JPH01121127A - ワイヤ放電加工機における放電位置検出装置 - Google Patents
ワイヤ放電加工機における放電位置検出装置Info
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- JPH01121127A JPH01121127A JP62274659A JP27465987A JPH01121127A JP H01121127 A JPH01121127 A JP H01121127A JP 62274659 A JP62274659 A JP 62274659A JP 27465987 A JP27465987 A JP 27465987A JP H01121127 A JPH01121127 A JP H01121127A
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- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 28
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 24
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- WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N lead(0) Chemical compound [Pb] WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
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-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23H—WORKING OF METAL BY THE ACTION OF A HIGH CONCENTRATION OF ELECTRIC CURRENT ON A WORKPIECE USING AN ELECTRODE WHICH TAKES THE PLACE OF A TOOL; SUCH WORKING COMBINED WITH OTHER FORMS OF WORKING OF METAL
- B23H7/00—Processes or apparatus applicable to both electrical discharge machining and electrochemical machining
- B23H7/02—Wire-cutting
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23H—WORKING OF METAL BY THE ACTION OF A HIGH CONCENTRATION OF ELECTRIC CURRENT ON A WORKPIECE USING AN ELECTRODE WHICH TAKES THE PLACE OF A TOOL; SUCH WORKING COMBINED WITH OTHER FORMS OF WORKING OF METAL
- B23H7/00—Processes or apparatus applicable to both electrical discharge machining and electrochemical machining
- B23H7/02—Wire-cutting
- B23H7/04—Apparatus for supplying current to working gap; Electric circuits specially adapted therefor
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
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- Mechanical Engineering (AREA)
- Electrical Discharge Machining, Electrochemical Machining, And Combined Machining (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、ワイヤ放電加工機におけるワークとワイヤ電
極間の放電位置を検出する装置に関する。
極間の放電位置を検出する装置に関する。
従来の技術
