JPH01228326A - 診断回路 - Google Patents
診断回路Info
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- JPH01228326A JPH01228326A JP5551088A JP5551088A JPH01228326A JP H01228326 A JPH01228326 A JP H01228326A JP 5551088 A JP5551088 A JP 5551088A JP 5551088 A JP5551088 A JP 5551088A JP H01228326 A JPH01228326 A JP H01228326A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔目 次〕
概要
産業上の利用分野
従来の技術
発明が解決しようとする課題
課題を解決するための手段
作用
実施例
■、実施例と第1図との対応関係
■、実施例の構成
■、実施例の動作
(i)パターンの比較要領
(11)診断回路の詳細動作
■、実施例のまとめ
■1発明の変形態様
発明の効果
〔概 要〕
音声符号化回路においてハードウェアの動作確認を行な
うようにした診断回路に関し、診断回路を簡略化するこ
とを目的とし、試験データと被診断装置を介した被試験
データとを比較して被診断装置の診断を行なう診断回路
において、複数ワードから成る2つの入力データが順次
入力され、加算を行なう加算手段と、複数ワードから成
る2つの入力データが順次入力され、減算を行なう減算
手段と、減算手段の減算結果に応じて被診断装置の診断
を行なう判別手段とを備え、試験データと被試験データ
の何れか一方を第1データとして加算手段に供給し、加
算手段において第1データと減算手段による減算結果と
の加算を行なうと共に、試験データと被試験データの他
方を第2データとして減算手段に供給し、減算手段にお
いて第2データと加算手段による加算結果との減算を行
なうように構成する。
うようにした診断回路に関し、診断回路を簡略化するこ
とを目的とし、試験データと被診断装置を介した被試験
データとを比較して被診断装置の診断を行なう診断回路
において、複数ワードから成る2つの入力データが順次
入力され、加算を行なう加算手段と、複数ワードから成
る2つの入力データが順次入力され、減算を行なう減算
手段と、減算手段の減算結果に応じて被診断装置の診断
を行なう判別手段とを備え、試験データと被試験データ
の何れか一方を第1データとして加算手段に供給し、加
算手段において第1データと減算手段による減算結果と
の加算を行なうと共に、試験データと被試験データの他
方を第2データとして減算手段に供給し、減算手段にお
いて第2データと加算手段による加算結果との減算を行
なうように構成する。
本発明は、診断回路に関し、特に、音声符号化回路にお
いてハードウェアの動作確認を行なうようにした診断回
路に関するものである。
いてハードウェアの動作確認を行なうようにした診断回
路に関するものである。
近年、情報圧縮技術の発達に伴って、音声信号(アナロ
グ信号)の音質を維持しながら少ない容量の音声情報(
ディジタルデータ)に変換する方式が開発されている。
グ信号)の音質を維持しながら少ない容量の音声情報(
ディジタルデータ)に変換する方式が開発されている。
例えば、パルス符号化(以後PCMと称する)方式、適
応差分PCM方式等を用いて高効率符号化を行なって、
外部の伝送路や記憶装置に圧縮データを供給すると共に
、外部の伝送路や記憶装置から供給された圧縮データを
復号化して音声信号を得ることができる。
応差分PCM方式等を用いて高効率符号化を行なって、
外部の伝送路や記憶装置に圧縮データを供給すると共に
、外部の伝送路や記憶装置から供給された圧縮データを
復号化して音声信号を得ることができる。
このような一連の処理を行なうための装置が音声符号化
回路であり、音声符号化回路によって、音声信号の符号
化(データの圧縮)及び圧縮データの復号化を行なうこ
とができる。
回路であり、音声符号化回路によって、音声信号の符号
化(データの圧縮)及び圧縮データの復号化を行なうこ
とができる。
音声符号化回路において、自己のハードウェアが正常に
機能しているか否かの診断を行なう場合があり、この診
断回路の一例を第5図に示す。
