JPH0127366B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0127366B2 JPH0127366B2 JP58222959A JP22295983A JPH0127366B2 JP H0127366 B2 JPH0127366 B2 JP H0127366B2 JP 58222959 A JP58222959 A JP 58222959A JP 22295983 A JP22295983 A JP 22295983A JP H0127366 B2 JPH0127366 B2 JP H0127366B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light beam
- light
- reflector
- housing
- offset
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/30—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces
- G01B11/306—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces for measuring evenness
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は光ビームを被測定面に極めて近い位置
で施回させ、基準となる光ビーム走査面を形成す
る面基準器に関する。
で施回させ、基準となる光ビーム走査面を形成す
る面基準器に関する。
従来コンクリート床面の水平出しのような床面
の水平出しには水準器を用いて水平基準線を出
し、この水平基準線をもとにしてスミ糸を張る方
法、またはトランジスタによる測量が行なわれて
いる。しかしこれらの方法は、床面の高低の測定
には適用し得ても、壁面のわずかな凹凸や、天井
面のわずかなわん曲の状態などの測定は困難であ
り、簡易に被測定面の凹凸や、わん曲の状態の測
定が出来る計測器の実現が望まれていた。
の水平出しには水準器を用いて水平基準線を出
し、この水平基準線をもとにしてスミ糸を張る方
法、またはトランジスタによる測量が行なわれて
いる。しかしこれらの方法は、床面の高低の測定
には適用し得ても、壁面のわずかな凹凸や、天井
面のわずかなわん曲の状態などの測定は困難であ
り、簡易に被測定面の凹凸や、わん曲の状態の測
定が出来る計測器の実現が望まれていた。
本発明はかかる要請の実現を目的としてなされ
たもので、本基準器の取付面を被測定面に当接さ
せて保持し、本基準器から出射する光ビームを被
測定面から僅かに離れた位置で施回させ、この光
ビームが当つた被測定面の凸部で形成される照射
線の位置と形状とから当該被測定面の凹凸又はわ
ん曲の状態を検知しうるように構成したものであ
る。
たもので、本基準器の取付面を被測定面に当接さ
せて保持し、本基準器から出射する光ビームを被
測定面から僅かに離れた位置で施回させ、この光
ビームが当つた被測定面の凸部で形成される照射
線の位置と形状とから当該被測定面の凹凸又はわ
ん曲の状態を検知しうるように構成したものであ
る。
第１図は本発明の一実施例の縦断面図で、１は
筐体、２は光ビーム発生装置であるヘリウム、ネ
オンガスレーザ（以下単にレーザという）、２ａ
は支持部材、２ｂはレーザ２の光軸調節ねじ、３
はレーザ光Ｌをもとの光軸から所定距離オフセツ
トさせるオフセツト光学系で、この例では平行に
配設された２枚の反射鏡３ａ，３ｂで構成されて
いる。４はこのオフセツト光学系３をもとの入射
光軸を回転中心として回転させ、オフセツトされ
たレーザ光L1をもとの入射光軸の回りに回転さ
せる回転駆動装置で、オフセツト光学系３を中空
に形成されている軸内に収容する中空回転軸４ａ
と、導電円板４ｂと、磁極４ｃと軸受４ｄとで構
成されている。５は直角円錐形の反射面５ａを有
する光反射器で、直角円錐反射面５ａの軸線がレ
ーザ光Ｌの光軸と一致するように連結部材６で筐
体１から突出して取りつけられており、オフセツ
トされたレーザ光L1は、筐体１に形成された環
状の透光１ａをとおつて直角円錐反射面５ａで90
度偏向され、このレーザ光L2は、オフセツト光
学系３が回転するのに伴つてレーザ光L1の光軸
と直交する平面内を走査する。光反射器５の底面
５ｂはこのレーザ光L2の走査平面と平行に形成
されており、本基準器の取付基準面Ｓを構成して
いる。
筐体、２は光ビーム発生装置であるヘリウム、ネ
オンガスレーザ（以下単にレーザという）、２ａ
は支持部材、２ｂはレーザ２の光軸調節ねじ、３
はレーザ光Ｌをもとの光軸から所定距離オフセツ
トさせるオフセツト光学系で、この例では平行に
配設された２枚の反射鏡３ａ，３ｂで構成されて
