JPH01207939A - 集積回路装置組立テープ - Google Patents
集積回路装置組立テープInfo
- Publication number
- JPH01207939A JPH01207939A JP63033303A JP3330388A JPH01207939A JP H01207939 A JPH01207939 A JP H01207939A JP 63033303 A JP63033303 A JP 63033303A JP 3330388 A JP3330388 A JP 3330388A JP H01207939 A JPH01207939 A JP H01207939A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- tape
- leads
- assembly
- integrated circuit
- parts
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/701—Tape-automated bond [TAB] connectors
Landscapes
- Wire Bonding (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は集積回路装置組立テープの導電性膜リー[の構
造に関する。
造に関する。
[従来の技術]
従来、集積回路装置の組立テープ構造は特公昭47 3
206及び第2図に示されている如き構造をとるのが通
例であった。ずなわら、ポリイミド・テープ11の表面
には銅箔IJ−)” l 2か形成され、前記ポリイミ
ド・テープ11の穴部に銅箔リーF l 2が同−It
’さで張り出して成り、その端部がICチップ14のバ
ッド部12及び外部り一トパッド部と融着させるのが通
例であった。
206及び第2図に示されている如き構造をとるのが通
例であった。ずなわら、ポリイミド・テープ11の表面
には銅箔IJ−)” l 2か形成され、前記ポリイミ
ド・テープ11の穴部に銅箔リーF l 2が同−It
’さで張り出して成り、その端部がICチップ14のバ
ッド部12及び外部り一トパッド部と融着させるのが通
例であった。
[発明が解決しようとする課題]
しかし、ト記従来技術によると、銅箔リートを、上部圧
接治具により圧接する際に、パント部以外に銅箔リード
が圧力印加され、チップを破壊したり、あるいは、圧力
が均一にかからす圧接不良を起こしたりする問題点があ
った。
接治具により圧接する際に、パント部以外に銅箔リード
が圧力印加され、チップを破壊したり、あるいは、圧力
が均一にかからす圧接不良を起こしたりする問題点があ
った。
本発明はかかる従来技術の問題点をなくし、集積回路装
置の組立テープによる組立不良をなくする為の組立テー
プ構造を提供する事を目的とする。
置の組立テープによる組立不良をなくする為の組立テー
プ構造を提供する事を目的とする。
F記目的を達成するための本発明の基本的な構成は、集
積回路装置組立テープに関し、絶縁テープ表面に張り付
けた導電性膜リートの前記絶縁テープに開けられた穴部
に張り出した端部の集積回路装置子ノブのパッド部及び
外部リートパッド部と融着させる部分に凸部を形成する
手段をとる事である。
積回路装置組立テープに関し、絶縁テープ表面に張り付
けた導電性膜リートの前記絶縁テープに開けられた穴部
に張り出した端部の集積回路装置子ノブのパッド部及び
外部リートパッド部と融着させる部分に凸部を形成する
手段をとる事である。
[実 施 例〕
以下、実施例により本発明を詳述する。
第1図は、本発明の一実施例を示す組立テープの要部の
断面図である。すなわち、ポリイミド・テープ1には銅
箔リード2が張り付けられ、該銅箔リード2の前記ポリ
イミド・テープ1の開口部に張り出した端部に凸部を設
けるべく、半エツチング部3を設けて、前記凸部をIC
チ、プ4のバンド部と圧接させるものである。
断面図である。すなわち、ポリイミド・テープ1には銅
箔リード2が張り付けられ、該銅箔リード2の前記ポリ
イミド・テープ1の開口部に張り出した端部に凸部を設
けるべく、半エツチング部3を設けて、前記凸部をIC
チ、プ4のバンド部と圧接させるものである。
尚、凸部は部分メツキ等によって形成しても良い事は云
うまでもない。
うまでもない。
〔発明の効果]
本発明により組立テープの導電性膜リードの圧接圧力が
均一になり、組立不良がなくなる効果がある。
均一になり、組立不良がなくなる効果がある。
第1図は本発明の一実施例を示す要部の断面図、第2図
は従来技術を示す要部の断面図である。 1、】1・・・ポリイミド・テープ 2.12・・・銅箔リード 3・・・・・・半エンチング部 4.14・・・ICチンプ 以 上 出願人 セイコーエプソン株代会社
は従来技術を示す要部の断面図である。 1、】1・・・ポリイミド・テープ 2.12・・・銅箔リード 3・・・・・・半エンチング部 4.14・・・ICチンプ 以 上 出願人 セイコーエプソン株代会社
Claims (1)
- 絶縁テープ表面に張り付けた導電性膜リードの前記絶
縁テープに開けられた穴部に張り出した端部の集積回路
装置チップのパッド部及び外部リードパッド部と融着さ
せる部分に凸部を形成する事を特徴とした集積回路装置
組立テープ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63033303A JPH01207939A (ja) | 1988-02-16 | 1988-02-16 | 集積回路装置組立テープ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63033303A JPH01207939A (ja) | 1988-02-16 | 1988-02-16 | 集積回路装置組立テープ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01207939A true JPH01207939A (ja) | 1989-08-21 |
Family
ID=12382783
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63033303A Pending JPH01207939A (ja) | 1988-02-16 | 1988-02-16 | 集積回路装置組立テープ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01207939A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5777380A (en) * | 1995-03-17 | 1998-07-07 | Seiko Epson Corporation | Resin sealing type semiconductor device having thin portions formed on the leads |
| US6140695A (en) * | 1997-05-15 | 2000-10-31 | Micron Technology, Inc. | Compression layer on the leadframe to reduce stress defects |
| JP2007150374A (ja) * | 1997-03-21 | 2007-06-14 | Seiko Epson Corp | 半導体装置及びフィルムキャリアテープ並びにこれらの製造方法 |
-
1988
- 1988-02-16 JP JP63033303A patent/JPH01207939A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5777380A (en) * | 1995-03-17 | 1998-07-07 | Seiko Epson Corporation | Resin sealing type semiconductor device having thin portions formed on the leads |
| JP2007150374A (ja) * | 1997-03-21 | 2007-06-14 | Seiko Epson Corp | 半導体装置及びフィルムキャリアテープ並びにこれらの製造方法 |
| US6140695A (en) * | 1997-05-15 | 2000-10-31 | Micron Technology, Inc. | Compression layer on the leadframe to reduce stress defects |
| US6221695B1 (en) * | 1997-05-15 | 2001-04-24 | Micron Technology, Inc. | Method for fabricating a compression layer on the dead frame to reduce stress defects |
| US6486539B1 (en) | 1997-05-15 | 2002-11-26 | Micron Technology, Inc. | Compression layer on the leadframe to reduce stress defects |
| US6657288B2 (en) | 1997-05-15 | 2003-12-02 | Micron Technology, Inc. | Compression layer on the lead frame to reduce stress defects |
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