放電加工装置において、放電位置を検出する方法として
、放電が生じたとき発生する圧力波の伝播時間を測定す
ることによって放電位置を検出する方法（特開昭５９−
４７１２４号公報参照）、また、放電電流波形より放電
位置が一点に集中しているか否か判別する集中放電検出
方法（特開昭５９−３０６２０号公報参照）、さらに、
ワイヤ電極への給電点と放電点間の電気抵抗の変動を検
出することによって放電位置を検出する方法（特開昭５
３−６４８９９号公報参照）等が知られている。
、放電が生じたとき発生する圧力波の伝播時間を測定す
ることによって放電位置を検出する方法（特開昭５９−
４７１２４号公報参照）、また、放電電流波形より放電
位置が一点に集中しているか否か判別する集中放電検出
方法（特開昭５９−３０６２０号公報参照）、さらに、
ワイヤ電極への給電点と放電点間の電気抵抗の変動を検
出することによって放電位置を検出する方法（特開昭５
３−６４８９９号公報参照）等が知られている。
発明が解決しようとする問題点
本発明は、上記従来技術の放電位置検出方法とは異なる
方法によって放電位置を検出しようとするもので、本発
明の目的は、ワイヤ放電加工機において、正確に放電位
置を検出できる放電位置検出装置を提供することにある
。
方法によって放電位置を検出しようとするもので、本発
明の目的は、ワイヤ放電加工機において、正確に放電位
置を検出できる放電位置検出装置を提供することにある
。
問題点を解決するための手段
本発明は、ワイヤ電極にワークの上方及び下方から各々
通電子を介して電流を供給するように構成されたワイヤ
放電加工機に、上記２つの通電子に流れる電流の微分値
を各々検出する電流微分値検出手段と、各電流微分値検
出手段の出力信号の差を検出する差微分値検出手段とを
設けることにより、該差微分値検出手段の出力によりワ
イヤ電極とワーク間の放電位置を検出するようにした。
通電子を介して電流を供給するように構成されたワイヤ
放電加工機に、上記２つの通電子に流れる電流の微分値
を各々検出する電流微分値検出手段と、各電流微分値検
出手段の出力信号の差を検出する差微分値検出手段とを
設けることにより、該差微分値検出手段の出力によりワ
イヤ電極とワーク間の放電位置を検出するようにした。
作 用
第１図は、本発明の作用原即を説明する説明図で、１は
ワイヤ電極、２はワーク、３はオンオフする加工電源で
あり、該加工電源３より上部、下部通電子４，５を介し
てワイヤ電極１に通電され、今、ワイヤ電極１とワーク
２間のギャップ電圧をＶＧ、加工電源の電圧をＶＣ，ワ
ーク２から加工電源３及び加工電源３から上部、下部通
電子４゜５へのリード線の分岐点Ｐまでのリード線の抵
抗をＲＯ，浮遊インダクタンスをＬＯ１分岐点Ｐから上
部通電子４までの抵抗をＲ１，浮遊インダクタンスを１
−１、分岐点Ｐから下部通電子５までの抵抗をＲ２，浮
遊インダクタンスを１２、上部通電子４から放電位置Ｑ
までのワイヤ電極１の抵抗をｒｌ、浮遊インダクタンス
を１１、下部通電子５から放電位置Ｑまでのワイヤ電極
１の抵抗をｒ２．浮遊インダクタンスを１２、上部通電
子４を流れる放電電流を１１、下部通電子５に流れる放
電電流をｉ２．放電電流をｉ （＝ｉ１＋ｉ２ ）とす
ると、電源３．ワーク２．ワイヤ電極１．上部通電子４
．電源３の閉回路から また、電源３．ワーク２．ワイヤ電極１．下部通電子５
．電源３の閉回路から ・・・・・・（２） の式が成立つ。そこで、第（１）式と第（２）式より、
・・・・・・（３） 上記第（３）式の左辺、右辺は、分岐点Ｐと放電位置０
間の電圧差を意味しており、また、放電開始時には、放
電電流ｉ １． ｉ ２の変化、即ち立上りは大ぎく、
電流値は小さい。そこで、第（３）式において、抵抗値
による電圧を非常に小さなものとして無視すると、 ・・・・・・（４） 上記第（４）式が近似される。
ワイヤ電極、２はワーク、３はオンオフする加工電源で
あり、該加工電源３より上部、下部通電子４，５を介し
てワイヤ電極１に通電され、今、ワイヤ電極１とワーク
２間のギャップ電圧をＶＧ、加工電源の電圧をＶＣ，ワ
ーク２から加工電源３及び加工電源３から上部、下部通
電子４゜５へのリード線の分岐点Ｐまでのリード線の抵
抗をＲＯ，浮遊インダクタンスをＬＯ１分岐点Ｐから上
部通電子４までの抵抗をＲ１，浮遊インダクタンスを１
−１、分岐点Ｐから下部通電子５までの抵抗をＲ２，浮
遊インダクタンスを１２、上部通電子４から放電位置Ｑ
までのワイヤ電極１の抵抗をｒｌ、浮遊インダクタンス
を１１、下部通電子５から放電位置Ｑまでのワイヤ電極
１の抵抗をｒ２．浮遊インダクタンスを１２、上部通電
