JPH0128334B2 - - Google Patents
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- JPH0128334B2 JPH0128334B2 JP55008990A JP899080A JPH0128334B2 JP H0128334 B2 JPH0128334 B2 JP H0128334B2 JP 55008990 A JP55008990 A JP 55008990A JP 899080 A JP899080 A JP 899080A JP H0128334 B2 JPH0128334 B2 JP H0128334B2
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- particle
- pulse
- particles
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/10—Investigating individual particles
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/10—Investigating individual particles
- G01N2015/1024—Counting particles by non-optical means
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Dispersion Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Biological Materials (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、液体中に懸濁する血球、血小板など
の粒子を微細孔に通過させ、粒子と粒子懸濁液と
の電気的差異または光学的差異に基づいて粒子を
検出する粒子分析装置、詳しくは従来のように粒
子の濃度や粒度によらず、粒子の分散状況、すな
わち検出パルスの分布から粒子の特性を分析する
ようにした粒子分析装置に関するものである。
の粒子を微細孔に通過させ、粒子と粒子懸濁液と
の電気的差異または光学的差異に基づいて粒子を
検出する粒子分析装置、詳しくは従来のように粒
子の濃度や粒度によらず、粒子の分散状況、すな
わち検出パルスの分布から粒子の特性を分析する
ようにした粒子分析装置に関するものである。
従来、血球、血小板などの粒子の特性を測定す
る方法としては、粒子の単位体積当りの個数、粒
子の平均の容積、粒子の容積の分布、粒子の形状
などのパラメータを測定し、赤血球、白血球、血
小板などの粒子の分類、種々のパラメータの他の
検体との比較、正常、異状の識別などを行う方法
がとられてきた。とくに血球などの分析測定は、
種々の血液疾患の検査、白血球の増加による病気
の診断に供せられている。一方、血球に限らず工
業分野における各種粒子の分析は、各種粒子を用
いる際の粒子の溶解状態や粒子の凝集状態を検知
して、プロセスを監視する際などに用いられてい
る。これらの分析は、従来の血球計数装置のよう
に液体中に懸濁する粒子を微細孔に通過させ、液
と粒子との電気的差異または光学的差異に基づい
て検出し、パルス電気信号に変換して、パルス数
やパルスの大きさに基づいて粒子のサイズの分
布、粒子の種類の弁別あるいは種々の統計処理を
行つている。
る方法としては、粒子の単位体積当りの個数、粒
子の平均の容積、粒子の容積の分布、粒子の形状
などのパラメータを測定し、赤血球、白血球、血
小板などの粒子の分類、種々のパラメータの他の
検体との比較、正常、異状の識別などを行う方法
がとられてきた。とくに血球などの分析測定は、
種々の血液疾患の検査、白血球の増加による病気
の診断に供せられている。一方、血球に限らず工
業分野における各種粒子の分析は、各種粒子を用
いる際の粒子の溶解状態や粒子の凝集状態を検知
して、プロセスを監視する際などに用いられてい
る。これらの分析は、従来の血球計数装置のよう
に液体中に懸濁する粒子を微細孔に通過させ、液
