JPH01165643U - - Google Patents
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- Publication number
- JPH01165643U JPH01165643U JP6237888U JP6237888U JPH01165643U JP H01165643 U JPH01165643 U JP H01165643U JP 6237888 U JP6237888 U JP 6237888U JP 6237888 U JP6237888 U JP 6237888U JP H01165643 U JPH01165643 U JP H01165643U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- inspection device
- view
- wafer
- semiconductor inspection
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- Prior art date
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- Pending
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 5
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 4
- 239000000428 dust Substances 0.000 claims description 2
Landscapes
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Description
第1図、第2図、第3図、第4図は、この考案
の一実施例による半導体検査装置の斜視図、断面
図、斜視図および断面図、第5図、第6図は従来
の半導体検査装置の斜視図および断面図である。 図において、1は半導体検査装置、2はIC(
ウエハ)、3はテスト用針、4はパツド、5はち
り屑、6は吸引クリーナA、7はイオン化空気噴
出口、8はイオン化空気、9は吸引クリーナBを
示す。なお、図中、同一符号は同一、または相当
部分を示す。
の一実施例による半導体検査装置の斜視図、断面
図、斜視図および断面図、第5図、第6図は従来
の半導体検査装置の斜視図および断面図である。 図において、1は半導体検査装置、2はIC(
ウエハ)、3はテスト用針、4はパツド、5はち
り屑、6は吸引クリーナA、7はイオン化空気噴
出口、8はイオン化空気、9は吸引クリーナBを
示す。なお、図中、同一符号は同一、または相当
部分を示す。
Claims (1)
- ウエハ状の半導体集積回路のテスト中にちり屑
を吸引する機構を備えたことを特徴とする半導体
検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6237888U JPH01165643U (ja) | 1988-05-11 | 1988-05-11 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6237888U JPH01165643U (ja) | 1988-05-11 | 1988-05-11 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01165643U true JPH01165643U (ja) | 1989-11-20 |
Family
ID=31287995
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6237888U Pending JPH01165643U (ja) | 1988-05-11 | 1988-05-11 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01165643U (ja) |
-
1988
- 1988-05-11 JP JP6237888U patent/JPH01165643U/ja active Pending
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