機能しているか否かの診断を行なう場合があり、この診
断回路の一例を第5図に示す。
図に示した診断回路は、nワードデータの加算を行なう
2つのnワード加算器511,521と、ビット単位の
減算動作を行なう減算器531と、入力されるシリアル
データを順次格納するシフトレジスタ541と、データ
のデコード動作を行なうデコーダ551と、データのラ
ッチを行なうフリップフロップ(FF)561とを備え
ている。
2つのnワード加算器511,521と、ビット単位の
減算動作を行なう減算器531と、入力されるシリアル
データを順次格納するシフトレジスタ541と、データ
のデコード動作を行なうデコーダ551と、データのラ
ッチを行なうフリップフロップ(FF)561とを備え
ている。
nワード加算器511は、ビット単位の加算動作を行な
う加算器513と、入力データの1ビツト遅延を行なう
遅延回路515と、ワードを構成する所定ビット数のデ
ータを格納するシフトレジスタ517とを備えている。
う加算器513と、入力データの1ビツト遅延を行なう
遅延回路515と、ワードを構成する所定ビット数のデ
ータを格納するシフトレジスタ517とを備えている。
同様に、nワード加算器521は、加算器523.遅延
回路525゜シフトレジスタ527を備えている。
回路525゜シフトレジスタ527を備えている。
加算器513の一方の入力端には、nワードから成るテ
ストパターン(シリアルデータ、音声符号化回路が正常
であるときの結果パターン(後述)に等しいと期待され
るデータ)が順次入力される。
ストパターン(シリアルデータ、音声符号化回路が正常
であるときの結果パターン(後述)に等しいと期待され
るデータ)が順次入力される。
加算器513での加算結果は遅延回路515及びシフト
レジスタ517を介して加算器513の他方の入力端に
入力されるので、nワード加算器511においてテスト
パターンの各ワードデータの加算が行なわれる。
レジスタ517を介して加算器513の他方の入力端に
入力されるので、nワード加算器511においてテスト
パターンの各ワードデータの加算が行なわれる。
同様に、nワード加算器521の加算器523の一方の
入力端には、上述のテストパターンを音声符号化回路に
て符号化(データ圧縮)及び復号化(データ復元)した
結果パターン(被テストパターン)が入力され、nワー
ド加算器521において結果パターンの各ワードデータ
の加算が行なわれる。
入力端には、上述のテストパターンを音声符号化回路に
て符号化(データ圧縮)及び復号化(データ復元)した
結果パターン(被テストパターン)が入力され、nワー
ド加算器521において結果パターンの各ワードデータ
の加算が行なわれる。
nワード加算器511の加算器513及びnワード加算
器521の加算器523から出力される加算結果(シリ
アルデータ)は、順次減算器531に入力される。減算
器531は、2つの入力データの差分を求めて、結果を
シフトレジスタ541に供給する。
器521の加算器523から出力される加算結果(シリ
アルデータ)は、順次減算器531に入力される。減算
器531は、2つの入力データの差分を求めて、結果を
シフトレジスタ541に供給する。
シフトレジスタ541は、入力された差分結果をワード
単位で格納する。従って、nワード加算器511からの
出力とnワード加算器521からの出力が等しいときに
、シフトレジスタ541からはワードを構成しているビ
ット数分のデータ“0°′が出力され、それらのビット
データをデコーダ551でデコードする。例えば、全ビ
ットが“0″であるときにデコーダ551から出力°“
1′′をフリップフロップ561に供給し、この出力“
l“はチエツク信号によって診断回路の外部に取り出す
ことができる。
単位で格納する。従って、nワード加算器511からの
出力とnワード加算器521からの出力が等しいときに
、シフトレジスタ541からはワードを構成しているビ
ット数分のデータ“0°′が出力され、それらのビット
データをデコーダ551でデコードする。例えば、全ビ
ットが“0″であるときにデコーダ551から出力°“
1′′をフリップフロップ561に供給し、この出力“
l“はチエツク信号によって診断回路の外部に取り出す
ことができる。
ところで、上述した従来方式にあっては、入力されたn
ワード分のシリアルデータに対して、nワード加算器5
11及びnワード加算器521においてワード単位の加