と粒子との電気的差異または光学的差異に基づい
て検出し、パルス電気信号に変換して、パルス数
やパルスの大きさに基づいて粒子のサイズの分
布、粒子の種類の弁別あるいは種々の統計処理を
行つている。
通常、血球計数装置などにおける粒子検出装置
の出力信号パルスは、たとえ均一に粒子懸濁液を
分散させても、同時に２個以上の粒子が検出領域
に入る同時通過と称される現象が生じ、このため
パルス間隔は数マイクロ秒から数百マイクロ秒ま
で分布している。したがつて数マイクロ秒の高速
で処理するような高速の演算装置を用い、それぞ
れのパルス間隔時間をその都度測定し記憶する方
法が考えられるが、その反面数百マイクロ秒の間
隔の場合もあり、このときは待ち時間となつて待
機状態でありきわめて不経済である。通常、赤血
球などの検出信号の平均のパルス間隔は、0.1ミ
リ秒から0.3ミリ秒程度である。すなわち、通常
赤血球などの計数測定の際には、一例として100
ミクロン程度の微細孔が用いられ、赤血球の場合
は血液を５万程度に希釈し、0.25c.c.の希釈血液に
ついて測定すると、正常人では赤血球数は500万
個／mm3程度であり、したがつて25000個の血球を
実際に検出することになる。この場合、血球計数
装置の表示は50分の１の分周回路を入れ、500と
いう数字と、単位を百万個と表示することによ
り、もとの濃度に換算した値が得られる。計数測
定時間は５〜７秒程度であり、したがつて平均の
パルス間隔は500万個／mm3の場合で、0.2〜0.28ミ
リ秒である。赤血球濃度が２倍の1000万個／mm3
となつても、0.1ミリ秒程度の平均パルス時間で
ある。
の出力信号パルスは、たとえ均一に粒子懸濁液を
分散させても、同時に２個以上の粒子が検出領域
に入る同時通過と称される現象が生じ、このため
パルス間隔は数マイクロ秒から数百マイクロ秒ま
で分布している。したがつて数マイクロ秒の高速
で処理するような高速の演算装置を用い、それぞ
れのパルス間隔時間をその都度測定し記憶する方
法が考えられるが、その反面数百マイクロ秒の間
隔の場合もあり、このときは待ち時間となつて待
機状態でありきわめて不経済である。通常、赤血
球などの検出信号の平均のパルス間隔は、0.1ミ
リ秒から0.3ミリ秒程度である。すなわち、通常
赤血球などの計数測定の際には、一例として100
ミクロン程度の微細孔が用いられ、赤血球の場合
は血液を５万程度に希釈し、0.25c.c.の希釈血液に
ついて測定すると、正常人では赤血球数は500万
個／mm3程度であり、したがつて25000個の血球を
実際に検出することになる。この場合、血球計数
装置の表示は50分の１の分周回路を入れ、500と
いう数字と、単位を百万個と表示することによ
り、もとの濃度に換算した値が得られる。計数測
定時間は５〜７秒程度であり、したがつて平均の
パルス間隔は500万個／mm3の場合で、0.2〜0.28ミ
リ秒である。赤血球濃度が２倍の1000万個／mm3
となつても、0.1ミリ秒程度の平均パルス時間で
ある。
一般に、工業分野における粒子検出装置におい
ても、平均のパルス間隔時間は上記の程度になる
ように設計されている。近年、分析装置などに組
み込まれるようになつたマイクロコンピユータの
処理時間は、高速のものでも数マイクロ秒以上要
し、通常のものでは数十マイクロ秒あればデータ
を読み、該当するメモリの番地の記憶している数
を読み出し、１を加えさらに書き込むといつた処
理が可能である。
ても、平均のパルス間隔時間は上記の程度になる
ように設計されている。近年、分析装置などに組
み込まれるようになつたマイクロコンピユータの
処理時間は、高速のものでも数マイクロ秒以上要
し、通常のものでは数十マイクロ秒あればデータ
を読み、該当するメモリの番地の記憶している数
を読み出し、１を加えさらに書き込むといつた処
理が可能である。
パルス間隔は数マイクロ秒から数百マイクロ秒
まで分布しており、数マイクロ秒のパルス間隔に
対処するのには、数マイクロ秒で処理できる高速
の演算装置を必要とするが、それでも処理が間に
合わない場合があるので、１つの解析が済むまで
パルスの入力を禁止するなどの処理が必要とな
り、正確な測定ができない。
まで分布しており、数マイクロ秒のパルス間隔に
対処するのには、数マイクロ秒で処理できる高速
の演算装置を必要とするが、それでも処理が間に
合わない場合があるので、１つの解析が済むまで
パルスの入力を禁止するなどの処理が必要とな
り、正確な測定ができない。
一方、平均パルス間隔は100マイクロ秒のオー
ダであるので、数マイクロ秒の処理能力を持つ演
算装置を用意することは不経済である。すなわ
ち、粒子検出装置などの信号を受けて、そのパル
ス間隔を直接測定演算して分析することは不経済
であり、正確な測定も不可能である。
ダであるので、数マイクロ秒の処理能力を持つ演
算装置を用意することは不経済である。すなわ
ち、粒子検出装置などの信号を受けて、そのパル
ス間隔を直接測定演算して分析することは不経済
であり、正確な測定も不可能である。
本発明は上記の諸点に鑑みなされたもので、従
来の粒子に関するパラメータに、さらに分散の度
合としてのパルス間隔に関するパラメータを加
え、パルス間隔はそのまま生の状態で処理し、演
算処理は平均化されたものについて行うように構
成することにより、利用範囲が広くかつ低コスト
化をはかることができる粒子分析装置の提供を目
的とするものである。
来の粒子に関するパラメータに、さらに分散の度
合としてのパルス間隔に関するパラメータを加
え、パルス間隔はそのまま生の状態で処理し、演
算処理は平均化されたものについて行うように構
成することにより、利用範囲が広くかつ低コスト
化をはかることができる粒子分析装置の提供を目
的とするものである。
本発明の粒子分析装置は、図面を参照して説明
すれば、液体中に懸濁する粒子を微細孔に通過さ
せ、粒子と粒子懸濁液との電気的差異または光学
的差異に基づいて粒子を検出し、粒子の大きさに
比例した信号を発生する粒子検出装置１と、この
粒子検出装置からの信号を受けて信号のピーク位
置を検出する信号ピーク位置検出装置２と、この
信号ピーク位置検出装置の出力信号を受けて出力
端を次々に順送りさせてパルスを発生するパルス
順送り装置３と、このパルス順送り装置からの複
数個の出力を受けてゲート信号を発生させる複数
個のRSフリツプフロツプ４と、これらのRSフリ
ツプフロツプのゲート信号により基準パルスの通
過制御を行う複数個のゲート回路５と、これらの
ゲート回路に接続されパルスの間隔を時間に変換
するための基準パルスを発生させる基準パルス発
生装置６と、前記ゲート回路に接続されそれぞれ
のパルス間隔に相当する時間を計数する複数個の
計数回路７と、これらの計数回路に接続され計数
回路の計数値を読み所定の演算順序により粒子の
分散度合の分布曲線や種々のパラメータを演算す
る機能を有する記憶演算回路８と、この記憶演算
回路に接続された表示装置９および（または）印
字装置１０とを包含してなることを特徴としてい
る。
すれば、液体中に懸濁する粒子を微細孔に通過さ
せ、粒子と粒子懸濁液との電気的差異または光学
的差異に基づいて粒子を検出し、粒子の大きさに
比例した信号を発生する粒子検出装置１と、この
粒子検出装置からの信号を受けて信号のピーク位
置を検出する信号ピーク位置検出装置２と、この
信号ピーク位置検出装置の出力信号を受けて出力
端を次々に順送りさせてパルスを発生するパルス
順送り装置３と、このパルス順送り装置からの複
数個の出力を受けてゲート信号を発生させる複数
個のRSフリツプフロツプ４と、これらのRSフリ
ツプフロツプのゲート信号により基準パルスの通
過制御を行う複数個のゲート回路５と、これらの
ゲート回路に接続されパルスの間隔を時間に変換
するための基準パルスを発生させる基準パルス発
生装置６と、前記ゲート回路に接続されそれぞれ
のパルス間隔に相当する時間を計数する複数個の
計数回路７と、これらの計数回路に接続され計数
回路の計数値を読み所定の演算順序により粒子の
分散度合の分布曲線や種々のパラメータを演算す
る機能を有する記憶演算回路８と、この記憶演算
回路に接続された表示装置９および（または）印
字装置１０とを包含してなることを特徴としてい
る。
粒子検出装置１から発する粒子の体積に比例し
た出力信号は信号ピーク位置検出装置２に送ら
れ、ここで信号のピーク位置を検出し、粒子信号
