JPH01182925A - 磁気記録媒体の製造方法 - Google Patents

磁気記録媒体の製造方法

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JPH01182925A
JPH01182925A JP377988A JP377988A JPH01182925A JP H01182925 A JPH01182925 A JP H01182925A JP 377988 A JP377988 A JP 377988A JP 377988 A JP377988 A JP 377988A JP H01182925 A JPH01182925 A JP H01182925A
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film
intermediate layer
layer
magnetic
substrate
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JP377988A
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English (en)
Inventor
Kenji Suzuki
謙二 鈴木
Takayuki Yagi
隆行 八木
Yuji Kasanuki
有二 笠貫
Rieko Shikame
鹿目 理恵子
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Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、金属薄膜磁性層を有する磁気記録媒体の製造
方法に関する。
〔従来の技術〕
従来より、ハードディスクおよびフレキシブルディスク
として塗布型磁気記録媒体が広く使用されている。この
塗布型磁気記録媒体は、通常基体上に樹脂バインダー中
に分散された磁性体を含む塗布層を有して成るものであ
る。この媒体の表面に粗大突起が存在すると、再生ヘッ
ドとの接触不良が生じて再生信号が欠如するという現象
、いわゆるドロップアウトが発生する。そのドロップア
ウトを防止する目的で、磁気記録媒体の磁性層もしくは
保護層の表面を目の細かい研磨テープ等を用いて研磨し
、粗大突起を除去する工程、いわゆるバニッシュが行わ
れている。このバニッシュは、磁性層表面に直接性なっ
ても、磁性層にダメージを与えることは少ない。なぜな
らば、塗布型磁性層は、バインダー(有機ポリマー等)
、有機系潤滑剤などを含むことにより、バニッシュに耐
えつる程度の潤滑性を有するからである。
一方、近年記録密度の向上が可能な金属薄膜型磁気記録
媒体が注目されてきた。この記録媒体は、磁性金属の薄
膜を蒸着、スパッタリング等の方法で基体上に形成して
成るものである。これらの方法で形成された金属薄膜は
、従来の塗布型のものと異なり、潤滑性を付与するバイ
ンダーや潤滑剤は含有されていないので、摺動に極めて
弱い。したがフて、通常その磁性層の上には摺擦に対す
る耐久性に優れた保護層が積層されるのが一般的である
この金属薄膜型磁気記録媒体にも、従来の塗布型のもの
と同様に粗大突起が発生する場合がある。その発生原因
として、主に以下に述べる二点が挙げられる。
第1の原因は、基体表面°の欠陥である。特に、有機ポ
リマフフィルムを基体として用いてフレキシブルディス
クなどを製造する場合には、その有機ポリマーフィルム
形成用の溶融材料をフィルム形状に成形し、乾燥、固化
する工程において、製造装置等の構成部材との接触を避
けることができず、その結果その部材の表面に傷などの
欠陥が有ると、フィルムの表面にその欠陥が転写されて
しまうことが原因となる。また、そのフィルムに易滑性
を付与する目的で、フィルム形成用の溶融材料内にフィ
ラーを内填する、あるいはそのフィルムの表面に凹凸形
成用粒子を含有する溶液をコーティングするなどして、
そのフィルム表面に微細な凹凸を形成する場合は、上記
フィラーや溶液中の粒子の凝集を完全には避けられず、
