JPH01156722A - 強誘電性液晶素子 - Google Patents
強誘電性液晶素子Info
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- JPH01156722A JPH01156722A JP31526887A JP31526887A JPH01156722A JP H01156722 A JPH01156722 A JP H01156722A JP 31526887 A JP31526887 A JP 31526887A JP 31526887 A JP31526887 A JP 31526887A JP H01156722 A JPH01156722 A JP H01156722A
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- ferroelectric liquid
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、強誘電性液晶素子に関し、さらに詳しくは基
板、電圧印加手段、配向制御層、強誘電性液晶層及び電
圧印加手段と配向制御層との間に少なくとも1層の配向
制御層と異なる下地層を有する強誘電性液晶素子に係り
、電界に対する応答諸特性が改善された新規な強誘電性
液晶素子構成に関するものである。
板、電圧印加手段、配向制御層、強誘電性液晶層及び電
圧印加手段と配向制御層との間に少なくとも1層の配向
制御層と異なる下地層を有する強誘電性液晶素子に係り
、電界に対する応答諸特性が改善された新規な強誘電性
液晶素子構成に関するものである。
[従来の技術]
液晶は既に種々の光学変調素子として応用され、特に表
示素子として時計、電卓等に実用化されている。
示素子として時計、電卓等に実用化されている。
これは、液晶素子が消費電力が極めて少なく。
また装置の薄型、軽量化が可能であることと、更に表示
素子としては受光素子であるため長時間使用しても目の
疲労が少ないという特長によるものである。
素子としては受光素子であるため長時間使用しても目の
疲労が少ないという特長によるものである。
現在実用化されている液晶素子のほとんどか、例えばエ
ム シャット(M、5chadt)とダブルユヘルフリ
ッヒ(W、 He1frich)著“アプライドフィジ
ックス レターズ(“Applied Physics
Letters”) Vo、18. No、4(197
1,2,15)P、127〜128の”Voltage
Dependent 0ptical Activi
tyof a Twisted Nematic 1i
quid Crystal”に示されたTN(Twis
ted Neaatic)型の液晶を用いたものである
。
ム シャット(M、5chadt)とダブルユヘルフリ
ッヒ(W、 He1frich)著“アプライドフィジ
ックス レターズ(“Applied Physics
Letters”) Vo、18. No、4(197
1,2,15)P、127〜128の”Voltage
Dependent 0ptical Activi
tyof a Twisted Nematic 1i
quid Crystal”に示されたTN(Twis
ted Neaatic)型の液晶を用いたものである
。
これらは、液晶の誘電的配列効果に基づいており、液晶
分子の誘電異方性のために平均分子軸方向か、加えられ
た電場により特定の方向に向く効果を利用している。
分子の誘電異方性のために平均分子軸方向か、加えられ
た電場により特定の方向に向く効果を利用している。
これらの素子の光学的な応答速度の限界は数m5ecで
あるといわれ、液晶素子の応用分野拡大へ障害となって
いる。例えば、大型平面デイスプレーへの応用では、価
格、生産性などを考え合わせると、単純マトリクス方式
による駆動が最も有力である。
あるといわれ、液晶素子の応用分野拡大へ障害となって
いる。例えば、大型平面デイスプレーへの応用では、価
格、生産性などを考え合わせると、単純マトリクス方式
による駆動が最も有力である。
単純マトリクス方式おいては、走査電極群に順次周期的
にアドレス信号を選択印加し、信号電極群には所定の情
報信号をアドレス信号と同期させて並列的に選択印加す
る時分割駆動方式が採用されている。
にアドレス信号を選択印加し、信号電極群には所定の情
報信号をアドレス信号と同期させて並列的に選択印加す
る時分割駆動方式が採用されている。
しかし、この様な駆動方式の素子に前述したTN型の液
晶を採用すると、走査電極が選択され、信号電極が選択
されない領域或いは走査電極が選択されず、信号電極か
選択される領域(所謂“半選択点′)にも有限に電界が
かかってしまう。
晶を採用すると、走査電極が選択され、信号電極が選択
されない領域或いは走査電極が選択されず、信号電極か
選択される領域(所謂“半選択点′)にも有限に電界が
かかってしまう。
選択点にかかる電圧と、半選択点にかかる電圧の差が充
分に大きく、液晶分子を電界に垂直に配列させるのに要
する電圧閾値がこの中間の電圧値に設定されるならば、
表示素子は正常に動作するわけであるが、走査線(N)
を増加して行なった場合、画面全体(1フレーム)を走
査する間に1つの選択点に有効な電界がかかっている時
間(duty比)が1/Hの割合で減少してしまう。
分に大きく、液晶分子を電界に垂直に配列させるのに要
する電圧閾値がこの中間の電圧値に設定されるならば、
表示素子は正常に動作するわけであるが、走査線(N)
を増加して行なった場合、画面全体(1フレーム)を走
査する間に1つの選択点に有効な電界がかかっている時
間(duty比)が1/Hの割合で減少してしまう。
このために、くり返し走査を行なった場合の選択点と非
選択点にかかる実効値としての電圧差は、走査線数が増
えれば増える程小さくなり、結果的には画像コントラス
トの低下やクロストークが避は難い欠点となっている。
選択点にかかる実効値としての電圧差は、走査線数が増
えれば増える程小さくなり、結果的には画像コントラス
トの低下やクロストークが避は難い欠点となっている。
この様な現象は、双安定性を有さない液晶(電極面に対
し、液晶分子が水平に配向しているのが安定状態であり
、電界か有効に印加されている間のみ垂直に配向する)
を時間的蓄積効果を利用して駆動する(即ち、繰り返し
走査する)ときに生ずる本質的には避は難い問題点であ
る。
し、液晶分子が水平に配向しているのが安定状態であり
、電界か有効に印加されている間のみ垂直に配向する)
を時間的蓄積効果を利用して駆動する(即ち、繰り返し
走査する)ときに生ずる本質的には避は難い問題点であ
る。
この点を改良するために、電圧平均化法、2周波駆動法
や、多重マトリクス法等が既に提案されているか、いず
れの方法でも不充分であり、液晶素子の大画面化や高密
度化は走査線数が充分に増やせないことによって頭打ち
になっているのが現状である。
や、多重マトリクス法等が既に提案されているか、いず
れの方法でも不充分であり、液晶素子の大画面化や高密
度化は走査線数が充分に増やせないことによって頭打ち
になっているのが現状である。
低消費電力、受光型といった液晶素子の特長を生かし、
なおかつ、エレクトロルミネッセンスなど発光型素子に
匹敵する応答性を確保するには、TN型液晶素子に変わ
る新しい液晶素子の開発が不可欠である。
なおかつ、エレクトロルミネッセンスなど発光型素子に
匹敵する応答性を確保するには、TN型液晶素子に変わ
る新しい液晶素子の開発が不可欠である。
そうした試みの1つとして、双安定性を有する液晶素子
の使用が、クラーク(C1ark)およびラガウェル(
Lagerwal1)により提案されている(特開昭5
6−107216号公報、米国特許第4367924号
明細書等)。
の使用が、クラーク(C1ark)およびラガウェル(
Lagerwal1)により提案されている(特開昭5
6−107216号公報、米国特許第4367924号
明細書等)。
双安定性液晶としては、一般にカイラルスメクティック
C相(Sac”相)又はH相(S■H”相)を有する強
誘電性液晶が用いられる。
C相(Sac”相)又はH相(S■H”相)を有する強
誘電性液晶が用いられる。
この強誘電性液晶は電界に対して第1の光学的安定状態
と第2の光学的安定状態からなる双安定状態を有し、従
って前述のTN型の液晶で用いられた光学変調素子とは
異なり、例えば一方の電界ベクトルに対して第1の光学
的安定状態に液晶が配向し、他方の電界ベクトルに対し
ては第2の光学的安定状態に液晶が配向されている。ま
た、この型の液晶は、加えられる電界に応答して、上記
2つの安定状態のいずれかを取り、かつ、電界の印加の
ないときはその状態を維持する性質(双安定性)を有す
る。
と第2の光学的安定状態からなる双安定状態を有し、従
って前述のTN型の液晶で用いられた光学変調素子とは
異なり、例えば一方の電界ベクトルに対して第1の光学
的安定状態に液晶が配向し、他方の電界ベクトルに対し
ては第2の光学的安定状態に液晶が配向されている。ま
た、この型の液晶は、加えられる電界に応答して、上記
2つの安定状態のいずれかを取り、かつ、電界の印加の
ないときはその状態を維持する性質(双安定性)を有す
る。
以上の様な双安定性を有する特徴に加えて、強誘電性液
晶は高速応答性であるという優れた特徴な持つ。それは
強誘電性液晶の持つ自発分極と印加重湯が直接作用して
、配向状態の転移を誘起するためであり、誘電率異方性