いる。４はこのオフセツト光学系３をもとの入射
光軸を回転中心として回転させ、オフセツトされ
たレーザ光L1をもとの入射光軸の回りに回転さ
せる回転駆動装置で、オフセツト光学系３を中空
に形成されている軸内に収容する中空回転軸４ａ
と、導電円板４ｂと、磁極４ｃと軸受４ｄとで構
成されている。５は直角円錐形の反射面５ａを有
する光反射器で、直角円錐反射面５ａの軸線がレ
ーザ光Ｌの光軸と一致するように連結部材６で筐
体１から突出して取りつけられており、オフセツ
トされたレーザ光L1は、筐体１に形成された環
状の透光１ａをとおつて直角円錐反射面５ａで90
度偏向され、このレーザ光L2は、オフセツト光
学系３が回転するのに伴つてレーザ光L1の光軸
と直交する平面内を走査する。光反射器５の底面
５ｂはこのレーザ光L2の走査平面と平行に形成
されており、本基準器の取付基準面Ｓを構成して
いる。
このように構成されている光ビーム平面基準器
の光反射器５の底面５ｂを被測定面７に押当てた
状態で保持し、回転駆動装置４を付勢するとレー
ザ光L2は取付基準面Ｓから僅かに離れた平行な
平面内を360度走査するように施回して被測定面
７の凸部に当り、その凸部の位置、形状に応じた
パターンの照射線を壁面に画く、従つてその照射
線の位置とパターンとから被測定面７のレーザ光
L2の走査面における凹凸の分布状態を視認する
ことができる。
の光反射器５の底面５ｂを被測定面７に押当てた
状態で保持し、回転駆動装置４を付勢するとレー
ザ光L2は取付基準面Ｓから僅かに離れた平行な
平面内を360度走査するように施回して被測定面
７の凸部に当り、その凸部の位置、形状に応じた
パターンの照射線を壁面に画く、従つてその照射
線の位置とパターンとから被測定面７のレーザ光
L2の走査面における凹凸の分布状態を視認する
ことができる。
このような被測定面７が、構築物の壁面にパネ
ル材が高さ調節可能に構成されている取付部材を
介して取り付けられている壁面であつて、上記取
付部材がパネル材の表面側から調節可能である場
合は、壁面に画かれている照射線のパターンを見
ながらパネル材の高さ調節を施こす調節作業を本
平面基準器の取付け位置を適宜移動させて行うこ
とにより数mmの誤差内で迅速に平面調節を行うこ
とができる。
ル材が高さ調節可能に構成されている取付部材を
介して取り付けられている壁面であつて、上記取
付部材がパネル材の表面側から調節可能である場
合は、壁面に画かれている照射線のパターンを見
ながらパネル材の高さ調節を施こす調節作業を本
平面基準器の取付け位置を適宜移動させて行うこ
とにより数mmの誤差内で迅速に平面調節を行うこ
とができる。
この壁面調節の外、高さ調節機構を有する床面
の不陸の調節、壁面、床面などの左官仕上げの際
の平面度又はわん曲仕上面のチエツク、中央部が
僅かに高くなるようにわん曲させる天井吊作業に
おけるチエツクなどに適用して同様の効果が得ら
れる。
の不陸の調節、壁面、床面などの左官仕上げの際
の平面度又はわん曲仕上面のチエツク、中央部が
僅かに高くなるようにわん曲させる天井吊作業に
おけるチエツクなどに適用して同様の効果が得ら
れる。
第２図は本発明の他の実施例の縦断面図で、光
ビーム発生装置２をクセノンランプなどの高輝度
光源８と、コリメータや集束レンズ等で構成され
光ビームＬを形成させる光学系（以下コメリメー
タという）９とで構成し、またオフセツト光学系
３を光ビームＬの光軸に対し45度傾斜する平行な
２つの反射面を有するプリズムで構成し、更に光
反射器５を直角円錐反射面５ａを有するプリズム
で構成したもので、５ｄはプリズム５の底面５ｂ
に貼付けた係護板、８ａ，９ａは支持部材、８
ｂ，９ｂは光軸調節ねじである。
ビーム発生装置２をクセノンランプなどの高輝度
光源８と、コリメータや集束レンズ等で構成され
光ビームＬを形成させる光学系（以下コメリメー
タという）９とで構成し、またオフセツト光学系
３を光ビームＬの光軸に対し45度傾斜する平行な
２つの反射面を有するプリズムで構成し、更に光
反射器５を直角円錐反射面５ａを有するプリズム
で構成したもので、５ｄはプリズム５の底面５ｂ
に貼付けた係護板、８ａ，９ａは支持部材、８
ｂ，９ｂは光軸調節ねじである。
このように構成した光ビーム平面基準器は、第
１図の実施例におけるような光反射器５を支持す
るための部材による“影”を生じず、更に、光ビ
ームL2の明るさを高めることができるので照射
線の視認が容易となるなど、取扱いが容易となる
利点がある。
１図の実施例におけるような光反射器５を支持す
るための部材による“影”を生じず、更に、光ビ
ームL2の明るさを高めることができるので照射
線の視認が容易となるなど、取扱いが容易となる
利点がある。
第３図は本発明の更に他の実施例の縦断面図
で、光ビーム発生装置２を取付基準面Ｓに対して
横向に配設し、反射鏡１０で光ビームＬを偏向さ