その凝集粒がフィルムの粗大突起、すなわち基体表面の
欠陥の発生を誘発する。
第2の原因は、磁性層または保護層を蒸着、スパッタリ
ング等の方法で積層する際の不純物(ゴミ)の混入など
による磁性層または保護層の表面での粗大突起の発生で
ある。
この第2の原因は、各層の形成、積層における諸工程の
管理を徹底することによって、大幅に減少させることが
可能である。しかしながら、第1の原因、すなわち基体
表面の欠陥の発生を完全に防止することは、現状の技術
では困難である。したがって、金属薄膜型磁気記録媒体
の製造においても、従来の塗布型のものと同様にバニッ
シュの工程は欠かせないものである。
〔発明が解決しようとする課題〕
金属薄膜型磁気記録媒体の製造でのバニッシュ工程の導
入に際しては、以下に述べるような問題点があった。
基体として通常用いられる有機ポリマーフィルムの表面
に対してバニッシュを行なって、その表面の粗大突起を
除去しようとすると、アルミナ等の研磨剤粉末に比べて
フィルムが極めて柔かく粘調であるため、良好な仕上り
面が得られず、フィルム表面が傷付いたり、研磨剤粉末
がフィルム表面にめり込んだりしてしまう。なお、この
ことは従来の塗布型磁気記録媒体も同様である。
また、磁性層は、先に述べたように摺動に極めて弱いた
め、その表面にバニッシュを行なうと、過度の研磨が行
なわれて磁性層の表面性が損なわれたり、種々の欠陥が
生じ易い。そこで、従来より磁性層の上に積層される保
護層の表面に対してバニッシュを行ない、粗大突起の問
題を解決しようとしていた。しかしながら、その保護層
に対するバニッシュ処理では、粗大突起部分の保護層が
削り取られ、磁性層が露出するという欠陥を生じ易い。
この露出部がヘッドにより摺擦されると、通常耐磨耗性
に劣る磁性層の磨耗粉が発生し、その磨耗粉が原因とな
って媒体全体を傷付けてしまう等の問題を引き起こして
しまう。
更には、バニッシュのラッピング部材と保護層との接触
状態を好適な状態に制御することも難しいので、粗大突
起の無い平滑面部分においても、保護層が削り取られて
磁性層が露出するということもあった。このことは前記
接触状態の制御が特に困難なフレキシブルディスクに対
するバニッシュにおいて顕著であった。この平滑面部分
における磁性層の露出を防止する目的で、硬度の高いバ
ニッシュ用ヘッドを用いたバニッシュ法も提案されてい
るが(TCL研究実用化報告、第28巻、第1O号、P
 121〜)、これは、先に述べた粗大突起部の除去に
より生じる磁性層の露出を解決できるものではない。
本発明は上記問題点に鑑み成されたものであり、その目
的は、効果的でかつ記録媒体にダメージを与えることの
ないバニッシュを行なうことによって、ドロップアウト
が無くかつ耐久性が十分である金属薄膜型磁気記録媒体
を製造できる方法を提供することにある。
〔課題を解決するための手段〕
本発明者等は、先に述べたように、磁性層および保護層
における粗大突起の発生は、その積層の諸工程の管理を
徹底することにより大幅に減少させることが可能である
こと、ならびに基体上の粗大突起の発生を防止すること
は従来の技術においては困難であること、を考慮し上記
目的を達成すべく鋭意検討を重ねた結果、本発明を完成
するに至った。
すなわち本発明は、基体上に金属薄膜を積層する工程を
含む金属薄膜型磁気記録媒体の製造方法において、少な
くとも無機材料より成る中間層を前記基体上に積層する
工程と、該中間層の表面を平滑にする工程と、少なくと
も該中間層を介して前記基体上に前記金属薄膜を積層す
る工程とを含むことを特徴とする金属薄膜型磁気記録媒
体の製造方法である。
更に詳しくは、本発明は、通常は被研磨性の悪い材料よ
り成る非磁性基体上に、まず被研磨性が良好な無機材料
より成る中間層を積層し、次いでその中間層の表面をバ
ニッシュ等の方法により粗大突起を除去して平滑にし、
その平滑にした中間層の表面に金属薄膜およびその他の
層を積層することによって、再生ヘッドとの接触面がド
ロップアウトを発生しない程度に平滑である金属薄膜型
