JPH0577475B2 - - Google Patents
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- JPH0577475B2 JPH0577475B2 JP63079578A JP7957888A JPH0577475B2 JP H0577475 B2 JPH0577475 B2 JP H0577475B2 JP 63079578 A JP63079578 A JP 63079578A JP 7957888 A JP7957888 A JP 7957888A JP H0577475 B2 JPH0577475 B2 JP H0577475B2
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B07—SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
- B07C—POSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
- B07C5/00—Sorting according to a characteristic or feature of the articles or material being sorted, e.g. by control effected by devices which detect or measure such characteristic or feature; Sorting by manually actuated devices, e.g. switches
- B07C5/02—Measures preceding sorting, e.g. arranging articles in a stream orientating
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B07—SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
- B07C—POSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
- B07C5/00—Sorting according to a characteristic or feature of the articles or material being sorted, e.g. by control effected by devices which detect or measure such characteristic or feature; Sorting by manually actuated devices, e.g. switches
- B07C5/04—Sorting according to size
- B07C5/10—Sorting according to size measured by light-responsive means
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Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、チツプコンデンサ、コイル等のコア
部品その他LC複合部品等のチツプ状部品の外観
を検査しつつその結果に応じて仕分けする部品仕
分け方法に関し、特にチツプ部品自動外観選別機
における部品仕分け方法に関する。
部品その他LC複合部品等のチツプ状部品の外観
を検査しつつその結果に応じて仕分けする部品仕
分け方法に関し、特にチツプ部品自動外観選別機
における部品仕分け方法に関する。
（従来技術）
この種の電子・電気部品は、長さや厚み等の外
形不良や部品各部の寸法誤差、その他割れとか欠
け等の欠陥があると、これが特性に影響し、また
部品実装上からも不都合を生じるため、製造工程
の途中あるいはその最終工程で特性値検査に加え
て外観による検査を行つている。
形不良や部品各部の寸法誤差、その他割れとか欠
け等の欠陥があると、これが特性に影響し、また
部品実装上からも不都合を生じるため、製造工程
の途中あるいはその最終工程で特性値検査に加え
て外観による検査を行つている。
従来、チツプ部品の外観検査は、肉眼あるいは
拡大レンズを用いた目視検査が普通であつて、検
査すべき部品を適当な個数ガラスパレツト上に並
べ、拡大レンズ等で拡大して部品の良、不良を判
断し、その中から不良品を選んで別の箱に分ける
という方法で行つている。部品を光学照射してそ