せて回転駆動装置４の中空回転軸４ａの軸中心線
に入射させ、中空回転軸４ａの他端に配設した反
射鏡（光反射器）５で90度偏向させて中空回転軸
４ａに形成した透孔１１から光ビームL2を出射
させる構成とし、回転駆動装置４に電機子捲線が
プリント配線で形成されているデイスク４ｅと、
駆動コイル４ｆとで構成されたデイスクモータを
適用したものである。なお１２は筐体１を三点で
支持するレベル調節ねじで、光ビームL2が走査
する基準面を取付基準面Ｓに対し僅かに傾斜させ
た状態で被測定面７に保持するためのものであ
る。
で、光ビーム発生装置２を取付基準面Ｓに対して
横向に配設し、反射鏡１０で光ビームＬを偏向さ
せて回転駆動装置４の中空回転軸４ａの軸中心線
に入射させ、中空回転軸４ａの他端に配設した反
射鏡（光反射器）５で90度偏向させて中空回転軸
４ａに形成した透孔１１から光ビームL2を出射
させる構成とし、回転駆動装置４に電機子捲線が
プリント配線で形成されているデイスク４ｅと、
駆動コイル４ｆとで構成されたデイスクモータを
適用したものである。なお１２は筐体１を三点で
支持するレベル調節ねじで、光ビームL2が走査
する基準面を取付基準面Ｓに対し僅かに傾斜させ
た状態で被測定面７に保持するためのものであ
る。
このように構成した光ビーム平面基準器は、被
測定面７に当接させて支持する取付基準面Ｓを光
ビームＬが走査する平面に対して所望の方向に傾
斜させることができるので、平面基準器の傾斜し
ている向を変えて被測定面７に保持することで平
面度のチエツクがより容易となる利点がある。光
ビーム発生装置２を横置きとすることでレベル調
節ねじ１２の間隔を広げ、かつ基準器の高さが低
くなるので取扱いが容易となる利点がある。
測定面７に当接させて支持する取付基準面Ｓを光
ビームＬが走査する平面に対して所望の方向に傾
斜させることができるので、平面基準器の傾斜し
ている向を変えて被測定面７に保持することで平
面度のチエツクがより容易となる利点がある。光
ビーム発生装置２を横置きとすることでレベル調
節ねじ１２の間隔を広げ、かつ基準器の高さが低
くなるので取扱いが容易となる利点がある。
第４図は本発明の他の実施例の縦断面図で、光
ビーム発生装置２に半導体レーザを適用し、かつ
回転駆動装置４の回転軸４ｇにオフセツトさせて
装着することで光学系を簡単な構成とし、かつ電
源を内蔵することでコードレスとしたものであ
る。
ビーム発生装置２に半導体レーザを適用し、かつ
回転駆動装置４の回転軸４ｇにオフセツトさせて
装着することで光学系を簡単な構成とし、かつ電
源を内蔵することでコードレスとしたものであ
る。
図において２は半導体レーザ、１３は取付部
材、１４は給電用のスリツプリング、１５はブラ
シ、１６は半導体レーザ及び駆動装置４の電源
で、筐体１には光軸調節用の窓１ｂと蓋１ｃを形
成するとともに、保護用の蓋１ｄを備えている。
材、１４は給電用のスリツプリング、１５はブラ
シ、１６は半導体レーザ及び駆動装置４の電源
で、筐体１には光軸調節用の窓１ｂと蓋１ｃを形
成するとともに、保護用の蓋１ｄを備えている。
なお半導体レーザから出射されるレーザ光L1
は現在実用されているものは赤外光であるので、
レーザ光L2の位置検出には赤外光検出器を配設
した光検出器を用いる必要がある。
は現在実用されているものは赤外光であるので、
レーザ光L2の位置検出には赤外光検出器を配設
した光検出器を用いる必要がある。
なお上記実施例は何れも光反射器５を筐体１か
ら突出させた位置に配置したものを示したがこの
構成に限られるものではなく、光反射器５の底面
を筐体１の外壁面と同じ面となるように、または
筐体１の外板の内面に当接するように配設し、光
ビームL2を筐体１に光ビームL2が通過するよう
に形成した透孔または窓から射出させる構成とし
てもよいことはいうまでもない。
ら突出させた位置に配置したものを示したがこの
構成に限られるものではなく、光反射器５の底面
を筐体１の外壁面と同じ面となるように、または
筐体１の外板の内面に当接するように配設し、光
ビームL2を筐体１に光ビームL2が通過するよう
に形成した透孔または窓から射出させる構成とし
てもよいことはいうまでもない。
また上記実施例は光反射器で90度偏向させ、光
ビームL2で一つの平面を走査する構成としたも
のを示したが、光反射器で偏向する角度を90度か
らずらし、光ビームL2でもとの光軸を中心線と
する円錐面を走査させる構成としてもよい。
ビームL2で一つの平面を走査する構成としたも
のを示したが、光反射器で偏向する角度を90度か
らずらし、光ビームL2でもとの光軸を中心線と
する円錐面を走査させる構成としてもよい。
本発明は以上説明したように、光ビーム発生装
置と、筐体から突出させる位置又は筐体面に接す
る位置に配設され、入射する光ビームを所定角度
偏向させる円錐形反射面又は平面反射面を有する
光反射器と、固定されている上記円錐形光反射器
に、もとの光軸から所定距離オフセツトさせた光
ビームを入射させるオフセツト光学系又は上記平
面光反射器を回転させる回転駆動装置とを備え、
上記光反射器で偏向された光ビームを施回させる
構成としたことを特徴とするもので、被測定面の
僅かな凹凸、わん曲などの状態を光ビームの照射
線のパターンとして直接視認できる効果がある。
置と、筐体から突出させる位置又は筐体面に接す
る位置に配設され、入射する光ビームを所定角度
偏向させる円錐形反射面又は平面反射面を有する
光反射器と、固定されている上記円錐形光反射器
に、もとの光軸から所定距離オフセツトさせた光
ビームを入射させるオフセツト光学系又は上記平
面光反射器を回転させる回転駆動装置とを備え、
上記光反射器で偏向された光ビームを施回させる
構成としたことを特徴とするもので、被測定面の
僅かな凹凸、わん曲などの状態を光ビームの照射
線のパターンとして直接視認できる効果がある。
第１図ないし第４図はそれぞれ本発明の一実施
例の縦断面図である。 符号の説明、１……筐体、１ａ，１ｂ，１１…
…透孔、２……光ビーム発生装置、２ａ，８ａ，
９ａ……支持部材、２ｂ，８ｂ，９ｂ……光軸調
節ねじ、３……オフセツト光学系、３ａ，３ｂ，
１０……反射鏡、４……回転駆動装置、４ａ……
中空回転軸、５……光反射器、５ａ……直角円錐
反射面、５ｂ……底面、６……連結部材、７……
被測定面、８……高輝度光源、９……コリメー
タ、１２……レベル調節ねじ。
例の縦断面図である。 符号の説明、１……筐体、１ａ，１ｂ，１１…
…透孔、２……光ビーム発生装置、２ａ，８ａ，
９ａ……支持部材、２ｂ，８ｂ，９ｂ……光軸調
節ねじ、３……オフセツト光学系、３ａ，３ｂ，
１０……反射鏡、４……回転駆動装置、４ａ……
中空回転軸、５……光反射器、５ａ……直角円錐
反射面、５ｂ……底面、６……連結部材、７……
被測定面、８……高輝度光源、９……コリメー
タ、１２……レベル調節ねじ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 光ビーム発生装置と、筐体から突出せる位置
又は筐体面に接する位置に配設され、入射する光
ビームを所定角度偏向させる円錐形反射面又は平
面反射面を有する光反射器と、固定されている上
記円錐形光反射器に、もとの光軸から所定距離オ
フセツトさせた光ビームを入射させるオフセツト
光学系又は上記平面光反射器を回転させる回転駆
動装置とを備え、上記光反射器で偏向された光ビ
ームを施回させる構成とした光ビーム面基準器。 ２ 同軸の透孔が形成されている中空回転軸を有
する回転駆動装置を備え、光ビームを上記中空回
転軸内を通して光反射器に入射させる構成とした
特許請求の範囲第１項記載の光ビーム面基準器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22295983A JPS60114710A (ja) | 1983-11-25 | 1983-11-25 | 光ビ−ム面基準器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22295983A JPS60114710A (ja) | 1983-11-25 | 1983-11-25 | 光ビ−ム面基準器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60114710A JPS60114710A (ja) | 1985-06-21 |
| JPH0127366B2 true JPH0127366B2 (ja) | 1989-05-29 |
Family
ID=16790559
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22295983A Granted JPS60114710A (ja) | 1983-11-25 | 1983-11-25 | 光ビ−ム面基準器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60114710A (ja) |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5272747U (ja) * | 1975-11-26 | 1977-05-31 |
-
1983
- 1983-11-25 JP JP22295983A patent/JPS60114710A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS60114710A (ja) | 1985-06-21 |
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