磁気記録媒体を製造する方法である。なお、本発明の方
法において、金属薄膜およびその他の層の積層の諸工程
の管理を徹底すれば、よりドロップアウトの発生を減少
させることができる。
第1図(a)〜(C)は、本発明の方法の工程の一態様
を概略的に示す部分断面図である。以下、本発明をこれ
らの図面を用いて詳細に説明する。
まず、第1図に示すように、非磁性基体ll上に無機材
料より成る中間層13を積層する。この非磁性基体11
上には、先に述べた原因により粗大突起12が存在する
非磁性基体11には、得ようとする記録媒体の種類およ
び用途などにより適宜選定すればよい。特に有機ポリマ
ーフィルムを用いる場合において本発明の示す効果がよ
り顕著となる。その有機ポリマーフィルムとしては例え
ばポリエチレンテレフタレート、ポリイミド、アラミド
、ポリスルホン等のフィルムを挙げることができる。
中間層13には、その上下に積層される層との密着性が
良く、被研磨性が良好であり、しかも記録媒体としての
磁気特性、柔軟性などに悪影響を与えないものを適宜選
定して用いればよい。被研磨性が特に優れた中間層13
を形成しようとする場合は金属材料を用いることが好ま
しく、例えばTi、P等を含んだFe合金、黄銅系材料
組成物などを用いるとよい。また、表面が特に傷付きに
くい中間層13を形成しようとする場合は無機酸化物系
材料を用いることが好ましく、例えば5i02、Co3
O4、TiO2、ZrO2などを用いるとよい。また、
無機窒化物および無機ホウ化物系材料を用いても無機酸
化物材料と類似した性質を有する中間層13を形成する
ことができる。
中間層13の厚さは、粗大突起12の高さよりも厚くす
ればよい。したがって、基体11の表面状態に応じて中
間層13の厚さを適宜選定すればよいが、通常500Å
以上、望ましくはaOOÅ以上の厚である。また、中間
層13は単独層に限られるものではなく、複数の中間層
を積層してもよい。例えばAI膜を蒸着して成膜速度を
改善することもできる。
基体ll上に中間層13を積層する方法には、中間層1
3の材料に応じて種々の成膜技術や積層技術から適宜選
択して用いればよく、例えばスパッタリング、真空蒸着
、イオンブレーティング、無電解メツキなどの方法を用
いることができる。
次に、第1図(b)に示すように、中間層13の表面を
平滑にする。その表面を平滑にする方法には、ラッピン
グテープまたはバニッシュ用ヘッドを用いる先に述べた
ようなバニッシュによって行なうことができる。例えば
、ラッピングテープを用いてバニッシュを行なう場合は
、第3図に示すような方法を用いることができる。この
方法は、基体上に中間層が積層されたディスク31上を
ラッピングテープ32でバニッシュしつつ、和紙製テー
プ33によりてバニッシュによるカスを取り除く方法で
ある。このラッピングテープ32および和紙製テープ3
3は、連続使用による各々の機能の低下を防止するため
に、図示した矢印の方向に徐々にずらしなからイ吏用す
る。なお、このラッピングテープ32のグレードは#1
0000〜#15000程度であることが好ましい。
ただし、本発明における中間層の表面を平滑にする方法
は、上述したバニッシュによる方法に限定されるもので
はなく、中間層の材質等に応じて、その表面を平滑にす
ることのできる方法ならば、いずれの方法も用いること
ができる。
次に、第1図(C)に示すように、中間層13上に金属
薄膜より成る磁性層14を積層し、更にその磁性層14
上に保護層15を積層して本発明の方法による金属薄膜
型磁気記録媒体を得ることができる。
磁性層】4の材料および積層方法ならびに保護層15の
材料および積層方法は、金属薄膜型磁気記録媒体の製造
において用い得る材料および方法ならば、どのようなも
のでも用いることができ、所望に応じて適宜選択すれば
良い。また、それらの積層方法における諸工程の管理を
徹底し、それら層に粗大突起が発生しないようにすれば
、より良好な記録媒体を得ることができる。
磁性層I4の材料には、例えばFe、 Go、 Ni等
の強磁性単体あるいはそれらの合金または化合物などを