の画像処理により自動的に良、不良を選別するこ
とはなされていなかつた。
拡大レンズを用いた目視検査が普通であつて、検
査すべき部品を適当な個数ガラスパレツト上に並
べ、拡大レンズ等で拡大して部品の良、不良を判
断し、その中から不良品を選んで別の箱に分ける
という方法で行つている。部品を光学照射してそ
の画像処理により自動的に良、不良を選別するこ
とはなされていなかつた。
（発明が解決しようとする問題点）
従来の肉眼による外観検査は、感覚的な要素が
多く、検査基準の定量化が難しく、個人差により
検査後の品質のばらつきが出やすい。また、チツ
プ部品をラインに沿つて連続的に送りつつその途
中の各工程で所要の処理を行い、順次完成品にし
ていく量産製造ラインでは、搬送中に部品を１個
づつ拡大鏡等で目視検査することは困難で、搬送
部品を一時ラインから外して或る数量ごとに一箇
所に集めて目視検査を行わなければならない。特
にチツプコンデンサやLC複合部品のような量産
品の場合は多くの検査要員が必要でコスト高とな
つてしまう。
多く、検査基準の定量化が難しく、個人差により
検査後の品質のばらつきが出やすい。また、チツ
プ部品をラインに沿つて連続的に送りつつその途
中の各工程で所要の処理を行い、順次完成品にし
ていく量産製造ラインでは、搬送中に部品を１個
づつ拡大鏡等で目視検査することは困難で、搬送
部品を一時ラインから外して或る数量ごとに一箇
所に集めて目視検査を行わなければならない。特
にチツプコンデンサやLC複合部品のような量産
品の場合は多くの検査要員が必要でコスト高とな
つてしまう。
上述の問題を解決するために本発明者等は先
に、チツプ部品を間欠的に一定方向に送りつつそ
の途中で斜光照明および透過照明によつてチツプ
部品の光像をテレビカメラでとらえ、そのビデオ
信号を画像処理し、部品の外観を自動検査する方
法および自動外観選別機を提案した（特願昭62−
214433）。この選別機により目視検査要員が不要
になるとともに、判定レベルのばらつきがなくな
り、また高速画像処理によつて生産性も向上す
る。しかしこれは光学的手法を用いて自動的に良
品、不良品の選別を行うものであるから、選別機
稼動中に何らかの原因でごみ等が混在した場合、
良品を誤つて不良品側へ入れてしまうおそれがあ
り、そのような原因を排除するにも選別機自体の
機構的な限界がある。
に、チツプ部品を間欠的に一定方向に送りつつそ
の途中で斜光照明および透過照明によつてチツプ
部品の光像をテレビカメラでとらえ、そのビデオ
信号を画像処理し、部品の外観を自動検査する方
法および自動外観選別機を提案した（特願昭62−
214433）。この選別機により目視検査要員が不要
になるとともに、判定レベルのばらつきがなくな
り、また高速画像処理によつて生産性も向上す
る。しかしこれは光学的手法を用いて自動的に良
品、不良品の選別を行うものであるから、選別機
稼動中に何らかの原因でごみ等が混在した場合、
良品を誤つて不良品側へ入れてしまうおそれがあ
り、そのような原因を排除するにも選別機自体の
機構的な限界がある。
本発明は上述した自動外観選別機における信頼
性に関した機構上の限界を克服し、自動選別機の
使用に際して出来る限り良品に不良品が混入しな
いようにする部品仕分け方法を提供することにあ
る。
性に関した機構上の限界を克服し、自動選別機の
使用に際して出来る限り良品に不良品が混入しな
いようにする部品仕分け方法を提供することにあ
る。
（問題点を解決するための手段）
本発明は、チツプ部品の搬送路と、前記搬送路
の途中に設置した斜光・透過照明装置およびテレ
ビカメラと、前記テレビカメラで取り込んだビデ
オ信号を画像処理する画像処理部と、前記搬送路
の末端部に設けられた分別シユートおよびシユー
ト開閉用ゲート部材とを有するチツプ部品自動外
観選別機において、前記搬送路の末端部に検査不
能品用、良品用、および不良品用の３つの分別シ
ユートを設け、前記画像処理部の信号で前記シユ
ート開閉用ゲート部材を動作させて搬送路末端部
に搬送された部品を検査不能品、良品、不良品の
３種類に仕分けするようにし、検査不能品用分別
シユートまたは不良品用分別シユートに入る仕分
け部品がそれぞれ所定個数連続したとき前記選別
機を停止せしめ、かつ選別機停止後のシユート開
閉用ゲート部材を、前記検査不能品用分別シユー
トを開とする方向へ動作せしめるようにしたもの
である。
の途中に設置した斜光・透過照明装置およびテレ
ビカメラと、前記テレビカメラで取り込んだビデ
オ信号を画像処理する画像処理部と、前記搬送路
の末端部に設けられた分別シユートおよびシユー
ト開閉用ゲート部材とを有するチツプ部品自動外
