JPH01249181A - チップ部品自動外観選別機における部品仕分け方法 - Google Patents
チップ部品自動外観選別機における部品仕分け方法Info
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- JPH01249181A JPH01249181A JP63079578A JP7957888A JPH01249181A JP H01249181 A JPH01249181 A JP H01249181A JP 63079578 A JP63079578 A JP 63079578A JP 7957888 A JP7957888 A JP 7957888A JP H01249181 A JPH01249181 A JP H01249181A
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- G—PHYSICS
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- B07C—POSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、チップコンデンサ、コイル等のコア部品その
他ＬＣ複合部品等のチップ状部品の外観を検査しつつそ
の結果に応じて仕分けする部品仕分は方法に関し、特に
チップ部品自動外観選別機における部品仕分は方法に関
する。
他ＬＣ複合部品等のチップ状部品の外観を検査しつつそ
の結果に応じて仕分けする部品仕分は方法に関し、特に
チップ部品自動外観選別機における部品仕分は方法に関
する。
（従来技術）
この種の電子・電気部品は、長さや厚み等の外形不良や
部品各部の寸法誤差、その他割れとが欠は等の欠陥があ
ると、これが特性に影響し、また部品実装上からも不都
合を生じるため、製造工程の途中あるいはその最終工程
で特性値検査に加えて外観による検査を行っている。
部品各部の寸法誤差、その他割れとが欠は等の欠陥があ
ると、これが特性に影響し、また部品実装上からも不都
合を生じるため、製造工程の途中あるいはその最終工程
で特性値検査に加えて外観による検査を行っている。
従来、チップ部品の外観検査は、肉眼あるいは拡大レン
ズを用いた目視検査が普通であって、検査すべき部品を
適当な個数ガラスパレット上に並べ、拡大レンズ等で拡
大して部品の良、不良を判断し、その中から不良品を選
んで別の箱に分けるという方法で行っている。部品を光
学照射してその画像処理により自動的に良、不良を選別
することはなされていなかった。
ズを用いた目視検査が普通であって、検査すべき部品を
適当な個数ガラスパレット上に並べ、拡大レンズ等で拡
大して部品の良、不良を判断し、その中から不良品を選
んで別の箱に分けるという方法で行っている。部品を光
学照射してその画像処理により自動的に良、不良を選別
することはなされていなかった。
（発明が解決しようとする問題点）
従来の肉眼による外観検査は、感覚的な要素が多く、検
査基準の定量化が難しく、個人差により検査後の品質の
ばらつきが出やすい。また、チップ部品をラインに沿っ
て連続的に送りつつその途中の各工程で所要の処理を行
い、順次完成品にしていく量産製造ラインでは、搬送中
に部品を１個づつ拡大鏡等で目視検査することは困難で
、搬送部品を一時ラインから外して成る数量ごとに一箇
所に集めて目視検査を行わなければならない。特にチッ
プコンデンサやＬＣ複合部品のような量産品の場合は多
くの検査要員が必要でコスト高となってしまう。
査基準の定量化が難しく、個人差により検査後の品質の
ばらつきが出やすい。また、チップ部品をラインに沿っ
て連続的に送りつつその途中の各工程で所要の処理を行
い、順次完成品にしていく量産製造ラインでは、搬送中
に部品を１個づつ拡大鏡等で目視検査することは困難で
、搬送部品を一時ラインから外して成る数量ごとに一箇
所に集めて目視検査を行わなければならない。特にチッ
プコンデンサやＬＣ複合部品のような量産品の場合は多
くの検査要員が必要でコスト高となってしまう。
上述の問題を解決するために本発明者等は先に、チップ
部品を間欠的に一定方向に送りつつその途中で斜光照明
および透過照明によってチップ部品の光像をテレビカメ