用いることができ、その積層方法には、例えばメツキ、
真空蒸着、スパッタ等の方法を用いることができる。
保護層15には、例えばTi、 V 、 Cr、 Go
、 Ni、Cu、 Zn、 Zr、 Nb、 Mo、 
Hf、 Ta、 W 、 Pb、 AI等の金属、およ
びSi、 Ge等の半金属、またはそれらの酸化物、窒
化物、炭化物、ホウ化物等を用いることができる。その
積層方法には、例えば真空蒸着、スパッタリング、イオ
ンブレーティング、CVD法等の真空中における薄膜形
成法を用いることができ、保護層15の膜質、膜厚の制
御性の点において有利である。
以上、本発明の詳細な説明したが、本発明はこれに限定
されるものではなく、例えば基体11の表裏両面に各々
中間層13、磁性層14を積層し、カールの発生を防止
することもできる。また、本発明でいう中間層上に金属
薄膜を積層することは、直接積層することのみを意味す
るのではなく、例えば磁性金属結晶の成長を制御する等
を目的とする下地層など何らかの層を介して積層する意
味も含む。また、用途によっては保護層を積層しなくと
もよい。
次に、以上説明した本発明の製造方法において、中間層
13、磁性層14および保護層15などを積層すること
のできる装置の一例を説明する。
第2図は、RFマグネトロンスパッタリング装置の一例
を示す模式図である。この装置は、真空槽21内の上部
にシールド22に囲まれたマグネトロン26およびRF
主電源不図示)に接続されたターゲット23を有し、か
つそのターゲット23は冷水導入口27より導入される
水によっで冷却される構成になっており、その下部はシ
ャッター24を介して基板25が設置される構成になフ
ており、かつガス導入口28、ガス排出口29が接続さ
れている。
この装置を用いて、所定の成膜条件において、本発明の
中間層13、磁性層14および保護層15を成膜するこ
とができる。
第4図は、連続式スパッタ装置の一例を示す模式図であ
る。この装置は、テープ状の磁気記録媒体を製造するた
めのものである。この装置は、電源に接続された加熱ヒ
ーター41を内蔵するキャン46の表面の周囲に基材テ
ープ44が接触するように、巻出コア43、巻取コア4
8およびフリーロール45、47が備えられた構成にな
っており、最下部にはマスク42と、RF主電源不図示
)に接続されたターゲット49が配設されている。なお
、この装置全体は、不図示の真空槽内に格納されている
この装置を用いて、所定の成膜条件において、本発明の
中間層13、磁性層14および保護層15を成膜し、テ
ープ状の磁気記録媒体を製造することができる。
〔実施例〕
以下、本発明を実施例により更に詳細に説明する。
実施例1 まず、Tgが約400℃であり、ヤング率が約600に
g/1III112であり、その表面がRmax 30
0人程度の微細な突起が密度約107個/mm2で発生
しており、かつ厚みが約50鱗のポリイミドフィルム(
基体)を用意した。このポリイミドフィルム(基体)を
、第2図に示した装置内の所定の位置に設置した。
次に、ターゲット23としてガラス状5i02板を用い
、スパッタガスとしてArガスを用い、RFパワーを0
.5kwとし、圧力0.5pa 、室温とし、酸素ガス
をガス導入口28から導入しつつ、ポリイミドフィルム
(基体25)上に膜厚が2000人のS i02膜(中
間層)をスパッタ法により成膜した。その際の成膜速度
は250人/分であった。なお、上述の酸素ガスの導入
は、Siから0が遊離して不飽和の酸化膜となるのを防
止し、中間層の被研磨性を向上させるために導入したも
のである。
次に、ポリイミドフィルム(基体25)を裏返して、上
述と同様にしてその裏側にも膜厚が2000人の5i0
2膜(中間層)を成膜し、カールを防止した。
次に、以上のようにして両面に中間層を成膜したフィル
ムを直径3.5インチの円形状に打ち抜いてディスクを
形成した。
次に、その打ち抜いたディスクの両面を、第3図に示し
た装置を用いてバニッシュした。その際のラッピングテ
ープ32のグレードは#I2000とし、イスクの回転
数は90+)rpmとし、バニッシュ時間は10秒とし