観選別機において、前記搬送路の末端部に検査不
能品用、良品用、および不良品用の３つの分別シ
ユートを設け、前記画像処理部の信号で前記シユ
ート開閉用ゲート部材を動作させて搬送路末端部
に搬送された部品を検査不能品、良品、不良品の
３種類に仕分けするようにし、検査不能品用分別
シユートまたは不良品用分別シユートに入る仕分
け部品がそれぞれ所定個数連続したとき前記選別
機を停止せしめ、かつ選別機停止後のシユート開
閉用ゲート部材を、前記検査不能品用分別シユー
トを開とする方向へ動作せしめるようにしたもの
である。
（実施例）
次に、図面を参照して本発明の実施例を説明す
る。
る。
以下の実施例は第１図に示すような両端に電極
部２をもつチツプコンデンサ１（以下の説明でチ
ツプと記したものは、このチツプコンデンサを指
している）を外観検査する場合である。検査項目
としては全長のＬ寸法、素地部３の幅Ｗ寸法、電
極部幅B1，B2，B3，B4寸法、素地部３の貫通欠
け（Wnax.−Wnio.）等が対象項目としてあげられ
る。
部２をもつチツプコンデンサ１（以下の説明でチ
ツプと記したものは、このチツプコンデンサを指
している）を外観検査する場合である。検査項目
としては全長のＬ寸法、素地部３の幅Ｗ寸法、電
極部幅B1，B2，B3，B4寸法、素地部３の貫通欠
け（Wnax.−Wnio.）等が対象項目としてあげられ
る。
第２図は本発明の実施例に係る画像処理部の概
略図であり、第３図は被検査部品であるチツプコ
ンデンサを光学照射して外観をテレビカメラで撮
像検出する場合の斜光、透過照明装置の概略図で
ある。後述する傾斜搬送路（以下、搬送路と称す
る）２４のすりガラス５上に保持されたチツプコ
ンデンサ１は該すりガラス５の下側から光源７に
より透過照明されるとともに、光源７からコンデ
ンサレンズ８およびスリツト４を通し反射板９を
介した斜光照明によりカメラ１０に取り込まれ、
ビデオ信号として画像処理部のＡ／Ｄ変換部１２
ａ，１２ｂ（第２図）に入力される。このような
光学系およびカメラ１０は前記搬送路に沿つて２
体設置され、その一方はチツプコンデンサ１の表
側を、他方はその裏側を検出するようになつてい
る。
略図であり、第３図は被検査部品であるチツプコ
ンデンサを光学照射して外観をテレビカメラで撮
像検出する場合の斜光、透過照明装置の概略図で
ある。後述する傾斜搬送路（以下、搬送路と称す
る）２４のすりガラス５上に保持されたチツプコ
ンデンサ１は該すりガラス５の下側から光源７に
より透過照明されるとともに、光源７からコンデ
ンサレンズ８およびスリツト４を通し反射板９を
介した斜光照明によりカメラ１０に取り込まれ、
ビデオ信号として画像処理部のＡ／Ｄ変換部１２
ａ，１２ｂ（第２図）に入力される。このような
光学系およびカメラ１０は前記搬送路に沿つて２
体設置され、その一方はチツプコンデンサ１の表
側を、他方はその裏側を検出するようになつてい
る。
画像処理部は第２図の如く上述した斜光、透過
照明系を含むカメラ部１０ａ，１０ｂでとらえた
信号をデイジタル化するＡ／Ｄ変換部１２ａ，１
２ｂ、ビデオメモリ部１３ａ，１３ｂ、画像処理
用CPU１４ａ，１４ｂ、総合判定および機構部
制御用のCPU１５、および前記各ビデオメモリ
部１３ａ，１３ｂにスイツチ１７を通して接続さ
れたCRTモニタ部１６を有している。総合判定
および機構部制御用CPU１５は画像処理用CPU
１４ａ，１４ｂで得られた表面と裏面の結果の総
合判定および後述するチツプ搬送、分離、検査位
置での停止、選別等の機構部の制御機能を受け持
つ。カメラ部１０ａ，１０ｂでとらえたチツプ表
面、裏面のビデオ信号は、それぞれＡ／Ｄ変換部
１２ａ，１２ｂでデイジタル化してビデオメモリ
部１３ａ，１３ｂに記憶され、さらにCPU１４
ａ，１４ｂおよよびCPU１５で処理される。
照明系を含むカメラ部１０ａ，１０ｂでとらえた
信号をデイジタル化するＡ／Ｄ変換部１２ａ，１
２ｂ、ビデオメモリ部１３ａ，１３ｂ、画像処理
用CPU１４ａ，１４ｂ、総合判定および機構部
制御用のCPU１５、および前記各ビデオメモリ
部１３ａ，１３ｂにスイツチ１７を通して接続さ
れたCRTモニタ部１６を有している。総合判定
および機構部制御用CPU１５は画像処理用CPU
１４ａ，１４ｂで得られた表面と裏面の結果の総
合判定および後述するチツプ搬送、分離、検査位
置での停止、選別等の機構部の制御機能を受け持
つ。カメラ部１０ａ，１０ｂでとらえたチツプ表
面、裏面のビデオ信号は、それぞれＡ／Ｄ変換部
１２ａ，１２ｂでデイジタル化してビデオメモリ
部１３ａ，１３ｂに記憶され、さらにCPU１４
ａ，１４ｂおよよびCPU１５で処理される。
