JPH01137552A - 質量分析装置用イオン源 - Google Patents
質量分析装置用イオン源Info
- Publication number
- JPH01137552A JPH01137552A JP62296490A JP29649087A JPH01137552A JP H01137552 A JPH01137552 A JP H01137552A JP 62296490 A JP62296490 A JP 62296490A JP 29649087 A JP29649087 A JP 29649087A JP H01137552 A JPH01137552 A JP H01137552A
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- Japan
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- sample liquid
- opening
- spacer
- cap
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明は、−次ビームを照射し、その衝撃でイオン化す
る方式の質量分析装置用イオン源に関し、特に液体クロ
マミルグラフからの試料液をイオン化室内′に直接導入
してイオン化する場合に使用して好適なイオン源に関す
る。
る方式の質量分析装置用イオン源に関し、特に液体クロ
マミルグラフからの試料液をイオン化室内′に直接導入
してイオン化する場合に使用して好適なイオン源に関す
る。
［従来技術］
液体クロマトグラフで分離した試料液を質量分析装置に
直接導入する方式のイオン源として、第３図に示づ一構
造のものが実開昭６１−１１６０６５号に記載されてい
る。
直接導入する方式のイオン源として、第３図に示づ一構
造のものが実開昭６１−１１６０６５号に記載されてい
る。
第３図において、１は質量分析装置の質Φ分析部、２は
イオン源、３はイオン化室、４はイオン化室内で生成さ
れたイオンの加速と集束を行なう電極群、５は一次粒子
ビーム発生器、６は液体クロマトグラフ、７は液体クロ
マトグラフ６で分離された試料液をイオン化室３内へ導
入するだの導入管である。この導入管としてはフユーズ
ドシリ力管が用いられる。また、イオン化室内に挿入さ
れた導入管７の先端部には、拡大断面図を第４図に示す
ようにステンレス管８が被せられ、さらに、その外側に
ガラス管（ステンレス等の金属でも良い）９が被せられ
ている。そして、導入管の開口部を塞ぐように円板状の
多孔性部材１０が取付けられている。この多孔性部材と
しては、例えばステンレスの粉末を焼結して作成したフ
ィルタ（フリット）が使用される。なお、前記ステンレ
ス管８にはりベラ電源１１から適宜な電圧が印加される
。
イオン源、３はイオン化室、４はイオン化室内で生成さ
れたイオンの加速と集束を行なう電極群、５は一次粒子
ビーム発生器、６は液体クロマトグラフ、７は液体クロ
マトグラフ６で分離された試料液をイオン化室３内へ導
入するだの導入管である。この導入管としてはフユーズ
ドシリ力管が用いられる。また、イオン化室内に挿入さ
れた導入管７の先端部には、拡大断面図を第４図に示す
ようにステンレス管８が被せられ、さらに、その外側に
ガラス管（ステンレス等の金属でも良い）９が被せられ
ている。そして、導入管の開口部を塞ぐように円板状の
多孔性部材１０が取付けられている。この多孔性部材と
しては、例えばステンレスの粉末を焼結して作成したフ
ィルタ（フリット）が使用される。なお、前記ステンレ
ス管８にはりベラ電源１１から適宜な電圧が印加される
。
かかる構成において、液体クロマトグラフ６で分離され
た試料液は導入管７を介して順次イオン化￥３内に導入
され、導入管先端に取付けられている多孔性部材１０の
中を通って表面へ滲出する。
た試料液は導入管７を介して順次イオン化￥３内に導入
され、導入管先端に取付けられている多孔性部材１０の
中を通って表面へ滲出する。
表面に滲出した試料液は、粒子ビーム発生器５からの一
次粒子ビームＢの衝撃を受けてイオン化され、生成され