と電場の作用による応答速度より3〜4オーダー速い。
晶は高速応答性であるという優れた特徴な持つ。それは
強誘電性液晶の持つ自発分極と印加重湯が直接作用して
、配向状態の転移を誘起するためであり、誘電率異方性
と電場の作用による応答速度より3〜4オーダー速い。
この様に強誘電性液晶はきわめて優れた特性を潜在的に
有しており、この様な性質を利用することにより上述し
た従来のTN型液晶素子の問題点の多くに対して、かな
り本質的な改善が得られる。
有しており、この様な性質を利用することにより上述し
た従来のTN型液晶素子の問題点の多くに対して、かな
り本質的な改善が得られる。
特に、高速光学光シャッターや高密度、大画面デイスプ
レィへの応用が期待される。
レィへの応用が期待される。
一方、薄層ての配向制御方法や画像品質の向上、双安定
性の向上を試みるために、強誘電性液晶素子に用いられ
る配向制御材料、強誘電性を持つ液晶材料、および電圧
印加手段と配向制御層との間に設けられる下地材料に関
し広く研究かなされているが、現在まで報告されている
強誘電性液晶素子で、薄層ての配向制御手段、上下電極
間のショート防止、画素チラッキ等による画像欠陥。
性の向上を試みるために、強誘電性液晶素子に用いられ
る配向制御材料、強誘電性を持つ液晶材料、および電圧
印加手段と配向制御層との間に設けられる下地材料に関
し広く研究かなされているが、現在まで報告されている
強誘電性液晶素子で、薄層ての配向制御手段、上下電極
間のショート防止、画素チラッキ等による画像欠陥。
双安定性、湿温度に対する耐久性・安定性等緒特性を満
足するものはほとんど無く、実用化された強誘電性液晶
素子は皆無である。
足するものはほとんど無く、実用化された強誘電性液晶
素子は皆無である。
[発明が解決しようとする問題点]
本発明の目的は、前述の欠点を解消し、配向制御性が良
好て、上下電極間のショートを防止し、画素チラッキ等
による画像欠陥を改善した双安定性の良好な強誘電性液
晶素子を提供することにある。
好て、上下電極間のショートを防止し、画素チラッキ等
による画像欠陥を改善した双安定性の良好な強誘電性液
晶素子を提供することにある。
[問題点を解決するための手段]および[作用]本発明
のかかる目的は、少なくとも基板、電圧印加手段、配向
制御層、強誘電性液晶層及び電圧印加手段と配向制御層
との間に少なくとも1層の配向制御層と異なる下地層を
有する強誘電性液晶素子において、前記下地層の膜厚(
d1)と配向制御層の膜厚(d2)、下地層材料の誘電
率(ε、)と配向制御層材料の誘電率(C2)との間に
下記の関係式(1)、関係式(2)が成り立ち、かつ該
強誘電性液晶層に下記一般式[1]で示される液晶性化
合物を少なくとも1種以上含有する強誘電性液晶素子に
よって達成される。
のかかる目的は、少なくとも基板、電圧印加手段、配向
制御層、強誘電性液晶層及び電圧印加手段と配向制御層
との間に少なくとも1層の配向制御層と異なる下地層を
有する強誘電性液晶素子において、前記下地層の膜厚(
d1)と配向制御層の膜厚(d2)、下地層材料の誘電
率(ε、)と配向制御層材料の誘電率(C2)との間に
下記の関係式(1)、関係式(2)が成り立ち、かつ該
強誘電性液晶層に下記一般式[1]で示される液晶性化
合物を少なくとも1種以上含有する強誘電性液晶素子に
よって達成される。
関係式(’1) d+ > d2関係式(2
) ε、 〉 C2 一般式[1] %式% (式中、R1、R2は置換基を有していても良い分岐ま
たは直鎖の鎖状基を示し、R1とR2は同一であっても
異なっていても良く、A I、 A 2は置換基を有し
ていても良い2価の含六員環基を示し、Xは単結合また
は2価の鎖状基を示す。)R□、R2の好ましい具体例
としては、置換基を有していても良い分岐または直鎖の
アルキル基、または置換基を有していてもよい分岐また
は直鎖のアルキル基を有するアルコキシ基、アシル基、
アシルオキシ基、アルコキシカルボニル基。
) ε、 〉 C2 一般式[1] %式% (式中、R1、R2は置換基を有していても良い分岐ま
たは直鎖の鎖状基を示し、R1とR2は同一であっても
異なっていても良く、A I、 A 2は置換基を有し
ていても良い2価の含六員環基を示し、Xは単結合また
は2価の鎖状基を示す。)R□、R2の好ましい具体例
としては、置換基を有していても良い分岐または直鎖の
アルキル基、または置換基を有していてもよい分岐また
は直鎖のアルキル基を有するアルコキシ基、アシル基、
アシルオキシ基、アルコキシカルボニル基。
アルコキシカルボニルオキシ基から選らばれたものが用
いられる。
いられる。
その具体例を示すと、メチル、エチル、プロピル、ブチ
ル、ペンチル、ヘキシル、イソプロピル等のアルキル基
、アセチル、プロピオニル、ブチニル、バレリル、バル
ミトイル、2−メチル−プロピオニル等のアシル基、ア
セチルオキシ、プロピオニルオキシ、ブチニルオキシ、
2−メチル−プロピオニルオキシ等のアシルオキシ基、
メトキシ、エトキシ、プロポキシ、ブトキシ、2−メチ
ル−ブトキシ等のアルコキシ基、メトキシカルボニル、
エトキシカルボニル、ブトキシカルボニル、2−メチル
−ブトキシカルボニル等のアルコキシカルボニル基、メ
トキシカルボニルオキシ。
ル、ペンチル、ヘキシル、イソプロピル等のアルキル基
、アセチル、プロピオニル、ブチニル、バレリル、バル
ミトイル、2−メチル−プロピオニル等のアシル基、ア
セチルオキシ、プロピオニルオキシ、ブチニルオキシ、
2−メチル−プロピオニルオキシ等のアシルオキシ基、
メトキシ、エトキシ、プロポキシ、ブトキシ、2−メチ
ル−ブトキシ等のアルコキシ基、メトキシカルボニル、
エトキシカルボニル、ブトキシカルボニル、2−メチル
−ブトキシカルボニル等のアルコキシカルボニル基、メ
トキシカルボニルオキシ。
エトキシカルボニルオキシ、ブトキシカルボニルオキシ
、2−メチル−ブトキシカルボニルオキシ等のアルコキ
シカルボニルオキシ基があげられる。
、2−メチル−ブトキシカルボニルオキシ等のアルコキ
シカルボニルオキシ基があげられる。
さらに、好ましくはR□、R2の少なくともいずれか一
方は、不斉炭素原子を有する光学活性な鎖状基を示す。
方は、不斉炭素原子を有する光学活性な鎖状基を示す。
R1,R2が示す不斉炭素原子を有する光学活性な鎖状
基の好ましい具体例としては、下記の一般式[2]で示
される。
基の好ましい具体例としては、下記の一般式[2]で示
される。
一般式[2]
%式%
れ1mはO〜8の整数を示し、nは0またはlを示す。
R3は置換基を有していても良い炭素原子数1〜18の
分岐または直鎖のメチル、エチル、プロピル、ブチル、
イソプロピル等のアルキル基、または置換基を有してい
ても良い炭素原子数1〜18の分岐または直鎖のアルキ
ル基を有するメトキシ。
分岐または直鎖のメチル、エチル、プロピル、ブチル、
イソプロピル等のアルキル基、または置換基を有してい
ても良い炭素原子数1〜18の分岐または直鎖のアルキ
ル基を有するメトキシ。
エトキシ、ブトキシ、2−メチル−ブトキシ等のアルコ
キシ基、メトキシカルボニル、エトキシカルボニル、ブ
トキシカルボニル、2−メチル−ブトキシカルボニル等
のアルコキシカルボニル基を示す。
キシ基、メトキシカルボニル、エトキシカルボニル、ブ
トキシカルボニル、2−メチル−ブトキシカルボニル等
のアルコキシカルボニル基を示す。
Zはメチル基、ハロゲン原子、シアノ基、トリフルオロ
メチル基を示し、*は光学活性な不斉炭素原子を示す。
メチル基を示し、*は光学活性な不斉炭素原子を示す。
R1,R2およびR3の示す基の更なる置換基としては
、フッ素、塩素、臭素等のハロゲン原子、メトキシ、エ
トキシ、プロポキシ、ブトキシ等のアルコキシ基、トリ
フルオロメチル基、シアノ基等が挙げられる。
、フッ素、塩素、臭素等のハロゲン原子、メトキシ、エ
トキシ、プロポキシ、ブトキシ等のアルコキシ基、トリ
フルオロメチル基、シアノ基等が挙げられる。
次に、一般式[1]において、A 8. A 2の示す
2価の含六員環基の好ましい具体例としては、下記一般
式[3]で示される。
2価の含六員環基の好ましい具体例としては、下記一般
式[3]で示される。
一般式[3]
式中、A z 、 A 4は置換基を有していてもよい
−り】“ より選択されるのが好ましく、p、qは
0.1または2で示される。
−り】“ より選択されるのが好ましく、p、qは
0.1または2で示される。
A x 、 A 4の示す基の更なる置換基としては、
フッ素、塩素、臭素等のハロゲン原子、メチル、エチル
、プロピル、ブチル等のアルキル基、メトキシ、エトキ
シ、プロポキシ等のアルコキシ基、トリフルオロメチル
基、シアノ基等が挙げられる。
フッ素、塩素、臭素等のハロゲン原子、メチル、エチル
、プロピル、ブチル等のアルキル基、メトキシ、エトキ
シ、プロポキシ等のアルコキシ基、トリフルオロメチル
基、シアノ基等が挙げられる。
Xは単結合または2価の鎖状基を示し、好まし一0CH
2CH2−、−CH20−、−CH2CH20−、−5
CH,−。
2CH2−、−CH20−、−CH2CH20−、−5
CH,−。
5CH2CH2−、−CHJ−、−C112G)12s
−、−CH20G−。
−、−CH20G−。
望ましい。
さらに好ましくは、下地層がシリコン窒化物、水素を含
有するシリコン窒化物、シリコン炭化物、水素を含有す
るシリコン炭化物、シリコン酸化物、硼素窒化物、水素
を含有する硼素窒化物、セリウム酸化物、アルミニウム
酸化物、ジルコニウム酸化物、チタン酸化物及びフッ化