よりも鋭くかつ高さの均一なパルスを発生する。
この信号ピーク位置検出装置２の出力信号は、パ
ルス順送り装置３の出力端を次々と順送りさせて
パルスを発生させる。一方、RSフリツプフロツ
プ４1，４2，４3…４oの入力端子は、Ｓ（セツト）
およびＲ（リセツト）の２つの端子を有しており、
パルス順送り装置３の近接する出力端子に接続さ
れたＲ（リセツト）入力端子は、次のRSフリツプ
フロツプのＳ（セツト）端子と共通になつている。
したがつて、まずパルス順送り装置３のある端子
でセツト状態となつたRSフリツプフロツプは、
パルス順送り装置３の次の端子の出力が生じると
リセツトされ、その間の信号がRSフリツプフロ
ツプの出力信号（ゲート信号）となつて次のゲー
ト回路５1，５2，５3…５oへ送られる。これらの
ゲート回路は基準パルス発生装置６からの時間に
相当する基準パルスの通過を制御し、パルス間隔
が何マイクロ秒であつたかを通過するパルスを計
数回路７1，７2，７3…７oで計数することによつ
て測定できる。すなわち計数回路の計数値がそれ
ぞれのパルス間隔に相当する計数値である。次の
記憶演算回路８は、計数回路の計数値（パルス間
隔時間相当）を読み、読出書込メモリ１３の該当
する番地、すなわち対応する時間の番地の既に記
憶されている数に１を加える演算処理が行われ、
最後に読み出した計数回路７1，７2，７3…７oの
計数値をリセツトする。このように次々と計数回
路に計数された時間に相当するパルスは、記憶演
算回路８によつて所定番地のメモリに分類され記
憶される。計数回路の最後まで行くと、再び始め
の所に戻り順次繰り返される。以上の演算は読出
専用メモリ１２に記憶された演算順序によつて行
われる。入力装置１１によつて選択された条件、
たとえば測定を100個のパルス間隔測定で終了さ
せるとか、あるいは所定の時間で終了させるとか
の条件で一連の測定が終了すると、続いて表示装
置９に表示され、印字装置１０でグラフが印字さ
れる。
た出力信号は信号ピーク位置検出装置２に送ら
れ、ここで信号のピーク位置を検出し、粒子信号
よりも鋭くかつ高さの均一なパルスを発生する。
この信号ピーク位置検出装置２の出力信号は、パ
ルス順送り装置３の出力端を次々と順送りさせて
パルスを発生させる。一方、RSフリツプフロツ
プ４1，４2，４3…４oの入力端子は、Ｓ（セツト）
およびＲ（リセツト）の２つの端子を有しており、
パルス順送り装置３の近接する出力端子に接続さ
れたＲ（リセツト）入力端子は、次のRSフリツプ
フロツプのＳ（セツト）端子と共通になつている。
したがつて、まずパルス順送り装置３のある端子
でセツト状態となつたRSフリツプフロツプは、
パルス順送り装置３の次の端子の出力が生じると
リセツトされ、その間の信号がRSフリツプフロ
ツプの出力信号（ゲート信号）となつて次のゲー
ト回路５1，５2，５3…５oへ送られる。これらの
ゲート回路は基準パルス発生装置６からの時間に
相当する基準パルスの通過を制御し、パルス間隔
が何マイクロ秒であつたかを通過するパルスを計
数回路７1，７2，７3…７oで計数することによつ
て測定できる。すなわち計数回路の計数値がそれ
ぞれのパルス間隔に相当する計数値である。次の
記憶演算回路８は、計数回路の計数値（パルス間
隔時間相当）を読み、読出書込メモリ１３の該当
する番地、すなわち対応する時間の番地の既に記
憶されている数に１を加える演算処理が行われ、
最後に読み出した計数回路７1，７2，７3…７oの
計数値をリセツトする。このように次々と計数回
路に計数された時間に相当するパルスは、記憶演
算回路８によつて所定番地のメモリに分類され記
憶される。計数回路の最後まで行くと、再び始め
の所に戻り順次繰り返される。以上の演算は読出
専用メモリ１２に記憶された演算順序によつて行
われる。入力装置１１によつて選択された条件、
たとえば測定を100個のパルス間隔測定で終了さ
せるとか、あるいは所定の時間で終了させるとか
の条件で一連の測定が終了すると、続いて表示装
置９に表示され、印字装置１０でグラフが印字さ
れる。
以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明す
る。第１図は本発明の粒子分析装置の一実施例を
示す系統的説明図である。本例の粒子分析装置
は、液体中に懸濁する粒子を微細孔に通過させ、
粒子と粒子懸濁液との電気的差異または光学的差
異に基づいて粒子を検出し、粒子の大きさに比例
した信号を発生する粒子検出装置１と、この粒子
検出装置１からの信号を受けて信号のピーク位置
を検出し、粒子信号よりも鋭くかつ高さの均一な
パルスを発生させる信号ピーク位置検出装置２
と、この信号ピーク位置検出装置２の出力信号を
受けて出力端を次々に順送りさせてパルスを発生
する、シフトレジスタやリングカウンタなどで構
成されるパルス順送り装置３と、このパルス順送
り装置３からの複数個の出力を受けてゲート信号
を発生させる複数個のRSフリツプフロツプ４1，
４2，４3…４oと、これらのRSフリツプフロツプ
のゲート信号により基準パルスの通過制御を行う
複数個のゲート回路５1，５2，５3…５oと、これ
らのゲート回路に接続されパルスの間隔を時間に
変換するための基準パルスを発生させる基準パル
ス発生装置６と、前記ゲート回路５1，５2，５3
…５oに接続されそれぞれのパルス間隔に相当す
る時間を計数する複数個の計数回路７1，７2，７
３…７oと、これらの計数回路に接続され計数回路
の計数値を読み所定の演算順序により粒子の分散
度合の分布曲線や、後述の種々のパラメータを演
算する機能を有する記憶演算回路８と、この記憶
演算回路８に接続された表示装置９および印字装
置１０とを包含している。１１はデータや条件を
入力させるための入力装置、１２は読出専用メモ
リ、１３は読出書込メモリである。なお表示装置
９と印字装置１０の両方を設ける代りに、表示装
置または印字装置のいずれかを設ける場合もあ
る。
る。第１図は本発明の粒子分析装置の一実施例を
示す系統的説明図である。本例の粒子分析装置
は、液体中に懸濁する粒子を微細孔に通過させ、
粒子と粒子懸濁液との電気的差異または光学的差
異に基づいて粒子を検出し、粒子の大きさに比例
した信号を発生する粒子検出装置１と、この粒子
検出装置１からの信号を受けて信号のピーク位置
を検出し、粒子信号よりも鋭くかつ高さの均一な
パルスを発生させる信号ピーク位置検出装置２
と、この信号ピーク位置検出装置２の出力信号を
受けて出力端を次々に順送りさせてパルスを発生
する、シフトレジスタやリングカウンタなどで構
成されるパルス順送り装置３と、このパルス順送
り装置３からの複数個の出力を受けてゲート信号
を発生させる複数個のRSフリツプフロツプ４1，
４2，４3…４oと、これらのRSフリツプフロツプ
のゲート信号により基準パルスの通過制御を行う
複数個のゲート回路５1，５2，５3…５oと、これ
らのゲート回路に接続されパルスの間隔を時間に
変換するための基準パルスを発生させる基準パル
ス発生装置６と、前記ゲート回路５1，５2，５3
…５oに接続されそれぞれのパルス間隔に相当す
る時間を計数する複数個の計数回路７1，７2，７
３…７oと、これらの計数回路に接続され計数回路
の計数値を読み所定の演算順序により粒子の分散
度合の分布曲線や、後述の種々のパラメータを演
算する機能を有する記憶演算回路８と、この記憶
演算回路８に接続された表示装置９および印字装
置１０とを包含している。１１はデータや条件を
入力させるための入力装置、１２は読出専用メモ
リ、１３は読出書込メモリである。なお表示装置
９と印字装置１０の両方を設ける代りに、表示装
置または印字装置のいずれかを設ける場合もあ
る。
上記のように構成された本発明の粒子分析装置
において、粒子検出装置１から発する粒子の体積
に比例した出力信号は信号ピーク位置検出装置２
に送られ、ここで信号のピーク位置を検出し、粒
子信号よりも鋭くかつ高さの均一なパルスを発生
する。この信号ピーク位置検出装置２の出力信号
は、パルス順送り装置３の出力端を次々と順送り
させてパルスを発生させる。一方、RSフリツプ
フロツプ４1，４2，４3…４oの入力端子は、Ｓ
（セツト）およびＲ（リセツト）の２つの端子を有
しており、パルス順送り装置３の近接する出力端
子に接続されたＲ（リセツト）入力端子は、次の
RSフリツプフロツプのＳ（セツト）端子と共通に
なつている。したがつて、まずパルス順送り装置
３のある端子でセツト状態となつたRSフリツプ
フロツプは、パルス順送り装置３の次の端子の出
力が生じるとリセツトされ、その間の信号がRS
フリツプフロツプの出力信号（ゲート信号）とな
つて次のゲート回路５1，５2，５3…５oへ送られ
る。これらのゲート回路は基準パルス発生装置６
からの時間に相当する基準パルスの通過を制御
し、パルス間隔が何マイクロ秒であつたかを通過
するパルスを計数回路７1，７2，７3…７oで計数
することによつて測定できる。すなわち計数回路
の計数値がそれぞれのパルス間隔に相当する計数
値である。次の記憶演算回路８は、計数回路の計
数値（パルス間隔時間相当）を読み、読出書込メ
モリ１３の該当する番地、すなわち対応する時間
の番地の既に記憶されている数に１を加える演算
処理が行われ、最後に読み出した計数回路７1，
７2，７3…７oの計数値をリセツトする。このよ
うに次々と計数回路に計数された時間に相当する
パルスは、記憶演算回路８によつて所定番地のメ
モリに分類され記憶される。計数回路の最後まで
行くと、再び始めの所に戻り順次繰り返される。
以上の演算は読出専用メモリ１２に記憶された演
算順序によつて行われる。入力装置１１によつて
選択された条件、たとえば測定を100個のパルス
間隔測定で終了させるとか、あるいは所定の時間
で終了させるとかの条件で一連の測定が終了する
と、続いて表示装置９に表示され、印字装置１０
でグラフが印字される。
において、粒子検出装置１から発する粒子の体積
に比例した出力信号は信号ピーク位置検出装置２
に送られ、ここで信号のピーク位置を検出し、粒
子信号よりも鋭くかつ高さの均一なパルスを発生
する。この信号ピーク位置検出装置２の出力信号
は、パルス順送り装置３の出力端を次々と順送り
させてパルスを発生させる。一方、RSフリツプ
フロツプ４1，４2，４3…４oの入力端子は、Ｓ
（セツト）およびＲ（リセツト）の２つの端子を有
しており、パルス順送り装置３の近接する出力端
子に接続されたＲ（リセツト）入力端子は、次の
RSフリツプフロツプのＳ（セツト）端子と共通に
なつている。したがつて、まずパルス順送り装置
３のある端子でセツト状態となつたRSフリツプ
フロツプは、パルス順送り装置３の次の端子の出
力が生じるとリセツトされ、その間の信号がRS
フリツプフロツプの出力信号（ゲート信号）とな
つて次のゲート回路５1，５2，５3…５oへ送られ
る。これらのゲート回路は基準パルス発生装置６
からの時間に相当する基準パルスの通過を制御
し、パルス間隔が何マイクロ秒であつたかを通過
するパルスを計数回路７1，７2，７3…７oで計数
することによつて測定できる。すなわち計数回路
の計数値がそれぞれのパルス間隔に相当する計数
値である。次の記憶演算回路８は、計数回路の計
数値（パルス間隔時間相当）を読み、読出書込メ
モリ１３の該当する番地、すなわち対応する時間
の番地の既に記憶されている数に１を加える演算
処理が行われ、最後に読み出した計数回路７1，
７2，７3…７oの計数値をリセツトする。このよ
うに次々と計数回路に計数された時間に相当する
パルスは、記憶演算回路８によつて所定番地のメ
モリに分類され記憶される。計数回路の最後まで
行くと、再び始めの所に戻り順次繰り返される。
以上の演算は読出専用メモリ１２に記憶された演
算順序によつて行われる。入力装置１１によつて
選択された条件、たとえば測定を100個のパルス
間隔測定で終了させるとか、あるいは所定の時間
で終了させるとかの条件で一連の測定が終了する
と、続いて表示装置９に表示され、印字装置１０
でグラフが印字される。
つぎに測定結果の例を第２図〜第５図に基づい
て説明する。第２図はほぼ通常の粒子の分散度合
において得られる分布曲線で、ポアソン分布に近
い曲線となる。一方、粒子相互間の接近が生じて
凝集が生じかけていると思われる分布は、第３図
に示すように双峰性の分布曲線となる。第４ａ図
〜第４ｃ図は血液の希釈溶液に試薬を加え、凝集
が生じ易い状態として測定を行つた例で、時間の
経過とともに凝集塊が生じて分散度合が次第に広
がつていく。さらに大きな凝集塊が多くなり、間