たイオンＩは質１分析部１へ導入され質量分析される。
次粒子ビームＢの衝撃を受けてイオン化され、生成され
たイオンＩは質１分析部１へ導入され質量分析される。
このような装置では、多孔性部材に送られる試料液が順
次完全にイオン化されて多孔性部材表面に残らないよう
な送液速度で試料液を多孔性部材へ供給する必要がある
が、上記構成の装置ではこの適正な送液量が現在の技術
レベルでは正確な制御が困難なほどわずかであるため、
適正な送液速度を越えて多量の試料液が多孔性部材へ送
られてしまうことは避けられない。そうすると、先に送
られた試料成分がイオン化されずに残り、後に送られた
試料成分と一緒にイオン化される所謂メモリ現象が発生
してしまい、分析に悪影響が出てしまう。
次完全にイオン化されて多孔性部材表面に残らないよう
な送液速度で試料液を多孔性部材へ供給する必要がある
が、上記構成の装置ではこの適正な送液量が現在の技術
レベルでは正確な制御が困難なほどわずかであるため、
適正な送液速度を越えて多量の試料液が多孔性部材へ送
られてしまうことは避けられない。そうすると、先に送
られた試料成分がイオン化されずに残り、後に送られた
試料成分と一緒にイオン化される所謂メモリ現象が発生
してしまい、分析に悪影響が出てしまう。
そこで、かかる問題を解決するために、第５図に示すよ
うなイオン源が最近提案されている。
うなイオン源が最近提案されている。
このイオン源においては、多孔性部材１０の表面におけ
る試料液の滲出領域を規定する開口１２を有する包囲体
（キャップ）１３をこの多孔性部材に密接して被せ、こ
の開口部に滲出した試料液を一次ビーム照射によりイオ
ン化するようにしている。１４は導入管７をキャップ１
３内に固定する位置決め部材である。
る試料液の滲出領域を規定する開口１２を有する包囲体
（キャップ）１３をこの多孔性部材に密接して被せ、こ
の開口部に滲出した試料液を一次ビーム照射によりイオ
ン化するようにしている。１４は導入管７をキャップ１
３内に固定する位置決め部材である。
このようにすれば、多孔性部材に送られた試料液は開口
部とそれ以外の部分とに分れて滲出し、開口部以外の面
から滲出する試料液はキャップ内部に取出される。その
ため、多量の試料液を多孔性部材に送っても−次ご一ム
Ｂが照射される開口部の領域に滲出する試料口を抑える
ことができ、メモリ現象の発生を防止することができる
。
部とそれ以外の部分とに分れて滲出し、開口部以外の面
から滲出する試料液はキャップ内部に取出される。その
ため、多量の試料液を多孔性部材に送っても−次ご一ム
Ｂが照射される開口部の領域に滲出する試料口を抑える
ことができ、メモリ現象の発生を防止することができる
。
［発明が解決しようとする問題点］
ところが、このような提案方式を採用してもメモリ現象
を完全に防止することができなかった。
を完全に防止することができなかった。
これはキャップ１３の開口１２縁部分と多孔性部材１０
の一次ビーム照射面とが密接していることに原因がある
ことを究明した。つまり開口部の中央部に滲出した試料
液は表面を伝わって放射状に周辺へ広がり、−旦開口の
周縁部分に溜まった後、再び多孔性部材内部に流入して
キャップ内部に排出されることになるため、前記開口の
周縁部分Ａに溜まった試料液に一次ビームが照射され、
それによってメモリ現象が発生するわけである。
の一次ビーム照射面とが密接していることに原因がある
ことを究明した。つまり開口部の中央部に滲出した試料
液は表面を伝わって放射状に周辺へ広がり、−旦開口の
周縁部分に溜まった後、再び多孔性部材内部に流入して
キャップ内部に排出されることになるため、前記開口の
周縁部分Ａに溜まった試料液に一次ビームが照射され、
それによってメモリ現象が発生するわけである。
そこで、本発明はかかる点に鑑みてなされたものであり
、簡単な構成によりキャップの開口周縁部分に試料液が
溜まるのを防止することのできるイオン源を提供するこ
とを目的とするものである。
、簡単な構成によりキャップの開口周縁部分に試料液が
溜まるのを防止することのできるイオン源を提供するこ
とを目的とするものである。