マグネシウムから選択された1種以上を含有しているこ
とか望ましい。
有するシリコン窒化物、シリコン炭化物、水素を含有す
るシリコン炭化物、シリコン酸化物、硼素窒化物、水素
を含有する硼素窒化物、セリウム酸化物、アルミニウム
酸化物、ジルコニウム酸化物、チタン酸化物及びフッ化
マグネシウムから選択された1種以上を含有しているこ
とか望ましい。
また、配向制御層か好ましくはポリビニルアルコール、
ポリイミド、ポリアミドイミド、ポリエステルイミド、
ポリパラキシレン、ポリエステル、ポリカーボネート、
ポリビニルアセタール、ポリ塩化ビニル、ポリ酢酸ビニ
ル、ポリアミド、ポリスチレン、セルロース樹脂、メラ
ミン樹脂、ユリヤ樹脂、アクリル樹脂、フォトレジスト
樹脂から選択された1種以上を含有していることか望ま
しい。
ポリイミド、ポリアミドイミド、ポリエステルイミド、
ポリパラキシレン、ポリエステル、ポリカーボネート、
ポリビニルアセタール、ポリ塩化ビニル、ポリ酢酸ビニ
ル、ポリアミド、ポリスチレン、セルロース樹脂、メラ
ミン樹脂、ユリヤ樹脂、アクリル樹脂、フォトレジスト
樹脂から選択された1種以上を含有していることか望ま
しい。
さらに好ましくは配向制御層の厚みが500Å以下であ
ることが望ましく、また、配向制御層材料の誘電率〔2
が10.0以下であることが望ましい。
ることが望ましく、また、配向制御層材料の誘電率〔2
が10.0以下であることが望ましい。
以下に一般式[1]で示される化合物についての代表例
をあげる。
をあげる。
υ
υ
(12:1)
υ
(1:14)
(1:15)
(1:19)
p
D
F
F
N
次に、本発明て用いる液晶性化合物の代表的な合成例を
下記に示す。
下記に示す。
合成例(前記例示化合物No、 1の合成)30mj)
ナスフラスコに下記カルボン酸2.0g(8mmof’
)を入れ、 C,11,?0+C0OH 冷却下、塩化チオニル711Nを加え、攪拌しながら室
温まて昇温させ、さらに冷却管を取りつけ、外温70°
C〜80°Cで4時間加熱還流を行なった。反応後、過
剰の塩化チオニルを留去し、酸塩化物を得た。これをト
ルエン15+sj)に溶解し、0〜5℃に冷却した下記
フェノール誘導体1.44g (8■o1))のピリ
ジン溶液に滴下していった。その後、約2時間、O′C
〜5°Cて攪拌を続け、さらに室温にて16時間攪拌し
た。反応終了後、約200m1’の氷水にあけ、ベンゼ
ンにて抽出を行ない、5%塩酸水溶液で3回洗った後、
イオン交換水て1回、さらに水層のpH値か中性になる
まで5%に2CO3水溶液を加え、その後もう1度イオ
ン交換水で水洗を行なった。
ナスフラスコに下記カルボン酸2.0g(8mmof’
)を入れ、 C,11,?0+C0OH 冷却下、塩化チオニル711Nを加え、攪拌しながら室
温まて昇温させ、さらに冷却管を取りつけ、外温70°
C〜80°Cで4時間加熱還流を行なった。反応後、過
剰の塩化チオニルを留去し、酸塩化物を得た。これをト
ルエン15+sj)に溶解し、0〜5℃に冷却した下記
フェノール誘導体1.44g (8■o1))のピリ
ジン溶液に滴下していった。その後、約2時間、O′C
〜5°Cて攪拌を続け、さらに室温にて16時間攪拌し
た。反応終了後、約200m1’の氷水にあけ、ベンゼ
ンにて抽出を行ない、5%塩酸水溶液で3回洗った後、
イオン交換水て1回、さらに水層のpH値か中性になる
まで5%に2CO3水溶液を加え、その後もう1度イオ
ン交換水で水洗を行なった。
有機層を取り出し、無水硫酸マグネシウムを用いて乾燥
し、溶媒留去して粗製物を得た。これを展開液ベンゼン
を用いて、シリカゲルカラムクロマトグラフィーにて精
製を行なった。
し、溶媒留去して粗製物を得た。これを展開液ベンゼン
を用いて、シリカゲルカラムクロマトグラフィーにて精
製を行なった。
溶媒留去して得た結晶なn−ヘキサンを用いて再結晶し
て精製目的物を得た。さらに、室温にて減圧乾燥を行な
い、最終精製目的物0.95gを得た。
て精製目的物を得た。さらに、室温にて減圧乾燥を行な
い、最終精製目的物0.95gを得た。
収率は28.7%であった。
合成例2(前記例示化合物No、 69の合成)30+
li’ナスフラスコに下記アルコール誘導体2.1g(
6,7:l*moi’)を入れ、 C,H,70R0べ■べH20H 冷却下、塩化チオニル6taI!を加え、攪拌しなから
室温まで昇温させ、さらに冷却管を取りつけ、外温70
°C〜80°Cて4時間加熱還流を行なった。反応後、
過剰の塩化チオニルを留去し、酸塩化物を得た。これを
トルエン15m1)に溶解した。
li’ナスフラスコに下記アルコール誘導体2.1g(
6,7:l*moi’)を入れ、 C,H,70R0べ■べH20H 冷却下、塩化チオニル6taI!を加え、攪拌しなから
室温まで昇温させ、さらに冷却管を取りつけ、外温70
°C〜80°Cて4時間加熱還流を行なった。反応後、
過剰の塩化チオニルを留去し、酸塩化物を得た。これを
トルエン15m1)に溶解した。
次に、200+sI!の三つロフラスコに60%油性水
酸化ナトリウム0.5gを入れ、乾燥n−ヘキサンで数
回洗った後、下記フェノール誘導体1.79g(6,7
3mmoi’)のTHF溶液15mfを室温下に滴下し
、さらにDMSOを20mj)加え1時間攪拌した。こ
れに先に述べた塩化物のトルエン溶液をゆっくりと滴下
し、滴下終了後、さらに室温にて16時間攪拌を続けた
。
酸化ナトリウム0.5gを入れ、乾燥n−ヘキサンで数
回洗った後、下記フェノール誘導体1.79g(6,7
3mmoi’)のTHF溶液15mfを室温下に滴下し
、さらにDMSOを20mj)加え1時間攪拌した。こ
れに先に述べた塩化物のトルエン溶液をゆっくりと滴下
し、滴下終了後、さらに室温にて16時間攪拌を続けた
。
反応終了後、約200mfの氷水にあけ、有機層を分離
し、さらに水層をベンゼン50mA+にて2回抽出を行
なった。
し、さらに水層をベンゼン50mA+にて2回抽出を行
なった。
これを、先に分離した有機層と共に5%塩酸水溶液て2
回洗った後、イオン交換水で1回、さらに5%N a
It O水溶液で1回洗い、その後水層のpH値か中性
を示すまて、イオン交換水で有機層を水洗した。
回洗った後、イオン交換水で1回、さらに5%N a
It O水溶液で1回洗い、その後水層のpH値か中性
を示すまて、イオン交換水で有機層を水洗した。
有機層を取り出し、無水硫酸マグネシウムを用いて乾燥
し溶媒留去して粗製物を得た。
し溶媒留去して粗製物を得た。
これを展開液n−ヘキサン/ジクロロメタン=3/10
を用いてシリカゲルカラムクロマトグラフィーにて精製
を行なった。
を用いてシリカゲルカラムクロマトグラフィーにて精製
を行なった。
溶媒を留去して得た結晶なn−ヘキサンを用いて再結晶
して精製目的物を得た。さらに、室温にて減圧乾燥を行
ない、最終精製目的物を0.74g得た。収率は19.
7%であった。
して精製目的物を得た。さらに、室温にて減圧乾燥を行
ない、最終精製目的物を0.74g得た。収率は19.
7%であった。
合成例3(前記例示化合物No、 78の合J&)30
talナスフラスコに下記カルボン酸2.2g(6,4
:1mmoj’)を入れ、 冷却下、塩化チオニル6raRを加え、攪拌しながら室
温まで昇温させ、さらに冷却管を取りつけ、外温70°
C〜80°Cて4時間加熱還流を行なった。反応後、過
剰の塩化チオニルを留去し、酸塩化物を得た。これをト
ルエン15sI!に溶解し、0〜5℃に冷却した下記チ
オフェノール誘導体1.5:Ig(6,4:1mmoj
’) C,H1、O+SH のピリジン溶液に滴下していった。その後、約2時間0
°C〜5°Cて攪拌を続け、さらに、室温にて16時間
攪拌した。反応終了後、約200mj)の氷水にあけ、
ベンゼンにて抽出を行ない、5%塩酸水溶液て3回洗っ
た後、イオン交検水で1回、さらに水層のpH(i[I
か中性になるまて5%に2GO,水溶液を加え、その後
もう1度イオン交換水て水洗を行なった。
talナスフラスコに下記カルボン酸2.2g(6,4
:1mmoj’)を入れ、 冷却下、塩化チオニル6raRを加え、攪拌しながら室
温まで昇温させ、さらに冷却管を取りつけ、外温70°
C〜80°Cて4時間加熱還流を行なった。反応後、過
剰の塩化チオニルを留去し、酸塩化物を得た。これをト
ルエン15sI!に溶解し、0〜5℃に冷却した下記チ
オフェノール誘導体1.5:Ig(6,4:1mmoj
’) C,H1、O+SH のピリジン溶液に滴下していった。その後、約2時間0
°C〜5°Cて攪拌を続け、さらに、室温にて16時間
攪拌した。反応終了後、約200mj)の氷水にあけ、
ベンゼンにて抽出を行ない、5%塩酸水溶液て3回洗っ
た後、イオン交検水で1回、さらに水層のpH(i[I
か中性になるまて5%に2GO,水溶液を加え、その後
もう1度イオン交換水て水洗を行なった。
有機層を取り出し無水硫酸マグネシウムを用いて乾燥し
、溶媒留去して粗製物を得た。これを展開液ベンゼンを
用いてシリカゲルカラムクロマトグラフィーにて精製を
行なった。
、溶媒留去して粗製物を得た。これを展開液ベンゼンを
用いてシリカゲルカラムクロマトグラフィーにて精製を
行なった。
溶媒留去して得た結晶を、n−ヘキサンを用いて再結晶
して精製目的物を得た。さらに、室温にて減圧乾燥を行
ない、最終精製目的物を1.06g得た。収率は29.
3%であった。
して精製目的物を得た。さらに、室温にて減圧乾燥を行
ない、最終精製目的物を1.06g得た。収率は29.