算を行なっていたため、ワード長のデータを保持するシ
フトレジスタ517及びシフトレジスタ527が必要で
あり、診断回路の規模が大きくなるという問題点があっ
た。
ワード分のシリアルデータに対して、nワード加算器5
11及びnワード加算器521においてワード単位の加
算を行なっていたため、ワード長のデータを保持するシ
フトレジスタ517及びシフトレジスタ527が必要で
あり、診断回路の規模が大きくなるという問題点があっ
た。
特に、音声信号のサンプリング精度を上げるためにワー
ドのビット数を多くすればするほどシフトレジスタ51
7及びシフトレジスタ527の規模も大きくなることに
なる。
ドのビット数を多くすればするほどシフトレジスタ51
7及びシフトレジスタ527の規模も大きくなることに
なる。
本発明は、このような点にかんがみて創作されたもので
あり、簡略化した診断回路を提供することを目的として
いる。
あり、簡略化した診断回路を提供することを目的として
いる。
第1図は、本発明の診断回路の原理ブロック図である。
図において、試験データと被診断装置を介した被試験デ
ータとを比較して被診断装置の診断を行なう診断回路に
おける加算手段111は、複数ワードから成る2つの入
力データが順次入力され、加算を行なう。
ータとを比較して被診断装置の診断を行なう診断回路に
おける加算手段111は、複数ワードから成る2つの入
力データが順次入力され、加算を行なう。
減算手段121は、複数ワードから成る2つの入力デー
タが順次入力され、減算を行なう。
タが順次入力され、減算を行なう。
判別手段131は、減算手段121の減算結果に応じて
被診断装置の診断を行なう。
被診断装置の診断を行なう。
全体として、試験データと被試験データの何れか一方を
第1データ113として加算手段111に供給し、加算
手段111において第1データ113と減算手段121
による減算結果との加算を行なうと共に、試験データと
被試験データの他方を第2データ123として減算手段
121に供給し、減算手段121において第2データ1
23と加算手段111による加算結果との減算を行なう
ように構成されている。
第1データ113として加算手段111に供給し、加算
手段111において第1データ113と減算手段121
による減算結果との加算を行なうと共に、試験データと
被試験データの他方を第2データ123として減算手段
121に供給し、減算手段121において第2データ1
23と加算手段111による加算結果との減算を行なう
ように構成されている。
試験データと被診断装置を介した被試験データの一方が
第1データ113として加算手段111に、他方が第2
データ123として減算手段121に供給される。
第1データ113として加算手段111に、他方が第2
データ123として減算手段121に供給される。
減算手段121は、供給された第2データ123と加算
手段111の加算結果との減算を行なう。
手段111の加算結果との減算を行なう。
加算手段111は、供給された第1データ113と減算
手段121の減算結果との加算を行なう。
手段121の減算結果との加算を行なう。
また、減算手段121による減算結果は判別手段131
に供給され、判別手段131は供給された減算結果に応
じて被診断装置の診断を行なう。
に供給され、判別手段131は供給された減算結果に応
じて被診断装置の診断を行なう。
本発明にあっては、減算手段121による減算結果と第
1データ113とを加算し、その結果と第2データ12
3との減算結果に応じて被診断装置の診断を行なうこと
により、第1データ、第2データのそれぞれを保持する
必要がなく、従ってそれらを保持するシフトレジスタが
不要となるため、診断回路を簡略化することができる。
1データ113とを加算し、その結果と第2データ12
3との減算結果に応じて被診断装置の診断を行なうこと
により、第1データ、第2データのそれぞれを保持する
必要がなく、従ってそれらを保持するシフトレジスタが
不要となるため、診断回路を簡略化することができる。
以下、図面に基づいて本発明の実施例について詳細に説
明する。
明する。
第2図は、本発明の一実施例における診断回路の構成を
示す。また、第3図は診断回路211の詳細構成を示す
。
示す。また、第3図は診断回路211の詳細構成を示す
。
L 1と 1゛との・心 、