子４を流れる放電電流を１１、下部通電子５に流れる放
電電流をｉ２．放電電流をｉ （＝ｉ１＋ｉ２ ）とす
ると、電源３．ワーク２．ワイヤ電極１．上部通電子４
．電源３の閉回路から また、電源３．ワーク２．ワイヤ電極１．下部通電子５
．電源３の閉回路から ・・・・・・（２） の式が成立つ。そこで、第（１）式と第（２）式より、
・・・・・・（３） 上記第（３）式の左辺、右辺は、分岐点Ｐと放電位置０
間の電圧差を意味しており、また、放電開始時には、放
電電流ｉ １． ｉ ２の変化、即ち立上りは大ぎく、
電流値は小さい。そこで、第（３）式において、抵抗値
による電圧を非常に小さなものとして無視すると、 ・・・・・・（４） 上記第（４）式が近似される。
上記第（４）式より
・・・・・・（５）
・・・・・・（６）
一方、分岐点Ｐと放電位置０間は平列回路であり、前述
同様抵抗分を無視するとＰＱ間の電圧はただし、１＝ｉ
１＋ｉ２ となり、上記電圧はＰＱ間の電圧であるから、第（４）
式と等しく、 ・・・・・・（８） 第（８）式より ・・・・・・（９） 上記第（９）式と第（６）式より ・・・・・・（１０） 上記第（１０）式において、Ｌ １． Ｌ ２は分岐点
Ｐから上部、下部通電子４，５までの各々の浮遊インダ
クタンスであり一定値である。また、１１＋１２は上部
通電子４と下部通電子５間のワイヤ電極の浮遊インダク
タンスであり、放電位置Ｑが変化しても常に一定である
。そのため、上記第（１０）式より、（ｄ ｉｌ／ ｄ
ｔ） −（ｄ ｉ２／ ｄ ｔ）は（ｊ！２−１１）
及び（ｄｉ／ｄｔ）の変化に比例する。（ｄｉ／ｄ（）
はギャップ電圧ＶＧと電［ｉ圧Ｖｃによって変化するが
、電源電圧ＶＣは一定であると考えられ、また、ギャッ
プ電圧ＶＧの変化も少ないと考えれば、（ｄ ｉｔ／
ｄ ｔ） −（ｄ ｉ２／ ｄ ｔ）は（１２−１１）
に比例することとなる。このことは、放電開始時、上部
通電子４を流れる電流１１の微分値から下部通電子５を
流れる電流１２の微分値の差−〇 − は、下部通電子５と放電位置０間の浮遊インダクタンス
１１との差に比例する。即ち、放電位置Ｑによって（ｄ
ｉ１／ｄ ｔ）−（ｄ ｉ２／ｄ ｔ）の値は変って
くる。
同様抵抗分を無視するとＰＱ間の電圧はただし、１＝ｉ
１＋ｉ２ となり、上記電圧はＰＱ間の電圧であるから、第（４）
式と等しく、 ・・・・・・（８） 第（８）式より ・・・・・・（９） 上記第（９）式と第（６）式より ・・・・・・（１０） 上記第（１０）式において、Ｌ １． Ｌ ２は分岐点
Ｐから上部、下部通電子４，５までの各々の浮遊インダ
クタンスであり一定値である。また、１１＋１２は上部
通電子４と下部通電子５間のワイヤ電極の浮遊インダク
タンスであり、放電位置Ｑが変化しても常に一定である
。そのため、上記第（１０）式より、（ｄ ｉｌ／ ｄ
ｔ） −（ｄ ｉ２／ ｄ ｔ）は（ｊ！２−１１）
及び（ｄｉ／ｄｔ）の変化に比例する。（ｄｉ／ｄ（）
はギャップ電圧ＶＧと電［ｉ圧Ｖｃによって変化するが
、電源電圧ＶＣは一定であると考えられ、また、ギャッ
プ電圧ＶＧの変化も少ないと考えれば、（ｄ ｉｔ／
ｄ ｔ） −（ｄ ｉ２／ ｄ ｔ）は（１２−１１）
に比例することとなる。このことは、放電開始時、上部
通電子４を流れる電流１１の微分値から下部通電子５を
流れる電流１２の微分値の差−〇 − は、下部通電子５と放電位置０間の浮遊インダクタンス
１１との差に比例する。即ち、放電位置Ｑによって（ｄ
ｉ１／ｄ ｔ）−（ｄ ｉ２／ｄ ｔ）の値は変って
くる。
さらに、より正確に放電位置Ｑを検出するには、第（１
０）式より（ｄｉｌ／ｄｔ）−（ｄｉ２／ｄｔ）を（ｄ
ｉ／ｄｔ）で割れば、正確な放電位置Ｑを検出できるこ
とを意味する。特に、１１ ＝１２となるようにすると
、第（１０）式から理解できるように、ｊ！、１＝ｊ！
２のとき、即ちワーク２の中央（ワイヤ１の上部、下部
通電子４．５間の中間点）で放電が生じたとぎ（ｄ ｉ
１／ ｄ ｔ） −（ｄ ｉ２／ ｄ ｔ）が「０」と
なり、中央より上方で生じたとぎは（ｄｉｌ／ｄ ｔ）
−（ｄ ｉ２／ ｄ ｔ）の値は正の値となり、中央
より下方で生じたときは負の値どなる。
０）式より（ｄｉｌ／ｄｔ）−（ｄｉ２／ｄｔ）を（ｄ
ｉ／ｄｔ）で割れば、正確な放電位置Ｑを検出できるこ
とを意味する。特に、１１ ＝１２となるようにすると
、第（１０）式から理解できるように、ｊ！、１＝ｊ！
２のとき、即ちワーク２の中央（ワイヤ１の上部、下部
通電子４．５間の中間点）で放電が生じたとぎ（ｄ ｉ
１／ ｄ ｔ） −（ｄ ｉ２／ ｄ ｔ）が「０」と
なり、中央より上方で生じたとぎは（ｄｉｌ／ｄ ｔ）