3%であった。
合成例4(前記例示化合物No、 108の合成)50
mj)ナスフラスコに下記アルコール誘導体3.5g(
24,0■肛1)と CH。
mj)ナスフラスコに下記アルコール誘導体3.5g(
24,0■肛1)と CH。
HOCH2CHOCsH+ +
ピリジン10m1)を入れ、冷却下p−)ルエンスルホ
ン酸クロライド5.5g (28,8mmoj’)を少
量ずつ30分間をかけて加えていった。
ン酸クロライド5.5g (28,8mmoj’)を少
量ずつ30分間をかけて加えていった。
さらに、20°C以下で4時間攪拌を行なった。
これを氷水200■pにあけ、さらに6N塩酸水溶液を
加え、酸性にした。これをイソプロピルエーテル80■
2で3回抽出を行ない、抽出した有機層を4回イオン交
検水で水洗を行なった後、無水硫酸マグネシウムにて乾
燥し、溶媒留去して粗製物を一得た。これを展開液ベン
ゼンを使用し、シリカゲルカラムクロマトグラフィーに
て精製し、中間体のトシル化合物6.13gを得た。
加え、酸性にした。これをイソプロピルエーテル80■
2で3回抽出を行ない、抽出した有機層を4回イオン交
検水で水洗を行なった後、無水硫酸マグネシウムにて乾
燥し、溶媒留去して粗製物を一得た。これを展開液ベン
ゼンを使用し、シリカゲルカラムクロマトグラフィーに
て精製し、中間体のトシル化合物6.13gを得た。
次に、200mf三つロフラスコに下記のフェノール誘
導体4.0g (14,0mmoj’)C,H,,0−
(@→(トO1l とブタノール70III!を入れ、さらに水酸化カリウ
ム1.6gを加え約1時間攪拌した後、さらに50℃〜
60°Cにて2時間攪拌した。
導体4.0g (14,0mmoj’)C,H,,0−
(@→(トO1l とブタノール70III!を入れ、さらに水酸化カリウ
ム1.6gを加え約1時間攪拌した後、さらに50℃〜
60°Cにて2時間攪拌した。
これに、先に作成した中間体トシル化合物4.2g(1
4,0m5of)のブタノール15mA’をゆっくりと
加えた後、約1時間攪拌した。その後、冷却管を取り付
け、加熱還流を6時間行なった。反応終了後、反応液を
氷水250mj>にあけ、6NjJi酸水溶液を加えp
H値を1〜2とした。
4,0m5of)のブタノール15mA’をゆっくりと
加えた後、約1時間攪拌した。その後、冷却管を取り付
け、加熱還流を6時間行なった。反応終了後、反応液を
氷水250mj>にあけ、6NjJi酸水溶液を加えp
H値を1〜2とした。
これをイソプロピルエーテル80mj)で3回抽出を行
なった後、有機層をイオン交検水で水洗し、水層のpH
値か中性を示したところで有機層を分取し、無水硫酸マ
グネシウムを用いて乾燥し、溶媒留去し目的粗製物を得
た。
なった後、有機層をイオン交検水で水洗し、水層のpH
値か中性を示したところで有機層を分取し、無水硫酸マ
グネシウムを用いて乾燥し、溶媒留去し目的粗製物を得
た。
さらに、この粗製物を展開液ベンゼンを用いてシリカゲ
ルカラムクロマトグラフィーにて精製を行なった。流出
展開溶媒を留去し精製物を得た。
ルカラムクロマトグラフィーにて精製を行なった。流出
展開溶媒を留去し精製物を得た。
これをn−ヘキサンを用いて再結晶を行なった後、室温
にて減圧乾燥を行ない、最終精製目的物を0.65g得
た。収率は11.3%であった。
にて減圧乾燥を行ない、最終精製目的物を0.65g得
た。収率は11.3%であった。
合成例5(前記例示化合物No、 161の合成)50
■pナスフラスコに下記アルコール誘導体2.5g(1
4,2濡層OR> と CaHstCHCHtOH ピリジンlSm1+を入れ、冷却下p−トルエンスルホ
ン酸クロライド3.23g (16,9gmmolりを
少量ずつ30分間をかけて加えていった。
■pナスフラスコに下記アルコール誘導体2.5g(1
4,2濡層OR> と CaHstCHCHtOH ピリジンlSm1+を入れ、冷却下p−トルエンスルホ
ン酸クロライド3.23g (16,9gmmolりを
少量ずつ30分間をかけて加えていった。
さらに、20℃以下で4時間攪拌を行なった。
これを氷水200−にあけ、さらに6N塩酸水溶液を加
え、酸性にした。これをイソプロとルエーテル80ti
llて3回抽出を行ない、抽出した有機層を4回イオン
交換水て水洗を行なった後、無水硫酸マグネシウムにて
乾燥し、溶媒留去して粗製物を得た。これを展開液ベン
ゼンを使用し、シリカゲルカラムクロマトクラフィーに
て精製し、中間体のトシル化合物4.5gを得た。
え、酸性にした。これをイソプロとルエーテル80ti
llて3回抽出を行ない、抽出した有機層を4回イオン
交換水て水洗を行なった後、無水硫酸マグネシウムにて
乾燥し、溶媒留去して粗製物を得た。これを展開液ベン
ゼンを使用し、シリカゲルカラムクロマトクラフィーに
て精製し、中間体のトシル化合物4.5gを得た。
次に、200m!!三つロフラスコに下記のフェノール
誘導体3.5g (11,2mmorりとDMF 30
+1+を入れ、さらに水酸化カリウム1.0gを加え約
1時間攪拌した後、さらに90〜95℃にて2時間攪拌
した。
誘導体3.5g (11,2mmorりとDMF 30
+1+を入れ、さらに水酸化カリウム1.0gを加え約
1時間攪拌した後、さらに90〜95℃にて2時間攪拌
した。
これに、先に作成した中間体トシル化合物4.0g(1
2,1maoj))のDMF 10mj+をゆっくりと
加えた後、約1時間攪拌した。その後、冷却管を取り付
け、加8還流を6詩間行なった。反応終了後、反応液を
氷水250■Pにあけ、 6N塩酸水溶液を加えpH値
を1〜2とした。
2,1maoj))のDMF 10mj+をゆっくりと
加えた後、約1時間攪拌した。その後、冷却管を取り付
け、加8還流を6詩間行なった。反応終了後、反応液を
氷水250■Pにあけ、 6N塩酸水溶液を加えpH値
を1〜2とした。
これをベンゼン8hi)て3回抽出を行なった後、有機
層をイオン交換水て水洗し、水層のpo値が中性を示し
たところで有機層を分取し、無水硫酸マグネシウムを用
いて乾燥し、溶媒留去し目的粗製物を得た。
層をイオン交換水て水洗し、水層のpo値が中性を示し
たところで有機層を分取し、無水硫酸マグネシウムを用
いて乾燥し、溶媒留去し目的粗製物を得た。
さらに、この粗製物を展開液ベンゼンを用いてシリカゲ
ルカラムクロマトグラフィーにて精製を行なった。流出
展開溶媒を留去し精製物を得た。
ルカラムクロマトグラフィーにて精製を行なった。流出
展開溶媒を留去し精製物を得た。
これをエタノールを用いて再結晶を行なった後、室温に
て減圧乾燥を行ない、最終精製目的物2.4gを得た。
て減圧乾燥を行ない、最終精製目的物2.4gを得た。
収率は45.5%であった。
以上の合成側以外の化合物についても、一般的にカルボ
ン酸誘導体を常法により酸塩化物にし、次いて対応する
アルコール、チオール等の誘導体とアルカリ存在下で反
応させるか、あるいはアルコール誘導体を常法によりハ
ロゲン化物あるいはトシル化物とし、対応するアルコー
ル誘導体とアルカリ存在下で反応させる手法で容易に製
造することができる。
ン酸誘導体を常法により酸塩化物にし、次いて対応する
アルコール、チオール等の誘導体とアルカリ存在下で反
応させるか、あるいはアルコール誘導体を常法によりハ
ロゲン化物あるいはトシル化物とし、対応するアルコー
ル誘導体とアルカリ存在下で反応させる手法で容易に製
造することができる。
本発明による強誘電性液晶素子における強誘電性液晶層
は、前記一般式で示される液晶性化合物1種以上を適当
な割合で混合せしめて強誘電性液晶組成物を作り、これ
を真空中、等方性液体温度まて加熱し、素子セル中に封
入し、徐々に冷却し、液晶層を形成させ、常圧にもどす
ことが好ましい。
は、前記一般式で示される液晶性化合物1種以上を適当
な割合で混合せしめて強誘電性液晶組成物を作り、これ
を真空中、等方性液体温度まて加熱し、素子セル中に封
入し、徐々に冷却し、液晶層を形成させ、常圧にもどす
ことが好ましい。
上記強誘電性液晶組成物中の各液晶性化合物の配合割合
は、それぞれ1〜99%とすることか望ましい。
は、それぞれ1〜99%とすることか望ましい。
第1図は本発明の強誘電性液晶素子の構成の説明のため
に強誘電性液晶層を有する液晶表示素子の一例を示す断
面概略図である。
に強誘電性液晶層を有する液晶表示素子の一例を示す断
面概略図である。
第1図において符号lは強誘電性液晶層、2は ゛ガラ
ス基板、3は透明電極、4は下地層、4′は配向制御層
、5はスペーサー、6はリード線、7は電源、8は偏光
板、9は光源を示している。
ス基板、3は透明電極、4は下地層、4′は配向制御層
、5はスペーサー、6はリード線、7は電源、8は偏光
板、9は光源を示している。
2枚のガラス基板2にはそれぞれIn2O3,SnO□
あるいはITO(Indium−Tin 0xide)
等の薄膜から成る透明電極か被覆されている。
あるいはITO(Indium−Tin 0xide)
等の薄膜から成る透明電極か被覆されている。
その上に本発明においては下地層か設けられ、さらにそ
の上に液晶を一定の方向に配向させるための配向制御層
が設けられている。
の上に液晶を一定の方向に配向させるための配向制御層
が設けられている。
さらに、本発明においては下地層の厚み(a +)およ
び誘電率(εI)と配向制御層の厚み(d2)および誘
電率(ε2)が下記関係式(1)、(2)を満足する様
に構成されている。
び誘電率(εI)と配向制御層の厚み(d2)および誘
電率(ε2)が下記関係式(1)、(2)を満足する様
に構成されている。
関係式(1) d+ > d2関係式(2)
G+ > ε2この関係式を満足する様にして
作成された本発明による強誘電性液晶素子が、諸物件(
薄層での配向性向上、上下電極間のショート防止、画素
チラッキ等による画像欠陥、双安定性)を著しく改善し
うる事は後述する実施例の中て示すか、その理由は、界
面における残留電荷の影響の違い等によるものと推察て
きるが定かでは無い。
G+ > ε2この関係式を満足する様にして
作成された本発明による強誘電性液晶素子が、諸物件(
薄層での配向性向上、上下電極間のショート防止、画素
チラッキ等による画像欠陥、双安定性)を著しく改善し
うる事は後述する実施例の中て示すか、その理由は、界
面における残留電荷の影響の違い等によるものと推察て
きるが定かでは無い。
本発明に使用する下地層は、一般に蒸着法、前駆体塗布
加熱反応焼結法などで形成でき、また配向制御層は、配
向制御材料を溶解させた溶液またはその前駆体溶液(溶
剤に0.1〜20重量%、好ましくは0.2〜10重量
%溶解)を用いて、スピンチー塗布法、浸漬塗布法、ス
クリーン印刷法、スプレー塗布法、ロール塗布法等で塗
布し、所定の硬化条件下(例えば加熱下)で硬化させ形
成させることかてきる。
加熱反応焼結法などで形成でき、また配向制御層は、配
向制御材料を溶解させた溶液またはその前駆体溶液(溶
剤に0.1〜20重量%、好ましくは0.2〜10重量
%溶解)を用いて、スピンチー塗布法、浸漬塗布法、ス