本実施例では前述の如くテレビカメラで画像を
捕え、選択番地方式で走引して寸法測定を行い、
各箇所の実測値と設定値を比較し、良否を判別す
る。例えばチツプコンデンサの外形検査について
は、CRT上の中央部に像が映るようにし、中央
部に相当するアドレスより画面の両側から上下に
走引し、白い部分、黒い部分に変る境界を検出
し、これにより外形を認識する。ここでチツプの
有無、Ｗ，Ｌ寸法、チツプ傾きあるいは欠け等の
項目のの判別がなされる。
捕え、選択番地方式で走引して寸法測定を行い、
各箇所の実測値と設定値を比較し、良否を判別す
る。例えばチツプコンデンサの外形検査について
は、CRT上の中央部に像が映るようにし、中央
部に相当するアドレスより画面の両側から上下に
走引し、白い部分、黒い部分に変る境界を検出
し、これにより外形を認識する。ここでチツプの
有無、Ｗ，Ｌ寸法、チツプ傾きあるいは欠け等の
項目のの判別がなされる。
第４図は本発明の実施例に係る自動外観選別機
の概略的な側面図であり、第５図は第４図の矢視
Ｆ方向からみたチツプ搬送部およびチツプ選別部
の拡大正面図である。装置本体３０の上側前面
に、水平面に対してほぼ45°に傾斜した前記搬送
路２４が形成され、該搬送路の上端にチツプフイ
ーダ２５が設けられている。搬送路２４上にはチ
ツプ分離機構部２６、表面側検査部２７ａ，裏面
側検査部２７ｂ、計数機構部２８、および選別機
構部２９が設けられている。
の概略的な側面図であり、第５図は第４図の矢視
Ｆ方向からみたチツプ搬送部およびチツプ選別部
の拡大正面図である。装置本体３０の上側前面
に、水平面に対してほぼ45°に傾斜した前記搬送
路２４が形成され、該搬送路の上端にチツプフイ
ーダ２５が設けられている。搬送路２４上にはチ
ツプ分離機構部２６、表面側検査部２７ａ，裏面
側検査部２７ｂ、計数機構部２８、および選別機
構部２９が設けられている。
まず搬送路２４は、装置本体３０の上端から最
下方の選別機構部２９まで延在しており、搬送路
全体が強化ガラス等の透明または半透明部材で形
成され、その中央に搬送方向全長にのびた鋭利な
エツジをもつ凹溝３１が形成されている。チツプ
フイーダ２５から供給されたチツプコンデンサ１
はこの搬送路２４の凹溝３１に沿つて該凹溝に開
口したエアジエツトノズル５６，５７からの噴出
エアの流れ（エアジエツト）により、搬送され
る。
下方の選別機構部２９まで延在しており、搬送路
全体が強化ガラス等の透明または半透明部材で形
成され、その中央に搬送方向全長にのびた鋭利な
エツジをもつ凹溝３１が形成されている。チツプ
フイーダ２５から供給されたチツプコンデンサ１
はこの搬送路２４の凹溝３１に沿つて該凹溝に開
口したエアジエツトノズル５６，５７からの噴出
エアの流れ（エアジエツト）により、搬送され
る。
チツプフイーダ２５からのチツプ供給部に続
き、適当な搬送方向距離Ｓにおいて分離機構部２
６が設けられ、ここで、図示しない一対の分離ピ
ンが搬送路２４に対して垂直に前記凹溝３１内に
交互に出入し、凹溝３１内を連続して滑送されて
きたチツプコンデンサを１個づつ所定の間隔に分
離して次段の検査部２７ａ，２７ｂへ送り出すよ
うになつている。
き、適当な搬送方向距離Ｓにおいて分離機構部２
６が設けられ、ここで、図示しない一対の分離ピ
ンが搬送路２４に対して垂直に前記凹溝３１内に
交互に出入し、凹溝３１内を連続して滑送されて
きたチツプコンデンサを１個づつ所定の間隔に分
離して次段の検査部２７ａ，２７ｂへ送り出すよ
うになつている。
表面側検査部２７ａ、裏面側検査部２７ｂには
第３図で説明したような斜光・透過照明装置３５
ａ，３５ｂ（第４図参照）、イメージセンサカメラ
部１０ａ，１０ｂが搬送路２４をはさんで設けら
れ、既述した画像処理部によりチツプ表面、裏面
の外観検査がなされる。各検査部には、１個づつ
落下してきたチツプ１を光学中心位置に一時停止
させるためのシヤツタ１８およびシヤツタ確認セ
ンサ３６（第５図）が設けられる。このシヤツタ
１８は、強化ガラスまたは鏡面仕上げステンレス
板等で構成されている。ステンレス板の場合はそ
の鏡面により照射光が全反射し、画像上でこれが
白く写り、チツプ外観判別に影響を与えないよう
にしている。
第３図で説明したような斜光・透過照明装置３５
ａ，３５ｂ（第４図参照）、イメージセンサカメラ
部１０ａ，１０ｂが搬送路２４をはさんで設けら
れ、既述した画像処理部によりチツプ表面、裏面
の外観検査がなされる。各検査部には、１個づつ
落下してきたチツプ１を光学中心位置に一時停止
させるためのシヤツタ１８およびシヤツタ確認セ
ンサ３６（第５図）が設けられる。このシヤツタ