ここで、本発明の実施例と第1図との対応関係を示して
おく。
おく。
加算手段111は、加算器311に相当する。
第1データ113は、加算器311に供給されるテスト
パターンに相当する。
パターンに相当する。
減算手段121は、減算器321.シフトレジスタ32
3に相当する。
3に相当する。
第2データ123は、減算器321に供給される結果パ
ターンに相当する。
ターンに相当する。
判別手段131は、デコーダ331.フリップフロップ
333に相当する。
333に相当する。
以上のような対応関係があるものとして、以下本発明の
実施例について説明する。
実施例について説明する。
ニー尖施拠■構威
第2図において、本発明を適用した音声符号化回路20
0は、音声信号(アナログ信号)をディジタルデータに
変換するアナログ−ディジタル(A/D )変換器23
1と、ディジタルデータを音声信号に変換するディジタ
ル−アナログ(D/A)変換器261と、データの高能
率符号化(例えば適用差分PCMによるデータ圧縮)を
行なう高能率符号化部241と、符号化されたデータを
復号化する高能率復号化器251と、テストパターンを
発生するパターン発生部121と、高能率符号化部24
1及び高能率復号化器251の機能診断を行なう診断回
路211と、3つの接続切換え用スイッチ271,27
3,275とを備えている。
0は、音声信号(アナログ信号)をディジタルデータに
変換するアナログ−ディジタル(A/D )変換器23
1と、ディジタルデータを音声信号に変換するディジタ
ル−アナログ(D/A)変換器261と、データの高能
率符号化(例えば適用差分PCMによるデータ圧縮)を
行なう高能率符号化部241と、符号化されたデータを
復号化する高能率復号化器251と、テストパターンを
発生するパターン発生部121と、高能率符号化部24
1及び高能率復号化器251の機能診断を行なう診断回
路211と、3つの接続切換え用スイッチ271,27
3,275とを備えている。
A/D変換器231の入力端には音声信号が入力される
。A/D変換器231の出力端はスイッチ271を介し
て高能率符号化部241の入力端に接続され、高能率符
号化部241の出力端は外部の伝送路に接続されている
。
。A/D変換器231の出力端はスイッチ271を介し
て高能率符号化部241の入力端に接続され、高能率符
号化部241の出力端は外部の伝送路に接続されている
。
また、外部の伝送路から供給される符号化データは、ス
イッチ273を介して高能率復号化器251の入力端に
入力される。高能率復号化器251の出力端はスイッチ
275を介してD/A変換器261の入力端に接続され
、D/A変換器261の出力端からは音声信号が出力さ
れる。
イッチ273を介して高能率復号化器251の入力端に
入力される。高能率復号化器251の出力端はスイッチ
275を介してD/A変換器261の入力端に接続され
、D/A変換器261の出力端からは音声信号が出力さ
れる。
パターン発生部121の出力端は、診断回路211の入
力端及びスイッチ275に接続されている。また、スイ
ッチ275の一端はスイッチ271に接続されており、
機能診断のためにスイッチ275及びスイッチ271を
切り換えることにより、パターン発生部121の出力端
がスイッチ275及びスイッチ271を介して高能率符
号化部241の入力端に接続された状態になる。
力端及びスイッチ275に接続されている。また、スイ
ッチ275の一端はスイッチ271に接続されており、
機能診断のためにスイッチ275及びスイッチ271を
切り換えることにより、パターン発生部121の出力端
がスイッチ275及びスイッチ271を介して高能率符
号化部241の入力端に接続された状態になる。
また、高能率符号化部241の出力端はスイッチ273
に接続されており、機能診断のためにスイッチ273を
切り換えることにより、高能率符号化部241の出力端
がスイッチ273を介して高能率復号化器251の入力
端に接続された状態になる。
に接続されており、機能診断のためにスイッチ273を
切り換えることにより、高能率符号化部241の出力端
がスイッチ273を介して高能率復号化器251の入力
端に接続された状態になる。
更に、貰能率復号化器251の出力端は診断回路211
の入力端に接続されている。従って、機能診断時に3つ
のスイッチ275,271.273を切り換えることに