クリーン印刷法、スプレー塗布法、ロール塗布法等で塗
布し、所定の硬化条件下(例えば加熱下)で硬化させ形
成させることかてきる。
この2枚のガラス基板2はスペーサー5によって任意の
間隔に保たれている。例えば、所定の直径を持つシリカ
ビーズ、アルミナビーズをスペーサーとしてガラス基板
2枚を挟持し、周囲をシール材、例えばエポキシ系接着
材等を用いて密封する方法がある。
間隔に保たれている。例えば、所定の直径を持つシリカ
ビーズ、アルミナビーズをスペーサーとしてガラス基板
2枚を挟持し、周囲をシール材、例えばエポキシ系接着
材等を用いて密封する方法がある。
その他、スペーサーとして高分子フィルムやガラスファ
イバー等を用いても良い。この2枚のガラス基板の間に
強誘電性液晶が封入されている。
イバー等を用いても良い。この2枚のガラス基板の間に
強誘電性液晶が封入されている。
強誘電性液晶が封入された強誘電性液晶層は、一般には
0.5〜20pm、好ましくは1.0〜5.01Llで
ある。
0.5〜20pm、好ましくは1.0〜5.01Llで
ある。
透明電極3からはリード線によって、外部電源7に接続
されている。また、ガラス基板2の外側には偏光板8が
貼り合されている。第1図は透明型なので光源9を備え
ている。
されている。また、ガラス基板2の外側には偏光板8が
貼り合されている。第1図は透明型なので光源9を備え
ている。
第2図は、強誘電性液晶子の動作説明のために、セルの
例を模式的に描いたものである。21aと21bは、そ
れぞれIn2(1+ 、 SnO2あるいはITO(I
ndium−Tin 0xide)等の薄膜からなる透
明電極で被覆された基板(ガラス板)てあり、その間に
液晶分子層22がガラス面に垂直になるよう配向したS
■C″相又はSmH”相の液晶か封入されている。太線
て示した線23が液晶分子を表わしており、この液晶分
子23はその分子に直交した方向に双極子モーメント(
Pよ)24を有している。基板21aと21b上の電極
間に一定の閾値以上の電圧を印加すると、液晶分子23
のらせん構造かほどけ、双極子モーメント(Pよ)24
かすべて電界方向に向くよう、液晶分子23は配向方向
を変えることがてきる。液晶分子23は、細長い形状を
有しており、その長袖方向と短軸方向で屈折率異方性を
示し、従って例えばガラス面の上下に互いにクロスニコ
ルの偏光子を置けば、電圧印加極性によって光学特性が
変わる液晶光学変調素子となることは、容易に理解され
る。
例を模式的に描いたものである。21aと21bは、そ
れぞれIn2(1+ 、 SnO2あるいはITO(I
ndium−Tin 0xide)等の薄膜からなる透
明電極で被覆された基板(ガラス板)てあり、その間に
液晶分子層22がガラス面に垂直になるよう配向したS
■C″相又はSmH”相の液晶か封入されている。太線
て示した線23が液晶分子を表わしており、この液晶分
子23はその分子に直交した方向に双極子モーメント(
Pよ)24を有している。基板21aと21b上の電極
間に一定の閾値以上の電圧を印加すると、液晶分子23
のらせん構造かほどけ、双極子モーメント(Pよ)24
かすべて電界方向に向くよう、液晶分子23は配向方向
を変えることがてきる。液晶分子23は、細長い形状を
有しており、その長袖方向と短軸方向で屈折率異方性を
示し、従って例えばガラス面の上下に互いにクロスニコ
ルの偏光子を置けば、電圧印加極性によって光学特性が
変わる液晶光学変調素子となることは、容易に理解され
る。
本発明における光学変調素子で好ましく用いられる液晶
セルは、その厚さを充分に薄く(例えば104以下)す
ることができる、このように液晶層か薄くなるにしたか
い、第3図に示すように電界を印加していない状態ても
液晶分子のらせん構造かほどけ、その双極子モーメント
Paまたはpbは上向き(34a)又は下向き(34b
)のどちらかの状態をとる。このようなセルに、第3図
に示す如く一定の閾値以上の極性の異なる電界Ea又は
Ebを電圧印加手段31aと31bにより付与すると、
双極子モーメントは、電界Ea又はEbの電界ベクトル
に対応して上向き34a又は下向き34bと向きを変え
、それに応じて液晶分子は、第1の安定状pJ33Bか
あるいは第2の安定状Fg3:lbの何れか一方に配向
する。
セルは、その厚さを充分に薄く(例えば104以下)す
ることができる、このように液晶層か薄くなるにしたか
い、第3図に示すように電界を印加していない状態ても
液晶分子のらせん構造かほどけ、その双極子モーメント
Paまたはpbは上向き(34a)又は下向き(34b
)のどちらかの状態をとる。このようなセルに、第3図
に示す如く一定の閾値以上の極性の異なる電界Ea又は
Ebを電圧印加手段31aと31bにより付与すると、
双極子モーメントは、電界Ea又はEbの電界ベクトル
に対応して上向き34a又は下向き34bと向きを変え
、それに応じて液晶分子は、第1の安定状pJ33Bか
あるいは第2の安定状Fg3:lbの何れか一方に配向
する。
このような強誘電性液晶素子を光学変調素子として用い
ることの利点は、先にも述べたが2つある。
ることの利点は、先にも述べたが2つある。
その第1は、応答速度か極めて速いことてあり、第2は
液晶分子の配向が双安定性を有することである。第2の
点を、例えば第3図によって更に説明すると、電界Ea
を印加すると液晶分子は第1の安定状$33aに配向す
るが、この状態は電界を切っても安定である。又、逆向
きの電界Ebを印加すると、液晶分子は第2の安定状$
33bに配向して、その分子の向きを変えるか、やはり
電界を切ってもこの状態に留っている。又、与える電界
EaあるいはEbが一定の閾値を越えない限り、それぞ
れ前の配向状態にやはり維持されている。このような応
答速度の速さと、双安定性か有効に実現されるにはセル
としては出来るたけ薄い方が好ましく、−膜内には、0
.5ル〜20終、特にIg〜5川か適している。
液晶分子の配向が双安定性を有することである。第2の
点を、例えば第3図によって更に説明すると、電界Ea
を印加すると液晶分子は第1の安定状$33aに配向す
るが、この状態は電界を切っても安定である。又、逆向
きの電界Ebを印加すると、液晶分子は第2の安定状$
33bに配向して、その分子の向きを変えるか、やはり
電界を切ってもこの状態に留っている。又、与える電界
EaあるいはEbが一定の閾値を越えない限り、それぞ
れ前の配向状態にやはり維持されている。このような応
答速度の速さと、双安定性か有効に実現されるにはセル
としては出来るたけ薄い方が好ましく、−膜内には、0
.5ル〜20終、特にIg〜5川か適している。
[実施例]
以下実施例により本発明について、更に詳細に説明する
が、本発明はこれらの実施例に限定されるものではない
。
が、本発明はこれらの実施例に限定されるものではない
。
実施例1
O誘電率の測定
5i(n”)ウェハー上にSiO□を常法により蒸着さ
せた。段差測定法により厚みを測定したところ1.12
終lてあった。
せた。段差測定法により厚みを測定したところ1.12
終lてあった。
さらに、この上にアルミニウム電極を直径lIImにな
るように蒸着法にて形成させた。
るように蒸着法にて形成させた。
5i(n”)ウェハーとアルミニウム電極間の電気容量
を電気容量計[横河ヒユーレット・バッカー社製、モデ
ル4192A]を使用して測定し、下記式より算出した
。
を電気容量計[横河ヒユーレット・バッカー社製、モデ
ル4192A]を使用して測定し、下記式より算出した
。
その結果、5in2の誘電率ε、=3.8であった。
同様にして、ポリイミド樹脂[東し■製、5P710]
前駆体の2%ジメチルアセトアミド溶液を用い、5i(
n”)ウェハー上にスピンナー塗布し、成膜後、60分
間、300°Cに加熱し縮合焼成処理を施した後アルミ
ニウム電極を形成させ、容量測定より、このポリイミド
樹脂の誘電率を算出した。
前駆体の2%ジメチルアセトアミド溶液を用い、5i(
n”)ウェハー上にスピンナー塗布し、成膜後、60分
間、300°Cに加熱し縮合焼成処理を施した後アルミ
ニウム電極を形成させ、容量測定より、このポリイミド
樹脂の誘電率を算出した。
その結果ポリイミド樹脂[5P710]の誘電率@2=
3.2であった。この5in2を下地層に、ポリイミド
樹脂を配向制御層に用いて下記に述べる様に強誘電性液
晶素子を作成した。
3.2であった。この5in2を下地層に、ポリイミド
樹脂を配向制御層に用いて下記に述べる様に強誘電性液
晶素子を作成した。
0素子の作成
2枚の0.7mm厚のガラス板を用意し、それぞれのガ
ラス板上にITO膜を形成して電圧印加電極を作成し、
さらにこの上に5in2をその膜厚が500人になるよ
うに蒸着させた。ガラス板上にシランカップリング剤[
信越化学■製、 KBM−60210,2%イソプロピ
ルアルコール溶液を回転数2000r、p−mの回転速
度で、15秒間塗布し表面処理を施した。
ラス板上にITO膜を形成して電圧印加電極を作成し、
さらにこの上に5in2をその膜厚が500人になるよ
うに蒸着させた。ガラス板上にシランカップリング剤[
信越化学■製、 KBM−60210,2%イソプロピ
ルアルコール溶液を回転数2000r、p−mの回転速
度で、15秒間塗布し表面処理を施した。
この後120°Cにて20分間加熱乾燥処理を施した。
さらに表面処理を行なったITO膜付きのガラス板上に
ポリイミド樹脂前駆体[東し■、5P−51011,3
%ジメチルアセトアミド溶液を回転数2100r、p、
mのスピンナーで15秒間塗布した。成膜後、60分間
、300℃加熱縮合焼成処理を施した。この時の塗膜の
膜厚は約180人てあった。
ポリイミド樹脂前駆体[東し■、5P−51011,3
%ジメチルアセトアミド溶液を回転数2100r、p、
mのスピンナーで15秒間塗布した。成膜後、60分間
、300℃加熱縮合焼成処理を施した。この時の塗膜の
膜厚は約180人てあった。
この焼成後の被膜には、アセテート植毛布によるラビン
グ処理がなされ、その後イソプロピルアルコール液て洗
浄し、平均粒径2IL11のアルミナビーズを一方のガ
ラス板上に散布した後、それぞれのラビング処理軸が互
いに平行となる様にし、接着シール剤[リクソンボンド
(チッソv4)]を用いて、ガラス板を貼り合わせ、6
0分間、100°Cにて加熱乾燥しセルを作成した。こ
のセルのセル厚をベレック位相板によって測定したとこ
ろ、約2終1てあった。
グ処理がなされ、その後イソプロピルアルコール液て洗
浄し、平均粒径2IL11のアルミナビーズを一方のガ
ラス板上に散布した後、それぞれのラビング処理軸が互
いに平行となる様にし、接着シール剤[リクソンボンド
(チッソv4)]を用いて、ガラス板を貼り合わせ、6
0分間、100°Cにて加熱乾燥しセルを作成した。こ
のセルのセル厚をベレック位相板によって測定したとこ
ろ、約2終1てあった。
次に、下記No、の前記例示化合物を下記重量部て混合
せしめ強誘電性液晶組成物を作成した。
せしめ強誘電性液晶組成物を作成した。
例示化合物No。
25重量部
15重量部
125重量部
20重量部