た。
次に、第2図に示した装置を用いて、ディスク両面に膜
厚が0.4鱗のCoCr垂直磁化膜(1性層)を積層し
た。その際のターゲットにはCrを20重量%含むC0
Cr合金を用い、RFパワーは0.5kwとし、Ar圧
は0.5paとした。また、その成膜速度は800人/
分であった。
以上のようにしてM層したCoCr垂直磁化膜の磁気特
性を測定したところ、 4πMs警400 ewu/c
c。
Hc”600エルステツドであった。
次に、そのCoCr[直磁化膜が積層されたディスクの
両面に、第2図に示した装置を用いて、膜厚が0.02
pのCO酸化膜(保護層)を積層した。その際のターゲ
ットには金属Coを用い、RFパワーは0.2kwとし
、酸素ガスを基板に吹き付けつつ反応性スパッタを行な
った。Ar圧は0.30paとした。また、その成膜速
度は150λ/分であった。
次に、そのGo酸化膜が積層されたディスクの両面にパ
ーフロロポリエーテル(商品名タライトツクス)を塗膜
厚が20人になるよう塗布し、フレキシブルディスクを
完成した。
以上のようにして本発明の方法により得たフレキシブル
ディスクを3.5インチフロッピーディスクドライバー
に設置して、そのヘッド出力、ドロップアウトおよび耐
久性(耐久パス)について試験した。その結果を表−1
に示す。
なお、ヘッド出力の試験における線記録密度は40kB
PIとし、トラック密度は135 TPIとした。
また、ドロップアウトは上記記録密度で記録再生した際
のエラーを、バースト族りについてのみカウントした。
また、耐久性はヘッド出力が3 dBgちるまでのヘッ
ド摺動回転数(耐久バス)により評価した。 表−1に
示す結果から明らかなように、本実施例の方法により得
たフレキシブルディスクは、ドロップアウトが少なくヘ
ッド出力が良好で、かつ耐久性に優れたものであること
が確認できた。
実施例2 中間層形成工程におけるターゲットを5i02の替わり
にCO3O4焼結体を用い、膜厚が0.2ulのCO3
O4膜(中間層)を成膜速度200人/分で成膜した以
外は実施例1と同様にしてフレキシブルディスクを作製
した。
そのフレキシブルディスクのヘッド出力、ドロップアウ
トおよび耐久性(耐久パス)について実施例1と同様に
して試験した。その結果を表−1に示す。
表−1に示す結果から明らかなように、本実施例の方法
により得たフレキシブルディスクは、ドロップアウトが
少なくヘッド出力が良好で、かつ耐久性に優れたもので
あることが確認できた。
実施例3 中間層形成工程におけるターゲットをSiO□の替わり
にTiを用い、膜厚が0.2鱗のTi膜(中間層)を成
膜速度700人/分で成膜した以外は実施例1と同様に
してフレキシブルディスクを作製した。
そのフレキシブルディスクのヘッド出力、ドロップアウ
トおよび耐久性(耐久バス)について実施例1と同様に
して試験した。その結果を表−1に示す。
表−1に示す結果から明らかなように、本実施例の方法
により得たフレキシブルディスクは、ドロップアウトが
少なくヘッド出力が良好で、かつ耐久性に優れたもので
あることが確認できた。
実施例4 基体として、ポリイミドフィルムの替わりに厚さが40
−のPETフィルムを用い、磁性層としてCoCr垂直
磁化膜の替わりに膜厚が0.3μのCo単体の不飽和酸
化膜を形成した以外は実施例1と同様にしてフレキシブ
ルディスクを作製した。なお、そのCo単体の不飽和酸
化膜の形成条件は公知のものを用いた。すなわちターゲ
ットとしてGoを用い、適量の酸素ガスを導入しながら
スパッタリングすることにより形成した。
なお、不飽和酸化膜の磁気特性を測定したところ、 4
yrMs警480 ewu/cc、 Hc ”850エ
ルステツドであった。
そのフレキシブルディスクのヘッド出力、ドロップアウ
トおよび耐久性(耐久バス)について実施例1と同様に
して試験した。その結果を表−■に示す。
表−1に示す結果から明らかなように、本実施例の方法
により得たフレキシブルディスクは、ドロップアウトが
少なくヘッド出力が良好で、かつ耐久性に優れたもので