より、パターン発生部121から出力されたテストパタ
ーンは、高能率符号化部241及び高能率復号化器25
1を介して診断回路211に供給されることになる。
の入力端に接続されている。従って、機能診断時に3つ
のスイッチ275,271.273を切り換えることに
より、パターン発生部121から出力されたテストパタ
ーンは、高能率符号化部241及び高能率復号化器25
1を介して診断回路211に供給されることになる。
第3図は、音声符号化回路200内の診断回路211の
詳細構成を示す。図において、診断回路211は、ビッ
ト単位の加算動作を行なう加算器311と、ビット単位
の減算動作を行なう減算器321と、1ワ一ド分のビッ
トデータを格納するシフトレジスタ323と、データの
デコード動作を行なうデコーダ331と、データのラッ
チを行なうフリップフロップ333とを備えている。
詳細構成を示す。図において、診断回路211は、ビッ
ト単位の加算動作を行なう加算器311と、ビット単位
の減算動作を行なう減算器321と、1ワ一ド分のビッ
トデータを格納するシフトレジスタ323と、データの
デコード動作を行なうデコーダ331と、データのラッ
チを行なうフリップフロップ333とを備えている。
加算器311の一方の入力端にはパターン発生部121
から供給されるテストパターン(シリアルデータ)が入
力され、他方の入力端にはシフトレジスタ323のシリ
アル出力端から出力されるシリアルデータが入力される
。
から供給されるテストパターン(シリアルデータ)が入
力され、他方の入力端にはシフトレジスタ323のシリ
アル出力端から出力されるシリアルデータが入力される
。
加算器311の出力端は減算器321の一方の入力端に
接続されており、減算器321の他方の入力端には高能
率符号化部241及び高能率復号化器251を介して供
給される結果パターン(シリアルデータ)が入力される
。
接続されており、減算器321の他方の入力端には高能
率符号化部241及び高能率復号化器251を介して供
給される結果パターン(シリアルデータ)が入力される
。
減算器321の出力端はシフトレジスタ323のシリア
ル入力端に接続されており、シフトレジスタ323のパ
ラレル出力端はデコーダ331の入力端に接続されてい
る。
ル入力端に接続されており、シフトレジスタ323のパ
ラレル出力端はデコーダ331の入力端に接続されてい
る。
また、デコーダ331の出力端はフリップフロップ33
3の入力端に接続されており、フリップフロップ333
ではデコーダ331の出力をチエツク信号に応じてラッ
チする。尚、このチエツク信号は診断回路211の外部
(パターン発生部121あるいは音声符号化回路200
の外部の制御装置(図示せず)等)から供給されるもの
とする。
3の入力端に接続されており、フリップフロップ333
ではデコーダ331の出力をチエツク信号に応じてラッ
チする。尚、このチエツク信号は診断回路211の外部
(パターン発生部121あるいは音声符号化回路200
の外部の制御装置(図示せず)等)から供給されるもの
とする。
−1−スl側1螺腹作
次に、上述した本発明実施例の動作を説明する。
第4図は、診断回路211に供給されるテストパターン
及び結果パターンを示す。テストパターンは、パターン
発生部121から診断回路211に直接供給されるパタ
ーンデータであり、正弦波パターンの絶対値として表現
される。
及び結果パターンを示す。テストパターンは、パターン
発生部121から診断回路211に直接供給されるパタ
ーンデータであり、正弦波パターンの絶対値として表現
される。
また、結果パターンは、診断回路211から出力される
テストパターンを高能率符号化部241で符号化し、更
に高能率復号化器251で復号化したパターンデータで
あり、高能率符号化部241及び高能率復号化器251
が正常であれば、テストパターンと等しくなる。但し、
高能率符号化部241及び高能率復号化器251を介し
ているため、テストパターンと結果パターンの位相は通
常ずれている(例えば、第4図に示すように2ワ一ド分
の位相差があるものとする)。
テストパターンを高能率符号化部241で符号化し、更
に高能率復号化器251で復号化したパターンデータで
あり、高能率符号化部241及び高能率復号化器251
が正常であれば、テストパターンと等しくなる。但し、
高能率符号化部241及び高能率復号化器251を介し