1765重量部
13.5重量部
11.5重量部
真空中1等方相下、均−混合液体状態て、前述の方法で
作成したセル内に注入した。等吉相から5℃/hて30
℃まで徐冷した後常圧にもどし、強誘電性液晶素子を作
成した。
作成したセル内に注入した。等吉相から5℃/hて30
℃まで徐冷した後常圧にもどし、強誘電性液晶素子を作
成した。
この強誘電性液晶素子を使って、ピーク・トウ・ピーク
電圧20Vの電圧印加により、直交ニコル下での光学的
な応答(透過光量変化O〜90%)を検知して、応答速
度(以後、光学応答速度という)を測定した。その結果
を次に示す。
電圧20Vの電圧印加により、直交ニコル下での光学的
な応答(透過光量変化O〜90%)を検知して、応答速
度(以後、光学応答速度という)を測定した。その結果
を次に示す。
15°C’ 30°C45℃
1100JLsec 290 psec 1:15
psecまた、30°Cにおけるこの強誘電性液晶素
子の駆動時のコントラストは16で、明瞭なスイッチン
グ動作か観察された。また、この素子内の均一配向性は
良好てあり、モノドメイン状態が得られた。
psecまた、30°Cにおけるこの強誘電性液晶素
子の駆動時のコントラストは16で、明瞭なスイッチン
グ動作か観察された。また、この素子内の均一配向性は
良好てあり、モノドメイン状態が得られた。
さらに、電圧印加を止めた際の双安定性も良好であった
。
。
同様の方法て、同様の強誘電性液晶素子を50個作成し
、同様の測定・観察等を行なったが、いずれの素子も同
様の結果を示し、また上下電極間ショートは皆無であっ
た。また、作成した強誘電性液晶素子を35℃、湿度9
0%の環境下て24時間連続駆動させ、さらに1週間放
置する環境耐久試験を行なった後、上記特性評価を再度
行なったところ、何ら変化は無かった。
、同様の測定・観察等を行なったが、いずれの素子も同
様の結果を示し、また上下電極間ショートは皆無であっ
た。また、作成した強誘電性液晶素子を35℃、湿度9
0%の環境下て24時間連続駆動させ、さらに1週間放
置する環境耐久試験を行なった後、上記特性評価を再度
行なったところ、何ら変化は無かった。
実施例2
実施例1て用いたSiO□[ε=3.8]に代えて、5
iJz[ε・6.61を用いて下地層を形成し、またポ
リイミド樹脂(束し■、5P710;ε・3.2)に代
えてポリビニルアルコール〔クラレ■、 PVA117
゜ε−6,2〕を使用して配向制御層を形成した以外は
、実施例1と同様の方法で強誘電性液晶素子を作成し、
実施例1と同様の検討を行なった。その結果は下記の通
りである。
iJz[ε・6.61を用いて下地層を形成し、またポ
リイミド樹脂(束し■、5P710;ε・3.2)に代
えてポリビニルアルコール〔クラレ■、 PVA117
゜ε−6,2〕を使用して配向制御層を形成した以外は
、実施例1と同様の方法で強誘電性液晶素子を作成し、
実施例1と同様の検討を行なった。その結果は下記の通
りである。
15℃ 30℃ 45°C1100pse
c :105p、sec 140 p−5ecまた
、30°Cにおけるこの強誘電性液晶素子の駆動時のコ
ントラストは15で、明瞭なスイッチング動作が観察さ
れた。素子内の均一配向性は良好であり、モノドメイン
状態が得られた。さらに、電圧印加を止めた際の双安定
性も良好であった。
c :105p、sec 140 p−5ecまた
、30°Cにおけるこの強誘電性液晶素子の駆動時のコ
ントラストは15で、明瞭なスイッチング動作が観察さ
れた。素子内の均一配向性は良好であり、モノドメイン
状態が得られた。さらに、電圧印加を止めた際の双安定
性も良好であった。
同様の方法で、同様の強誘電性液晶素子を50個作成し
、同様の測定・観察等を行なったが、いずれの素子も同
様の結果を示し、また上下電極間ショートは1つ生じた
だけだった。また、実施例1と同様の環境耐久試験と再
評価を行なったが、何ら変化は無かった。
、同様の測定・観察等を行なったが、いずれの素子も同
様の結果を示し、また上下電極間ショートは1つ生じた
だけだった。また、実施例1と同様の環境耐久試験と再
評価を行なったが、何ら変化は無かった。
実施例3
実施例1で用いた強誘電性液晶組成物に代えて、下記N
o、の前記例示化合物を各重量部て用いた以外は、実施
例1と全く同様の方法て強誘電性液晶素子を作成し、実
施例1と同様の検討を行なった。その結果を下記に示す
。
o、の前記例示化合物を各重量部て用いた以外は、実施
例1と全く同様の方法て強誘電性液晶素子を作成し、実
施例1と同様の検討を行なった。その結果を下記に示す
。
例示化合物No。
15重量部
21重量部
21重量部
35重量部
8重量部
15重量部
15℃ 30℃ 45℃
8904sec :185 ILsec 160
gsecまた、30°Cにおけるこの強誘電性液晶素子
の駆動時のコントラストは16で、明瞭なスイッチング
動作が観察された。素子内の均一配向性は良好であり、
モノドメイン状態が得られた。さらに、電圧印加を止め
た際の双安定性も良好であった。
gsecまた、30°Cにおけるこの強誘電性液晶素子
の駆動時のコントラストは16で、明瞭なスイッチング
動作が観察された。素子内の均一配向性は良好であり、
モノドメイン状態が得られた。さらに、電圧印加を止め
た際の双安定性も良好であった。
同様の方法で、同様の強誘電性液高素子を50個作成し
、同様の測定・観察等を行なったが、いずれの素子も同
様の結果を示し、また上下電極間ショートは皆無であっ
た。
、同様の測定・観察等を行なったが、いずれの素子も同
様の結果を示し、また上下電極間ショートは皆無であっ
た。
また、実施例1と同様の方法で、環境耐久試験を行なっ
たが、特性評価結果に何ら変化は無かった。
たが、特性評価結果に何ら変化は無かった。
実施例4
実施例3で用いた下地層、配向制御層に代えて、実施例
2で用いた下地層、配向制御層を用いた以外は、実施例
3と同様の方法で強誘電性液晶セルを作成し、実施例3
と同様の検討を行なった。その結果を次に示す。
2で用いた下地層、配向制御層を用いた以外は、実施例
3と同様の方法で強誘電性液晶セルを作成し、実施例3
と同様の検討を行なった。その結果を次に示す。
15℃ 30°C45℃
900 gsec :190 ILsec 175
p−5ecまた、30℃におけるこの強誘電性液晶素
子の駆動時のコントラストは16で、明瞭なスイッチン
グ動作か観察された。また、均一配向性は良好であり、
モノドメイン状態が得られた。さらに、電圧印加を止め
た際の双安定性も良好であった。
p−5ecまた、30℃におけるこの強誘電性液晶素
子の駆動時のコントラストは16で、明瞭なスイッチン
グ動作か観察された。また、均一配向性は良好であり、
モノドメイン状態が得られた。さらに、電圧印加を止め
た際の双安定性も良好であった。
同様の方法て、同様の強誘電性液晶素子を50個作成し
、同様の測定・観察等を行なったが、いずれの素子も同
様の結果を示し、また上下電極間ショートは皆無であっ
た。
、同様の測定・観察等を行なったが、いずれの素子も同
様の結果を示し、また上下電極間ショートは皆無であっ
た。
さらに、実施例1と同様の環境耐久試験を行なったが、
特性評価結果に何ら変化は無かった。
特性評価結果に何ら変化は無かった。
実施例5
実施例1で用いた強誘電性液晶組を物に代えて、下記化
合%No、で示す前記例示液晶性化合物を用いた以外は
、実施例1と同様の方法で強誘電性液晶素子を作成し、
実施例1と同様の検討を行なった。その結果を下記に示
す。
合%No、で示す前記例示液晶性化合物を用いた以外は
、実施例1と同様の方法で強誘電性液晶素子を作成し、
実施例1と同様の検討を行なった。その結果を下記に示
す。
例示化合物No。
14重量部
14重量部
12重量部
22重量部
10重量部
「
8重量部
15重量部
5重量部
15℃ 30°C45℃
280 ILsec 150 ILsec 105
1Lsecまた、30℃におけるこの強誘電性液晶素子
の駆動時のコントラストは15で、明瞭なスイッチング
動作が観察された。素子内の均一配向性は良好てあり、
モノドメイン状態が得られた。さらに、電圧印加を止め
た際の双安定性も良好であった。
1Lsecまた、30℃におけるこの強誘電性液晶素子
の駆動時のコントラストは15で、明瞭なスイッチング
動作が観察された。素子内の均一配向性は良好てあり、
モノドメイン状態が得られた。さらに、電圧印加を止め
た際の双安定性も良好であった。
同様の方法で、同様の強誘電性液晶素子を50個作成し
、同様の測定・観察等を行なったが、いずれの素子も同
様の結果を示し、また上下電極間ショートは皆無であっ
た。
、同様の測定・観察等を行なったが、いずれの素子も同
様の結果を示し、また上下電極間ショートは皆無であっ
た。
また、実施例1と同様の方法で環境耐久試験を行なった
が、特性評価結果に変化は無かった。
が、特性評価結果に変化は無かった。
実施例6
実施例1で用いたポリイミド樹脂(東し■。
5P71G、誘電率ε−3,2)に代えて、ポリイミド
樹脂(日産化学工業縛、サンエバー150.誘電率ε−
3,1)を用いて配向制御層を形成した以外は、実施例
1と同様の方法で強誘電性液晶素子を作成し、実施例1
と同様の検討を行なった。その結果を下記に示す。
樹脂(日産化学工業縛、サンエバー150.誘電率ε−
3,1)を用いて配向制御層を形成した以外は、実施例
1と同様の方法で強誘電性液晶素子を作成し、実施例1
と同様の検討を行なった。その結果を下記に示す。
15℃ 30℃ 45℃
1055ILsec 280 ILsec 125
1Lsecまた。30℃におけるこの強誘電性液晶素子
の駆動時のコントラストは14で、明瞭なスイッチング
動作が観察された。素子内の均一配向性は良好であり、
モノドメイン状態が得られた。さらに、電圧印加を止め
た際の双安定性も良好であった。
1Lsecまた。30℃におけるこの強誘電性液晶素子
の駆動時のコントラストは14で、明瞭なスイッチング
動作が観察された。素子内の均一配向性は良好であり、
モノドメイン状態が得られた。さらに、電圧印加を止め
た際の双安定性も良好であった。
同様の方法で、同様の強誘電性液晶素子を50個作成し
、同様の測定・観察等を行なったが、いずれの素子も同
様の結果を示し、また上下電極間ショートは皆無であっ
た。
、同様の測定・観察等を行なったが、いずれの素子も同
様の結果を示し、また上下電極間ショートは皆無であっ
た。
また、実施例1と同様の環境耐久試験を行なったが、特
性評価結果に何ら変化は無かった。
性評価結果に何ら変化は無かった。
実施例7
実施例3で用いたSin、に代えてAi’a03(誘電
率ε−10,0)を用いて下地層を形成し、ポリイミド
樹脂(東し■、 5P710.誘電率ε−:1.2)に
代えて、他のポリイミド樹脂〔0産化学工業、 RN3
05゜ε=5.5)を用いて配向制御層を形成した以外
は、実施例3と同様の方法で強誘電性液晶素子を作成し
、実施例3と同様の検討を行なった。その結果を下記に
示す。
率ε−10,0)を用いて下地層を形成し、ポリイミド
