JPH01268885A - Ta膜パターン形成法 - Google Patents
Ta膜パターン形成法Info
- Publication number
- JPH01268885A JPH01268885A JP9760388A JP9760388A JPH01268885A JP H01268885 A JPH01268885 A JP H01268885A JP 9760388 A JP9760388 A JP 9760388A JP 9760388 A JP9760388 A JP 9760388A JP H01268885 A JPH01268885 A JP H01268885A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- etching
- solution
- sodium hydroxide
- film
- etched
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 7
- 230000007261 regionalization Effects 0.000 title claims 2
- HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M Sodium hydroxide Chemical compound [OH-].[Na+] HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M 0.000 claims abstract description 75
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims abstract description 30
- HELHAJAZNSDZJO-OLXYHTOASA-L sodium L-tartrate Chemical compound [Na+].[Na+].[O-]C(=O)[C@H](O)[C@@H](O)C([O-])=O HELHAJAZNSDZJO-OLXYHTOASA-L 0.000 claims abstract description 14
- 239000001433 sodium tartrate Substances 0.000 claims abstract description 14
- 229960002167 sodium tartrate Drugs 0.000 claims abstract description 14
- 235000011004 sodium tartrates Nutrition 0.000 claims abstract description 14
- 239000000243 solution Substances 0.000 claims description 25
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 claims description 11
- 238000000059 patterning Methods 0.000 claims description 5
- 239000012528 membrane Substances 0.000 claims 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 abstract description 8
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 abstract description 6
- MHAJPDPJQMAIIY-UHFFFAOYSA-N Hydrogen peroxide Chemical compound OO MHAJPDPJQMAIIY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N Fluorane Chemical compound F KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 4
- KWYUFKZDYYNOTN-UHFFFAOYSA-M Potassium hydroxide Chemical compound [OH-].[K+] KWYUFKZDYYNOTN-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 3
- 238000001312 dry etching Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- ZLMJMSJWJFRBEC-UHFFFAOYSA-N Potassium Chemical compound [K] ZLMJMSJWJFRBEC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052788 barium Inorganic materials 0.000 description 2
- DSAJWYNOEDNPEQ-UHFFFAOYSA-N barium atom Chemical compound [Ba] DSAJWYNOEDNPEQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000005388 borosilicate glass Substances 0.000 description 2