［問題点を解決するための手段］
上記目的を達成するため、本発明のイオン源は外部から
イオン化室内に試料液を導入するための導入管と、該導
入管の先端に取付けられた多孔性部材と、該多孔性部材
を通りその表面に滲出した試料液に照射する一次ビーム
を発生する手段と、前記多孔性部材に被せられ、かつ多
孔性部材の一次ビーム照射面上における試料液の滲出領
域を規定する開口を有する包囲体と、該包囲体の開口縁
部分と前記多孔性部材表面との間に介在され、かつ首記
開口の大きさよりも大きな内径を有するリング状のスペ
ーサとを備え、前記多孔性部材表面に滲出した試料液を
前記キャップの内部に逃すための切欠部を前記スペーサ
あるいは多孔性部材に形成したことを特徴とするもので
ある。
イオン化室内に試料液を導入するための導入管と、該導
入管の先端に取付けられた多孔性部材と、該多孔性部材
を通りその表面に滲出した試料液に照射する一次ビーム
を発生する手段と、前記多孔性部材に被せられ、かつ多
孔性部材の一次ビーム照射面上における試料液の滲出領
域を規定する開口を有する包囲体と、該包囲体の開口縁
部分と前記多孔性部材表面との間に介在され、かつ首記
開口の大きさよりも大きな内径を有するリング状のスペ
ーサとを備え、前記多孔性部材表面に滲出した試料液を
前記キャップの内部に逃すための切欠部を前記スペーサ
あるいは多孔性部材に形成したことを特徴とするもので
ある。
以下、本発明の実施例を図面に基づいて詳説する。
［実施例］
第１図は本発明の一実施例の構成を示す部分断面図であ
り、第５図と同一符号は同一構成要素を示すものである
。
り、第５図と同一符号は同一構成要素を示すものである
。
第１図において、１５はキャップ１３の開口１２縁部分
と多孔性部０１０の一次ビームＢ＠射面とを密接させな
いで隙間Ｇを形成するためのスペーサで、このスペーサ
はキャップに固定されている。また、このスペーサは第
２図に示すように前記開口１２の大きさよりも大きな内
径を有するリング状に形成されており、さらに、このス
ペーサの内側には４個の切欠部１６ａ、６ｂ、１６ｃ。
と多孔性部０１０の一次ビームＢ＠射面とを密接させな
いで隙間Ｇを形成するためのスペーサで、このスペーサ
はキャップに固定されている。また、このスペーサは第
２図に示すように前記開口１２の大きさよりも大きな内
径を有するリング状に形成されており、さらに、このス
ペーサの内側には４個の切欠部１６ａ、６ｂ、１６ｃ。
１６ｄが設けである。この各切欠部はその底部が多孔性
部材１０の外周よりもはみだすように形成されている。
部材１０の外周よりもはみだすように形成されている。
尚、キャップ１３は多孔性部材１０を交換し易いように
部材１４に螺合されている。
部材１４に螺合されている。
このようにすれば、多孔性部材１０の中央部から滲出し
て周辺部へ拡散した試料液はスペーサ１５の各切欠部１
６ａ乃至１６ｄを通ってキャップ１３内側に排出される
。そのため、試料液が従来のように開口１２の周縁部分
に溜まることがなくなるので、メモリ現象を完全に防止
することができる。ここで、スペーサ１５の内側Ｃ部分
に試料液が溜まるが、この部分は開口１２の縁部分より
奥の方に位首するため、−次ビームＢはキャップ１３に
より遮られて照射されない。
て周辺部へ拡散した試料液はスペーサ１５の各切欠部１
６ａ乃至１６ｄを通ってキャップ１３内側に排出される
。そのため、試料液が従来のように開口１２の周縁部分
に溜まることがなくなるので、メモリ現象を完全に防止
することができる。ここで、スペーサ１５の内側Ｃ部分
に試料液が溜まるが、この部分は開口１２の縁部分より
奥の方に位首するため、−次ビームＢはキャップ１３に
より遮られて照射されない。
尚、前述の説明は本発明の一例であり、実施にあたって
は幾多の変形が考えられる。例えばスペーサに形成する
切欠部は４個に限定されることなく、１個あるいは２個
以上形成しても良い。
は幾多の変形が考えられる。例えばスペーサに形成する
切欠部は４個に限定されることなく、１個あるいは２個
以上形成しても良い。
また、上記実施例では多孔性部材表面に滲出した試料液