−（ｄ ｉ２／ ｄ ｔ）の値は正の値となり、中央
より下方で生じたときは負の値どなる。
そこで、本発明は、上部、下部台通電子を流れる電流の
微分値（ｄｉｌ／ｄｔ）、（ｄｉ２／ｄｔ）を検出する
電流微分値検出手段で検出し、その差を停機分値検出手
段で求めることにより、放電位置を検出する。
微分値（ｄｉｌ／ｄｔ）、（ｄｉ２／ｄｔ）を検出する
電流微分値検出手段で検出し、その差を停機分値検出手
段で求めることにより、放電位置を検出する。
実施例
第２図は、本発明の一実施例のブロック図で、加工電源
３から本実施例においてはマイナス側が上部、下部通電
子４，５に接続され、ワイヤ電極１に通電し、加工電源
３のプラス側はワーク２に接続されている。なお、６，
７はワイヤガイドであり、８はガイドローラである。上
記上部通電子４を流れる放電電流１１をコイル９で検出
し、下部通電子５を流れる放電電流１２をコイル１０で
検出するようコイル９．１０が配設されている。
３から本実施例においてはマイナス側が上部、下部通電
子４，５に接続され、ワイヤ電極１に通電し、加工電源
３のプラス側はワーク２に接続されている。なお、６，
７はワイヤガイドであり、８はガイドローラである。上
記上部通電子４を流れる放電電流１１をコイル９で検出
し、下部通電子５を流れる放電電流１２をコイル１０で
検出するようコイル９．１０が配設されている。
放電電流ｉ １．１２をコイル９，１０で検出すること
から、コイル９．１０は放電電流の変化値、即ち、微分
値（ｄｉ１／ｄｔ）、 （ｄｉ２／ｄｔ）を出力する
こととなる。該コイル９．１０の出力は差動増幅器１１
に入力され、その差（ｄｉｌ／ｄｔ）−（ｄ ｉ２／
ｄ ｔ）が誤動増幅器から出力される。また、コイル９
，１０の出力は加算器１２にも入力され、加算される。
から、コイル９．１０は放電電流の変化値、即ち、微分
値（ｄｉ１／ｄｔ）、 （ｄｉ２／ｄｔ）を出力する
こととなる。該コイル９．１０の出力は差動増幅器１１
に入力され、その差（ｄｉｌ／ｄｔ）−（ｄ ｉ２／
ｄ ｔ）が誤動増幅器から出力される。また、コイル９
，１０の出力は加算器１２にも入力され、加算される。
即ち、加算器１２の出力は・・・・・・（１１）
となる。ただし、ｉ ＝ ｉ １−１− ｉ ２で全放
電電流を示す。
電電流を示す。
なお、上記第（１１）式が示すように、加算器１２の出
力は全放電電流の微分値であるから、コイル９，１０と
同様に加工電源３とワーク２間のリード線に流れる電流
を検出するコイルを設り、このコイルにより全放電電流
の微分値（ｄ１／ｄｔ）を求めるようにして、加算器１
２の代りにしてもよい。
力は全放電電流の微分値であるから、コイル９，１０と
同様に加工電源３とワーク２間のリード線に流れる電流
を検出するコイルを設り、このコイルにより全放電電流
の微分値（ｄ１／ｄｔ）を求めるようにして、加算器１
２の代りにしてもよい。
上記差動増幅器１１．加算器１２の出力は割算器１３に
入力され、加算器１２は差動増幅器１１の出力を加算器
１２の出力で除し、出力Ｓ１を出す。即ち、該出力Ｓ１
は、 ・・・・・・（１２） となる。
入力され、加算器１２は差動増幅器１１の出力を加算器
１２の出力で除し、出力Ｓ１を出す。即ち、該出力Ｓ１
は、 ・・・・・・（１２） となる。
上記割算器の出力Ｓ１はサンプルホールド回路１４に入
力される。一方、コイル９の出力即ち、放電電流１２の
検出出力の立上りでトリガされ、所定幅のパルスを出力
するタイマ１５の出力がサンプルホールド回路１４に入
力され、該サンプルホールド回路１４は割算器１３の出
力Ｓ１の放電開始時の値をホールドするようになってい
る。
力される。一方、コイル９の出力即ち、放電電流１２の
検出出力の立上りでトリガされ、所定幅のパルスを出力
するタイマ１５の出力がサンプルホールド回路１４に入
力され、該サンプルホールド回路１４は割算器１３の出
力Ｓ１の放電開始時の値をホールドするようになってい
る。
サンプルホールド回路１４の出力Ｓ２は複数のコンパレ
ータＣ１〜Ｏｎに入力され、それぞれ異なったレベルの
比較電圧ｖ１〜ｙｎと比較される。
ータＣ１〜Ｏｎに入力され、それぞれ異なったレベルの
比較電圧ｖ１〜ｙｎと比較される。
各コンパレータＣ１〜Ｏｎの出力は、該出力の立上り、
立下りでトリガされるワンショットマルチバイブレータ
Ｍ１ ａ、Ｍｌ ｂ 〜Ｍｎａ、Ｍｎｂが接続され、各
マルチバイブレータＭ１ａ、Ｍ１ｂ〜Ｍｎａ、Ｍｎｂの
出力はノアゲート１６に入力されている。
立下りでトリガされるワンショットマルチバイブレータ
Ｍ１ ａ、Ｍｌ ｂ 〜Ｍｎａ、Ｍｎｂが接続され、各