あることが確認できた。
実施例5 基体として、ポリイミドフィルムの替わりに厚さが40
μのPETフィルムを用いた以外は実施例3と同様にし
てフレキシブルディスクを作製した。
そのフレキシブルディスクのヘッド出力、ドロップアウ
トおよび耐久性(耐久バス)について実施例1と同様に
して試験した。その結果を表−1に示す。
表−1に示す結果から明らかなように、本実施例の方法
により得たフレキシブルディスクは、ドロップアウトが
少なくヘッド出力が良好で、かつ耐久性に優れたもので
あることが確認できた。
実施例6 厚さが40鱗のPETフィルムを第2図に示した装置に
設置し、その両面に膜厚が0.2閂のSiO□膜(中間
層)をスパッタ法により成膜した。その際の成膜条件は
、実施例1と同様にして行なった。
次に、実施例1と同様にして3.5インチのディスクを
形成し、そのディスクにバニッシュを行なった。
次に、第2図に示した装置を用いて、ディスク両面に膜
厚が0.5−のFeNi膜(パーマロイ)(fIIi性
層)を積層した。その際のターゲットにはFe 80%
Ni 20%組成の合金ターゲットを用い、RFパワー
は1.0kwとし、Ar圧は0.6paとした。
次に、第2図に示した装置を用いて、FeNi層が積層
されたディスクの両面に膜厚が0.2μのCoCr垂直
磁化膜を積層した。その際の成膜条件は実施例1と同様
にした。
次に、実施例1と同様にして保護層、パーフロロポリエ
ーテルを積層、塗布し、フレキシブルディスクを完成し
た。
そのフレキシブルディスクのヘッド出力、ドロップアウ
トおよび耐久性(耐久バス)について実施例1と同様に
して試験した。その結果を表−1に示す。
表−1に示す結果から明らかなように、本実施例の方法
により得たフレキシブルディスクは、ドロップアウトが
少なくヘッド出力が良好で、かつ耐久性に優れたもので
あることが確認できた。
実施例7 実施例1で用いたものと同じポリイミドフィルムの両面
に、第2図に示した装置を用いて、膜厚が1500人の
5i02膜(中間層)を成膜した。その際の成膜条件は
実施例1と同様にした。
次に、実施例1と同様にして3.5インチのディスクを
形成し、そのディスクにバニッシュを行なった。
次に、第2図に示した装置を用いて、ディスク両面に膜
厚が2000人のCr膜(下地層)を積層した。その際
のターゲットには金属Crターゲットを用い、RFパワ
ーは1.0kwとし、Ar圧は0.5paとした。また
、その成膜速度は800人/分であった。
なお、この下地層は、磁性層の結晶成長を改善−するた
めに設けたものである。
次に、第2図に示した装置を用いて、ディスク両面に膜
厚が500人のCoNiCr層(磁性層)を積層した。
その際のターゲットには(:oNiCrの(組成比(:
o 80  Ni 13  Cr 7)合金を用い、R
Fパワーは0.5kwとし、Ar圧は0.5paとした
以上のようにして積層したCoNiCr層の磁気特性を
測定したところ、H″c= 750工ルステツド程度の
面内磁化膜であフだ。
次に、そのCoNiCr層が積層されたディスクの両面
に、第2図に示した装置を用いて、膜厚が200人のC
o301層(保護層)を積層した。その際のターゲット
には金属Goを用い、反応性スパッタリングとし、RF
パワーは0.5kwとし、A「圧は0.4paとした。
次に、実施例1と同様にしてパーフロロポリエーテルを
塗布し、フレキシブルディスクを完成した。 そのフレ
キシブルディスクのヘッド出力、ドロップアウトおよび
耐久性(耐久パス)について実施例1と同様にして試験
した。その結果を表−1に示す。
表−1に示す結果から明らかなように、本実施例の方法
により得たフレキシブルディスクは、ドロップアウトが
少なくヘッド出力が良好で、かつ耐久性に優れたもので
あることが確認できた。
比較例1 中間層を形成せず、バニッシュをポリイミドフィルム(
基体)に直接行なった以外は実施例1と全く同様にして
フレキシブルディスクを作製し、そのヘッド出力、ドロ
ップアウトおよび耐久性(耐久パス)について実施例1
と同様にして試験した。その結果を表−1に示す。
