JPH01248530A - 半導体チップ接続構造 - Google Patents
半導体チップ接続構造Info
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- JPH01248530A JPH01248530A JP63074380A JP7438088A JPH01248530A JP H01248530 A JPH01248530 A JP H01248530A JP 63074380 A JP63074380 A JP 63074380A JP 7438088 A JP7438088 A JP 7438088A JP H01248530 A JPH01248530 A JP H01248530A
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- chip
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は半導体チップ接続構造に係り、特に上記構造の
必要高を削減し、上記構造を有する半導体装置の厚さの
低減に好適な半導体チップ接続構造に関する。
必要高を削減し、上記構造を有する半導体装置の厚さの
低減に好適な半導体チップ接続構造に関する。
従来の装置については、特開昭53−45174号公報
において論じられている。しかし、第2図において疎水
性樹脂6の上端と下端の有効厚さの低減を図る場合につ
い又は、1,2,5.6の厚さ低減が考えられるが、5
Vrつい1は半導体チップの電極部とリードフレームの
電極部が平行面であるために、各々の宵、極間全接続す
るボンティングワイヤはM線で接続することは不可能で
ある。したがって上記ワイヤは半導体チップ表面の高さ
を越える弓形状となり、ワイヤの最大高さの低減に制約
があった。即ち疎水性樹脂6の全体の厚さ低減を制約す
る。
において論じられている。しかし、第2図において疎水
性樹脂6の上端と下端の有効厚さの低減を図る場合につ
い又は、1,2,5.6の厚さ低減が考えられるが、5
Vrつい1は半導体チップの電極部とリードフレームの
電極部が平行面であるために、各々の宵、極間全接続す
るボンティングワイヤはM線で接続することは不可能で
ある。したがって上記ワイヤは半導体チップ表面の高さ
を越える弓形状となり、ワイヤの最大高さの低減に制約
があった。即ち疎水性樹脂6の全体の厚さ低減を制約す
る。
上記従来技術は半導体装置とし℃の部品高の低減に対す
る配慮がされてどうす、厚さの低減に制約があった〇 本発明の目的は、厚みを低減した半導体チップ接続構造
を提供することVCある。
る配慮がされてどうす、厚さの低減に制約があった〇 本発明の目的は、厚みを低減した半導体チップ接続構造
を提供することVCある。
〔線端を解決するための手段り
上記目的は半導体チップ接続構造に2いて、半導体チッ
プ内の電極形成部を該半導体チップの裏面に対して傾斜
をもたせた面に形成することにより、達成される。
プ内の電極形成部を該半導体チップの裏面に対して傾斜
をもたせた面に形成することにより、達成される。
半導体チップの第1の電極部を該チップの裏面に対して
傾斜をもたせた面に設置すれば、上記第1の電極部の高
さは、従来の、半導体チップの裏面と平行面を成す半導
体チップの表面と同一平面に電極部が形成される場合に
比べ、低くできる。
傾斜をもたせた面に設置すれば、上記第1の電極部の高
さは、従来の、半導体チップの裏面と平行面を成す半導
体チップの表面と同一平面に電極部が形成される場合に
比べ、低くできる。
したがって、上記第1の電極部と前記半導体チップの周
囲に形成した第2の電極部の間をワイヤボンディング接
続すると、該第2の電極部が第1の電極部の高さと同程
度とする構成とすれば、前記ワイヤボンディングの最大
高さを従来より低減することができる。即ち、半導体チ
ップ接続構造の必要高を従来より低減できる。
囲に形成した第2の電極部の間をワイヤボンディング接
続すると、該第2の電極部が第1の電極部の高さと同程
度とする構成とすれば、前記ワイヤボンディングの最大
高さを従来より低減することができる。即ち、半導体チ
ップ接続構造の必要高を従来より低減できる。
以下、本発明の実施例を第1〜第5図により説明する。
第1図は本発明の第1の実施例を示す半導体チップ接続
構造の断面図である。この図において1は半導体チップ
、2は保持板、3はり7ドフレーム、4は封止キャップ
である。半導体チップ1は電極部を、チップ形成時に異
方性エツチング等によって該チップの裏面に対して傾斜
をもたせた面に形成しである。
構造の断面図である。この図において1は半導体チップ
、2は保持板、3はり7ドフレーム、4は封止キャップ
である。半導体チップ1は電極部を、チップ形成時に異
方性エツチング等によって該チップの裏面に対して傾斜
をもたせた面に形成しである。
一方、半導体チップ1の電極は、ボンディングワイヤ5
によって半導体チップ1の裏面に対して傾斜をもたせた
面に形成したリードフレーム3の電極部に接続する。a
は保持板2からボンディングワイヤ5へのワイヤの最大
高さである。第2図は第1図に対する従来の半導体チッ
プ接続構造の断面図である。第1図と同一の部品は、同