１８は、強化ガラスまたは鏡面仕上げステンレス
板等で構成されている。ステンレス板の場合はそ
の鏡面により照射光が全反射し、画像上でこれが
白く写り、チツプ外観判別に影響を与えないよう
にしている。
チツプ表裏面の光学検査後、例えば光電検出器
および可動ストツパピン（図示省略）から成るチ
ツプ計数機構部２８を経て最下段の本発明に係る
選別機構部２９で良品、不良、検査不能（RI）
の３分別がなれさる。第６図は第５図の−線
に沿つた選別機構部２９の拡大断面図である。こ
こにおいて搬送路２４は中央の良品用分別シユー
ト（以下、良品排出路と称する）３７と、その両
側の２つの分別シユート即ち検査不能品用分別シ
ユート（以下、RI排出路と称する）３８および
不良品用分別シユート（以下、不良品排出路と称
する）３９の３通路に分けられ、この通路を切り
換えるための一対のシユート開閉用ゲート部材
（以下この実施例ではゲートプレートと称する）
４０，４１が回転可能に設けられている。一方の
ゲートプレート４１の枢軸４３は、その下端部に
アーム４３ａが固着され、該アーム４３ａがカム
４６のカムフロア４５に連結したレバー４４の先
端ローラ４４ａにスプリング４４ｂによつて圧接
されるとともに、ソレノイド４７にも連結されて
おり、外観検査・搬送機構部と連動したカム４６
の動作で変形正弦運動（正常時）を行い、前記画
像処理部からの信号によりソレノイド４７の
ON，OFFで起動、停止の動作（不良品到来時）
を行つて上記良品排出路３７と不良品排出路３９
の切り換えを行う（第７図ｂ，ｃ参照）。他方の
ゲートプレート４０の枢軸６０に対しても同様の
構成で他のソレノイド、レバー（いずれも図示省
略）が設けられており、該ソレノイドのON，
OFFで起動、停止の動作（RI到来時）を行つて
上記良品排出路３７とRI排出路３８との切り換
えを行う（第７図ａ，ｂ参照）。結局この実施例
では１個のカムに対してソレノイド、レバーはそ
れぞれ２個ずつ設置されている（ただし第６図で
は一方のソレノイド、レバーのみを示す）。なお、
第５図でゲートプレートが実線位置にある場合は
良品排出路３７が開となつており、またゲートプ
レート４０が破線位置に倒れたときRI排出路３
８のみが開となつて搬送路２４と連通する。各排
出路３７〜３９の上面はカバー板４８で閉塞され
ていることは勿論である。なおソレノイド４７の
動作として、通常の停止や緊急の停止の場合に、
ゲートプレートは、検査部の結果に拘らず、チツ
プコンデンサが必ずRI排出路に落ちるような位
置で停止し（ゲートプレート４０が第５図の破線
位置に倒れた状態）、これによつて何らかの異常
で良品にRIまたは不良チツプが混入することが
ないようにしている。また不良の信号が或る回数
（例えば５回）連続して出力されたときには装置
全体が停止するようなつており、これによつてゴ
ミ付着等による誤検出を排除するようにしてい
る。
および可動ストツパピン（図示省略）から成るチ
ツプ計数機構部２８を経て最下段の本発明に係る
選別機構部２９で良品、不良、検査不能（RI）
の３分別がなれさる。第６図は第５図の−線
に沿つた選別機構部２９の拡大断面図である。こ
こにおいて搬送路２４は中央の良品用分別シユー
ト（以下、良品排出路と称する）３７と、その両
側の２つの分別シユート即ち検査不能品用分別シ
ユート（以下、RI排出路と称する）３８および
不良品用分別シユート（以下、不良品排出路と称
する）３９の３通路に分けられ、この通路を切り
換えるための一対のシユート開閉用ゲート部材
（以下この実施例ではゲートプレートと称する）
４０，４１が回転可能に設けられている。一方の
ゲートプレート４１の枢軸４３は、その下端部に
アーム４３ａが固着され、該アーム４３ａがカム
４６のカムフロア４５に連結したレバー４４の先
端ローラ４４ａにスプリング４４ｂによつて圧接
されるとともに、ソレノイド４７にも連結されて
おり、外観検査・搬送機構部と連動したカム４６
の動作で変形正弦運動（正常時）を行い、前記画
像処理部からの信号によりソレノイド４７の
ON，OFFで起動、停止の動作（不良品到来時）
を行つて上記良品排出路３７と不良品排出路３９
の切り換えを行う（第７図ｂ，ｃ参照）。他方の
ゲートプレート４０の枢軸６０に対しても同様の
構成で他のソレノイド、レバー（いずれも図示省
略）が設けられており、該ソレノイドのON，
OFFで起動、停止の動作（RI到来時）を行つて
上記良品排出路３７とRI排出路３８との切り換
えを行う（第７図ａ，ｂ参照）。結局この実施例
では１個のカムに対してソレノイド、レバーはそ
れぞれ２個ずつ設置されている（ただし第６図で
は一方のソレノイド、レバーのみを示す）。なお、