表−1に示す結果から明らかなように、本比較例の方法
により得たフレキシブルディスクは、ドロップアウトが
多く、ヘッド出力が劣り、かつ耐久性が不十分なもので
あった。
なお、本比較例において、基体にバニッシュを行なった
直後のその基体の表面を、顕微鏡で観察したところ、バ
ニッシュによる多数のスリキズと削り粉の付着が確認で
きた。したがって、このような基体(ポリイミドフィル
ム)の被研磨性が悪いということが原因で、本比較例に
よるフレキシブルディスクの諸特性が低下していると推
測できる。
比較例2 中間層を形成せず、バニッシュをポリイミドフィルム(
基体)に直接行なった以外は実施例3と全く同様にして
フレキシブルディスクを作製し、そのヘッド出力、ドロ
ップアウトおよび耐久性(耐久パス)について実施例1
と同様にして試験した。その結果を表−1に示す。
その結果等は、比較例1と同様であった。
比較例3 中間層を形成せず、バニッシュをPETフィルム(基体
)に直接行なった以外は実施例4と全く同様にしてフレ
キシブルディスクを作製し、そのヘッド出力、ドロップ
アウトおよび耐久性(耐久パス)について実施例1と同
様にして試験した。
その結果を表−1に示す。
その結果等は、比較例1と同様であった。
比較例4 中間層にバニッシュを行わず、その替わりに保護層にバ
ニッシュを行なった以外は実施例1と全く同様にしてフ
レキシブルディスクを作製し、そのヘッド出力、ドロッ
プアウトおよび耐久性(耐久パス)について実施例1と
同様にして試験した。その結果を表−1に示す。
表−1に示す結果から明らかなように、本比較例により
得たフレキシブルディスクは、ドロップアウト、ヘッド
出力については比較例1〜3よりも向上しているが、耐
久性についてはまだ十分ではない。この原因は、保護層
上面をバニッシュすることにより、粗大突起部の除去部
分の保護層が脱落し、磁性層が露出すること、またディ
スク表面全体に浅いダメージが多量に発生することによ
ると推測される。
比較例5 中間層にバニッシュを行わず、その替わりに保護層にバ
ニッシュを行なった以外は実施例7と全く同様にしてフ
レキシブルディスクを作製し、そのヘッド出力、ドロッ
プアウトおよび耐久性(耐久バス)について実施例1と
同様にして試験した。その結果を表−1に示す。
表−1に示す結果から明らかなように、本比較例により
得たフレキシブルディスクは、°保護層を直接バニッシ
ュしたため媒体表面がダメージを受けへラドタッチが良
好に得られないので、ヘッド出力において十分なもので
ない。
実施例8 厚さが1.25μのポリイミドフィルムテープ上に、第
4図に示した装置を用いて、膜厚が0.1ulの5i0
2膜(中間層)を成膜した。その際のターゲット49に
は5i02ガラスを用い、RFパワー0.5人w、 A
r圧0.5pa酸素ガス導入とした。
次に、5i02膜が成膜されたそのテープをl/2イン
チ幅に裁断した。
次に、第3図に示した装置におけるラッピングテープ3
2を取り外し、その替わりに上記のようにして得た17
2インチ幅のテープ32を設置し、同時にフレキシブル
ディスク31を取り外し、その替わりにディスク形状に
打ち抜いたラッピングテープ32を配置した。このラッ
ピングシート32を900rpmにて回転し、テープ3
2を2fflZ分の速度で送りつつバニッシュを行なっ
た。その際のラッピングシートのグレードは#1500
0 、厚みは40pのものを用いた。
次に、第4図に示した装置を用いて、バニッシュ後の5
i02膜(中間層)上に膜厚が0.3麟のCoCr膜(
磁性層−)を連続成膜した。その際のターゲット49に
はGoer合金を用い、キャン46の表面温度は約15
0℃とし、テープの搬送速度は6 cm/分とした。
以上のようにして成膜したGo(:r膜の磁気特性を測
定したところ、 4yrMs”400 ewu/cc%
Hc 警1000エルステッドであ)た。
次に、そのCoCr膜(磁性層)の上に、第4図に示し
た装置を用いて、膜厚が100人のCo3O4膜(保護
層)を成膜した。その際のターゲット49にはCo3O