符号で示す。6は半導体チップ、7はリードフレームで
、各々の電極部は該チップの表面と平行となる面に形成
しである。a′は保持板2からボンディングワイヤ5へ
のワイヤの最大高さである。第2図々示の従来例では、
ボンディングワイヤ5は半導体チップ6の電極部から該
チップの表面の高さを越える弓形状で、リードフレーム
7へ接続される。しかしながら本発明に係る第1図の実
施・例においては電極部を半導体チップ1の裏面に対し
て傾斜をもたせた面に形成したので、ボンディングワイ
ヤ5の接続開始点を従来よりも低くできる。したがりて
、第1図のワイヤの最大高さaは第2図のワイヤの最大
高さa′に比べ低くでき、封止キャップ4の上漏から保
持板2の下端までの厚さを従来よりも薄くできる。
によって半導体チップ1の裏面に対して傾斜をもたせた
面に形成したリードフレーム3の電極部に接続する。a
は保持板2からボンディングワイヤ5へのワイヤの最大
高さである。第2図は第1図に対する従来の半導体チッ
プ接続構造の断面図である。第1図と同一の部品は、同
符号で示す。6は半導体チップ、7はリードフレームで
、各々の電極部は該チップの表面と平行となる面に形成
しである。a′は保持板2からボンディングワイヤ5へ
のワイヤの最大高さである。第2図々示の従来例では、
ボンディングワイヤ5は半導体チップ6の電極部から該
チップの表面の高さを越える弓形状で、リードフレーム
7へ接続される。しかしながら本発明に係る第1図の実
施・例においては電極部を半導体チップ1の裏面に対し
て傾斜をもたせた面に形成したので、ボンディングワイ
ヤ5の接続開始点を従来よりも低くできる。したがりて
、第1図のワイヤの最大高さaは第2図のワイヤの最大
高さa′に比べ低くでき、封止キャップ4の上漏から保
持板2の下端までの厚さを従来よりも薄くできる。
即ち、半導体装置の厚さ低減を期待できる。
第3図は第1図に示す実施例の半導体チップ形状を変え
た断面図であり、本発明の第2の実施例である。100
は半導体チップで、電極部のみならず、チップの表面全
体を該チップの裏面に対して傾斜をもたせた面とした。
た断面図であり、本発明の第2の実施例である。100
は半導体チップで、電極部のみならず、チップの表面全
体を該チップの裏面に対して傾斜をもたせた面とした。
これにより第1図同様の効果を期待できることは明らか
であり、さらに半導体チップの素子形成に関わる表面積
を増大するようにチップ表面を形成しであるので、チッ
プサイズを低減できる可能性があり、経済化が期待でき
る。
であり、さらに半導体チップの素子形成に関わる表面積
を増大するようにチップ表面を形成しであるので、チッ
プサイズを低減できる可能性があり、経済化が期待でき
る。
第4図は本発明の第3の実施例を示すフリップチップ型
の半導体チップ接続構造の断面図である。
の半導体チップ接続構造の断面図である。
この図において半導体チップ10の電極は保持板20上
面の印刷導体9による電極部にハンダボール8を介して
フェイスダウンボンディングされている。該チップの電
極部は該チップの裏面に対して傾斜をもたせた面となる
ように形成しである。−方上記印刷導体9の他端は、リ
ードフレーム30に接続しである。40は封止キャップ
である。hは半導体チップ10の表面と保持板20の上
面とのギャップである。一方、第5図は従来のフリップ
チップ型半導体装置の半導体チップ接続構造の断面図で
ある。第4図と同一部品は、同符号で示す。60は半導
体チップである。該チップの電極部は該チップの裏面と
平行面上に形成しである。h′は半導体チップ60の表
面と保持板20の上面とのギャップである。第5図図示
の従来例ではギャップh′はハンダボール8の有効高さ
より低くはならない。しかしながら本発明に係る第4図
の実施例においてはボンディング部を半導体チップ10
の裏面に対して傾斜をもたせた面に形成したのでギャッ
プhを従来よりも低くできる。故に第4図におけるギャ
ップhは第5図におけるギャップh′よりも低くなり封
止キャップ40の止痛から保持板20の下端までの厚さ
は従来よりも薄くできるため半導体装置の厚、さ低減を
期待できる。
面の印刷導体9による電極部にハンダボール8を介して
フェイスダウンボンディングされている。該チップの電
極部は該チップの裏面に対して傾斜をもたせた面となる
ように形成しである。−方上記印刷導体9の他端は、リ
ードフレーム30に接続しである。40は封止キャップ
である。hは半導体チップ10の表面と保持板20の上
面とのギャップである。一方、第5図は従来のフリップ
チップ型半導体装置の半導体チップ接続構造の断面図で
ある。第4図と同一部品は、同符号で示す。60は半導
体チップである。該チップの電極部は該チップの裏面と
平行面上に形成しである。h′は半導体チップ60の表
面と保持板20の上面とのギャップである。第5図図示
の従来例ではギャップh′はハンダボール8の有効高さ
より低くはならない。しかしながら本発明に係る第4図
の実施例においてはボンディング部を半導体チップ10
の裏面に対して傾斜をもたせた面に形成したのでギャッ
プhを従来よりも低くできる。故に第4図におけるギャ
ップhは第5図におけるギャップh′よりも低くなり封
止キャップ40の止痛から保持板20の下端までの厚さ