マルチバイブレータＭ１ａ、Ｍ１ｂ〜Ｍｎａ、Ｍｎｂの
出力はノアゲート１６に入力されている。
次に、本実施例の動作を第３図のタイミングチャートと
共に説明する。
共に説明する。
加工電源３からワイヤ電極１とワーク２間に電圧が印加
され、放電が生じ放電電流ｉが第３図（ａ）に示すよう
に流れると、上部通電子４及び下部通電子５を流れる放
電電流ｉ １． ｉ ２の微分値（ｄ Ｎ／ ｄ ｔ）
、 （ｄ ｉ２／ ｄ ｔ）はコイル９，１０で各々
検出され（第３図（ｂ）、（ｃ）参照）、差動増幅器１
１．加算器１２に入力される。差動増幅器１１及び加算
器１２の出力により割算器１３で第（１２）式の割算が
行われ、割算器１３から第３図（ｄ）に示すように出力
Ｓ１が出力される。
され、放電が生じ放電電流ｉが第３図（ａ）に示すよう
に流れると、上部通電子４及び下部通電子５を流れる放
電電流ｉ １． ｉ ２の微分値（ｄ Ｎ／ ｄ ｔ）
、 （ｄ ｉ２／ ｄ ｔ）はコイル９，１０で各々
検出され（第３図（ｂ）、（ｃ）参照）、差動増幅器１
１．加算器１２に入力される。差動増幅器１１及び加算
器１２の出力により割算器１３で第（１２）式の割算が
行われ、割算器１３から第３図（ｄ）に示すように出力
Ｓ１が出力される。
一方、コイル１０が放電電流１２を検出し、その立上り
によりトリガされたタイマ１５の出ツノにより、サンプ
ルホールド回路１４は放電開始時の割算器１３の出力Ｓ
１をホールドし、第３図（ｄ）に破線で示すように、出
力Ｓ２を出す。
によりトリガされたタイマ１５の出ツノにより、サンプ
ルホールド回路１４は放電開始時の割算器１３の出力Ｓ
１をホールドし、第３図（ｄ）に破線で示すように、出
力Ｓ２を出す。
このサンプルホールド回路１４の出力Ｓ２は各コンパレ
ータＣ１〜Ｃｎで比較されることとなるが、以下の説明
では、説明を簡単にするためにコンパレータを３個（ｎ
＝３）とし、各コンパレータＣ１〜Ｃ３の比較電圧ｖ１
〜ｖ３と出力Ｓ２は比較されることとなる。その結果、
サンプルホールド回路１４の出力Ｓ２の電圧が比較電圧
ｖ１より高いときは第３図（ｅ）に示すように出力Ｓ３
がコンパレータＣ１より出力され、比較電圧ｖ２より高
いときはコンパレータＣ２より第３図（ｆ）に示すよう
に出力Ｓ４が出される。また、比較電圧Ｖ３より低いと
きは、コンパレータＣ３より第３図（ｑ）に示すように
出力Ｓ５が出される。
ータＣ１〜Ｃｎで比較されることとなるが、以下の説明
では、説明を簡単にするためにコンパレータを３個（ｎ
＝３）とし、各コンパレータＣ１〜Ｃ３の比較電圧ｖ１
〜ｖ３と出力Ｓ２は比較されることとなる。その結果、
サンプルホールド回路１４の出力Ｓ２の電圧が比較電圧
ｖ１より高いときは第３図（ｅ）に示すように出力Ｓ３
がコンパレータＣ１より出力され、比較電圧ｖ２より高
いときはコンパレータＣ２より第３図（ｆ）に示すよう
に出力Ｓ４が出される。また、比較電圧Ｖ３より低いと
きは、コンパレータＣ３より第３図（ｑ）に示すように
出力Ｓ５が出される。
そして、各コンパレータＣ１〜Ｃ３の出力の立上り、立
下りよりワンショットマルチバイブレータＭ１ ａ、Ｍ
ｌ ｂ−Ｍ３ａ、Ｍ３ｂはトリガされ、第３図（ｈ）〜
（ｍ）に示すように、所定幅のパルス８６〜Ｓ１１を出
力する。該出力パルス８６〜Ｓ１１はノアゲート１６に
入力される。
下りよりワンショットマルチバイブレータＭ１ ａ、Ｍ
ｌ ｂ−Ｍ３ａ、Ｍ３ｂはトリガされ、第３図（ｈ）〜
（ｍ）に示すように、所定幅のパルス８６〜Ｓ１１を出
力する。該出力パルス８６〜Ｓ１１はノアゲート１６に
入力される。
その結果、サンプルホールド回路１４の出力・・・・・
・（１３） の値が変化しているとき、即ち、第（１０）式で示され
るように、１２−１１の値が変化し、放電位置が変化し
ているときは、ワンショットマルチバイブレータＭ１
ａ，Ｍｌ ｂ 〜Ｍ３ａ，Ｍ３ｂの少なくとも１つから
出力が出され、ノアゲート１６の出力Ｓ１２はＬレベル
であるが、集中放電が生じ、、ｉ！２−ｊ！１の値が変
化せず、上記第（１３）式で示すサンプルホールド回路
１４の出力Ｓ２の値が変化しないと、コンパレータＣ１
〜Ｃ３の出力が変化しなくなるため、ワンショットマル
チバイブレータＭ１ ａ，Ｍｌ ｂ 〜Ｍ３ａ，Ｍ３ｂ
の出力がなくなり、ノアゲート１６の出力８１２はＨレ
ベルとなる。即ち、集中放電が生じると、ノアゲート１
６からＨレベルの信号８１２が出されることとなる。
・（１３） の値が変化しているとき、即ち、第（１０）式で示され
るように、１２−１１の値が変化し、放電位置が変化し
ているときは、ワンショットマルチバイブレータＭ１
ａ，Ｍｌ ｂ 〜Ｍ３ａ，Ｍ３ｂの少なくとも１つから
