JPH01270676A - ノイズ測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明はノイズ測定装置に関し、特にＶＴＲまたはビデ
オディスクのような周期性のある信号を扱う装置におけ
る信号ノイズおよびタイムベースエラーを測定するノイ
ズ測定装置に関するものである。

［従来の技術］ 第５図は、たとえば本出願人の出願に係る特願昭５７−
８６０５５　（特開昭５８−２０１０７：３）に示され
た従来のノイズ測定装置を示すブロック図である。図に
おいて被測定ＶＴＲＩからの映像信号はノイズ測定装置
のサンプリング回路２および水平同期分離回路５に供給
される。水平同期分離回路５で分離された水平同期信号
は、遅延回路６を経てフリップフロップ回路７およびカ
ウンタ８に供給される。フリップフロップ回路７からの
信号によって発生されるゲート発振器３からのクロック
信号は、サンプリング回路２に供給されサンプリングを
行なう。ゲート発振器３の出力は、またカウンタ８を経
由してフリップフロップ回路７に供給される。サンプリ
ング回路２の出力は、ＣＰＵ４に供給される。第６図は
信号のタイミングを示す図であり、同図中のｃ　−ｈは
第５図中のｃ−ｈの各箇所の波形のタイミングを示す。

この従来の装置は次のような動作をする。被測定ＶＴＲ
１より再生された映像信号Ｃより水平同期分離回路５に
よって同期信号ｄを分離し、遅延回路６によって一定時
間を遅らせる。この遅延信号ｅによってフリップフロッ
プ回路７を動作させ、カウンタ８からのパルスによって
停止するまでの一定の期間Ｓにわたりゲート発振器３を
ｆＨｚで発振させ、これをクロックとしてサンプリング
回路２によって映像信号Ｃをサンプリングする。このサ
ンプリング期間はたとえば映像信号の立上がり部分とす
る。このサンプリングを、たとえば連続する１００走査
線について行なうことによって、映像信号の立上がり部
分のサンプリングした値を１００走査線について得るこ
とができる。

家庭用ＶＴＲの再生映像信号のエツジ部分（立上がりお
よび立下がり部分）は、機械系の振動によるタイムベー
スエラーや磁気テープ上の隣接トラックからのクロクス
トークによる波形歪等によって平面部に比ベノイズが増
加する。

上記の方法によって得られた各立上がり部分の各点にお
ける値の分散を求めれば、それぞれの点におけるノイズ
電力を得ることができる。

［発明が解決しようとする課題］ 従来のノイズ測定装置は、以上のように構成されている
ので、水平同期信号のＳ／Ｎが悪い場合、ゲーＩ・発振
器３の出力の位相が影響を受けるため、測定箇所に時間
ずれが生じ正しくノイスの測定ができない。また、水平
同期信号を基準にして測定しているのでタイムベースエ
ラーを測定することかできないなどの問題点があった。

本発明は、上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、水平同期信号を含めて信号のＳ／Ｎが悪い場
合でも、正確な測定が行なえるとともに、タイムベース
エラーと振幅性ノイズを分離し同時に測定できるノイズ
測定装置を得ることを目的とする。

［課題を解決するための手段］ 本発明においては試験信号源の中にバースト信号を入れ
、被１１１１１定ＶＴＲを経由してきた前記の試験信号
を基準クロックでサンプリングした後に、前記のバース
ト信号によって基準クロックと試験信号間の時間ずれを
算出しタイムベースエラーとし、タイムベースエラーを
補正した試験信号を再サンプリングによって得た値によ
って振幅性ノイズを求めるようにした。

［作用コ 本発明におけるバースト信号は、試験信号の時間軸の基
準となり、従来例の水平同期信号を基準としたサンプリ
ングクロックに比べ、高い分解能で、Ｓ／Ｎが悪い場合
でも正確に時間軸補正ができる。

［実施例］ 第１図は本発明の一実施例である。同図において、試験
信号源１０からのバースト信号を含む周期性の試験信号
は、被測定ＶＴＲ１に供給され、それを通過してきた信
号は測定装置のサンプリング回路２に供給される。サン
プリング回路２は基準発振器１１からのクロックによっ
てサンプリングを行なう。サンプリング回路２によって
サンプリングされた値はＣＰＵ４に供給され、ＣＰＵ４
はサンプリングされた値、バースト信号、基準発振器か
らのクロック等によりタイムベースエラーや振幅性ノイ
ズを算出する。第２図に試験信号源１０によって作られ
る映像信号の一例を示す。同図においてＨは１水平期間
、ｔｌはバースト信号期間、ｔ２はノイズ測定装置とし
て映像信号のエツジの立上がり部分を選んた場合の測定
期間である。