ているため、テストパターンと結果パターンの位相は通
常ずれている(例えば、第4図に示すように2ワ一ド分
の位相差があるものとする)。
尚、テストパターン及び結果パターンの各ワードは14
ビツトで構成するものとし、第4図における各ワードデ
ータ(テストパターンal+a2+a3、・・・、結果
パターンb1.b!+b3.・・・)は10進数で表し
た。
ビツトで構成するものとし、第4図における各ワードデ
ータ(テストパターンal+a2+a3、・・・、結果
パターンb1.b!+b3.・・・)は10進数で表し
た。
以下、第2図〜第4図を参照する。
(i パターンの 9
いま、テストパターンをデータA、結果パターンをテー
ク82減算器321におけるデータAとデータBと誤差
信号(減算結果)をデータDとする。
ク82減算器321におけるデータAとデータBと誤差
信号(減算結果)をデータDとする。
B−A=D・・・・・・ ・ ・・・ (1)であり、
この(1)式を変形して、 B−(A+D)=O・・・・・・ (2)となる。従っ
て、(2)式のA+Dの演算を加算器311によって行
ない、その結果とデータBとの減算を減算器321によ
って行なうようにする。
この(1)式を変形して、 B−(A+D)=O・・・・・・ (2)となる。従っ
て、(2)式のA+Dの演算を加算器311によって行
ない、その結果とデータBとの減算を減算器321によ
って行なうようにする。
高能率符号化部241及び高能率復号化器251が正常
であれば、データDを半周期分加算すると′0°°に収
束するので、(2)式の演算を半周期分実施し、その結
果によって回路の診断を行なう。
であれば、データDを半周期分加算すると′0°°に収
束するので、(2)式の演算を半周期分実施し、その結
果によって回路の診断を行なう。
j ま〉 口 の−先ず、加算器
311の一方の入力端にテストパターンとしてデータa
+(=717)に対応するシリアルデータが順次入力さ
れる。
311の一方の入力端にテストパターンとしてデータa
+(=717)に対応するシリアルデータが順次入力さ
れる。
加算器311の他方の入力端には、シフトレジスタ32
3に格納されているビットデータ“0″“(診断動作に
先立って14ビツト分の“0”が格納されている)が順
次入力される。
3に格納されているビットデータ“0″“(診断動作に
先立って14ビツト分の“0”が格納されている)が順
次入力される。
加算器311は、入力される2つのビットデータを順次
加算してその結果を減算器32.1の一方の入力端に入
力する。
加算してその結果を減算器32.1の一方の入力端に入
力する。
減算器321の他方の入力端には、結果パターンとして
データb、(=3057)に対応するシリアルデータが
順次入力される。
データb、(=3057)に対応するシリアルデータが
順次入力される。
減算器321は、データb+に対応するシリアルデータ
から加算器311の出力(シリアルデータ)を減算し、
その結果をシフトレジスタ323に入力する。
から加算器311の出力(シリアルデータ)を減算し、
その結果をシフトレジスタ323に入力する。
シフトレジスタ323は、減算器321から入力された
ビットデータを順次取り込み、14ビツト(1ワ一ド分
)のデータを格納する。
ビットデータを順次取り込み、14ビツト(1ワ一ド分
)のデータを格納する。
次に、加算器311の一方の入力端にはテストパターン
としてデータa! (=2043)に対応するシリア
ルデータが順次入力され、加算器311の他方の入力端
には上述でシフトレジスタ323に格納した減算器32
1の減算結果が入力される。
としてデータa! (=2043)に対応するシリア
ルデータが順次入力され、加算器311の他方の入力端
には上述でシフトレジスタ323に格納した減算器32
1の減算結果が入力される。
以後、加算器311は入力される2つのシリアルデータ
を順次加算し、減算器321は、結果パターンとして入
力されるデータb2からこの加算結果を減算する。
を順次加算し、減算器321は、結果パターンとして入
力されるデータb2からこの加算結果を減算する。
このような加算器311における加算動作及び減算器3
21における減算動作を半周期骨(第4図におけるデー
タa、〜a、あるいはデータb。
21における減算動作を半周期骨(第4図におけるデー
タa、〜a、あるいはデータb。