出力が出され、ノアゲート１６の出力Ｓ１２はＬレベル
であるが、集中放電が生じ、、ｉ！２−ｊ！１の値が変
化せず、上記第（１３）式で示すサンプルホールド回路
１４の出力Ｓ２の値が変化しないと、コンパレータＣ１
〜Ｃ３の出力が変化しなくなるため、ワンショットマル
チバイブレータＭ１ ａ，Ｍｌ ｂ 〜Ｍ３ａ，Ｍ３ｂ
の出力がなくなり、ノアゲート１６の出力８１２はＨレ
ベルとなる。即ち、集中放電が生じると、ノアゲート１
６からＨレベルの信号８１２が出されることとなる。
上記ノアゲート１６からＨレベルの信号８１２が出力さ
れると、加工電源３のＯＮ１０ＦＦ幅。
れると、加工電源３のＯＮ１０ＦＦ幅。
電圧，電流または加工液の液圧，ワイヤ電極１の張力等
を制御し、集中放電を解除させ、ノアグー１〜１６から
Ｈレベルの信号Ｓ１２が出力されないように制御する。
を制御し、集中放電を解除させ、ノアグー１〜１６から
Ｈレベルの信号Ｓ１２が出力されないように制御する。
上記実施例において、ワンショットマルチバイブレータ
Ｍ１ ａ，Ｍｌ ｂ−Ｍｎａ，Ｍｎｂはその出力パルス
の幅を任意の値に設定できるものがよく、また、ワンシ
ョットマルチバイブレータの代りに時定数回路によるタ
イマや他のタイマを使用してもよい。さらに、ワンショ
ットマルチバイブレータ（タイマ）は再トリガ可能なも
のがよい。
Ｍ１ ａ，Ｍｌ ｂ−Ｍｎａ，Ｍｎｂはその出力パルス
の幅を任意の値に設定できるものがよく、また、ワンシ
ョットマルチバイブレータの代りに時定数回路によるタ
イマや他のタイマを使用してもよい。さらに、ワンショ
ットマルチバイブレータ（タイマ）は再トリガ可能なも
のがよい。
さらに、上記実施例では、各コンパレータの出力の立上
り，立下りでトリガされるワンショットマルチバイブレ
ータを各々設けたが、立上りのみまたは立下りのみでト
リガされるワンショットマルチバイブレータ（タイマ）
でもよい。また、コンパレータも１つでもよい。要する
に、コンパレータの数，ワンショットマルチバイブレー
タ（タイマ）の数及び出力パルス幅を調整し、放電位置
がワークに対しランダムで均等に発生しているときはノ
アゲートからＨレベルの出力が出ないようにし、集中放
電が生じているとき、ノアゲートからＨレベルの出力が
出されるように、これらの要因を選択すればよい。
り，立下りでトリガされるワンショットマルチバイブレ
ータを各々設けたが、立上りのみまたは立下りのみでト
リガされるワンショットマルチバイブレータ（タイマ）
でもよい。また、コンパレータも１つでもよい。要する
に、コンパレータの数，ワンショットマルチバイブレー
タ（タイマ）の数及び出力パルス幅を調整し、放電位置
がワークに対しランダムで均等に発生しているときはノ
アゲートからＨレベルの出力が出ないようにし、集中放
電が生じているとき、ノアゲートからＨレベルの出力が
出されるように、これらの要因を選択すればよい。
また、上記コンパレータはウィンドコンパレータを使用
してもよい。さらに、サンプルホールド− １７ ＝ 回路の出力を平滑して各コンパレータに入力するように
してもよい。
してもよい。さらに、サンプルホールド− １７ ＝ 回路の出力を平滑して各コンパレータに入力するように
してもよい。
発明の効果
本発明は、放電加工中、常に放電位置を検出しているか
ら、集中放電が生じているか否か判別が容易にでき、こ
れにより、集中放電によるワイヤ電極の断線を防止する
ように制御することを可能にする。
ら、集中放電が生じているか否か判別が容易にでき、こ
れにより、集中放電によるワイヤ電極の断線を防止する
ように制御することを可能にする。
第１図は、本発明の作用原理の説明図、第２図は本発明
の一実施例のブロック図、第３図は同実施例のタイミン
グチャートである。 １・・・ワイヤ電極、２・・・ワーク、３・・・加工電
源、４・・・上部通電子、５・・・下部通電子、９，１
０・・・コイル、１１・・・差動増幅器、１２・・・加
算器、１３・・・割算器、１４・・・サンプルホールド
回路、Ｃ１〜Ｏｎ・・・コンパレータ、 Ｍｌ ａ．Ｍｌ ｂ−Ｍｎａ，Ｍｎｂ−＝’）＞ショｙ
トマルヂバイブレータ。
の一実施例のブロック図、第３図は同実施例のタイミン
グチャートである。 １・・・ワイヤ電極、２・・・ワーク、３・・・加工電
源、４・・・上部通電子、５・・・下部通電子、９，１
０・・・コイル、１１・・・差動増幅器、１２・・・加
算器、１３・・・割算器、１４・・・サンプルホールド
回路、Ｃ１〜Ｏｎ・・・コンパレータ、 Ｍｌ ａ．Ｍｌ ｂ−Ｍｎａ，Ｍｎｂ−＝’）＞ショｙ
トマルヂバイブレータ。
Claims (9)