をスペーサに形成した切欠部を介してキャップの内側に
逃すようにしたが、これに限定されることなく、例えば
第６図に示すように切欠部１７ａ、１７ｂ、１７ｃ、１
７ｄを多孔性部材１０に形成しても同様な効果を得るこ
とができる。
をスペーサに形成した切欠部を介してキャップの内側に
逃すようにしたが、これに限定されることなく、例えば
第６図に示すように切欠部１７ａ、１７ｂ、１７ｃ、１
７ｄを多孔性部材１０に形成しても同様な効果を得るこ
とができる。
この場合、切欠部の底部をスペーサの内径よりも内側に
はみだすように形成することは言うまでもない。
はみだすように形成することは言うまでもない。
［効果］
以上詳述したように本発明によれば、メモリ現象を完全
に防止することのできる質量分析装置用イオン源が実現
される。
に防止することのできる質量分析装置用イオン源が実現
される。
第１図は本発明の一実施例の構成を示す部分断面図、第
２図及び第６図は本発明に使用されるスペーサを示す図
、第３図乃至第５図は従来例を説明するための図である
。 １：質量分析部 ２：イオン源 ３：イオン化室 ５；−次粒子ビーム発生器 ６：液体クロマトグラフ ７：導入管 １０：多孔性部材１２二開口
１３：キャップ１５ニスペーサ
２図及び第６図は本発明に使用されるスペーサを示す図
、第３図乃至第５図は従来例を説明するための図である
。 １：質量分析部 ２：イオン源 ３：イオン化室 ５；−次粒子ビーム発生器 ６：液体クロマトグラフ ７：導入管 １０：多孔性部材１２二開口
１３：キャップ１５ニスペーサ
Claims (1)
- 外部からイオン化室内に試料液を導入するための導入管
と、該導入管の先端に取付けられた多孔性部材と、該多
孔性部材を通りその表面に滲出した試料液に照射する一
次ビームを発生する手段と、前記多孔性部材に被せられ
、かつ多孔性部材の一次ビーム照射面上における試料液
の滲出領域を規定する開口を有する包囲体と、該包囲体
の開口縁部分と前記多孔性部材表面との間に介在され、
かつ前記開口の大きさよりも大きな内径を有するリング
状のスペーサとを備え、前記多孔性部材表面に滲出した
試料液を前記キャップの内部に逃すための切欠部を前記
スペーサあるいは多孔性部材に形成したことを特徴とす
る質量分析装置用イオン源。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62296490A JPH0754691B2 (ja) | 1987-11-25 | 1987-11-25 | 質量分析装置用イオン源 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62296490A JPH0754691B2 (ja) | 1987-11-25 | 1987-11-25 | 質量分析装置用イオン源 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01137552A true JPH01137552A (ja) | 1989-05-30 |
| JPH0754691B2 JPH0754691B2 (ja) | 1995-06-07 |
Family
ID=17834229
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62296490A Expired - Fee Related JPH0754691B2 (ja) | 1987-11-25 | 1987-11-25 | 質量分析装置用イオン源 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0754691B2 (ja) |
-
1987
- 1987-11-25 JP JP62296490A patent/JPH0754691B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0754691B2 (ja) | 1995-06-07 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |