
グラムから分離カラム５の分離性能をチェックするよう
にしていた。また、上記濃縮カラム４ｑは次のようにし
てチェックされていた。即ら、５ｐｐｂのＭ ｏ ２＋
イオン。
８ ｐｐｂのＣａ’＋イＡン、２ｐｐｍのＮ２Ｈ４イオ
ン、 ２ｏｏｐｐｂのＮＨａ＋イオン、及びＢとしての
濃度が５ｐｐｍの８０３３−イオンを含む試料（以下、
［第２試料、１という）を上記試料４ｆｆ１ｂ内に貯溜
し、該試料中のＭｇ’＋イオンを上述のようにして分析
し上記クロマトグラムにおけるＭＱ２＋イオンのピーク
高さから濃縮カラム４ｇの劣化状態をチェックするよう
にしていた。
ン、 ２ｏｏｐｐｂのＮＨａ＋イオン、及びＢとしての
濃度が５ｐｐｍの８０３３−イオンを含む試料（以下、
［第２試料、１という）を上記試料４ｆｆ１ｂ内に貯溜
し、該試料中のＭｇ’＋イオンを上述のようにして分析
し上記クロマトグラムにおけるＭＱ２＋イオンのピーク
高さから濃縮カラム４ｇの劣化状態をチェックするよう
にしていた。
更に、上述のような装置の校正は、次のようにして行わ
れていた。即ち、４ｐｐｂのＭ０２＋イオン、４ｐｐｂ
のＱ ａ２＋イオン、 ２ｏｏｐｐｂの′ＮＨａ＋イオ
ン、２ｐｐｍのＮ２Ｈ４イオン、及びＢとしてのｍ度が
５ｐｐｍのＢＯ３’−イオンを含む試料（以下、「第３
試料」という）と上記第２試料を上記試料１！Ｉｃ内に
交互に貯溜し、該試料中の各成分イオンを上述のように
して分析し上記クロマトグラムから各成分の検量線を作
成し、該検量線に基いて上記装置の２点校正を行なうよ
−）にしていた。
れていた。即ち、４ｐｐｂのＭ０２＋イオン、４ｐｐｂ
のＱ ａ２＋イオン、 ２ｏｏｐｐｂの′ＮＨａ＋イオ
ン、２ｐｐｍのＮ２Ｈ４イオン、及びＢとしてのｍ度が
５ｐｐｍのＢＯ３’−イオンを含む試料（以下、「第３
試料」という）と上記第２試料を上記試料１！Ｉｃ内に
交互に貯溜し、該試料中の各成分イオンを上述のように
して分析し上記クロマトグラムから各成分の検量線を作
成し、該検量線に基いて上記装置の２点校正を行なうよ
−）にしていた。
〈発明が解決しようとする問題点〉
然しながら、上記第２試料や第３試料は非常に低１１度
でコンタミネーションが生じ易く、これら試料を正確に
調整することが困難で結果的に正確な校正ができないと
いう欠点があった。また、上記第２試料や第３試料は保
存ができず、上記装置の校正の度に：１１整しなければ
ならず且つ１つの試料を調整するのに約１時間もかかる
という欠点があった。更に、上述の従来例においては試
料が３種類も必要であるく即も、第１〜第３の試料）と
いう欠点があった。また、上記濃縮カラムのチェックに
おいて、上記装置の校正などで使用された試料と上記第
２試料がコンタミネーションを起こし、結果的に濃縮カ
ラム４９を正確にチェックできないという欠点があった
。
でコンタミネーションが生じ易く、これら試料を正確に
調整することが困難で結果的に正確な校正ができないと
いう欠点があった。また、上記第２試料や第３試料は保
存ができず、上記装置の校正の度に：１１整しなければ
ならず且つ１つの試料を調整するのに約１時間もかかる
という欠点があった。更に、上述の従来例においては試
料が３種類も必要であるく即も、第１〜第３の試料）と
いう欠点があった。また、上記濃縮カラムのチェックに
おいて、上記装置の校正などで使用された試料と上記第
２試料がコンタミネーションを起こし、結果的に濃縮カ
ラム４９を正確にチェックできないという欠点があった
。
本発明は、かかる状況に鑑みてなされたものであり、そ
の目的は、１１類の試料で分離カラム５゜濃縮カラム４
９．及び上記装置の校正を容易且つ正確に行−なえるよ
うな陽イオン分析装置の校正方法を提供することにある
。
の目的は、１１類の試料で分離カラム５゜濃縮カラム４
９．及び上記装置の校正を容易且つ正確に行−なえるよ
うな陽イオン分析装置の校正方法を提供することにある
。
く問題点を解決するための手段〉
上述のような問題点を解決する本発明の特徴は、陽イオ
ン分析装置の校正方法において、第１切換弁を前記第２
切換弁と前記分離カラムとの間に配設し、前記ｍ縮カラ
ムに一定の試料を通さずに得られる前記り０７１−グラ
ムから前記分離カラムをチェックし前記′ＩＡ縮カラム
に前記試料を通して得られる前記りＯマドグラムから前
記濃縮カラムをチェックし、且つ、前記試料で前記陽イ
オン分析装置の１点校正を行なうことにある。
ン分析装置の校正方法において、第１切換弁を前記第２
切換弁と前記分離カラムとの間に配設し、前記ｍ縮カラ
ムに一定の試料を通さずに得られる前記り０７１−グラ
ムから前記分離カラムをチェックし前記′ＩＡ縮カラム
に前記試料を通して得られる前記りＯマドグラムから前
記濃縮カラムをチェックし、且つ、前記試料で前記陽イ
オン分析装置の１点校正を行なうことにある。
〈実施例〉
以下、本発明について図を用いて詳細に説明する。第１
図は本発明実施例を説明するための陽イオン分析装置の
構成説明図であり、図中、第４図と同一記号は同一意味
を持たせて説明しここでの重複説明は省略する。また、
８は純水を貯溜してなる純水槽、９は三方電磁弁である
。更に、第２図及び第３図は上記陽イオン分析装置の動
作を説明するためのタイムチャー］〜であり、以下、こ
の図を使用しながら本発明実施例について説明してゆく
。
図は本発明実施例を説明するための陽イオン分析装置の
構成説明図であり、図中、第４図と同一記号は同一意味
を持たせて説明しここでの重複説明は省略する。また、
８は純水を貯溜してなる純水槽、９は三方電磁弁である
。更に、第２図及び第３図は上記陽イオン分析装置の動
作を説明するためのタイムチャー］〜であり、以下、こ
の図を使用しながら本発明実施例について説明してゆく
。
まず、分離カラム５のチェック方法について説明する。
第１図及び第２図において、最初、第１ポンプ２ａ、第
２ポンプ２ｂ、第２切換弁４．及び三方電磁弁９がオン
とされ、第１切換弁３がオフにされる。このため、第１
ポンプ２ａが駆動して、溶離液槽１ａ内の溶離液が、送
液ポンプ２ａ→第２切換弁４の第１及び第６の接続口４
ａ、４ｆ→漠縮力ラム４ｇ→第１切換弁３の第１及び第
２の接続口３ａ、３ｂ→第２切換弁４の第３及び第２の
接続口４ｃ、４ｂ→分離カラム５→検出器６を経由し、
廃液槽１Ｃへと流れる。送液ポンプ２ｂが駆動して、試
料槽１ｂ内の被測定液が、三方電磁弁９→送液ポンプ２
ｂ→第２切換弁４の第４及び第５の接続口４ｄ、４ｅを
経由し廃液槽１ｄへ流れる。このような状態において時
間Ｔ１のとき、１．６ｐｐｍのＭｇ’＋イオン、１．ｅ
ｐｐｍのＣａ２＋イオン、４０ｐｐｍのＮＨ４÷イオン
、４００μ！ｍのＮ２Ｈ４イオン、及びＢとしての濃度
が１１０００ｐｐの８０３ ’″″″イオンむ試料（以
下、「第４試料」という）を、シリンジ３ｈを用いて一
定量（例えば１ Ｆ［’）だけ第１切換弁３の第４接続
口３ｄに注入すると、該試料によって計量管３Ｃｌ（例
えば内容積が１００μ！）内が満たされるようになる。
２ポンプ２ｂ、第２切換弁４．及び三方電磁弁９がオン
とされ、第１切換弁３がオフにされる。このため、第１
ポンプ２ａが駆動して、溶離液槽１ａ内の溶離液が、送
液ポンプ２ａ→第２切換弁４の第１及び第６の接続口４
ａ、４ｆ→漠縮力ラム４ｇ→第１切換弁３の第１及び第
２の接続口３ａ、３ｂ→第２切換弁４の第３及び第２の
接続口４ｃ、４ｂ→分離カラム５→検出器６を経由し、
廃液槽１Ｃへと流れる。送液ポンプ２ｂが駆動して、試
料槽１ｂ内の被測定液が、三方電磁弁９→送液ポンプ２
ｂ→第２切換弁４の第４及び第５の接続口４ｄ、４ｅを
経由し廃液槽１ｄへ流れる。このような状態において時
間Ｔ１のとき、１．６ｐｐｍのＭｇ’＋イオン、１．ｅ
ｐｐｍのＣａ２＋イオン、４０ｐｐｍのＮＨ４÷イオン
、４００μ！ｍのＮ２Ｈ４イオン、及びＢとしての濃度
が１１０００ｐｐの８０３ ’″″″イオンむ試料（以
下、「第４試料」という）を、シリンジ３ｈを用いて一
定量（例えば１ Ｆ［’）だけ第１切換弁３の第４接続
口３ｄに注入すると、該試料によって計量管３Ｃｌ（例
えば内容積が１００μ！）内が満たされるようになる。
この状態で時間Ｔ２のとき、第１切換弁３がオンにされ
ると、その内部流路が第４図の実線接続状態から破線接
続状態に切換えられ、ｌ：記計請管３ｑ内の試料が溶離
液で搬送されて分離カラム５に至り、ここで該試料に含
まれている陽イオンが分離され、その後、検出器６で検
出される。このようにして検出器６で検出された信号は
、図示しない表示装置（例えば記録計）に導かれクロマ
トグラムを描き、このクロマトグラムから分離カラム５
の良否（性能）がチェックされるようになる。
ると、その内部流路が第４図の実線接続状態から破線接
続状態に切換えられ、ｌ：記計請管３ｑ内の試料が溶離
液で搬送されて分離カラム５に至り、ここで該試料に含
まれている陽イオンが分離され、その後、検出器６で検
出される。このようにして検出器６で検出された信号は
、図示しない表示装置（例えば記録計）に導かれクロマ
トグラムを描き、このクロマトグラムから分離カラム５
の良否（性能）がチェックされるようになる。
次に、ａｍカラム４Ｑのチェック方法と陽イオン分析装
置の校正方・法について説明する。第１図及び第３図に
おいて、最初、第１ポンプ２ａと第２ポンプ２ｂがオン
とされ、三方電磁弁９．第１切換弁３．及び第２切換弁
４がオフにされる。このため、第１ポンプ２ａが駆動し
て、溶離液槽１ａ内の溶離液が、送液ポンプ２ａ−＋ｆ
ｊ５２切換弁４の第１及び第２の接続口４ａ、４ｂ→分
離カラム５→検出器６を経由し廃液槽１Ｃへ流れる。送
液ポンプ２ｂが駆動して、純水槽ｉ内の純水が、三方電
磁弁９→送液ポンプ２ｂ→第２切換弁４の第４及び第３
の接続口４ｄ、４ｃ→第１切換弁３の第２及び第１の接
続口３ｂ、３ａ−＋１縮カラム４９→第２切換弁４の第
６及び第５の接続口４ｆ。
置の校正方・法について説明する。第１図及び第３図に
おいて、最初、第１ポンプ２ａと第２ポンプ２ｂがオン
とされ、三方電磁弁９．第１切換弁３．及び第２切換弁
４がオフにされる。このため、第１ポンプ２ａが駆動し
て、溶離液槽１ａ内の溶離液が、送液ポンプ２ａ−＋ｆ
ｊ５２切換弁４の第１及び第２の接続口４ａ、４ｂ→分
離カラム５→検出器６を経由し廃液槽１Ｃへ流れる。送
液ポンプ２ｂが駆動して、純水槽ｉ内の純水が、三方電
磁弁９→送液ポンプ２ｂ→第２切換弁４の第４及び第３
の接続口４ｄ、４ｃ→第１切換弁３の第２及び第１の接
続口３ｂ、３ａ−＋１縮カラム４９→第２切換弁４の第
６及び第５の接続口４ｆ。
４ｅを経由し、廃液槽１Ｃへと流れる。このような状態
において時間Ｔ１のとぎ、上記第４試料をシリンジ３ｈ
を用いて一定量（例えば１７ＦＬｌ）だ【ノ第１切換弁
３の第４接続口３ｄに注入すると、該試料によって計量
管３ｇ（例えば内容積が１００μｌ）内が満たされるよ
うになる。この状態で時間Ｔ２のとき、第１切換弁３が
オンにされると、その内部流路が第４図の実線接続状態
から破ね接続状態に切換えられ上記計量管３ｑ内の試料
が上記純水で搬送されて濃縮カラム４ｇに至り、ここで
該試料に含まれている陽イオンが濃縮・保持される。こ
の状態で時間Ｔ３のとき、第２切換弁４がオンにされる
と、その内部流路が第１図の実線接続状態から破線接続
状態に切換えられ、上記濃縮カラム４ｑ内に濃縮・保持
されていた陽イオンは溶離液に搬送されて分離カラム５
に至ってクロマトグラフィツクに分離され、その後、検
出器６で検出される。このようにして検出器６で検出さ
れた信号は、図示しない表示装置（例えば記録計）に導
かれクロマトグラムを描き、このクロマトグラムにおけ
る各成分のビーク面積と前記分離カラム５の良否チェッ
クのときに作成されたり［１ントグラムにおける各成分
のピーク面積とを比較して濃縮カラム４９の劣化状態が
チェックされる。また、このような濃縮カラム４ｇのチ
ェックや前記分離カラム５のチェックで異常がないこと
が確認されたら、陽イオン分析装置の校正が行われる。
において時間Ｔ１のとぎ、上記第４試料をシリンジ３ｈ
を用いて一定量（例えば１７ＦＬｌ）だ【ノ第１切換弁
３の第４接続口３ｄに注入すると、該試料によって計量
管３ｇ（例えば内容積が１００μｌ）内が満たされるよ
うになる。この状態で時間Ｔ２のとき、第１切換弁３が
オンにされると、その内部流路が第４図の実線接続状態
から破ね接続状態に切換えられ上記計量管３ｑ内の試料
が上記純水で搬送されて濃縮カラム４ｇに至り、ここで
該試料に含まれている陽イオンが濃縮・保持される。こ
の状態で時間Ｔ３のとき、第２切換弁４がオンにされる
と、その内部流路が第１図の実線接続状態から破線接続
状態に切換えられ、上記濃縮カラム４ｑ内に濃縮・保持
されていた陽イオンは溶離液に搬送されて分離カラム５
に至ってクロマトグラフィツクに分離され、その後、検
出器６で検出される。このようにして検出器６で検出さ
れた信号は、図示しない表示装置（例えば記録計）に導
かれクロマトグラムを描き、このクロマトグラムにおけ
る各成分のビーク面積と前記分離カラム５の良否チェッ
クのときに作成されたり［１ントグラムにおける各成分
のピーク面積とを比較して濃縮カラム４９の劣化状態が
チェックされる。また、このような濃縮カラム４ｇのチ
ェックや前記分離カラム５のチェックで異常がないこと
が確認されたら、陽イオン分析装置の校正が行われる。
即ち、試料中の各成分イオンを上述のようにして分析し
上記クロマトグラムから各成分の１点校正が行なわれる
。
上記クロマトグラムから各成分の１点校正が行なわれる
。
〈発明の効果〉
以上詳しく説明したような本発明の実施例によれば、１
種類の試料で分離力、ラム５．Ｊ縮カラム４Ｃ１，及び
上記装置の校正を容易且つ正確に行なえるような陽イオ
ン分析装置の校正方法が実現する。即ち、試料の濃度が
２００倍濃いものを使用できる上、コンタミネーション
も生じ難くなり、前記従来例では試料の調整誤差が最大
１００％程度であったのに本発明によれば最大でも５％
程度に減少した。また、試料のコンタミネーションが生
じ難くなったため、１点校正が可能となり試料も１種類
で済むようになった。また、第２切換弁４や第１切換弁
３の切り換えだけで分離カラム５と濃縮カラム４ｇが両
方チェックできるようになったうえ、濃縮カラム４ｇの
劣化状態のチェックが試料コンタミネーションの影響を
受番プることなく正確にできるようになった。更に、分
離カラムチェック、′ａ縮カラムヂエック、及びＩｆｆ
の校正が同じ試料でできるうえ１点校正が可能となった
ため、前記従来例で３種類必要だった試料が本発明によ
れば１８ｉ類で済むようになった。
種類の試料で分離力、ラム５．Ｊ縮カラム４Ｃ１，及び
上記装置の校正を容易且つ正確に行なえるような陽イオ
ン分析装置の校正方法が実現する。即ち、試料の濃度が
２００倍濃いものを使用できる上、コンタミネーション
も生じ難くなり、前記従来例では試料の調整誤差が最大
１００％程度であったのに本発明によれば最大でも５％
程度に減少した。また、試料のコンタミネーションが生
じ難くなったため、１点校正が可能となり試料も１種類
で済むようになった。また、第２切換弁４や第１切換弁
３の切り換えだけで分離カラム５と濃縮カラム４ｇが両
方チェックできるようになったうえ、濃縮カラム４ｇの
劣化状態のチェックが試料コンタミネーションの影響を
受番プることなく正確にできるようになった。更に、分
離カラムチェック、′ａ縮カラムヂエック、及びＩｆｆ
の校正が同じ試料でできるうえ１点校正が可能となった
ため、前記従来例で３種類必要だった試料が本発明によ
れば１８ｉ類で済むようになった。
４、 図面１７）ｆｉｌｌな説明
第１図は本発明の詳細な説明するための陽イオン分析装
置の構成説明図、第２図及び第３図はタイムチャート、
第４図は従来例を説明するための陽イオン分析装置の構
成説明図である。
置の構成説明図、第２図及び第３図はタイムチャート、
第４図は従来例を説明するための陽イオン分析装置の構
成説明図である。
１ａ〜１ｄ、８・・・・・・槽、２ａ、２ｂ・・・・・
・送液ポンプ、３．４・・・・・・切換弁、５・・・・
・・分離カラム、６・・・・・・検出器、７・・・・・
・恒温槽、９・・・・・・三方電磁弁
・送液ポンプ、３．４・・・・・・切換弁、５・・・・
・・分離カラム、６・・・・・・検出器、７・・・・・
・恒温槽、９・・・・・・三方電磁弁
Claims (1)
- 一定の内容積をもつ計量管を有する第１切換弁と、濃縮
カラムを有する第２切換弁と、被測定液中の陽イオンを
クロマトグラフ的に分離する分離カラムと、検出器とを
備え、該検出器の出力で描かれるクロマトグラムから被
測定液中の陽イオンを分析するように構成されている陽
イオン分析装置を校正する方法において、前記第１切換
弁を前記第２切換弁と前記分離カラムとの間に配設し、
前記濃縮カラムに一定の試料を通さずに得られる前記ク
ロマトグラムから前記分離カラムの分離性能をチェック
し前記濃縮カラムに前記試料を通して得られる前記クロ
マトグラムから前記濃縮カラムの劣化状態をチェックし
、且つ、前記試料で前記陽イオン分析装置の１点校正を
行なうことを特徴とする陽イオン分析装置の校正方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62271560A JPH0820431B2 (ja) | 1987-10-27 | 1987-10-27 | 陽イオン分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62271560A JPH0820431B2 (ja) | 1987-10-27 | 1987-10-27 | 陽イオン分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01113657A true JPH01113657A (ja) | 1989-05-02 |
| JPH0820431B2 JPH0820431B2 (ja) | 1996-03-04 |
Family
ID=17501779