- （１）ワイヤ電極にワークの上方及び下方から各々通電
子を介して電流を供給するように構成されたワイヤ放電
加工機において、上記２つの通電子に流れる電流の微分
値を各々検出する電流微分値検出手段と、各電流微分値
検出手段の出力信号の差を検出する差微分値検出手段と
を設け、該差微分値検出手段の出力により放電位置を検
出するワイヤ放電加工機における放電位置検出装置。 - （２）上記微分値検出手段は、各通電子に流れる電流を
検出するコイルで構成されている特許請求の範囲第１項
記載のワイヤ放電加工機における放電位置検出装置。 - （３）上記差微分値検出手段は、上記各電流微分値検出
手段の出力を放電電流の微分値で除算する割算器を含む
差微分値検出手段である特許請求の範囲第１項または第
２項記載のワイヤ放電加工機における放電位置検出装置
。 - （４）上記差微分値検出手段は、放電開始時の値をサン
プルホールドするサンプルホールド回路を含む特許請求
の範囲第１項、第２項または第３項記載のワイヤ放電加
工機における放電位置検出装置。 - （５）上記差微分値検出手段の出力値の変化を検出する
差微分値変化検出手段を有する特許請求の範囲第１項、
第２項、第３項または第４項記載のワイヤ放電加工機に
おける放電位置検出装置。 - （６）上記差微分値変化検出手段は、上記差微分値検出
手段の出力を入力し各々の設定レベルの電圧と比較する
複数のコンパレータと、該コンパレータの出力の立上り
または立下りの少なくとも一方でトリガされ所定時間出
力するタイマで構成されている特許請求の範囲第５項記
載のワイヤ放電加工機における放電位置検出装置。 - （７）上記タイマの出力時間幅は調整可能である特許請
求の範囲第６項記載のワイヤ放電加工機における放電位
置検出装置。 - （８）上記タイマは再トリガ可能なタイマである特許請
求の範囲第６項または第７項記載のワイヤ放電加工機に
おける放電位置検出装置。 - （９）上記タイマはワンショットマルチバイブレータで
構成されている特許請求の範囲第６項、第７項または第
８項記載のワイヤ放電加工機における放電位置検出装置
。
Priority Applications (6)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62274659A JP2532259B2 (ja) | 1987-10-31 | 1987-10-31 | ワイヤ放電加工機における放電位置検出装置 |
| DE8888909369T DE3869604D1 (de) | 1987-10-31 | 1988-10-29 | Entladungsdetektor in einer drahtfunkerosionsvorrichtung. |
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| EP88909369A EP0351436B1 (en) | 1987-10-31 | 1988-10-29 | Discharge position detector in a wire electrode discharge machine |
| US07/362,383 US4963711A (en) | 1987-10-31 | 1988-10-29 | Electric discharge position detecting device of a wire electric discharge machine |
| KR1019890701186A KR890701264A (ko) | 1987-10-31 | 1989-06-28 | 와이어 방전가공기에 있어서의 방전위치 검출장치 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62274659A JP2532259B2 (ja) | 1987-10-31 | 1987-10-31 | ワイヤ放電加工機における放電位置検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01121127A true JPH01121127A (ja) | 1989-05-12 |
| JP2532259B2 JP2532259B2 (ja) | 1996-09-11 |
Family
ID=17544770
Family Applications (1)
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|---|---|---|---|