ラでとらえ、そのビデオ信号を画像処理し、部品の外観
を自動検査する方法および自動外観選別機を提案した （特願昭６２−２１４４３３号）。この選別機により目
視検査要員が不要になるとともに、判定レベルのばらつ
きがなくなり、また高速画像処理によって生産性も向上
する。しかしこれは光学的手法を用いて自動的に良品、
不良品の選別を行うものであるから、選別機稼動中に何
らかの原因でごみ等が混在した場合、良品を誤って不良
品側へ入れてしまうおそれがあり、そのような原因を排
除するにも選別機自体の機構的な限界がある。
部品を間欠的に一定方向に送りつつその途中で斜光照明
および透過照明によってチップ部品の光像をテレビカメ
ラでとらえ、そのビデオ信号を画像処理し、部品の外観
を自動検査する方法および自動外観選別機を提案した （特願昭６２−２１４４３３号）。この選別機により目
視検査要員が不要になるとともに、判定レベルのばらつ
きがなくなり、また高速画像処理によって生産性も向上
する。しかしこれは光学的手法を用いて自動的に良品、
不良品の選別を行うものであるから、選別機稼動中に何
らかの原因でごみ等が混在した場合、良品を誤って不良
品側へ入れてしまうおそれがあり、そのような原因を排
除するにも選別機自体の機構的な限界がある。
本発明は上述した自動外観選別機における信頼性に関し
た機構上の限界を克服し、自動選別機の使用に際して出
来る限り良品に不良品が混入しないようにする部品仕分
は方法を提供することにある。
た機構上の限界を克服し、自動選別機の使用に際して出
来る限り良品に不良品が混入しないようにする部品仕分
は方法を提供することにある。
（問題点を解決するための手段）
本発明は、チップ部品の搬送路と、前記搬送路の途中に
設置した斜光・透過照明装置およびテレビカメラと、前
記テレビカメラで取り込んだビデオ信号を画像処理する
画像処理部と、前記搬送路の末端部に設けられた分別シ
ュートおよびシュート開閉用ゲート部材とを有するチッ
プ部品自動外観選別機において、前記搬送路の末端部に
３つの分別シュートを設け、前記画像処理部の信号で前
記シュート開閉用ゲート部材を動作させて搬送路末端部
に搬送された部品を検査不能品、良品、不良品の３種類
に仕分けするようにし、検査不能品用分別シュートまた
は不良品用分別シュートに入る仕分は部品がそれぞれ所
定個数連続したとき前記選別機を停止せしめ、かつ選別
機停止後のシュート開閉用ゲート部材を、前記検査不能
品用分別シュートを開とする方向へ動作せしめようした
ものである。
設置した斜光・透過照明装置およびテレビカメラと、前
記テレビカメラで取り込んだビデオ信号を画像処理する
画像処理部と、前記搬送路の末端部に設けられた分別シ
ュートおよびシュート開閉用ゲート部材とを有するチッ
プ部品自動外観選別機において、前記搬送路の末端部に
３つの分別シュートを設け、前記画像処理部の信号で前
記シュート開閉用ゲート部材を動作させて搬送路末端部
に搬送された部品を検査不能品、良品、不良品の３種類
に仕分けするようにし、検査不能品用分別シュートまた
は不良品用分別シュートに入る仕分は部品がそれぞれ所
定個数連続したとき前記選別機を停止せしめ、かつ選別
機停止後のシュート開閉用ゲート部材を、前記検査不能
品用分別シュートを開とする方向へ動作せしめようした
ものである。
（実施例）
次に、図面を参照して本発明の詳細な説明する。
以下の実施例は第１図に示すような両端に電極部２をも
つチップコンデンサ１（以下の説明でチップと記したも
のは、このチップコンデンサを指している）を外観検査
する場合である。検査項目としては全長のし寸法、素地
部３の幅Ｗ寸法、電極部幅Ｂｌ、Ｂ２、Ｂ３．８４寸法
、素地部３の貫通欠け（Ｗ−−−、Ｗ、、、＋−，）等
が対象項目してあげられる。
つチップコンデンサ１（以下の説明でチップと記したも
のは、このチップコンデンサを指している）を外観検査
する場合である。検査項目としては全長のし寸法、素地
部３の幅Ｗ寸法、電極部幅Ｂｌ、Ｂ２、Ｂ３．８４寸法
、素地部３の貫通欠け（Ｗ−−−、Ｗ、、、＋−，）等
が対象項目してあげられる。
第２図は本発明の実施例に係る画像処理部の概略図であ
り、第３図は被検査部品であるチップコンデンサを光学