4焼結体を用い、不図示のガス導入系から若干量の02
ガスを導入しつつ行なった。得られた膜はGo304回
折ピークが明瞭であることが確認された。
次に、その(:o304膜が積層されたテープの両面に
パーフロロポリエーテルを乾燥塗膜厚が7人になるよう
デイツプコーターにより塗布し、磁気テープを完成した
以上のようにして本発明の方法により得た磁気テープを
家庭用172インチVHS方式VTRに設置して、その
ヘッド出力、ドロップアウトおよび耐久性(耐久バス)
について試験した。その結果を表−1に示す。
なお、ヘッド出力の試験においては市販のGo−γFe
2O3テープをOdeとし、ドロップアウトは16dB
を越える出力低下が15μs以上継続したときをドロッ
プアウトとして定義した。また、耐久性は繰り返し走行
耐久を行ない、初期出力に対して3dB落ちるまでの耐
久バス回数とした。
表−1に示す結果から明らかなように、本実施例の方法
により得たフレキシブルディスクは、ドロップアウトが
少なくヘッド出力が良好で、かつ耐久性に優れたもので
あることが確認できた。
比較例6 中間層を形成せず、バニッシュをポリイミドフィルムテ
ープ(基体)に直接性ない、 172インチ幅の裁断工
程を保護層形成後に行なった以外は実施例8と同様にし
て磁気テープを作製し、そのヘッド出力、ドロップアウ
トおよび耐久性(耐久パス)について実施例8と同様に
して試験した。
その結果を表−1に示す。
表−1に示す結果から明らかなように、本比較例により
得た磁気テープは、ドロップアウトが多く、ヘッド出力
が劣り、かつ耐久性が不十分なものであった。
〔発明の効果〕
以上説明したように、本発明の方法によれば、被研磨性
が良好な中間層を基体上に積層し、バニッシュ等を行う
ので、基体表面での発生が避けられない粗大突起に基づ
く欠陥を解消し、かつ良好な積層状態の保護層を有する
金属薄膜型磁気記録媒体を製造することができる。
そのような磁気記録媒体は、ヘッド出力、耐久性などに
優れ、ドロップアウトの少ないものである。したがって
、例えばオーディオ用、DAT用、コンピューターメモ
リー用、VTR用など様々な用途に対して有用な磁気記
録媒体である。
【図面の簡単な説明】
第1図(a)〜(C)は本発明の方法の工程の一態様を
概略的に示す部分断面図、第2図および第4図は本発明
の方法に用いることのできる装置を例示する模式図、第
3図はバニッシュの方法を例示する図である。 11・・・基体 12・・・粗大突起 13−・・中間層 14−・・磁性層 15−・・保護層 21−・真空槽 23−・ターゲット 25−・・基板 31−・・フレキシブルディスク、ラッピングテープ3
2−・・ラッピングテープ、フィルムテープ33−・・
和紙製テープ 44−・・基材フィルム 46−・・キャン 49−・・ターゲット

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 基体上に金属薄膜を積層する工程を含む金属薄膜型磁気
    記録媒体の製造方法において、少なくとも無機材料より
    成る中間層を前記基体上に積層する工程と、該中間層の
    表面を平滑にする工程と、少なくとも該中間層を介して
    前記基体上に前記金属薄膜を積層する工程とを含むこと
    を特徴とする金属薄膜型磁気記録媒体の製造方法。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0414619A (ja) * 1990-05-07 1992-01-20 Matsushita Electric Ind Co Ltd 磁気記録媒体の製造方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH0414619A (ja) * 1990-05-07 1992-01-20 Matsushita Electric Ind Co Ltd 磁気記録媒体の製造方法

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