は従来よりも薄くできるため半導体装置の厚、さ低減を
期待できる。
なお、電極を設置する傾斜をもたせた面と、該チップ内
の素子形成面との境界部分におけるチップ内配線層は拡
散による低抵抗層に置き換えることもできる。
の素子形成面との境界部分におけるチップ内配線層は拡
散による低抵抗層に置き換えることもできる。
また、本発明における半導体チップ接続構造は厚膜半導
体基板、薄膜半導体基板における半導体チップ接続構造
にも適用できる。
体基板、薄膜半導体基板における半導体チップ接続構造
にも適用できる。
本発明によれば、半導体チップ接続構造において半導体
デツプの電極部もしくはチップ表面全体を該チップ裏面
に対して傾斜をもたせた面とすることにより、半導体装
置の部品高の低減、あるいは半導体チップの素子形成に
関わる表面積が増大できるので、半導体装置の厚さ低減
、および経済化の効果がある。
デツプの電極部もしくはチップ表面全体を該チップ裏面
に対して傾斜をもたせた面とすることにより、半導体装
置の部品高の低減、あるいは半導体チップの素子形成に
関わる表面積が増大できるので、半導体装置の厚さ低減
、および経済化の効果がある。
第1図は本発明の第1の実施例を示す半導体チップ接続
構造の断面図、第2図は従来技術による半導体チップ接
続構造の断面図、第3図は第1図に示す実施例の半導体
チップ形状を変えた本発明の第2の実施例の断面図、第
4図は本発明の第3の実施例を示すフリップチップ形の
半導体チップ接続構造の断面図、第5図は従来技術によ
るフリップチップ形の半導体チップ接続構造の断面図で
ある。 2.20・・・保持板 3 、7 、30・・・リードフレーム4.40・・・
封止キャップ 5・・・ボンディングワイヤ 8・・・ハンダボール 9・・・印刷導体 茎 1 図 1キ漕昌ネ乎、7ブ ′2゜べ宋千コトλ号と 4村二〜マフプ S、ホ゛ン子スンフ“ワ4v 力 2 図 見 3 珂 ヱ t+ 口 (O 第 5 同
構造の断面図、第2図は従来技術による半導体チップ接
続構造の断面図、第3図は第1図に示す実施例の半導体
チップ形状を変えた本発明の第2の実施例の断面図、第
4図は本発明の第3の実施例を示すフリップチップ形の
半導体チップ接続構造の断面図、第5図は従来技術によ
るフリップチップ形の半導体チップ接続構造の断面図で
ある。 2.20・・・保持板 3 、7 、30・・・リードフレーム4.40・・・
封止キャップ 5・・・ボンディングワイヤ 8・・・ハンダボール 9・・・印刷導体 茎 1 図 1キ漕昌ネ乎、7ブ ′2゜べ宋千コトλ号と 4村二〜マフプ S、ホ゛ン子スンフ“ワ4v 力 2 図 見 3 珂 ヱ t+ 口 (O 第 5 同
Claims (1)
- 1、半導体チップと該半導体チップ内の第1の電極と該
電極に接続される接続材と該接続材に接続される第2の
電極から成る半導体チップ接続構造において、上記第1
の電極部を半導体チップ裏面に対して傾斜をもたせた面
に形成したことを特徴とする半導体チップ接続構造。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63074380A JPH01248530A (ja) | 1988-03-30 | 1988-03-30 | 半導体チップ接続構造 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63074380A JPH01248530A (ja) | 1988-03-30 | 1988-03-30 | 半導体チップ接続構造 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01248530A true JPH01248530A (ja) | 1989-10-04 |
Family
ID=13545502
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63074380A Pending JPH01248530A (ja) | 1988-03-30 | 1988-03-30 | 半導体チップ接続構造 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01248530A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011129960A (ja) * | 2011-03-30 | 2011-06-30 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体モールドパッケージ |
-
1988
- 1988-03-30 JP JP63074380A patent/JPH01248530A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011129960A (ja) * | 2011-03-30 | 2011-06-30 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体モールドパッケージ |
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