第５図でゲートプレートが実線位置にある場合は
良品排出路３７が開となつており、またゲートプ
レート４０が破線位置に倒れたときRI排出路３
８のみが開となつて搬送路２４と連通する。各排
出路３７〜３９の上面はカバー板４８で閉塞され
ていることは勿論である。なおソレノイド４７の
動作として、通常の停止や緊急の停止の場合に、
ゲートプレートは、検査部の結果に拘らず、チツ
プコンデンサが必ずRI排出路に落ちるような位
置で停止し（ゲートプレート４０が第５図の破線
位置に倒れた状態）、これによつて何らかの異常
で良品にRIまたは不良チツプが混入することが
ないようにしている。また不良の信号が或る回数
（例えば５回）連続して出力されたときには装置
全体が停止するようなつており、これによつてゴ
ミ付着等による誤検出を排除するようにしてい
る。
第８図ａ〜ｃは本発明の他の実施例に係る選別
機構部２９の正面図であつて、同図ａは良品排出
路３７のみが開となつた状態、ｂは不良品排出路
３９が開で他が閉の場合、ｃはRI排出路３８が
開の場合である。選別機構部２９の本体ブロツク
５０に形成された部品導入路５１は前記搬送路２
４に連通し、この部品導入路５１と同ブロツク５
０に形成された前記３つの排出路３７，３９，３
８がそれぞれブロツク５０内の円形弁座５２に開
口している。円形弁座５２には１個のシユート開
閉用ゲート部材（以下第８図の実施例では切換円
板と称する）５３が回転可能に収納されている。
切換円板５３はその中心０を通つて直径方向に貫
通した良品通過溝５４および、前記中心０から若
干ずれてかつ良品通過溝５４に対し或る角度傾斜
して交差する不良・RI用通過溝５５の２本の通
し溝が形成されている。第８図ａでは良品通過溝
５４が本体ブロツク５０の部品導入路５１と連通
することにより、検査合格品が良品排出路３７へ
送り出される。この状態から切換円板５３が第８
図ａの実線矢印の方向に回転（1/4回転以内）し、
不良・RI用通過溝５５の一端５５ａが部品導入
路５１と連通すると、該溝５５の他端５５ｂは第
８図ｂの如く不良品排出路３９と連通し、検査不
合格品が不良品排出路３９へ送られる。また第８
図ａの状態から前述と逆方向に、即ち破線矢印の
方向に回転（1/4回転以上1/2回転以下）し、不
良・RI用通過溝５５の前記一端５５ａが第８図
ｃの如くRI排出路３８と連通すると、該溝５５
の他端５５ｂは部品導入路５１と連通し、これに
よつて検査不能品がRI排出路３８に送られる。
このように排出路３７，３９，３８のいずれか１
つが部品導入路５１と連通するときは他の２つの
排出路は閉塞状態となる。切換円板５３のこのよ
うな回転制御は第５図、第６図のゲートプレート
形選別機構部と同様に前記画像処理部からの信号
により計数機構部２８と共働して制御される。こ
の実施例では切換円板５３の回転モータ（図示省
略）およびモータ制御装置のみでよいので機構上
簡素となる。ここでも前記回転モータは通常の装
置停止や緊急停止の場合に、第８図ｃに示す位置
で停止するように制御され、したがつて各部停止
時に搬送路２４あるいは部品導入路５１に残つて
いる検査部品はすべてRI排出路３８に落ちる。
またモータの回転角度位置として第８図ｂまたは
ｃの位置をとる状態が或る部品個数連続して生じ
た場合は自動的に選別機の緊急停止がなされ前記
回転モータも第８図ｃの位置で停止する。この関
係は第５図、第６図の実施例と同様である。
機構部２９の正面図であつて、同図ａは良品排出
路３７のみが開となつた状態、ｂは不良品排出路
３９が開で他が閉の場合、ｃはRI排出路３８が
開の場合である。選別機構部２９の本体ブロツク
５０に形成された部品導入路５１は前記搬送路２
４に連通し、この部品導入路５１と同ブロツク５
０に形成された前記３つの排出路３７，３９，３
８がそれぞれブロツク５０内の円形弁座５２に開
口している。円形弁座５２には１個のシユート開
閉用ゲート部材（以下第８図の実施例では切換円
板と称する）５３が回転可能に収納されている。
切換円板５３はその中心０を通つて直径方向に貫
通した良品通過溝５４および、前記中心０から若
干ずれてかつ良品通過溝５４に対し或る角度傾斜
して交差する不良・RI用通過溝５５の２本の通
し溝が形成されている。第８図ａでは良品通過溝
５４が本体ブロツク５０の部品導入路５１と連通
することにより、検査合格品が良品排出路３７へ
送り出される。この状態から切換円板５３が第８
図ａの実線矢印の方向に回転（1/4回転以内）し、
不良・RI用通過溝５５の一端５５ａが部品導入
路５１と連通すると、該溝５５の他端５５ｂは第
８図ｂの如く不良品排出路３９と連通し、検査不