樹脂(東し■、 5P710.誘電率ε−:1.2)に
代えて、他のポリイミド樹脂〔0産化学工業、 RN3
05゜ε=5.5)を用いて配向制御層を形成した以外
は、実施例3と同様の方法で強誘電性液晶素子を作成し
、実施例3と同様の検討を行なった。その結果を下記に
示す。
15℃ 30℃ 45℃
885 JLsec 375 JLsec 155
1Lsecまた、30°Cにおけるこの強誘電性液晶素
子の駆動時のコントラストは15で、明瞭なスイッチン
グ動作が観察された。素子内の均一配向性は良好であり
、モノドメイン状態が得られた。さらに、電圧印加を止
めた際の双安定性も良好であった。
1Lsecまた、30°Cにおけるこの強誘電性液晶素
子の駆動時のコントラストは15で、明瞭なスイッチン
グ動作が観察された。素子内の均一配向性は良好であり
、モノドメイン状態が得られた。さらに、電圧印加を止
めた際の双安定性も良好であった。
同様の方法で、同様の強誘電性液晶素子を50個作成し
、同様の測定・観察等を行なったが、いずれの素子も同
様の結果を示し、また上下電極間ショートは皆無であっ
た。
、同様の測定・観察等を行なったが、いずれの素子も同
様の結果を示し、また上下電極間ショートは皆無であっ
た。
また、実施例1と同様の環境耐久試験を行なったが、特
性評価結果に何ら変化は無かった。
性評価結果に何ら変化は無かった。
実施例8
実施例1で使用した強誘電性液晶化合物、および作成し
た強誘電性液晶組成物を各々、サンプルビンに40Bず
つ取り、これを温度35℃、湿度90%の環境下1週間
放置する環境耐久試験を行なった。放置後、各試料の変
化を薄層クロマトグラフィー、高速液体クロマトグラフ
ィー、DSC等で放置前との変化の比較を行なったが、
何ら変化は認められなかった。
た強誘電性液晶組成物を各々、サンプルビンに40Bず
つ取り、これを温度35℃、湿度90%の環境下1週間
放置する環境耐久試験を行なった。放置後、各試料の変
化を薄層クロマトグラフィー、高速液体クロマトグラフ
ィー、DSC等で放置前との変化の比較を行なったが、
何ら変化は認められなかった。
比較例1
実施例1で用いた5iOzの厚みを50人にした以外は
、実施例1と全く同様の方法で強誘電性液晶素子を作成
したところ、上下電極間ショートが頻発し、再現性のあ
る測定結果が得られなかった。
、実施例1と全く同様の方法で強誘電性液晶素子を作成
したところ、上下電極間ショートが頻発し、再現性のあ
る測定結果が得られなかった。
また、測定し得た素子においても、部分的にスイッチン
グ動作が観察されないなどの現象か現われた゛。
グ動作が観察されないなどの現象か現われた゛。
比較例2
実施例1て用いたポリイミド樹脂の厚みを800人にし
た以外は実施例1と全く同様の方法で強誘電性液晶素子
を作成し、実施例1と同様の検討を行なった。その結果
、次に示す様に光学応答性の著しい低下を生じた。
た以外は実施例1と全く同様の方法で強誘電性液晶素子
を作成し、実施例1と同様の検討を行なった。その結果
、次に示す様に光学応答性の著しい低下を生じた。
15℃ 30℃ 45℃
1850ルsee 620ルsec 445ルse
cまた、素子内の均一配向性はやや乱れ、モノドメイン
状態は得られなかった。
cまた、素子内の均一配向性はやや乱れ、モノドメイン
状態は得られなかった。
比較例3
実施例1で用いたポリイミド樹脂に代えて、ポリビニル
アルコール樹脂〔クラレ■、誘電率ε=9.8)を用い
た以外は全〈実施例1と同様の方法て強誘電性液晶素子
を作成し、同様の検討な行なった。その結果を次に示す
。
アルコール樹脂〔クラレ■、誘電率ε=9.8)を用い
た以外は全〈実施例1と同様の方法て強誘電性液晶素子
を作成し、同様の検討な行なった。その結果を次に示す
。
15℃ 30℃ 45°C1200ILs
ec 310 JLsec 150 p1、sec
また、30℃におけるこの強誘電性液晶素子の駆動時の
コントラストは12てあったが、チラッキ等のスイッチ
ング不良が見られ、画像欠陥となっていた。また、素子
内の均一配向性はやや乱れ、さらに電圧印加を止めた際
の双安定性も安定していなかった。
ec 310 JLsec 150 p1、sec
また、30℃におけるこの強誘電性液晶素子の駆動時の
コントラストは12てあったが、チラッキ等のスイッチ
ング不良が見られ、画像欠陥となっていた。また、素子
内の均一配向性はやや乱れ、さらに電圧印加を止めた際
の双安定性も安定していなかった。
比較例4
実施例1て使用した強誘電性液晶組成物に代えて、下記
構造式で示す強誘電性液晶化合物を下記重量部で用いた
以外は、実施例1と同様の方法で強誘電性液晶素子を作
成し、実施例1と同様の方法で検討を行なった。その結
果を次に示す。
構造式で示す強誘電性液晶化合物を下記重量部で用いた
以外は、実施例1と同様の方法で強誘電性液晶素子を作
成し、実施例1と同様の方法で検討を行なった。その結
果を次に示す。
重量部
15℃ 30℃ 45℃ 80℃−−
−10ロ ILsec 作成した素子を、実施例1と同様の環境耐久試験を行な
ったところ、光学応答速度が著しく低下し、またスイッ
チング動作も著しく観察しずらくなってしまった。
−10ロ ILsec 作成した素子を、実施例1と同様の環境耐久試験を行な
ったところ、光学応答速度が著しく低下し、またスイッ
チング動作も著しく観察しずらくなってしまった。
比較例5
比較例4で使用した強誘電性液晶化合物を実施例8と同
様の方法で環境耐久試験を行なった。
様の方法で環境耐久試験を行なった。
その結果、比較例4で使用した強誘電性化合物は、高温
高湿度下分解等の化学変化を生じていることか、薄層ク
ロマトグラフィー、高速液体クロマトグラフィー、DS
C等の結果より認められた。
高湿度下分解等の化学変化を生じていることか、薄層ク
ロマトグラフィー、高速液体クロマトグラフィー、DS
C等の結果より認められた。
以上の結果からも明らかな様に、本発明による強誘電性
液晶素子は配向制御性が良好で、上下電極間のショート
防止効果が向上し、画素チラッキ等による画像欠陥か改
善され、双安定性の良好な温度・湿度に対する耐久性・
安定性の向上した強誘電性液晶素子であることが解る。
液晶素子は配向制御性が良好で、上下電極間のショート
防止効果が向上し、画素チラッキ等による画像欠陥か改
善され、双安定性の良好な温度・湿度に対する耐久性・
安定性の向上した強誘電性液晶素子であることが解る。
実施例9〜20
実施例1で用いた下地層、配向制御層のいずれか一方、
あるいは両方に代えて表1に示す下地層材料あるいは配
向制御材料を表1に示す膜厚に形成させ用いた以外は、
実施例1と同様の方法で強誘電性液晶素子を作成し、実
施例1と同様の検討を行なった。
あるいは両方に代えて表1に示す下地層材料あるいは配
向制御材料を表1に示す膜厚に形成させ用いた以外は、
実施例1と同様の方法で強誘電性液晶素子を作成し、実
施例1と同様の検討を行なった。
作成した強誘電性液晶素子はいずれも明瞭なコントラス
ト、スイッチング動作が観察された。また、均一配向性
は良好であり、モノドメイン状態が得られた。さらに、
電圧印加を止めた際の双安定性も良好であり、上下電極
間ショートを生じた素子は皆無であった。
ト、スイッチング動作が観察された。また、均一配向性
は良好であり、モノドメイン状態が得られた。さらに、
電圧印加を止めた際の双安定性も良好であり、上下電極
間ショートを生じた素子は皆無であった。
また、実施例1と同様の方法で環境耐久試験を行ない、
再度特性評価を行なったが、何ら変化は無かった。
再度特性評価を行なったが、何ら変化は無かった。
実施例21〜34
実施例1で用いた強誘電性液晶組成物に代えて、表2に
示す強誘電性液晶組成物を各重量部で用いた以外は、実
施例1と同様の方法で強誘電性液晶素子を作成し、実施
例1と同様の検討を行なった。
示す強誘電性液晶組成物を各重量部で用いた以外は、実
施例1と同様の方法で強誘電性液晶素子を作成し、実施
例1と同様の検討を行なった。
作成した強誘電性液晶素子はいずれも駆動時において明
瞭なコントラストとスイッチング動作が観察された。ま
た、均一配向性は良好であり、モノドメイン状態が得ら
れた。さらに、電圧印加を止めた際の双安定性も良好で
あり、検討中において上下電極間ショートを生じた素子
は皆無であった。
瞭なコントラストとスイッチング動作が観察された。ま
た、均一配向性は良好であり、モノドメイン状態が得ら
れた。さらに、電圧印加を止めた際の双安定性も良好で
あり、検討中において上下電極間ショートを生じた素子
は皆無であった。
また、実施例1と同様の方法で環境耐久試験を行ない、
再度評価を行なったが、何ら変化は無かった。
再度評価を行なったが、何ら変化は無かった。
[発明の効果]
前述した実施例より明らかな様に、本発明の強誘電性液
晶素子によれば、薄層での配向制御性が良好で、上下電
極間ショート防止効果が向上し、画素チラッキ等による
画像欠陥が改善され、双安定性の良好な強誘電性液晶素
子を提供することができる。
晶素子によれば、薄層での配向制御性が良好で、上下電
極間ショート防止効果が向上し、画素チラッキ等による
画像欠陥が改善され、双安定性の良好な強誘電性液晶素
子を提供することができる。
第1図は本発明の強誘電性液晶を用いた、液晶表示素子
の一例を示す断面概略図、第2図および第3図は、強誘
電性液晶素子の動作説明のための素子セルの一例を模式
的に表わす斜視図である。 l・・・強誘電性液晶層 2・・・ガラス基板3・・
・透明電極 4・・・下地層4’−・・配向制
御層 5・・・スペーサー6・・・リード線
7・・・電源8・・・偏光板 9・・・
光源1、・・・入射光 ■・・・透過光21
a・・・基板 21b−・・基板22・・・
液晶分子層 23−・・液晶分子24・・・双極
子モーメント(P工) 31a、31b −−−電圧印加手段 33a・・・第1の安定状態 33b・・・第2の安定状態 34a・・・上向き双極子モーメント 34b−・・下向き双極子モーメント Ea−−−上向きの電界 Eb・・・下向きの電界 第2図 第3図
の一例を示す断面概略図、第2図および第3図は、強誘
電性液晶素子の動作説明のための素子セルの一例を模式
的に表わす斜視図である。 l・・・強誘電性液晶層 2・・・ガラス基板3・・
・透明電極 4・・・下地層4’−・・配向制
御層 5・・・スペーサー6・・・リード線
7・・・電源8・・・偏光板 9・・・
光源1、・・・入射光 ■・・・透過光21
a・・・基板 21b−・・基板22・・・
液晶分子層 23−・・液晶分子24・・・双極
子モーメント(P工) 31a、31b −−−電圧印加手段 33a・・・第1の安定状態 33b・・・第2の安定状態 34a・・・上向き双極子モーメント 34b−・・下向き双極子モーメント Ea−−−上向きの電界 Eb・・・下向きの電界 第2図 第3図
Claims (15)
- (1)少なくとも基板、電圧印加手段、配向制御層、強
誘電性液晶層及び電圧印加手段と配向制御層との間に少
なくとも1層の配向制御層と異なる下地層を有する強誘