照射して外観をテレビカメラで撮像検出する場合の斜光
、透過照明部の概略図である。後述する傾斜搬送路２４
のすりガラス５上に保持されたチップコンデンサ１は該
すりガラス５の下側から光源７により透過照明されると
ともに、光源７からコンデンサレンズ８およびスリット
４を通し反射板９を介した斜光照明によりカメラ１０に
取り込まれ、ビデオ信号として画像処理部のＡ／Ｄ変換
部１２ａ、、１２ｂ（第２図）に人力される。このよう
な光学系およびカメラ１０はチップ搬送路に沿って２体
設置され、その一方はチップコンデンサ１の表側を、他
方はその裏側を検出するようになっている。
り、第３図は被検査部品であるチップコンデンサを光学
照射して外観をテレビカメラで撮像検出する場合の斜光
、透過照明部の概略図である。後述する傾斜搬送路２４
のすりガラス５上に保持されたチップコンデンサ１は該
すりガラス５の下側から光源７により透過照明されると
ともに、光源７からコンデンサレンズ８およびスリット
４を通し反射板９を介した斜光照明によりカメラ１０に
取り込まれ、ビデオ信号として画像処理部のＡ／Ｄ変換
部１２ａ、、１２ｂ（第２図）に人力される。このよう
な光学系およびカメラ１０はチップ搬送路に沿って２体
設置され、その一方はチップコンデンサ１の表側を、他
方はその裏側を検出するようになっている。
画像処理部は第２図の如く上述した斜光、透過照明系を
含むカメラ部１０ａ、１０ｂ、Ａ／Ｄ変換部１２ａ、１
２ｂ、ビデオメモリ部１３ａ。
含むカメラ部１０ａ、１０ｂ、Ａ／Ｄ変換部１２ａ、１
２ｂ、ビデオメモリ部１３ａ。
１３ｂ、画像処理用ＣＰＵ１４ａ、１４ｂ、総合判定お
よび機構部制御用のＣＰＵＩ ５、および前記各ビデオ
メモリ部１３ａ、１３ｂにスイッチ１７を通して接続さ
れたＣＲＴモニタ部１６を有している。総合判定および
機構部制御用ＣＰＵ１５は画像処理用ＣＰＵ１４ａ、１
４ｂで得られた表面と裏面の結果の総合判定および後述
するチップ搬送、分離、検査位置での停止、選別等の機
構部の制御機能を受は持つ。カメラ１０ａ、１０ｂでと
らえたチップ表面、裏面のビデオ信号は、それぞれＡ／
Ｄ変換部１２ａ、１２ｂでディジタル化してビデオメモ
リ部１３ａ、１３ｂに記憶され、さらにＣＰＵ１４ａ、
１４ｂおよよびＣＰＵ１５で処理される。
よび機構部制御用のＣＰＵＩ ５、および前記各ビデオ
メモリ部１３ａ、１３ｂにスイッチ１７を通して接続さ
れたＣＲＴモニタ部１６を有している。総合判定および
機構部制御用ＣＰＵ１５は画像処理用ＣＰＵ１４ａ、１
４ｂで得られた表面と裏面の結果の総合判定および後述
するチップ搬送、分離、検査位置での停止、選別等の機
構部の制御機能を受は持つ。カメラ１０ａ、１０ｂでと
らえたチップ表面、裏面のビデオ信号は、それぞれＡ／
Ｄ変換部１２ａ、１２ｂでディジタル化してビデオメモ
リ部１３ａ、１３ｂに記憶され、さらにＣＰＵ１４ａ、
１４ｂおよよびＣＰＵ１５で処理される。
本実施例では前述の如（テレビカメラで画像を捕え、選
択番地方式で走引して寸法測定を行い、各箇所の実Ａｌ
１ｊ値と設定値を比較し、良否を判別する。例えばチッ
プコンデンサの外形検査については、ＣＲＴ上の中央部
に像が映るようにし、中央部に相当するアドレスより画
面の両側から上下に走引し、白い部分、黒い部分に変る
境界を検出し、これにより外形を認識する。ここでチッ
プの存無、ＷＳＬ寸法、チップ傾きあるいは欠は等の項
目のの判別がなされる。
択番地方式で走引して寸法測定を行い、各箇所の実Ａｌ
１ｊ値と設定値を比較し、良否を判別する。例えばチッ
プコンデンサの外形検査については、ＣＲＴ上の中央部
に像が映るようにし、中央部に相当するアドレスより画
面の両側から上下に走引し、白い部分、黒い部分に変る
境界を検出し、これにより外形を認識する。ここでチッ
プの存無、ＷＳＬ寸法、チップ傾きあるいは欠は等の項
目のの判別がなされる。
第４図は本発明の実施例に係る自動外観選別機の概略的
な側面図であり、第５図は第４図の矢視Ｆ方向からみた
チップ搬送部およびチップ選別部の拡大正面図である。
な側面図であり、第５図は第４図の矢視Ｆ方向からみた
チップ搬送部およびチップ選別部の拡大正面図である。
装置本体３０の上側前面に、水平面に対してほぼ４５″
に傾斜したチップ搬送路２４が形成され、該搬送路の上
