JPH011902A - プレス金型のクリアランス測定方法 - Google Patents
プレス金型のクリアランス測定方法Info
- Publication number
- JPH011902A JPH011902A JP62-155520A JP15552087A JPH011902A JP H011902 A JPH011902 A JP H011902A JP 15552087 A JP15552087 A JP 15552087A JP H011902 A JPH011902 A JP H011902A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- clearance
- die
- punch
- press mold
- measurement method
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、打抜き用金型のパンチとダイのクリアランス
測定に関し、特に、薄物・高精度のプレス加工のための
測定法に関する。
測定に関し、特に、薄物・高精度のプレス加工のための
測定法に関する。
従来の打抜き用金型のクリアランスの測定方法としては
、第３図に図示したように被加工材料２０をパンチ３と
ダイ４の間で半抜き状態でためし抜きし、ダイヤルゲー
ジ等を用いてクリアランスＸ、、Ｘ２を間接的に測定し
、芯出ししていた。
、第３図に図示したように被加工材料２０をパンチ３と
ダイ４の間で半抜き状態でためし抜きし、ダイヤルゲー
ジ等を用いてクリアランスＸ、、Ｘ２を間接的に測定し
、芯出ししていた。
上述した従来の打抜き用金型のクリアランスの測定方法
では、クリアランスが微小な場合、打抜き加工の際に生
じる材料のひずみなどにより、正確な測定ができないと
いう欠点があった。
では、クリアランスが微小な場合、打抜き加工の際に生
じる材料のひずみなどにより、正確な測定ができないと
いう欠点があった。
本発明は、上述した従来の測定方法の欠点を解決すると
同時に、これまで調整不可能であったパンチとダイの間
のクリアランスの均一化の実現およびコーナ一部・直線
部などの形状に対する最適クリアランスの設定により、
金型組立調整工数の短縮、被加工品のパリの極小化、均
一化を実現して、金型コストの低減、金型設計のための
資料の蕃積および加工部品の品質の向となどの種々の波
及効果の実現を図ることを目的とする。
同時に、これまで調整不可能であったパンチとダイの間
のクリアランスの均一化の実現およびコーナ一部・直線
部などの形状に対する最適クリアランスの設定により、
金型組立調整工数の短縮、被加工品のパリの極小化、均
一化を実現して、金型コストの低減、金型設計のための
資料の蕃積および加工部品の品質の向となどの種々の波
及効果の実現を図ることを目的とする。
本発明のプレス金型のクリアランス測定方法は、プレス
の最終組込状態におけるパンチとダイのクリアランスを
パンチとダイのいずれとも直接接触しない光学手段によ
り？ｌ１ｌｌ定することを特徴とする。
の最終組込状態におけるパンチとダイのクリアランスを
パンチとダイのいずれとも直接接触しない光学手段によ
り？ｌ１ｌｌ定することを特徴とする。
したかって、被加工材料のためし抜きの際に生じる材料
ひずみなどによる測定誤差の問題が解決されるとともに
、微小なりリアランスが正確に測定できる。
ひずみなどによる測定誤差の問題が解決されるとともに
、微小なりリアランスが正確に測定できる。
次に、本発明の実施例について図面を参照して１説明す
る。
る。
第１図は本発明のプレス金型のクリアランスＡ１１ｌ定
方法とこれに使用される測定器の一実施例の側面図であ
る。
方法とこれに使用される測定器の一実施例の側面図であ
る。
ｈ型ダイセット１には、中心にパンチ３がセットされた
パンチプレート２が取付けられ、下側グイセット６には
、中心にダイ４がセー、トされたグイプレート５が取付
けられている。グイプレート５の側面には固定用マグネ
ット８が磁力により吸着され、固定用マグネット８には
先端に対物レンズ７ａを有し、送り用ガイド８により焦
点調節可能な光学ユニシト７と、測定部位を照らす照明
ランプ９と、ＩＴＶカメラ１０を備えた測定装置１３が
取付けられ、ＩＴＶカメラ１０はモニターＴＶＩＩに接
続されている。
パンチプレート２が取付けられ、下側グイセット６には
、中心にダイ４がセー、トされたグイプレート５が取付
けられている。グイプレート５の側面には固定用マグネ
ット８が磁力により吸着され、固定用マグネット８には
先端に対物レンズ７ａを有し、送り用ガイド８により焦
点調節可能な光学ユニシト７と、測定部位を照らす照明
ランプ９と、ＩＴＶカメラ１０を備えた測定装置１３が
取付けられ、ＩＴＶカメラ１０はモニターＴＶＩＩに接
続されている。
第２図は、本実施例の測定法の詳細図である。
光学ユニット７をグイプレート５の上面と平行に移動さ
せて、対物レンズ７ａがダイ４の端面上の１．１ｆｆｉ
ｐ 、に焦点を合わせてモニターＴＶＩＩに画像を映
すと、同時にパンチ３の側面上の１点Ｐ２も焦屯が合わ
されるのでモニターＴＶＩＩでＰＩ 。
せて、対物レンズ７ａがダイ４の端面上の１．１ｆｆｉ
ｐ 、に焦点を合わせてモニターＴＶＩＩに画像を映
すと、同時にパンチ３の側面上の１点Ｐ２も焦屯が合わ
されるのでモニターＴＶＩＩでＰＩ 。
１２間の距＃Ｍを求め、線分ＰＩＦ、に直角な対物レン
ズの傾斜角θにより求めるクリアランスＸはＸ ＝ Ｍ
ｓｉｍＯ−−（１） により計算される。
ズの傾斜角θにより求めるクリアランスＸはＸ ＝ Ｍ
ｓｉｍＯ−−（１） により計算される。
本実施例では１個の測定装置を用いてクリアランスを測
定したが、対称位置およびそれと直角方向にそれぞれ測
定装置をセットし、同時に測定して微調整を行なうと極
めて端時間で芯出しができる。又、光学系を光ファイバ
ーを用いてフレキシブルな光学系にすると、ガイドボス
トなどの金型のとにある干渉物を避けることができ、測
定が一層容易になる。
定したが、対称位置およびそれと直角方向にそれぞれ測
定装置をセットし、同時に測定して微調整を行なうと極