電性液晶素子において、前記下地層の膜厚(d_1)と
配向制御層の膜厚(d_2)、下地層材料の誘電率(ε
_1)と配向制御層材料の誘電率(ε_2)との間に下
記の関係式(1)、関係式(2)が成り立ち、かつ該強
誘電性液晶層に下記一般式[1]で示される液晶性化合
物を少なくとも1種以上含有することを特徴とする強誘
電性液晶素子。 関係式(1)d_1>d_2 関係式(2)ε_1>ε_2 一般式[1] R_1−A_1−X−A_2−R_2 (式中、R_1、R_2は置換基を有していても良い分
岐または直鎖の鎖状基を示し、R_1とR_2は同一で
あっても異なっていても良く、A_1、A_2は置換基
を有していても良い2価の含六員環基を示し、Xは単結
合または2価の鎖状基を示す。) - (2)前記一般式[1]において、R_1、R_2が置
換基を有していても良い分岐または直鎖のアルキル基、
または置換基を有していてもよい分岐または直鎖のアル
キル基を有するアルコキシ基、アシル基、アシルオキシ
基、アルコキシカルボニル基、アルコキシカルボニルオ
キシ基から選らばれる特許請求の範囲第1項記載の強誘
電性液晶素子。 - (3)一般式[1]において、R_1、R_2の少なく
ともいずれか一方が不斉炭素原子を有する光学活性な鎖
状基である特許請求の範囲第1項記載の強誘電性液晶素
子。 - (4)一般式[1]において、R_1、R_2の少なく
ともいずれか一方が、下記一般式[2]で示される特許
請求の範囲第1項記載の強誘電性液晶素子。 一般式[2] ▲数式、化学式、表等があります▼ (式中、Yは単結合、−O−、▲数式、化学式、表等が
あります▼、▲数式、化学式、表等があります▼、▲数
式、化学式、表等があります▼、▲数式、化学式、表等
があります▼、−CH_2O−、−CH_2CH_2O
−、▲数式、化学式、表等があります▼、▲数式、化学
式、表等があります▼、▲数式、化学式、表等がありま
す▼、▲数式、化学式、表等があります▼、▲数式、化
学式、表等があります▼から選らばれ、mは0〜8の整
数を示し、nは0または1を示す。R_3は置換基を有
していても良い炭素原子数1〜18の分岐または直鎖の
アルキル基または置換基を有していても良い炭素原子数
1〜18の分岐または直鎖のアルキル基を有するアルコ
キシ基、アルコキシカルボニル基を示し、Zはメチル基
、ハロゲン原子、シアノ基、トリフルオロメチル基を示
し、*は光学活性な不斉炭素原子を示す。) - (5)一般式[1]において、A_1、A_2が下記一
般式[3]で示される特許請求の範囲第1項記載の強誘
電性液晶素子。 一般式[3] ▲数式、化学式、表等があります▼ (式中、A_3、A_4は▲数式、化学式、表等があり
ます▼で表される置換基を有していてもよい含六員環基
であり、p、qは0、1または2を示す。) - (6)一般式[1]において、Xが単結合基、−O−、
−S−、▲数式、化学式、表等があります▼、▲数式、
化学式、表等があります▼、▲数式、化学式、表等があ
ります▼、▲数式、化学式、表等があります▼、▲数式
、化学式、表等があります▼、−CH_2−、−CH_
2CH_2−、−OCH_2−、−OCH_2Ch_2
−、−CH_2O−、−CH_2CH_2O−、−SC
H_2−、SCH_2CH_2−、−CH_2S−、−
CH_2CH_2S−、▲数式、化学式、表等がありま
す▼、▲数式、化学式、表等があります▼、▲数式、化
学式、表等があります▼、▲数式、化学式、表等があり
ます▼、▲数式、化学式、表等があります▼、▲数式、
化学式、表等があります▼から選らばれる特許請求の範
囲第1項記載の強誘電性液晶素子。 - (7)一般式[1]において、R_1、R_2の置換基
がハロゲン原子、アルコキシ基、トリフルオロメチル基
、シアノ基から選らばれる特許請求の範囲第1項記載の
強誘電性液晶素子 - (8)一般式[2]において、R_3の置換基がハロゲ
ン原子、アルコキシ基、トリフルオロメチル基、シアノ
基から選らばれる特許請求の範囲第4項記載の強誘電性
液晶素子 - (9)一般式[3]において、A_3、A_4の置換基
がハロゲン原子、アルキル基、アルコキシ基、トリフル
オロメチル基、シアノ基から選らばれる特許請求の範囲
第5項記載の強誘電性液晶素子 - (10)下地層がシリコン窒化物、水素を含有するシリ
コン窒化物、シリコン炭化物、水素を含有するシリコン
炭化物、シリコン酸化物、硼素窒化物、水素を含有する
硼素窒化物、セリウム酸化物、アルミニウム酸化物、ジ
ルコニウム酸化物、チタン酸化物及びフッ化マグネシウ
ムの少なくとも1種以上を含有する特許請求の範囲第1
項記載の強誘電性液晶素子。 - (11)配向制御層がポリビニルアルコール、ポリイミ
ド、ポリアミドイミド、ポリエステルイミド、ポリパラ
キシレン、ポリエステル、ポリカーボネート、ポリビニ
ルアセタール、ポリ塩化ビニル、ポリ酢酸ビニル、ポリ
アミド、ポリスチレン、セルロース樹脂、メラミン樹脂
、ユリヤ樹脂、アクリル樹脂、フォトレジスト樹脂の少
なくとも1種以上を含有する特許請求の範囲第1項記載
の強誘電性液晶素子。 - (12)配向制御層の厚みが500Å以下である特許請
求の範囲第1項記載の強誘電性液晶素子。 - (13)配向制御層材料の誘電率ε_2が10.0以下
である特許請求の範囲第1項記載の強誘電性液晶素子。 - (14)強誘電性液晶素子が液晶光学変調素子である特
許請求の範囲第1項記載の強誘電性液晶素子。 - (15)強誘電性液晶素子が液晶表示素子である特許請
求の範囲第1項記載の強誘電性液晶素子。
Priority Applications (7)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62315268A JPH0782170B2 (ja) | 1987-12-15 | 1987-12-15 | 強誘電性液晶素子 |
| ES88109392T ES2080046T3 (es) | 1987-06-12 | 1988-06-13 | Dispositivo de cristal liquido ferroelectrico. |
| AT88109392T ATE131290T1 (de) | 1987-06-12 | 1988-06-13 | Vorrichtung mit einem ferroelektrischen flüssigkristall. |
| EP88109392A EP0294852B1 (en) | 1987-06-12 | 1988-06-13 | Ferroelectric liquid crystal device |
| DE3854751T DE3854751T2 (de) | 1987-06-12 | 1988-06-13 | Vorrichtung mit einem ferroelektrischen Flüssigkristall. |
| US07/415,971 US5165076A (en) | 1987-06-12 | 1989-10-02 | Ferroelectric liquid crystal device with particular primer alignment, and liquid crystal layers |
| US07/702,124 US5099344A (en) | 1987-06-12 | 1991-05-16 | Ferroelectric liquid crystal device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62315268A JPH0782170B2 (ja) | 1987-12-15 | 1987-12-15 | 強誘電性液晶素子 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01156722A true JPH01156722A (ja) | 1989-06-20 |
| JPH0782170B2 JPH0782170B2 (ja) | 1995-09-06 |
Family
ID=18063375
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62315268A Expired - Fee Related JPH0782170B2 (ja) | 1987-06-12 | 1987-12-15 | 強誘電性液晶素子 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0782170B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7342630B2 (en) | 2000-11-10 | 2008-03-11 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Liquid crystal display device |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61170726A (ja) * | 1985-01-24 | 1986-08-01 | Canon Inc | 液晶セル |
| JPS6289645A (ja) * | 1985-09-18 | 1987-04-24 | Chisso Corp | 強誘電性液晶エステル化合物及び液晶組成物 |
| JPS62228042A (ja) * | 1985-07-23 | 1987-10-06 | Ajinomoto Co Inc | 液晶 |
-
1987
- 1987-12-15 JP JP62315268A patent/JPH0782170B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61170726A (ja) * | 1985-01-24 | 1986-08-01 | Canon Inc | 液晶セル |
| JPS62228042A (ja) * | 1985-07-23 | 1987-10-06 | Ajinomoto Co Inc | 液晶 |
| JPS6289645A (ja) * | 1985-09-18 | 1987-04-24 | Chisso Corp | 強誘電性液晶エステル化合物及び液晶組成物 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7342630B2 (en) | 2000-11-10 | 2008-03-11 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Liquid crystal display device |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0782170B2 (ja) | 1995-09-06 |
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