端にチップフィーダ２５が設けられている。搬送路２４
上にはチップ分離機構部２６、表面側検査部２７ａ、、
裏面側検査部２７ｂ１計数機構部２８、および選別機構
部２９が設けられている。
に傾斜したチップ搬送路２４が形成され、該搬送路の上
端にチップフィーダ２５が設けられている。搬送路２４
上にはチップ分離機構部２６、表面側検査部２７ａ、、
裏面側検査部２７ｂ１計数機構部２８、および選別機構
部２９が設けられている。
まず搬送路２４は、装置本体３０の上端から最下方の選
別機構部２９まで延在しており、搬送路全体が強化ガラ
ス等の透明または半透明部材で形成され、その中央に搬
送方向全長にのびた鋭利なエツジをもつ凹溝３１が形成
されている。チップフィーダ２５から供給されたチップ
コンデンサ１はこの搬送路２４の凹溝３１に沿って該凹
溝に開口したエアジェツトノズル５６．５７からの噴出
エアの流れ（エアジェツト）により、搬送される。
別機構部２９まで延在しており、搬送路全体が強化ガラ
ス等の透明または半透明部材で形成され、その中央に搬
送方向全長にのびた鋭利なエツジをもつ凹溝３１が形成
されている。チップフィーダ２５から供給されたチップ
コンデンサ１はこの搬送路２４の凹溝３１に沿って該凹
溝に開口したエアジェツトノズル５６．５７からの噴出
エアの流れ（エアジェツト）により、搬送される。
チップフィーダ２５からのチップ供給部に続き、適当な
搬送方向距離Ｓをおいて分離機構部２６が設けられ、こ
こで、図示しない一対の分離ビンが搬送路２４に対して
垂直に前記凹＄３１内に交互に出入し、凹溝３１内を連
続して滑送されてきたチップコンデンサを１個づつ所定
の間隔に分離して次段の検査部２７ａ、２７ｂへ送り出
すようになっている。
搬送方向距離Ｓをおいて分離機構部２６が設けられ、こ
こで、図示しない一対の分離ビンが搬送路２４に対して
垂直に前記凹＄３１内に交互に出入し、凹溝３１内を連
続して滑送されてきたチップコンデンサを１個づつ所定
の間隔に分離して次段の検査部２７ａ、２７ｂへ送り出
すようになっている。
表面側検査部２７ａ１裏面側検査部２７ｂには第３図で
説明したような斜光・透過照明装置３５ａ。
説明したような斜光・透過照明装置３５ａ。
３５ｂ（第４図参照）、イメージセンサカメラ部１０ａ
、１０ｂが搬送路２４をはさんで設けられ、既述した画
像処理部によりチップ表面、裏面の外観検査がなされる
。各検査部には、１個づつ落下してきたチップ１を光学
中心位置に一時停止させるためのシャッタ１８およびシ
ャッタ確認センサ３６（第５図）が設けられる。このシ
ャッタ１８は、強化ガラスまたは鏡面仕上げステンレス
板等で構成されている。ステンレス板の場合はその鏡面
により照射光が全反射し、画像上でこれが白く写り、チ
ップ外観判別に影響を与えないようにしている。
、１０ｂが搬送路２４をはさんで設けられ、既述した画
像処理部によりチップ表面、裏面の外観検査がなされる
。各検査部には、１個づつ落下してきたチップ１を光学
中心位置に一時停止させるためのシャッタ１８およびシ
ャッタ確認センサ３６（第５図）が設けられる。このシ
ャッタ１８は、強化ガラスまたは鏡面仕上げステンレス
板等で構成されている。ステンレス板の場合はその鏡面
により照射光が全反射し、画像上でこれが白く写り、チ
ップ外観判別に影響を与えないようにしている。
チップ表裏面の光学検査後、例えば光電検出器および可
動ストッパビン（図示省略）から成るチップ計数機構部
２８を経て最下段の本発明に係る選別機構部２９で良品
、不良、検査不能（ＲＩ）の３分別がなれさる。第６図
は第５図のＶｌ−Ｖｌ線に沿った選別機構部２９の拡大
断面図である。ここにおいて搬送路２４は中央の良品排
出路３７と、その両側のＲ１排出路３８、不良品排出路
３９の３通路に分けられ、この通路を切り換えるための
一対のゲートプレート４０．４１が回転可能に設けられ
ている。一方のゲートプレート４１の枢軸４３は、その
下端部にアーム４３ａが固着され、該アーム４３ａがカ
ム４６のカムフロア４５に連結したレバー４４の先端ロ
ーラ４４ａにスプリング４４ｂによって圧接されるとと
もに、ソレノイド４７にも連結されており、外観検査・
搬送機構部と連動したカム４６の動作で変形正弦運動（
正常時）を行い、前記画像処理部からの信号によりソレ