めて端時間で芯出しができる。又、光学系を光ファイバ
ーを用いてフレキシブルな光学系にすると、ガイドボス
トなどの金型のとにある干渉物を避けることができ、測
定が一層容易になる。
以ヒ説明したように本発明は、プレス金型の最終組込状
態におけるパンチとダイのクリアランスを光学手段を用
いて非接触状態で測定することにより、従来Ｊｌｎ定で
きなかった実際の加工時のクリアランスが１ミクロン単
位まで測定できるので。
態におけるパンチとダイのクリアランスを光学手段を用
いて非接触状態で測定することにより、従来Ｊｌｎ定で
きなかった実際の加工時のクリアランスが１ミクロン単
位まで測定できるので。
１、クリアランスを均一に調整できるとともにコーナ一
部直線部などの形状に対する最適クリアランスの設定が
できること、 ２、金型組込工数の短縮、被加工品のパリの均一化と極
小化が実現できること、 などにより、金型コストの低減、金型設計のための資料
の蓄積や被加工品の品質の向トなどの効果がある。
部直線部などの形状に対する最適クリアランスの設定が
できること、 ２、金型組込工数の短縮、被加工品のパリの均一化と極
小化が実現できること、 などにより、金型コストの低減、金型設計のための資料
の蓄積や被加工品の品質の向トなどの効果がある。
第１ ＩＮは本発明のプレス金型のクリアランス測定方
法とこれに使用される４１４定器の一実施例の側面図、
第２図（ａ）、（ｂ）はＡｌ１１定法の詳細説明図、第
３図は従来のクリアランス測定法の説明図である。 １・・・・・・上型グイセット、 ２・・・・・・パンチプレート、 ３・・・・・・パンチ、 ４・・・・・・ダイ、 ５・・・・・・グイプレート、 ６・・・・・・下型グイセット、 ７・・・・・・光学−Ｌ ニット。 ７ａ・・・・・・対物レンズ、 ８・・・・・・固定用マグネット、 ９・・・・・・照明ランプ、 １０・・・・・・ＩＴＶカメラ。 １１・・・・・・モニターＴＶ、 １２・・・・・・送り用ガイド。 １３・・・・・・測定装置。 特許出願人 キャノン電子株式会社 代 理 人 若 林 忠第
２１！ｌ （ＤＪ 第３図
法とこれに使用される４１４定器の一実施例の側面図、
第２図（ａ）、（ｂ）はＡｌ１１定法の詳細説明図、第
３図は従来のクリアランス測定法の説明図である。 １・・・・・・上型グイセット、 ２・・・・・・パンチプレート、 ３・・・・・・パンチ、 ４・・・・・・ダイ、 ５・・・・・・グイプレート、 ６・・・・・・下型グイセット、 ７・・・・・・光学−Ｌ ニット。 ７ａ・・・・・・対物レンズ、 ８・・・・・・固定用マグネット、 ９・・・・・・照明ランプ、 １０・・・・・・ＩＴＶカメラ。 １１・・・・・・モニターＴＶ、 １２・・・・・・送り用ガイド。 １３・・・・・・測定装置。 特許出願人 キャノン電子株式会社 代 理 人 若 林 忠第
２１！ｌ （ＤＪ 第３図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 プレス金型のパンチとダイのクリアランス測定方法に
おいて、 プレス金型の最終組込状態におけるパンチとダイのクリ
アランスを、該パンチおよびダイのいずれとも直接接触
しない光学手段により測定することを特徴とするプレス
金型のクリアランス測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15552087A JPS641902A (en) | 1987-06-24 | 1987-06-24 | Method for measuring clearance of press die |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15552087A JPS641902A (en) | 1987-06-24 | 1987-06-24 | Method for measuring clearance of press die |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH011902A true JPH011902A (ja) | 1989-01-06 |
| JPS641902A JPS641902A (en) | 1989-01-06 |
Family
ID=15607860
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15552087A Pending JPS641902A (en) | 1987-06-24 | 1987-06-24 | Method for measuring clearance of press die |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS641902A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE19714430C2 (de) * | 1997-04-08 | 2002-10-24 | Fette Wilhelm Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Einstellung eines Stempels relativ zu einer Matrize bei Sinterpressen |
| JP3233393B2 (ja) | 1997-10-13 | 2001-11-26 | 松下電器産業株式会社 | メタルハライドランプ |
| US20070295066A1 (en) * | 2006-06-26 | 2007-12-27 | Dcp Midstream, Llc | Automatic, contact-free bearing clearance measurement system |
-
1987
- 1987-06-24 JP JP15552087A patent/JPS641902A/ja active Pending
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