合格品が不良品排出路３９へ送られる。また第８
図ａの状態から前述と逆方向に、即ち破線矢印の
方向に回転（1/4回転以上1/2回転以下）し、不
良・RI用通過溝５５の前記一端５５ａが第８図
ｃの如くRI排出路３８と連通すると、該溝５５
の他端５５ｂは部品導入路５１と連通し、これに
よつて検査不能品がRI排出路３８に送られる。
このように排出路３７，３９，３８のいずれか１
つが部品導入路５１と連通するときは他の２つの
排出路は閉塞状態となる。切換円板５３のこのよ
うな回転制御は第５図、第６図のゲートプレート
形選別機構部と同様に前記画像処理部からの信号
により計数機構部２８と共働して制御される。こ
の実施例では切換円板５３の回転モータ（図示省
略）およびモータ制御装置のみでよいので機構上
簡素となる。ここでも前記回転モータは通常の装
置停止や緊急停止の場合に、第８図ｃに示す位置
で停止するように制御され、したがつて各部停止
時に搬送路２４あるいは部品導入路５１に残つて
いる検査部品はすべてRI排出路３８に落ちる。
またモータの回転角度位置として第８図ｂまたは
ｃの位置をとる状態が或る部品個数連続して生じ
た場合は自動的に選別機の緊急停止がなされ前記
回転モータも第８図ｃの位置で停止する。この関
係は第５図、第６図の実施例と同様である。
（発明の効果）
以上説明したように本発明によれば、チツプ部
品を透過および斜光照明を組み合せてテレビカメ
ラにより外観検査し、その出力信号により良品、
不良品、RIの３つの分別シユート（排出路）の
開閉を行い、その際不良品、RI用の分別シユー
トの開が所定回数連続したとき装置自体に何らか
の異常が発生したと判断してRI用分別シユート
を開の状態ですべて停止するようにしたので、選
別、仕分けした良品に対する不良品混入率が低下
し、外観検査の信頼性を高めることができる効果
がある。
品を透過および斜光照明を組み合せてテレビカメ
ラにより外観検査し、その出力信号により良品、
不良品、RIの３つの分別シユート（排出路）の
開閉を行い、その際不良品、RI用の分別シユー
トの開が所定回数連続したとき装置自体に何らか
の異常が発生したと判断してRI用分別シユート
を開の状態ですべて停止するようにしたので、選
別、仕分けした良品に対する不良品混入率が低下
し、外観検査の信頼性を高めることができる効果
がある。
第１図は本発明に適用されるチツプ部品の一例
を示した正面図、第２図は本発明に係る画像処理
部のブロツク図、第３図は斜光・透過照明装置の
一例を示す概略図、第４図は本発明の１実施例に
係る自動外観検査機の概略的な側面図、第５図は
第４図の矢視Ｆ方向からみたチツプ搬送部および
チツプ選別部の拡大正面図、第６図は第５図の
−線に沿つた選別機構部の拡大断面図、第７図
ａ〜ｃは第６図の実施例におけるゲートプレート
の動作を示した概略図、第８図ａ〜ｃは本発明の
他の実施例に係る選別機構部の概略的な正面図で
ある。 １……チツプコンデンサ、２４……傾斜搬送
路、１０……カメラ、２７ａ，２７ｂ……検査
部、２８……計数機構部、２９……選別機構部、
３７……良品排出路、３８……RI排出路、３９
……不良品排出路、４０，４１……ゲートプレー
ト、５３……切換円板。
を示した正面図、第２図は本発明に係る画像処理
部のブロツク図、第３図は斜光・透過照明装置の
一例を示す概略図、第４図は本発明の１実施例に
係る自動外観検査機の概略的な側面図、第５図は
第４図の矢視Ｆ方向からみたチツプ搬送部および
チツプ選別部の拡大正面図、第６図は第５図の
−線に沿つた選別機構部の拡大断面図、第７図
ａ〜ｃは第６図の実施例におけるゲートプレート
の動作を示した概略図、第８図ａ〜ｃは本発明の
他の実施例に係る選別機構部の概略的な正面図で
ある。 １……チツプコンデンサ、２４……傾斜搬送
路、１０……カメラ、２７ａ，２７ｂ……検査
部、２８……計数機構部、２９……選別機構部、
３７……良品排出路、３８……RI排出路、３９
……不良品排出路、４０，４１……ゲートプレー
ト、５３……切換円板。
Claims (1)
- １ チツプ部品の搬送路と、前記搬送路の途中に
設置した斜光・透過照明装置およびテレビカメラ
と、前記テレビカメラで取り込んだビデオ信号を
画像処理する画像処理部と、前記搬送路の末端部
に設けられた分別シユートおよびシユート開閉用
ゲート部材とを有するチツプ部品自動外観選別機
において、前記搬送路の末端部に検査不能品用、
良品用、および不良品用の３つの分別シユートを
設け、前記画像処理部の信号で前記シユート開閉
用ゲート部材を動作させて搬送路末端部に搬送さ
れた部品を検査不能品、良品、不良品の３種類に
仕分けするようにし、検査不能品用分別シユート