ノイド４７のＯＮ、ＯＦＦで起動、停止の動作（不良品
到来時）を行って上記良品排出路３７と不良品排出路３
９の切り換えを行う（第７図（ｂ）、（ｃ）参照）。他
方のゲートプレート４０の枢軸６０に対しても同様の構
成で他のソレノイド、レバー（いずれも図示省略）が設
けられており、該ソレノイドの０ＮＳＯＦＦで起動、停
止の動作（Ｒ１到来時）を行って上記良品排出路３７と
Ｒ１排出路３８との切り換えを行う（第７図（ａ）、（
ｂ）参照）。結局この実施例では１個のカムに対してソ
レノイド、レバーはそれぞれ２個ずつ設置されている（
ただし第６図では一方のソレノイド、レバーのみを示す
）。なお、第５図でゲートプレートが実線位置にある場
合は良品排出路３７が開となっており、またゲートプレ
ート４０が破線位置に倒れたときＲ１排出路３８のみが
開となってチップ搬送路２４と連通ずる。各排出路３７
〜３９の上面はカバー板４８で閉塞されていることは勿
論である。なおソレノイド４７の動作として、通常の停
止や緊急の停止の場合に、ゲートプレートは、検査部の
結果に拘らず、チップコンデンサが必ずＲＩ排出路に落
ちるような位置で停止しくゲートプレート４０が破線位
置に倒れた状態）、これによって何らかの異常で良品に
Ｒ１または不良チップが混入することがないようにして
いる。また不良の信号が成る回数（例えば５回）連続し
て出力されたときには装置全体が停止するようなってお
り、これによってゴミ付着等による誤検出を排除するよ
うにしている。
動ストッパビン（図示省略）から成るチップ計数機構部
２８を経て最下段の本発明に係る選別機構部２９で良品
、不良、検査不能（ＲＩ）の３分別がなれさる。第６図
は第５図のＶｌ−Ｖｌ線に沿った選別機構部２９の拡大
断面図である。ここにおいて搬送路２４は中央の良品排
出路３７と、その両側のＲ１排出路３８、不良品排出路
３９の３通路に分けられ、この通路を切り換えるための
一対のゲートプレート４０．４１が回転可能に設けられ
ている。一方のゲートプレート４１の枢軸４３は、その
下端部にアーム４３ａが固着され、該アーム４３ａがカ
ム４６のカムフロア４５に連結したレバー４４の先端ロ
ーラ４４ａにスプリング４４ｂによって圧接されるとと
もに、ソレノイド４７にも連結されており、外観検査・
搬送機構部と連動したカム４６の動作で変形正弦運動（
正常時）を行い、前記画像処理部からの信号によりソレ
ノイド４７のＯＮ、ＯＦＦで起動、停止の動作（不良品
到来時）を行って上記良品排出路３７と不良品排出路３
９の切り換えを行う（第７図（ｂ）、（ｃ）参照）。他
方のゲートプレート４０の枢軸６０に対しても同様の構
成で他のソレノイド、レバー（いずれも図示省略）が設
けられており、該ソレノイドの０ＮＳＯＦＦで起動、停
止の動作（Ｒ１到来時）を行って上記良品排出路３７と
Ｒ１排出路３８との切り換えを行う（第７図（ａ）、（
ｂ）参照）。結局この実施例では１個のカムに対してソ
レノイド、レバーはそれぞれ２個ずつ設置されている（
ただし第６図では一方のソレノイド、レバーのみを示す
）。なお、第５図でゲートプレートが実線位置にある場
合は良品排出路３７が開となっており、またゲートプレ
ート４０が破線位置に倒れたときＲ１排出路３８のみが
開となってチップ搬送路２４と連通ずる。各排出路３７
〜３９の上面はカバー板４８で閉塞されていることは勿
論である。なおソレノイド４７の動作として、通常の停
止や緊急の停止の場合に、ゲートプレートは、検査部の
結果に拘らず、チップコンデンサが必ずＲＩ排出路に落
ちるような位置で停止しくゲートプレート４０が破線位
置に倒れた状態）、これによって何らかの異常で良品に
Ｒ１または不良チップが混入することがないようにして
いる。また不良の信号が成る回数（例えば５回）連続し
て出力されたときには装置全体が停止するようなってお
り、これによってゴミ付着等による誤検出を排除するよ
うにしている。
第８図（ａ）〜（ｃ）は本発明の他の実施例に係る選別
機構部２９の正面図であって、同図（ａ）は良品排出路
３７のみが開となった状態、（ｂ）は不良品排出路３９
が開で他が閉の場合、（ｃ）はＲＩ排出路３８が開の場
合である。選別機構部２９の本体ブロック５０に形成さ
れた部品導入路５１は前記搬送路２４に連通し、この部