隔の広い部分にピークができる。このように赤血
球凝集反応、血小板凝集反応などを明確に検知す
ることができる。これらの検知のためには読出書
込メモリ１３を複数個に区分し、第１回目の測定
データ、第２回目の測定データ…という具合に記
憶させる。したがつて同一グラフ上に重複させて
の記録または表示も可能である。さらに第５図に
示すように、入力装置１１により演算レベルを設
定させ、次に示すようなパラメータを求めること
も可能である。
て説明する。第２図はほぼ通常の粒子の分散度合
において得られる分布曲線で、ポアソン分布に近
い曲線となる。一方、粒子相互間の接近が生じて
凝集が生じかけていると思われる分布は、第３図
に示すように双峰性の分布曲線となる。第４ａ図
〜第４ｃ図は血液の希釈溶液に試薬を加え、凝集
が生じ易い状態として測定を行つた例で、時間の
経過とともに凝集塊が生じて分散度合が次第に広
がつていく。さらに大きな凝集塊が多くなり、間
隔の広い部分にピークができる。このように赤血
球凝集反応、血小板凝集反応などを明確に検知す
ることができる。これらの検知のためには読出書
込メモリ１３を複数個に区分し、第１回目の測定
データ、第２回目の測定データ…という具合に記
憶させる。したがつて同一グラフ上に重複させて
の記録または表示も可能である。さらに第５図に
示すように、入力装置１１により演算レベルを設
定させ、次に示すようなパラメータを求めること
も可能である。
(a) 最多間隔 75マイクロ秒
(b) 最小間隔 15マイクロ秒
(c) 最大間隔 350マイクロ秒
平均間隔 120マイクロ秒
間間隔 182.5マイクロ秒
これらの条件は入力装置１１からの設定条件に
基づき、読出専用メモリ１２の演算順序に従つて
読出書込メモリ１３内に記憶されたデータのピー
ク位置、演算レベルとクロスする位置、あるいは
トータルの平均演算などを求めることにより得る
ことができる。勿論、設定レベルや設定した測定
終了の時間あるいは測定間隔数なども同時に印
字、表示することができる。以上のデータは、従
来の粒子に関する情報、たとえば赤血球の粒度分
布曲線などとともに、粒子の特性、種類分けある
いは経時変化などを測定することにより、臨床上
あるいは工業分野などの面で役立てることができ
る。
基づき、読出専用メモリ１２の演算順序に従つて
読出書込メモリ１３内に記憶されたデータのピー
ク位置、演算レベルとクロスする位置、あるいは
トータルの平均演算などを求めることにより得る
ことができる。勿論、設定レベルや設定した測定
終了の時間あるいは測定間隔数なども同時に印
字、表示することができる。以上のデータは、従
来の粒子に関する情報、たとえば赤血球の粒度分
布曲線などとともに、粒子の特性、種類分けある
いは経時変化などを測定することにより、臨床上
あるいは工業分野などの面で役立てることができ
る。
以上説明したように本発明の粒子分析装置は、
パルス順送り装置に備えかつRSフリツプフロツ
プ、ゲート回路、計数回路などからなる複数列の
パルス間隔測定装置を備えるものであるから、パ
ルス順送り装置により別々の計数回路に間隔に相
当するパルス数を計数させることにより、平均化
された演算を実施することができ、装置のコスト
ダウンをはかることができる。また従来の粒子に
関する情報にさらに追加の情報を与えることがで
き、血小板凝集反応などの医学面、あるいは工業
分野の面で貢献できるデータを得ることができ
る。
パルス順送り装置に備えかつRSフリツプフロツ
プ、ゲート回路、計数回路などからなる複数列の
パルス間隔測定装置を備えるものであるから、パ
ルス順送り装置により別々の計数回路に間隔に相
当するパルス数を計数させることにより、平均化
された演算を実施することができ、装置のコスト
ダウンをはかることができる。また従来の粒子に
関する情報にさらに追加の情報を与えることがで
き、血小板凝集反応などの医学面、あるいは工業
分野の面で貢献できるデータを得ることができ
る。
第１図は本発明の粒子分析装置の一実施例を示
す系統的説明図、第２図〜第５図は測定結果の例
を示す曲線図である。 １……粒子検出装置、２……信号ピーク位置検
出装置、３……パルス順送り装置、４1，４2，４
