JPH01205737A - 情報記録媒体 - Google Patents

情報記録媒体

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JPH01205737A
JPH01205737A JP8828784A JP2878488A JPH01205737A JP H01205737 A JPH01205737 A JP H01205737A JP 8828784 A JP8828784 A JP 8828784A JP 2878488 A JP2878488 A JP 2878488A JP H01205737 A JPH01205737 A JP H01205737A
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JP
Japan
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Pending
Application number
JP8828784A
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English (en)
Inventor
Tadashi Kobayashi
忠 小林
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
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  • Thermal Transfer Or Thermal Recording In General (AREA)
  • Optical Record Carriers And Manufacture Thereof (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の目的〕 (産業上の利用分野) 本発明は記録用の光ビームの照射によシ記録層の原子配
列の変化に伴う光学的特性の変化を生じさせて、情報の
記録、再生を繰り返し行−1光学的特性の変化を検出し
て情報を再生する情報記録媒体に関する。
(従来の技術) 従来広く開発がなされている記録、消去が可能な情報記
録媒体には光ビームの照射による原子配列の変化を利用
したものがある。このような情報記録媒体に情報を記録
する際には、まず情報記録層に光ビームを全面照射して
加熱し、記録層を結晶性の高い状態(以下結晶状態とい
う)にする。
次に短い強いパルス光を照射し、記録層を加熱急冷する
。するとパルス照射部の結晶性が低下した状態(以下非
晶質状態という)となシ、情報が記録される。上記の結
晶状態と非晶質状態では、原子配列が異なることから、
光学的特性(反射率。
透過率)が変化するため、この光学的特性の変化を検出
して情報を再生することができる。書き込まれた情報を
消去するKは、長い弱いパルス光を照射して加熱徐冷し
、原子配列を変化させ、再び結晶状態とする。このよう
に、光ビームの照M条件によって原子配列を変化させ情
報を記録、消去する記録層の材料としては反射率変化の
特に大きなTe、 Se、Geなどの元素を特徴とする
特許体弁晶質が提案されている。しかし、半導体非晶質
以外にも、Mg、とZnとの2元合金においてはZnの
含有率が20原子チ以上85原子チ以下の範囲で上記同
様に光ビームの照射条件の違いKよシ、金属結晶と金桐
非晶質とに繰シ返し変化しうろことが見い出された。と
ころがこれらの金属合金においては相変化に伴う光学的
特性の変化が記録材料として使用できるほど充分大きく
ない。又、結晶化温度が低く室温での非晶質状態の安定
性が悪いなどの問題点かあシ、情報記録媒体として使う
ことができない。
(発明が解決しようとする課題) 以゛上詳述したようKMg、とZn(20原子チ≦Zn
≦85原子チ)との2元合金では、結晶化温度が低く室
温における非晶質状態の安定性が愚く、又、相変化に伴
う光学的特性の変化が小さいため、情報記録媒体の材料
としては使用できなかった。
本発明は上記課題を解決するためになされたものでMg
、とZnとの2元合金KTe、 Se、Geを加えるこ
とによシ、結晶化温度を高めて室温における非晶質状態
を安定させ、又、相変化に伴う光学的特性の変化量を増
大させ情報記録媒体として使い5る材料を提供すること
を目的とする。
〔発明の構成〕
(課題を解決するための手段と作用) 本発明の情報記録媒体は例えば第1図に示されるような
構造を有する。第1図において、情報記録媒体Aは基板
1と、この基板1上九順次層伏に被覆された無機物保護
層3.光記録層2.無機物保護層3.有機物保護層4を
備えて構成されている。
基板1はガラスやプラスチック材料(例えばポリオレフ
ィン、エボ中シ、ポリカーボネイト。
ポリメチルメタクリレート等)からなる。
無機物保護層3は光記録層2の経時変化を防ぐために光
記録層20両側を挾んだ構造となっておシ、金属又は半
金属の酸化物、弗化物、硫化物。
窒化物例えば8102*k1203.klN、ZnSな
どの訪電体を用いて構成される。この無機物保護層は、
反射光を増幅させる機能も有する。有機物保@I@4は
、紫外fIa硬化樹脂からなシ、この情報記録媒体を取
り扱う場合の表面での傷や埃を防止するために配設され
ている。
このような組成の記録層を多元同時スパッタ法によジ成
膜する方法については以下に説明する。
使用されるスパッタ装置は第2図及び第3図に示す通り
である。第2図中11は真空容器であり、ガス排気ボー
ト12を介して排気装置13に接続され、ガス導入ボー
ト14を介してアルゴンガスボンベ15に接′続されて
いる。真空容器ll内の上部には、基板1が支持装置1
7に水平に支架され支持装置17によ多回転駆動できる
。又、真9容器11の底部には、所定元素で形成された
スパッタ源18.19.20が設けられ、各スパッタ源
上部にはモニタ装置21,22.23が設けられている
この装置によシ、記録層の成膜を行う場合には、まず排
気装置13により、真空容器ll内を107’ Tor
r台の真空度まで排気する。次いでガス尋人ボート14