品導入路５１と同ブロック５０に形成された前記３つの
排出路３７．３９．３８がそれぞれブロック５０内の円
形弁座５２に開口している。円形弁座５２には１個の切
換円板５３が回転可能に収納されている。切換円板５３
はその中心０を通って直径方向に貫通した良品通過溝５
４および、前記中心０から若干ずれてかつ良品通過溝５
４に対し成る角度傾斜して交差する不良・ＲＩ用通過溝
５５の２本の通し溝が形成されている。第８図（ａ）で
は良品通過溝５４が本体ブロック５０の部品導入路５１
と連通ずることにより、検査合格品が良品排出路３７へ
送り出される。この状態から切換円板５３が第８図（ａ
）の実線矢印の方向に回転（１／４回転以内）し、不良
・ＲＩ用通過溝５５の一端５５ａが部品導入路５１と連
通ずると、波溝５５の他端５５ｂは第８図（ｂ）の如く
不良品排出溝３９と連通し、検査不合格品が不良品排出
路３９へ送られる。また第８図（ａ）の状態から前述と
逆方向に、即ち破線矢印の方向に回転（１／４回転以上
１／２回転以下）し、不良・Ｒ１用通過溝５５の前記一
端５５ａが第８図（ｃ）の如＜ＲＩ排出路３８と連通す
ると、波溝５５の他端５５ｂは部品導入路５１と迎通し
、これによって検査不能品がＲＩ排出路３８に送られる
。このように排出路３７．３９．３８のいずれか１つが
部品導入路５１と連通ずるときは他の２つの排出路は閉
塞状態となる。切換円板５３のこのような回転制御は第
５図、第６図のゲートプレート形選別機構部と同様に前
記画像処理部からの信号により計数機構部２８と共働し
て制御される。この実施例では切換円板５３の回転モー
タ（図示省略）およびモータ制御装置のみでよいので機
構上簡素となる。
機構部２９の正面図であって、同図（ａ）は良品排出路
３７のみが開となった状態、（ｂ）は不良品排出路３９
が開で他が閉の場合、（ｃ）はＲＩ排出路３８が開の場
合である。選別機構部２９の本体ブロック５０に形成さ
れた部品導入路５１は前記搬送路２４に連通し、この部
品導入路５１と同ブロック５０に形成された前記３つの
排出路３７．３９．３８がそれぞれブロック５０内の円
形弁座５２に開口している。円形弁座５２には１個の切
換円板５３が回転可能に収納されている。切換円板５３
はその中心０を通って直径方向に貫通した良品通過溝５
４および、前記中心０から若干ずれてかつ良品通過溝５
４に対し成る角度傾斜して交差する不良・ＲＩ用通過溝
５５の２本の通し溝が形成されている。第８図（ａ）で
は良品通過溝５４が本体ブロック５０の部品導入路５１
と連通ずることにより、検査合格品が良品排出路３７へ
送り出される。この状態から切換円板５３が第８図（ａ
）の実線矢印の方向に回転（１／４回転以内）し、不良
・ＲＩ用通過溝５５の一端５５ａが部品導入路５１と連
通ずると、波溝５５の他端５５ｂは第８図（ｂ）の如く
不良品排出溝３９と連通し、検査不合格品が不良品排出
路３９へ送られる。また第８図（ａ）の状態から前述と
逆方向に、即ち破線矢印の方向に回転（１／４回転以上
１／２回転以下）し、不良・Ｒ１用通過溝５５の前記一
端５５ａが第８図（ｃ）の如＜ＲＩ排出路３８と連通す
ると、波溝５５の他端５５ｂは部品導入路５１と迎通し
、これによって検査不能品がＲＩ排出路３８に送られる
。このように排出路３７．３９．３８のいずれか１つが
部品導入路５１と連通ずるときは他の２つの排出路は閉
塞状態となる。切換円板５３のこのような回転制御は第
５図、第６図のゲートプレート形選別機構部と同様に前
記画像処理部からの信号により計数機構部２８と共働し
て制御される。この実施例では切換円板５３の回転モー
タ（図示省略）およびモータ制御装置のみでよいので機
構上簡素となる。
ここでも前記回転モータは通常の装置停止や緊急停止の
場合に、第８図（ｃ）位置で停止するように制御され、
したがって各部停止時に搬送路２４あるいは部品搬入路
５１に残っている検査部品はすべてＲ１排出路３８に落
ちる。またモータの回転角度位置として第８図（ｂ）ま
たは（ｃ）の位置をとる状態が成る部品個数連続して生
じた場合は自動的に選別機の緊急停止がなされ前記回転
モータも第８図（ｃ）の位置で停止する。この関係は第
５図、第６図の実施例と同様である。
場合に、第８図（ｃ）位置で停止するように制御され、
