JPS6037807U - 光学式デイスクのピツト測定器 - Google Patents

光学式デイスクのピツト測定器

Info

Publication number
JPS6037807U
JPS6037807U JP12977983U JP12977983U JPS6037807U JP S6037807 U JPS6037807 U JP S6037807U JP 12977983 U JP12977983 U JP 12977983U JP 12977983 U JP12977983 U JP 12977983U JP S6037807 U JPS6037807 U JP S6037807U
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
measuring device
optical disc
measured
pit measuring
disc pit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP12977983U
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0216245Y2 (ja
Inventor
毅 小宮山
秋山　夏雄
田代　正弘
Original Assignee
東芝イ−エムアイ株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 東芝イ−エムアイ株式会社 filed Critical 東芝イ−エムアイ株式会社
Priority to JP12977983U priority Critical patent/JPS6037807U/ja
Publication of JPS6037807U publication Critical patent/JPS6037807U/ja
Application granted granted Critical
Publication of JPH0216245Y2 publication Critical patent/JPH0216245Y2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第１図はディスク表面を拡大した状態の説明用の平面図
、第２図は従来の透過式測定法を示す説明用の断面図、
第３図は同じく反射式測定法を示す説明用の断面図、第
４図は透過式測定法を採用した従来装置の概略図、第５
図は本考案の光学式ディスクのピット測定器の一実施例
を示した平面図、第６図は側面図である。 ３・・・・・・発光器、１０・・・・・・被測定物、１
１・・・・・・測定台、１４．１５・・・・・・受光器
。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 測定台の光軸上に設置される光ディスク等の被測定物と
    、該被測定物に光を照射するレーザ発光器等の光源と、
    前記被測定物を中心に同径に移動自在であると共に前記
    測定台の周囲の任意位置に固定される複数の受光器とか
    ら形成されたことを特徴とする光学式ディスクのピット
    測定器。
JP12977983U 1983-08-24 1983-08-24 光学式デイスクのピツト測定器 Granted JPS6037807U (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP12977983U JPS6037807U (ja) 1983-08-24 1983-08-24 光学式デイスクのピツト測定器

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP12977983U JPS6037807U (ja) 1983-08-24 1983-08-24 光学式デイスクのピツト測定器

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6037807U true JPS6037807U (ja) 1985-03-15
JPH0216245Y2 JPH0216245Y2 (ja) 1990-05-02

Family

ID=30293946

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP12977983U Granted JPS6037807U (ja) 1983-08-24 1983-08-24 光学式デイスクのピツト測定器

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6037807U (ja)

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0216245Y2 (ja) 1990-05-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS5651045A (en) Detector for part between data of record player
JPS6037807U (ja) 光学式デイスクのピツト測定器
JPS6027347U (ja) 線条体の外観試験装置
JPS603457U (ja) 欠点検出装置
JPS6124138U (ja) タレツト旋盤における自動計測装置
JPS59134006U (ja) 光学式機械量測定装置
JPS6049154U (ja) プラズマ処理装置
JPS6044222U (ja) 光学式記録又は再生装置のスキユ−検出装置
JPS5815351U (ja) 半導体検査装置
JPS62173045U (ja)
JPS59149261U (ja) 異径記録円盤の検出装置
JPS59172367U (ja) 走査型エキソ電子検出装置
JPS5872610U (ja) フイルムの厚み測定装置
JPS58176259U (ja) プレ−ヤ−用曲間検出装置
JPS59163950U (ja) 光学素子検査装置
JPS5899654U (ja) 表面検査装置
JPS61140440U (ja)
JPS6060058U (ja) レコ−ドプレ−ヤにおけるデイスクの有無判別装置
JPS598141U (ja) 吸光光度計
JPS58120913U (ja) 表面欠陥検出装置
JPS59161591U (ja) 記録原盤クランプ装置
JPS5917810U (ja) 表面粗さ測定装置
JPS5872609U (ja) フイルムの厚み測定装置
JPS58141848U (ja) レ−ザ−を利用した表面欠陥検出装置
JPS60183833U (ja) レ−ザ−ハンドピ−ス