よF)Arガスを導入し排気装置13の排気鴛を調節し
て真空容器11内を所定の減圧下に保持する。そして基
板15を回転させつクスパツタ源18,19.20に所
定時間電力を印加する。これによシ基板11C記録層が
形成される。
(実施例) 上記のような構造の情報記録媒体の特性を試験した災験
結果を以下に述べる。
一実験1−・ 第2図の真空容器ll内に八igとZnとTeのスパッ
タ源を設け、容器内を5X10  Torrまで排気し
た。次にArガスを導入して5X10−3TorrK全
体の圧力を調節した。基板として充分に洗浄した外径1
30nm、板厚1.2 mmの円板法ポリカーボネート
基板を用い、この基板を6゜rpm で回転しククモニ
タにより谷元素のスパッタ量をモニタして各スパッタ源
に投入する電力をコントロールし、全体の膜厚が100
OAKなるまで各元素を堆積させて記録層を成膜した。
Mg76 ZnH、Mg56 ZnH@ 、 Mg36
 Z n76に対してテルルの含有量をしだいに増加さ
せ高感度DEC(示差走f熱賞計)で昇温速度10℃/
 m i n  で結晶化温度を測定しテルルの言■濾
と結晶化温度の関係を調べた結果は第4図に示す通夛で
ある。
MgとZnとの組成比に関係な(Teの含有量がふえる
と結晶化温度が高くなることがわかる。又Te以外のカ
ルコゲナイド元素であるSe、Geを龜加した場合の結
晶化a友の変化は第7図乃至第9図に示す通りである。
これらの結果よシTe以外の兄事についても同様の効果
を得られることがわかる〇 一実験2− 実M1と同僚の方法でMg、Zn、X(X=Te。
Se)の3元記録層を多元同時スパッタ法で成膜し波i
790nmの光を照射してその表面反射率の変化量を測
定した。結果は第6図及び第7図に示す通シである。カ
コゲナイト元素Te、Se 、 Ge 。
−実験3− ここでは成膜された合金薄膜の非晶質吠態の安定性を調
べた。
ガラス基板上に8i021100n、光記録材料100
 nm、8i0@ 100nmUV硬化樹脂層を前記の
スパッタ法により形成した。記録層の組成は(Mg5o
 Znto )so Te16 @ (Mgso Zn
51) )so Te161(Mgyo Zn5o )
so Teto  この記録層にまず光ビームを全面照
射し、次いで短い強いパルス光を照射し、X線構造回折
によシ非晶質となっていることを確かめた。
次にこの試料を45℃、70チR)lのl境に供し1反
射率の変化を測定した。fs8!側での表面反射率の初
期値を几O1経時での反射率の値をRとし、経時々間に
対してR/Roの値をグロットした0 (第士昧図) 
O(Mg5o Zn71) )so Te16 。
(Mgso Zn5o )so Teto * (Mg
7o Zn5o )so Teto eいずれの組成の
記録層についても3ケ月細過しても反射率にほとんど変
化がない事がわかる。従って前記材料は室温において非
晶質状態安定であり、? 情報記録媒体として使い5る事がわかる。更にBe、G
e。
を飽刀口した揚合罠も同様の効果が得られる。
〔発明の幼果〕
以上評逸したように、!晶伏態と非晶買状態との相変化
を可逆的に起こすMgとZnとの2元合金に夫罠カルコ
ゲナイド元:ATe、:3e、Ue、  を刀口えると
相変化に伴う反射率変化が増大し、又、結晶化m度も^
〈なり、室温における非晶質吠態が安定となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は不発明の情報記録媒体の断面構造図、第2図は
、スパッタ装置の側面図、第3図は、スパッタ装置の底
面図、第4図及び第5図は Ill e。 Se、Geの添加率と結晶化gi波の相関を示すグラフ
、第6図及び第7図は、Te、 Se、Geのβ加童と
反射率変化量の相関を示すグラフ、第8図は、Mg、 
Zn、 ’I’e 3元記録層の経時反射率変化を示す
グラフである。 代理人 弁理士  則 近 惹 佑 同         山  下     −第1図 Te−奄、4′[°ム〕 第4図 第5図 7@+Jドア1−1t【°ム] 第6図 Se 11i Ge  a 4フt=t  (’ム〕第
7図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 光ビームの照射により原子配列の変化を生じることによ
    り情報が記録、消去される記録層を有する情報記録媒体
    において、 前記記録層の平均組成が (Mg_1_0_0−aZn_a)X 但しZnの含有率は、20原子%≦a≦85原子%、X
    はTe、Se、Geのうちから選ばれた元素であること
    を特徴とする情報記録媒体。
JP8828784A 1988-02-12 1988-02-12 情報記録媒体 Pending JPH01205737A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8828784A JPH01205737A (ja) 1988-02-12 1988-02-12 情報記録媒体

Applications Claiming Priority (1)

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JP8828784A JPH01205737A (ja) 1988-02-12 1988-02-12 情報記録媒体

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JPH01205737A true JPH01205737A (ja) 1989-08-18

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ID=12258045

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JP8828784A Pending JPH01205737A (ja) 1988-02-12 1988-02-12 情報記録媒体

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