したがって各部停止時に搬送路２４あるいは部品搬入路
５１に残っている検査部品はすべてＲ１排出路３８に落
ちる。またモータの回転角度位置として第８図（ｂ）ま
たは（ｃ）の位置をとる状態が成る部品個数連続して生
じた場合は自動的に選別機の緊急停止がなされ前記回転
モータも第８図（ｃ）の位置で停止する。この関係は第
５図、第６図の実施例と同様である。
（発明の効果）
以上説明したように本発明によれば、チップ部品を斜過
および斜光照明を組み合せてテレビカメラにより外観検
査し、その出力信号により良品、不良品、Ｒ１の３つの
仕分は路（排出路）の開閉を行い、その際不良品、Ｒ１
用の仕分は路の開が所定回数連続したとき装置自体に何
らかの異常が発生したと判断してＲ１用仕分は路を開の
状態ですべて停止するようにしたので、選別、仕分けし
た良品に対する不良品混入率が低下し、外観検査の信頼
性を高めることができる効果がある。
および斜光照明を組み合せてテレビカメラにより外観検
査し、その出力信号により良品、不良品、Ｒ１の３つの
仕分は路（排出路）の開閉を行い、その際不良品、Ｒ１
用の仕分は路の開が所定回数連続したとき装置自体に何
らかの異常が発生したと判断してＲ１用仕分は路を開の
状態ですべて停止するようにしたので、選別、仕分けし
た良品に対する不良品混入率が低下し、外観検査の信頼
性を高めることができる効果がある。
第１図は本発明に適用されるチップ部品の一例を示した
正面図、第２図は本発明に係る画像処理部のブロック図
、第３図は斜光・透過照明装置の一例を示す概略図、第
４図は本発明の１実施例に係る自動外観検査機の概略的
な側面図、第５図は第４図の矢視Ｆ方向からみたチップ
搬送路の拡大正面図、第６図は第５図のＶＩ−ＶＩ線に
沿った選別機構部の拡大断面図、第７図（ａ）〜（ｃ）
は第６図の実施例におけるゲートプレートの動作を示し
た概略図、第８図（ａ）〜（ｃ）は本発明の他の実施例
に係る選別機構部の概略的な正面図である。 １・・・チップコンデンサ、２４・・・傾斜搬送路、１
１・・・テレビカメラ部、２７ａ、２７ｂ・・・検査部
、２８・・・計数機構部、２９・・・選別機構部、３７
・・・良品排出路、３８・・・Ｒ１排出路、３９・・・
不良品排出路、 ４０．４１・・・ゲートプレート、５３・・・切換円板
。 代理人 弁理士 染 川 利 吉 第１図 第２図 第３図 「二上〆１ｏカメラ 第８ 図（ａ） 良品排出 第 ８ 図（ｂ） 第８ 図（ｃ） １”１ｌＩＩＪｅ山
正面図、第２図は本発明に係る画像処理部のブロック図
、第３図は斜光・透過照明装置の一例を示す概略図、第
４図は本発明の１実施例に係る自動外観検査機の概略的
な側面図、第５図は第４図の矢視Ｆ方向からみたチップ
搬送路の拡大正面図、第６図は第５図のＶＩ−ＶＩ線に
沿った選別機構部の拡大断面図、第７図（ａ）〜（ｃ）
は第６図の実施例におけるゲートプレートの動作を示し
た概略図、第８図（ａ）〜（ｃ）は本発明の他の実施例
に係る選別機構部の概略的な正面図である。 １・・・チップコンデンサ、２４・・・傾斜搬送路、１
１・・・テレビカメラ部、２７ａ、２７ｂ・・・検査部
、２８・・・計数機構部、２９・・・選別機構部、３７
・・・良品排出路、３８・・・Ｒ１排出路、３９・・・
不良品排出路、 ４０．４１・・・ゲートプレート、５３・・・切換円板
。 代理人 弁理士 染 川 利 吉 第１図 第２図 第３図 「二上〆１ｏカメラ 第８ 図（ａ） 良品排出 第 ８ 図（ｂ） 第８ 図（ｃ） １”１ｌＩＩＪｅ山
Claims (1)
- チップ部品の搬送路と、前記搬送路の途中に設置した斜
光・透過照明装置およびテレビカメラと、前記テレビカ
メラで取り込んだビデオ信号を画像処理する画像処理部
と、前記搬送路の末端部に設けられた分別シュートおよ
びシュート開閉用ゲート部材とを有するチップ部品自動
外観選別機において、前記搬送路の末端部に３つの分別
シュートを設け、前記画像処理部の信号で前記シュート
開閉用ゲート部材を動作させて搬送路末端部に搬送され
た部品を検査不能品、良品、不良品の３種類に仕分けす
るようにし、検査不能品用分別シュートまたは不良品用
分別シュートに入る仕分け部品がそれぞれ所定個数連続
したとき前記選別機を停止せしめ、かつ選別機停止後の
シュート開閉用ゲート部材を、前記検査不能品用分別シ