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-M hydroxide Chemical compound [OH-] XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 2
- LBSANEJBGMCTBH-UHFFFAOYSA-N manganate Chemical compound [O-][Mn]([O-])(=O)=O LBSANEJBGMCTBH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 150000003109 potassium Chemical class 0.000 description 2
- 229910052700 potassium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011591 potassium Substances 0.000 description 2
- 239000012286 potassium permanganate Substances 0.000 description 2
- 238000001039 wet etching Methods 0.000 description 2
- FEWJPZIEWOKRBE-UHFFFAOYSA-N Tartaric acid Natural products [H+].[H+].[O-]C(=O)C(O)C(O)C([O-])=O FEWJPZIEWOKRBE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 239000007795 chemical reaction product Substances 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 1
- 238000001020 plasma etching Methods 0.000 description 1
- 239000002244 precipitate Substances 0.000 description 1
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 1
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 235000002906 tartaric acid Nutrition 0.000 description 1
- 239000011975 tartaric acid Substances 0.000 description 1
Landscapes
- ing And Chemical Polishing (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明はTa膜の湿式エツチング技術に関する。
[従来の技術1
従来、基板上に形成されたTa1llをエッチバターニ
ングする技術には、水酸化ナトリウム水溶液、又は水酸
化ナトリウム水溶液+過酸化水素水、又は特開昭56−
11223に示す水酸化ナトリウム水溶液+飽和過マン
ガン酸カリウム溶液、又は希釈フッ酸等により湿式エッ
チバターニングする方法とドライエツチング装置を用い
てフレオン+02系ガスやArガスでエッチバターニン
グする方法とがあった。
ングする技術には、水酸化ナトリウム水溶液、又は水酸
化ナトリウム水溶液+過酸化水素水、又は特開昭56−
11223に示す水酸化ナトリウム水溶液+飽和過マン
ガン酸カリウム溶液、又は希釈フッ酸等により湿式エッ
チバターニングする方法とドライエツチング装置を用い
てフレオン+02系ガスやArガスでエッチバターニン
グする方法とがあった。
[発明が解決しようとする課題]
しかし従来の技術ではウェットエツチングの場合、水酸
化ナトリウム水溶液や水酸化ナトリウム水溶液十過酸化
水素水、特開昭56−11223に示す水酸化ナトリウ
ム水溶液+飽和過マンガン酸カリウム溶液を用いてTa
1lをエッチバターニングすると水酸化Taが生成され
そのためTaのある結晶方位のものが残存しパターンが
短絡しやすかった。また残存物を除去すべくさらにエツ
チングし続けるとオーバーエツチングになり、微細パタ
ーンが形成できないという問題点があった。
化ナトリウム水溶液や水酸化ナトリウム水溶液十過酸化
水素水、特開昭56−11223に示す水酸化ナトリウ
ム水溶液+飽和過マンガン酸カリウム溶液を用いてTa
1lをエッチバターニングすると水酸化Taが生成され
そのためTaのある結晶方位のものが残存しパターンが
短絡しやすかった。また残存物を除去すべくさらにエツ
チングし続けるとオーバーエツチングになり、微細パタ
ーンが形成できないという問題点があった。
更に水酸化ナトリウム水溶液+過酸化水素水の場合は過
酸化水素水が気化しやすいため、エツチング特性にバラ
ツキを生じさせていた。また水酸化ナトリウム水溶液十
過マンガン酸カリウムの場合もエツチング液中にエツチ
ングとともにマンガン酸塩が生成され、エツチング特性
にバラツキを生じさせていた。フッ酸を用いた場合もT