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62271560A Expired - Fee Related JPH0820431B2 (ja) | 1987-10-27 | 1987-10-27 | 陽イオン分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0820431B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6347558B1 (en) | 1998-06-02 | 2002-02-19 | Nsk Ltd. | Ball screw device and linear motion device |
| WO2009084338A1 (ja) | 2007-12-27 | 2009-07-09 | Mitsubishi Heavy Industries, Ltd. | スクロール圧縮機 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN105158368A (zh) * | 2015-08-31 | 2015-12-16 | 武汉宇虹环保产业发展有限公司 | 一种在线离子色谱仪自动标定系统 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6083957U (ja) * | 1983-11-15 | 1985-06-10 | 電気化学計器株式会社 | 試料濃縮装置 |
| JPS61182849A (ja) * | 1985-02-08 | 1986-08-15 | Honda Motor Co Ltd | 鋳砂を充填したケレンの製造方法 |
| JPS61195354A (ja) * | 1985-02-26 | 1986-08-29 | Yokogawa Electric Corp | 微量陽イオンの測定方法およびその装置 |
-
1987
- 1987-10-27 JP JP62271560A patent/JPH0820431B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6083957U (ja) * | 1983-11-15 | 1985-06-10 | 電気化学計器株式会社 | 試料濃縮装置 |
| JPS61182849A (ja) * | 1985-02-08 | 1986-08-15 | Honda Motor Co Ltd | 鋳砂を充填したケレンの製造方法 |
| JPS61195354A (ja) * | 1985-02-26 | 1986-08-29 | Yokogawa Electric Corp | 微量陽イオンの測定方法およびその装置 |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6347558B1 (en) | 1998-06-02 | 2002-02-19 | Nsk Ltd. | Ball screw device and linear motion device |
| US6805019B2 (en) | 1998-06-02 | 2004-10-19 | Nsk Ltd. | Ball screw device and linear motion device |
| US6813968B2 (en) | 1998-06-02 | 2004-11-09 | Nsk Ltd. | Ball screw device and linear motion device |
| US7146869B2 (en) | 1998-06-02 | 2006-12-12 | Nsk Ltd. | Ball screw device and linear motion device |
| US7159481B2 (en) | 1998-06-02 | 2007-01-09 | Nsk Ltd. | Ball screw device and linear motion device |
| WO2009084338A1 (ja) | 2007-12-27 | 2009-07-09 | Mitsubishi Heavy Industries, Ltd. | スクロール圧縮機 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0820431B2 (ja) | 1996-03-04 |
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