ュートを開とする方向へ動作せしめることを特徴とする
部品仕分け方法。
Priority Applications (7)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63079578A JPH01249181A (ja) | 1988-03-31 | 1988-03-31 | チップ部品自動外観選別機における部品仕分け方法 |
| FR8902564A FR2629585B1 (fr) | 1988-03-31 | 1989-02-28 | Procede et dispositif pour verifier optiquement l'aspect de composants du type puce et proceder a leur tri |
| GB8904468A GB2217444B (en) | 1988-03-31 | 1989-02-28 | Method of and apparatus for optically checking the appearances of chip-type components and sorting the chip-type components |
| DE3906281A DE3906281A1 (de) | 1988-03-31 | 1989-02-28 | Verfahren und vorrichtung zum optischen ueberpruefen des aussehens chipartiger bauteile und zum sortieren der chipartigen bauteile |
| CN89102024A CN1018799B (zh) | 1988-03-31 | 1989-02-28 | 用光学手段对片状元件进行外观检验并对所检验的片状元件进行分类的方法和装置 |
| US07/316,791 US4976356A (en) | 1988-03-31 | 1989-02-28 | Method of and apparatus for optically checking the appearances of chip-type components and sorting the chip-type components |
| KR1019890002517A KR0122739B1 (ko) | 1987-08-28 | 1989-02-28 | 칩-형 부품(chip-type components)을 분류하고 칩-형 부품의 외관을 광학적으로 점검하기 위한 방법과 장치 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63079578A JPH01249181A (ja) | 1988-03-31 | 1988-03-31 | チップ部品自動外観選別機における部品仕分け方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01249181A true JPH01249181A (ja) | 1989-10-04 |
| JPH0577475B2 JPH0577475B2 (ja) | 1993-10-26 |
Family
ID=13693870
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63079578A Granted JPH01249181A (ja) | 1987-08-28 | 1988-03-31 | チップ部品自動外観選別機における部品仕分け方法 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4976356A (ja) |
| JP (1) | JPH01249181A (ja) |
| CN (1) | CN1018799B (ja) |
| DE (1) | DE3906281A1 (ja) |
| FR (1) | FR2629585B1 (ja) |
| GB (1) | GB2217444B (ja) |
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