| JP62274659A Expired - Fee Related JP2532259B2 (ja) | 1987-10-31 | 1987-10-31 | ワイヤ放電加工機における放電位置検出装置 |
Country Status (6)
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| EP (1) | EP0351436B1 (ja) |
| JP (1) | JP2532259B2 (ja) |
| KR (1) | KR890701264A (ja) |
| DE (1) | DE3869604D1 (ja) |
| WO (1) | WO1989004232A1 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1994006592A1 (fr) * | 1992-09-11 | 1994-03-31 | Fanuc Ltd | Machine d'etincelage par fil-electrode |
| JP2012166323A (ja) * | 2011-02-16 | 2012-09-06 | Mitsubishi Electric Corp | 放電加工装置 |
| EP2581162A1 (en) | 2011-10-13 | 2013-04-17 | Fanuc Corporation | Wire electrical discharge machine that adjusts flow rate of working fluid based on machining state |
| EP3085482A2 (en) | 2015-04-02 | 2016-10-26 | Fanuc Corporation | Wire electric discharge machine |
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| JP3116708B2 (ja) * | 1994-03-17 | 2000-12-11 | トヨタ自動車株式会社 | 放電位置検出方法と放電加工方法 |
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1987
- 1987-10-31 JP JP62274659A patent/JP2532259B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1988
- 1988-10-29 US US07/362,383 patent/US4963711A/en not_active Expired - Fee Related
- 1988-10-29 EP EP88909369A patent/EP0351436B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1988-10-29 WO PCT/JP1988/001108 patent/WO1989004232A1/ja not_active Ceased
- 1988-10-29 DE DE8888909369T patent/DE3869604D1/de not_active Expired - Lifetime
-
1989
- 1989-06-28 KR KR1019890701186A patent/KR890701264A/ko not_active Ceased
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Also Published As
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|---|---|
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| EP0351436A4 (en) | 1989-12-19 |
| EP0351436A1 (en) | 1990-01-24 |
| WO1989004232A1 (fr) | 1989-05-18 |
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| US4963711A (en) | 1990-10-16 |
| KR890701264A (ko) | 1989-12-19 |
| DE3869604D1 (de) | 1992-04-30 |
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