〜b7に相当、図におけるT/2の範囲)繰り返す。
このときシフトレジスタ323に格納された1ワードの
各ビットデータはデコーダ331に供給され、デコーダ
331は、シフトレジスタ323から供給されるビット
データが全て“0′°のときに出力“1°”をフリップ
フロップ333に供給する。
各ビットデータはデコーダ331に供給され、デコーダ
331は、シフトレジスタ323から供給されるビット
データが全て“0′°のときに出力“1°”をフリップ
フロップ333に供給する。
このデコーダ331からの出力はチエツク信号に同期し
てフリップフロップ333にラッチされる。
てフリップフロップ333にラッチされる。
以後、音声符号化回路200の外部の制御装置等は、こ
のフリップフロップ333からの出力が“1゛であると
きに、高能率符号化部241及び高能率復号化器251
の動作が正常であると判断し、フリップフロップ333
の出力が“0”であるときに、高能率符号化部241あ
るいは高能率復号化器251の動作に異常があることを
判断する。
のフリップフロップ333からの出力が“1゛であると
きに、高能率符号化部241及び高能率復号化器251
の動作が正常であると判断し、フリップフロップ333
の出力が“0”であるときに、高能率符号化部241あ
るいは高能率復号化器251の動作に異常があることを
判断する。
nのまとめ
このように、テストパターンを加算器311に、結果パ
ターンを減算器321に入力する。加算器311は、入
力されたテストパターンと誤差信号(加算器311によ
る加算結果と結果パターンとの減算結果であり、シフト
レジスタ323に格納されたデータ)とを加算し、更に
減算器321は、結果パターンからこの加算結果を減算
する。減算結果はシフトレジスタ323に格納する。こ
の動作を半周期骨繰り返し、その後シフトレジスタ32
3に格納されたビットデータが全てII O11である
ときに高能率符号化部241及び高能率復号化器251
が正常であると診断する。
ターンを減算器321に入力する。加算器311は、入
力されたテストパターンと誤差信号(加算器311によ
る加算結果と結果パターンとの減算結果であり、シフト
レジスタ323に格納されたデータ)とを加算し、更に
減算器321は、結果パターンからこの加算結果を減算
する。減算結果はシフトレジスタ323に格納する。こ
の動作を半周期骨繰り返し、その後シフトレジスタ32
3に格納されたビットデータが全てII O11である
ときに高能率符号化部241及び高能率復号化器251
が正常であると診断する。
従って、テストパターン、結果パターンを予め所定ワー
ド加算する必要がなく、そのためのシフトレジスタが不
要となり、診断回路211の構成を簡略化することがで
きる。
ド加算する必要がなく、そのためのシフトレジスタが不
要となり、診断回路211の構成を簡略化することがで
きる。
V 日 の ・ ノ 誼
なお、上述した本発明の実施例にあっては、半周期経過
後に診断回路211にチエツク信号を供給するようにし
たが、チエツク信舟を供給するタイミングを半周期の整
数倍後とすることで診断精度を上げることができる。
後に診断回路211にチエツク信号を供給するようにし
たが、チエツク信舟を供給するタイミングを半周期の整
数倍後とすることで診断精度を上げることができる。
また、実施例では、テストパターンと誤差信号とを加算
するようにしたが、結果パターンと誤差信号を加算する
ようにしてもよい。
するようにしたが、結果パターンと誤差信号を加算する
ようにしてもよい。
更に、「1.実施例と第1図との対応関係」において、
本発明と実施例との対応関係を説明しておいたが、これ
に限られることはなく、本発明には各種の変形態様があ
ることは当業者であれば容易に推考できるであろう。
本発明と実施例との対応関係を説明しておいたが、これ
に限られることはなく、本発明には各種の変形態様があ
ることは当業者であれば容易に推考できるであろう。
上述したように、本発明によれば、減算手段による減算
結果と第1データ(試験データと被試験データの一方)
とを加算し、その結果と第2データ(試験データと被試
験データの他方)との減算結果に応じて被診断装置の診
断を行なうことにより、診断回路を簡略化することがで
きるので、実用的には極めて有用である。
結果と第1データ(試験データと被試験データの一方)