または不良品用分別シユートに入る仕分け部品が
それぞれ所定個数連続したとき前記選別機を停止
せしめ、かつ選別機停止後のシユート開閉用ゲー
ト部材を、前記検査不能品用分別シユートを開と
する方向へ動作せしめることを特徴とする部品仕
分け方法。
Priority Applications (7)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63079578A JPH01249181A (ja) | 1988-03-31 | 1988-03-31 | チップ部品自動外観選別機における部品仕分け方法 |
| FR8902564A FR2629585B1 (fr) | 1988-03-31 | 1989-02-28 | Procede et dispositif pour verifier optiquement l'aspect de composants du type puce et proceder a leur tri |
| GB8904468A GB2217444B (en) | 1988-03-31 | 1989-02-28 | Method of and apparatus for optically checking the appearances of chip-type components and sorting the chip-type components |
| DE3906281A DE3906281A1 (de) | 1988-03-31 | 1989-02-28 | Verfahren und vorrichtung zum optischen ueberpruefen des aussehens chipartiger bauteile und zum sortieren der chipartigen bauteile |
| CN89102024A CN1018799B (zh) | 1988-03-31 | 1989-02-28 | 用光学手段对片状元件进行外观检验并对所检验的片状元件进行分类的方法和装置 |
| US07/316,791 US4976356A (en) | 1988-03-31 | 1989-02-28 | Method of and apparatus for optically checking the appearances of chip-type components and sorting the chip-type components |
| KR1019890002517A KR0122739B1 (ko) | 1987-08-28 | 1989-02-28 | 칩-형 부품(chip-type components)을 분류하고 칩-형 부품의 외관을 광학적으로 점검하기 위한 방법과 장치 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63079578A JPH01249181A (ja) | 1988-03-31 | 1988-03-31 | チップ部品自動外観選別機における部品仕分け方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01249181A JPH01249181A (ja) | 1989-10-04 |
| JPH0577475B2 true JPH0577475B2 (ja) | 1993-10-26 |
Family
ID=13693870
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63079578A Granted JPH01249181A (ja) | 1987-08-28 | 1988-03-31 | チップ部品自動外観選別機における部品仕分け方法 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4976356A (ja) |
| JP (1) | JPH01249181A (ja) |
| CN (1) | CN1018799B (ja) |
| DE (1) | DE3906281A1 (ja) |
| FR (1) | FR2629585B1 (ja) |
| GB (1) | GB2217444B (ja) |
Cited By (1)
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|---|---|---|---|---|
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