aを形成した、ガラス、石英、セラミックなどの基板が
侵されてしまうという問題点があった。
酸化水素水が気化しやすいため、エツチング特性にバラ
ツキを生じさせていた。また水酸化ナトリウム水溶液十
過マンガン酸カリウムの場合もエツチング液中にエツチ
ングとともにマンガン酸塩が生成され、エツチング特性
にバラツキを生じさせていた。フッ酸を用いた場合もT
aを形成した、ガラス、石英、セラミックなどの基板が
侵されてしまうという問題点があった。
次に従来のもう一つの手法であるドライエツチングの場
合、フレオン+02系ガスを用いてエツチングを行なう
と反応生成物のT a F sが真空ポンプ中に混入し
、さらにオイル中にHFが生成され、ポンプに多大なダ
メージを与えていた。このため頻搬にポンプを交換しな
くてはならないという問題点があった。またArガスを
用いてプラズマエツチングを行なう場合はバクーンのレ
ジストダメージが大きく、後工程でのレジスト剥離が難
しかった。更に一般にドライエツチング法はエツチング
面分布のバラツキが少なくなく微細パターンの形成や最
近要求の大きい、基板の大型化に適していなかった。か
つ装置も大規模になりやすく、スルーブツトが悪いため
生産コストのアップをひきおこしていた。
合、フレオン+02系ガスを用いてエツチングを行なう
と反応生成物のT a F sが真空ポンプ中に混入し
、さらにオイル中にHFが生成され、ポンプに多大なダ
メージを与えていた。このため頻搬にポンプを交換しな
くてはならないという問題点があった。またArガスを
用いてプラズマエツチングを行なう場合はバクーンのレ
ジストダメージが大きく、後工程でのレジスト剥離が難
しかった。更に一般にドライエツチング法はエツチング
面分布のバラツキが少なくなく微細パターンの形成や最
近要求の大きい、基板の大型化に適していなかった。か
つ装置も大規模になりやすく、スルーブツトが悪いため
生産コストのアップをひきおこしていた。
そこで本発明はこのような問題点を解決するものであっ
て、その目的とするところは効率よく基板を侵さずに微
細なTa膜のパターン形成を行なうものである。
て、その目的とするところは効率よく基板を侵さずに微
細なTa膜のパターン形成を行なうものである。
[課題を解決するための手段]
(1)本発明は水酸化ナトリウム水溶液に酒石酸ナトリ
ウムを加えた液を使用してTa膜をエツチングしパター
ン形成することを特徴としている。
ウムを加えた液を使用してTa膜をエツチングしパター
ン形成することを特徴としている。
(2)本発明は2.5no1%以上、9m01%未満の
水酸化ナトリウムと、0.1〜1.7+no1%の酒石
酸ナトリウムを含む水溶液を使用してTa膜をエツチン
グしパターン形成することを特徴としている。
水酸化ナトリウムと、0.1〜1.7+no1%の酒石
酸ナトリウムを含む水溶液を使用してTa膜をエツチン
グしパターン形成することを特徴としている。
[実 施 例]
バリウム硼珪酸ガラスにTaをRFスパックにて40o
O人形成し、ネガレジストOMR−83を5μmライン
中にバターニングした後、ボストベークを145℃×2
0分行なう、この基板を表1の1〜20に示す様な液で
Ta膜をエツチングし残渣の有無と5μmラインパター
ン形成状況を観察した。
O人形成し、ネガレジストOMR−83を5μmライン
中にバターニングした後、ボストベークを145℃×2
0分行なう、この基板を表1の1〜20に示す様な液で
Ta膜をエツチングし残渣の有無と5μmラインパター
ン形成状況を観察した。
その結果表1の11に示す様な70℃の水酸化ナトリウ
ム水溶液でTa1lをエッチバターニングすると残渣が
あり5μmラインのパターン形成はできなかった。
ム水溶液でTa1lをエッチバターニングすると残渣が
あり5μmラインのパターン形成はできなかった。
次に表1の12.13に示す様な70℃の水酸化ナトリ
ウム水溶液に水酸化カリウムを加えた液でTa1lをエ
ッチバターニングすると残渣があり5μmラインのパタ
ーン形成はできなかった。
ウム水溶液に水酸化カリウムを加えた液でTa1lをエ
ッチバターニングすると残渣があり5μmラインのパタ
ーン形成はできなかった。
次に表1の14.15.16に示す様な70℃の水酸化
ナトリウム水溶液に飽和過マンガン酸カリウム液を加λ
た液でTa膜をエッチバターニングすると表1の12.
13と同様残渣があり5μmラインのパターン形成はで
きなかった。かつエツチング中にマンガン酸塩が生成さ
れ、液の特性が変化したため、エツチングの再現性も良
くなかった。
ナトリウム水溶液に飽和過マンガン酸カリウム液を加λ
た液でTa膜をエッチバターニングすると表1の12.
13と同様残渣があり5μmラインのパターン形成はで
きなかった。かつエツチング中にマンガン酸塩が生成さ
れ、液の特性が変化したため、エツチングの再現性も良
くなかった。
次に表1の17.1,8.19に示す様に70℃の水酸
化ナトリウム水溶液に過酸化水素水を加^た液でTa膜
をエッチバターニングすると同様に残渣があり5μmラ
インのパターン形成はできなかった。かつ過酸化水素水
がエツチング中急速に気化したため表1の14.15.
16と同様、エツチングの再現性が良くなかった。
化ナトリウム水溶液に過酸化水素水を加^た液でTa膜
をエッチバターニングすると同様に残渣があり5μmラ
インのパターン形成はできなかった。かつ過酸化水素水
がエツチング中急速に気化したため表1の14.15.