３…４o……RSフリツプフロツプ、５1，５2，５3
…５o……ゲート回路、６……基準パルス発生装
置、７1，７2，７3…７o……計数回路、８……記
憶演算回路、９……表示装置、１０……印字装
置、１１……入力装置、１２……読出専用メモ
リ、１３……読出書込メモリ。
す系統的説明図、第２図〜第５図は測定結果の例
を示す曲線図である。 １……粒子検出装置、２……信号ピーク位置検
出装置、３……パルス順送り装置、４1，４2，４
３…４o……RSフリツプフロツプ、５1，５2，５3
…５o……ゲート回路、６……基準パルス発生装
置、７1，７2，７3…７o……計数回路、８……記
憶演算回路、９……表示装置、１０……印字装
置、１１……入力装置、１２……読出専用メモ
リ、１３……読出書込メモリ。
Claims (1)
- １ 液体中に懸濁する粒子を微細孔に通過させ、
粒子と粒子懸濁液との電気的差異または光学的差
異に基づいて粒子を検出し、粒子の大きさに比例
した信号を発生する粒子検出装置と、この粒子検
出装置からの信号を受けて信号のピーク位置を検
出する信号ピーク位置検出装置と、この信号ピー
ク位置検出装置の出力信号を受けて出力端を次々
に順送りさせてパルスを発生するパルス順送り装
置と、このパルス順送り装置からの複数個の出力
を受けてゲート信号を発生させる複数個のRSフ
リツプフロツプと、これらのRSフリツプフロツ
プのゲート信号により基準パルスの通過制御を行
う複数個のゲート回路と、これらのゲート回路に
接続されパルスの間隔を時間に変換するための基
準パルスを発生させる基準パルス発生装置と、前
記ゲート回路に接続されそれぞれのパルス間隔に
相当する時間を計数する複数個の計数回路と、こ
れらの計数回路に接続され計数回路の計数値を読
み所定の演算順序により粒子の分散度合の分布曲
線や種々のパラメータを演算する機能を有する記
憶演算回路と、この記憶演算回路に接続された表
示装置および（または）印字装置とを包含してな
ることを特徴とする粒子分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP899080A JPS56106135A (en) | 1980-01-28 | 1980-01-28 | Particle analyzer |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP899080A JPS56106135A (en) | 1980-01-28 | 1980-01-28 | Particle analyzer |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS56106135A JPS56106135A (en) | 1981-08-24 |
| JPH0128334B2 true JPH0128334B2 (ja) | 1989-06-02 |
Family
ID=11708114
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP899080A Granted JPS56106135A (en) | 1980-01-28 | 1980-01-28 | Particle analyzer |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS56106135A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58113735A (ja) * | 1981-12-26 | 1983-07-06 | Toa Medical Electronics Co Ltd | 血液分析装置 |
-
1980
- 1980-01-28 JP JP899080A patent/JPS56106135A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS56106135A (en) | 1981-08-24 |
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