この回路は次のように動作する。試験信号源１０によっ
て発生したバースト信号を含む試験信号を、被測定ＶＴ
Ｒ１で記録再生しその再生信号をサンプリング回路２で
、たとえば１００水平走査線にわたってサンプリングす
る。このときのサンプリングのタイミングは、基準発振
器］−１からの基準クロックで行ない、再生信号と同期
している必要はない。第３図にＣＰＵ４での処理内容を
示す。まずステップ２１で試験信号が基準クロックに対
してどれたけ時間ずれか生じているかを、バースト信号
によってタイムベースエラーの算出を行なう。

この算出方法としては、たとえば次のような方法がある
。

サンプリングクロックを基準としてタイムベースエラー
、ノイズがともにない場合、バースト信号は、 Ｂ　（ｔ）＝Ａ　（ｔ）ｃｏｓ　　（ωｔ）　　−（１
）となる。但し、Ａ　（ｔ）は窓関数である。（１）式
にタイムベースエラーΔｔとノイズＮ　（ｔ）を加える
と、バースト信号は、 Ｂ（ｔ）　＝　Ａ　（ｔ＋Δｔ）ｃｏｓ（ωｔ＋ω・Δ
ｔ）＋Ｎ（ｔ）・・・（２） となる。このときタイムベースエラーΔ（１）は、Δｔ
＝±ｔａｎ−１（ｆ　Ｂ（ｔ）　・５ｉｎ（ωｔ）ｄｔ
／しり ｆ　Ｂ（ｔ）　・ｃｏｓ（ωｔ）ｄｔ）　　　　　　−
（３）となる。但し積分区間は、窓関数Ａ　（ｔ）がＯ
でない区間である。

次にステップ２２で時間軸補正を行なう。サンプリング
回路２では、サンプリング定理を満足するようにサンプ
リングしているので、任意の時刻の値を得ることができ
る。

そこで、先に求めた時間ずれ分Δｔを補正して、再サン
プリングすることによってタイムベースエラーをキャン
セルできる。その結果ステップ２３に示されるように振
幅性ノイズが算出される。

第４図にサンプリング回路２でサンプリングしたデータ
（ａ）と再サンプリングしたデータ（ｂ）を示す。デー
タ（ｂ）はΔｔだけ時間軸が補正されている。

再サンプリングによって時間軸補正されたデータ（ｂ）
のノイズは振幅性ノイズであり、多数の走査線の同一部
分について分散を求めれば、ノイズ電力が得られる。

このように、波形のエツジ部分のタイムベースエラーと
振幅性ノイズを分離して求めることができる。

なお、上記の実施例ではサンプリングを信号の立上がり
部分において行なった場合について説明したが、立下が
り部分においても同様に応用できる。また、ＶＴＲ，ビ
デオディスクに限らず、他の周期性信号を利用する装置
についても利用できる。この場合においても前述の実施
例と同様の効果を奏することができる。

［発明の効果］ 以上のように本発明によれば、バースト信号によって時
間軸補正した後に、振幅性ノイズを求めるようにしたの
で、信号のＳ／Ｎが悪い場合でも、正確にタイムベース
エラーと、振幅性ノイズとを分離して測定することがで
きる効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例によるノイズ測定装初のサン
プリングと再サンプリングを比較する図、第５図は従来
のノイズ測定装置の一例を示すブロック図、第６図は第
５図の各点での信号波形を示す図である。 図において１は被測定ＶＴＲ，２はサンプリング回路、
１１は基準発振器、４はＣＰＵ、１０は試験信号源、ｔ
ｌはバースト信号期間、ｔ２はノイズの測定期間である
。 第２図 第３図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. バースト信号を含む周期性の試験信号源と、該信号源か
   らの信号を受信した被測定装置からの信号を或る周期に
   わたりサンプリングする手段と、このサンプリング手段
   のための基準クロックを発生する基準発振器と、サンプ
   リング回路からの信号によりバースト信号を基準として
   タイムベースエラーを算出しこれによって時間軸補正を
   行なった後サンプリングした値から振幅性ノイズを算出
   する計算手段とよりなるノイズ測定装置。