16と同様、エツチングの再現性が良くなかった。
次に表1の20に示す様なフッ酸液でTa1llをエッ
チバターニングするとバリウム硼珪酸ガラスが侵され、
自濁した。そのためTaパターンが剥離してしまった。
チバターニングするとバリウム硼珪酸ガラスが侵され、
自濁した。そのためTaパターンが剥離してしまった。
次に水酸化ナトリウム水溶液に酒石酸ナトリウムを加え
た液温70℃の本発明エツチング液は表1の1−10に
示す様に表1の11〜20の従来のエツチング液と比較
して優れたエツチング特性を有することがわかる。すな
わち酒石酸ナトリウムが、含まれていれば全ての水酸化
ナトリウム濃度で良好なTaエツチング特性が得られる
にれはTaエツチング時生成される。水酸化タンクルが
酒石酸により溶解するためであると思われる。
た液温70℃の本発明エツチング液は表1の1−10に
示す様に表1の11〜20の従来のエツチング液と比較
して優れたエツチング特性を有することがわかる。すな
わち酒石酸ナトリウムが、含まれていれば全ての水酸化
ナトリウム濃度で良好なTaエツチング特性が得られる
にれはTaエツチング時生成される。水酸化タンクルが
酒石酸により溶解するためであると思われる。
しかし、酒石酸ナトリウムが0.1mol%より少なく
なると残渣がわずかに生じる傾向がある。だが、従来の
エツチング液と比較してその程度は良い、又1.7+n
o1%を越えると飽和に近づくため、エツチング途中、
析出してくる場合があり、適当でない、水酸化ナトリウ
ムについては1.25+no1%以下でも酒石酸ナトリ
ウムが入っていることにより、残渣、オーバーエッチと
もなしにTaをエッチバターニングできる。しかし、エ
ツチング速度が非常に遅いため生産性の点で問題がある
。また9mo1%を越^るとエツチング速度も大きくな
り、オーバーエツチングしやすくなる。
なると残渣がわずかに生じる傾向がある。だが、従来の
エツチング液と比較してその程度は良い、又1.7+n
o1%を越えると飽和に近づくため、エツチング途中、
析出してくる場合があり、適当でない、水酸化ナトリウ
ムについては1.25+no1%以下でも酒石酸ナトリ
ウムが入っていることにより、残渣、オーバーエッチと
もなしにTaをエッチバターニングできる。しかし、エ
ツチング速度が非常に遅いため生産性の点で問題がある
。また9mo1%を越^るとエツチング速度も大きくな
り、オーバーエツチングしやすくなる。
以上より水酸化ナトリウム水溶液に酒石酸ナトリウムを
入れることにより従来のTaエツチング液に比べて、優
れたエツチング特性が得られ、かつ水酸化ナトリウム2
.5mo1%以上、9 mo1%未満、酒石酸ナトリウ
ム0.1no1%〜1.7mol%が最良組成であるこ
とがわかる。
入れることにより従来のTaエツチング液に比べて、優
れたエツチング特性が得られ、かつ水酸化ナトリウム2
.5mo1%以上、9 mo1%未満、酒石酸ナトリウ
ム0.1no1%〜1.7mol%が最良組成であるこ
とがわかる。
表1
05μmラインパターンが形成できた
Δ オーバーエツチングになった
X 残渣が多くパターンにならない
[発明の効果]
以上述べた様に本発明によればTa膜のエツチング液を
水酸化ナトリウム水溶液+酒石酸ナトリウムとすること
により、Ta膜を残渣なく、又は、残渣があってもわず
かな程度でエツチングできる。又前述した様に水酸化ナ
トリウム、酒石酸ナトリウム濃度を制限することにより
その効果を拡大でき、Ta残渣なしに微細なパターンま
で良好にエッチバターニングできる。更に、ガラス、セ
ラミック、Si等基板を侵さず、液寿命が長い、従来の
エツチング液に比ベレジストのダメージが若干少ない、
Ta/Ta s Osのエッチレート比が大きく、選択
エッチが可能等積々のメリットにより、 (1)製造コストの低減、製造歩留り向上、製造品質の
向上が大きい。
水酸化ナトリウム水溶液+酒石酸ナトリウムとすること
により、Ta膜を残渣なく、又は、残渣があってもわず
かな程度でエツチングできる。又前述した様に水酸化ナ
トリウム、酒石酸ナトリウム濃度を制限することにより
その効果を拡大でき、Ta残渣なしに微細なパターンま
で良好にエッチバターニングできる。更に、ガラス、セ
ラミック、Si等基板を侵さず、液寿命が長い、従来の
エツチング液に比ベレジストのダメージが若干少ない、
Ta/Ta s Osのエッチレート比が大きく、選択
エッチが可能等積々のメリットにより、 (1)製造コストの低減、製造歩留り向上、製造品質の
向上が大きい。
(2)プロセス設計、素子や基板材質選択の自由度が大
幅に拡大される。
幅に拡大される。
という絶大な効果を有する。
以上
出願人 セイコーエプソン株式会社
Claims (2)
- (1)水酸化ナトリウム水溶液に酒石酸ナトリウムを加
えた液を使用してエッチングすることを特徴とするTa
膜のパターン形成法。 - (2)2.5mol%以上、9mo1%未満の水酸化ナ
トリウムと、0.1mol%〜1.7mol%の酒石酸
ナトリウムを含む水溶液を使用してエッチングすること