とを加算し、その結果と第2データ(試験データと被試
験データの他方)との減算結果に応じて被診断装置の診
断を行なうことにより、診断回路を簡略化することがで
きるので、実用的には極めて有用である。
第1図は本発明の診断回路の原理ブロック図、第2図は
本発明の一実施例の診断回路の構成図、第3図は実施例
の診断回路の詳細構成図、第4図は実施例の診断回路に
供給されるパターンデータの説明図、 第5図は従来例の診断回路の構成図である。 図において、 111は加算手段、 113は第1データ、 121は減算手段、 123は第2データ、 131は判別手段、 200は音声符号化回路、 211は診断回路、 121はパターン発生部、 231はA/D変換器、 241は高能率符号化部、 251は高能率復号化器、 261はD/A変換器、 271.273,275はスイッチ、 311は加算器、 321は減算器、 323はシフトレジスタ、 331はデコーダ、 333はフリップフロップである。 不4ト明の原理ブb1,7図 第1図 恒禰唸ど ≦】I勾2−? ェ゛7 ベら 帆
本発明の一実施例の診断回路の構成図、第3図は実施例
の診断回路の詳細構成図、第4図は実施例の診断回路に
供給されるパターンデータの説明図、 第5図は従来例の診断回路の構成図である。 図において、 111は加算手段、 113は第1データ、 121は減算手段、 123は第2データ、 131は判別手段、 200は音声符号化回路、 211は診断回路、 121はパターン発生部、 231はA/D変換器、 241は高能率符号化部、 251は高能率復号化器、 261はD/A変換器、 271.273,275はスイッチ、 311は加算器、 321は減算器、 323はシフトレジスタ、 331はデコーダ、 333はフリップフロップである。 不4ト明の原理ブb1,7図 第1図 恒禰唸ど ≦】I勾2−? ェ゛7 ベら 帆
Claims (1)
- (1)試験データと被診断装置を介した被試験データと
を比較して前記被診断装置の診断を行なう診断回路にお
いて、 複数ワードから成る2つの入力データが順次入力され、
加算を行なう加算手段(111)と、複数ワードから成
る2つの入力データが順次入力され、減算を行なう減算
手段(121)と、前記減算手段(121)の減算結果
に応じて前記被診断装置の診断を行なう判別手段(13
1)と、 を備え、前記試験データと前記被試験データの何れか一
方を第1データ(113)として前記加算手段(111
)に供給し、前記加算手段(111)において前記第1
データ(113)と前記減算手段(121)による減算
結果との加算を行なうと共に、前記試験データと前記被
試験データの他方を第2データ(123)として前記減
算手段(121)に供給し、前記減算手段(121)に
おいて前記第2データ(123)と前記加算手段(11
1)による加算結果との減算を行なうように構成したこ
とを特徴とする診断回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5551088A JPH01228326A (ja) | 1988-03-09 | 1988-03-09 | 診断回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5551088A JPH01228326A (ja) | 1988-03-09 | 1988-03-09 | 診断回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01228326A true JPH01228326A (ja) | 1989-09-12 |
Family
ID=13000679
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5551088A Pending JPH01228326A (ja) | 1988-03-09 | 1988-03-09 | 診断回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01228326A (ja) |
-
1988
- 1988-03-09 JP JP5551088A patent/JPH01228326A/ja active Pending
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