を、特徴とするTa膜のパターン形成法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9760388A JPH01268885A (ja) | 1988-04-20 | 1988-04-20 | Ta膜パターン形成法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9760388A JPH01268885A (ja) | 1988-04-20 | 1988-04-20 | Ta膜パターン形成法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01268885A true JPH01268885A (ja) | 1989-10-26 |
Family
ID=14196805
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9760388A Pending JPH01268885A (ja) | 1988-04-20 | 1988-04-20 | Ta膜パターン形成法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01268885A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE10051052C2 (de) * | 2000-10-14 | 2003-06-05 | Bosch Gmbh Robert | Lösung und Verfahren zum Ätzen von Metalloberflächen sowie deren Verwendung |
-
1988
- 1988-04-20 JP JP9760388A patent/JPH01268885A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE10051052C2 (de) * | 2000-10-14 | 2003-06-05 | Bosch Gmbh Robert | Lösung und Verfahren zum Ätzen von Metalloberflächen sowie deren Verwendung |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP0608931B1 (en) | Reactive ion etching of indium tin oxide (ITO) | |
| JPH02244507A (ja) | インジウムすず酸化物薄層のエッチング方法及び透明電気導電パターンの形成方法 | |
| US4544444A (en) | Reactive ion etching of tin oxide films using silicon tetrachloride reactant gas | |
| US3814641A (en) | Process of fabricating silicon photomask | |
| JPH01268885A (ja) | Ta膜パターン形成法 | |
| JPH03276626A (ja) | シリコン化合物系からなる被エッチング膜のエッチング方法 | |
| CN115491203B (zh) | 一种腐蚀液及其制备方法和应用 | |
| JP7559252B2 (ja) | ニオブ酸リチウムのドライエッチング方法 | |
| JP3611729B2 (ja) | エッチングガス | |
| TW201116651A (en) | Etchant composition and etching process for titanium-aluminum complex metal layer | |
| JPH0353084A (ja) | タンタル用エッチング液 | |
| JPS62104037A (ja) | アルミナ層中に貫通孔を形成する方法 | |
| KR100415319B1 (ko) | 투명도전막의 에칭액 조성물 | |
| JPH0318737B2 (ja) | ||
| JPH01223733A (ja) | 炭化チタン系膜及び窒化チタン系膜のエッチング方法 | |
| JP3611723B2 (ja) | エッチングガス | |
| JPH10284467A (ja) | 半導体デバイス製造用窒化珪素膜のエッチング組成物、エッチング方法及びそれによって製造された半導体デバイス | |
| JPS592004B2 (ja) | 表示体用電極基板の製造方法 | |
| JP2001077059A (ja) | 金属酸化物膜の加工方法 | |
| JP2556373B2 (ja) | ドライエッチング方法 | |
| CN121915359A (zh) | 一种基于NaCl疏水层的滤片脱膜模具和脱膜方法 | |
| JPS60249209A (ja) | 酸化錫膜の電子回路パタ−ンの形成方法 | |
| JPH04269832A (ja) | X線リソグラフィ−用マスクの製造方法 | |
| JPH0589662A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
| KR20080098180A (ko) | 식각액 조성물 |