JPH0128683Y2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0128683Y2
JPH0128683Y2 JP17708483U JP17708483U JPH0128683Y2 JP H0128683 Y2 JPH0128683 Y2 JP H0128683Y2 JP 17708483 U JP17708483 U JP 17708483U JP 17708483 U JP17708483 U JP 17708483U JP H0128683 Y2 JPH0128683 Y2 JP H0128683Y2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
cassette
wafer
light
thin piece
thin
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP17708483U
Other languages
English (en)
Other versions
JPS6083245U (ja
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP17708483U priority Critical patent/JPS6083245U/ja
Publication of JPS6083245U publication Critical patent/JPS6083245U/ja
Application granted granted Critical
Publication of JPH0128683Y2 publication Critical patent/JPH0128683Y2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Controlling Sheets Or Webs (AREA)
  • Sheets, Magazines, And Separation Thereof (AREA)
  • Warehouses Or Storage Devices (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本考案は、薄片を収納したカセツトより、当該
薄片を1枚ずつ取り出す装置、または、カセツト
へ1枚ずつ収納する装置の検知装置に関し、具体
的には、半導体基板(以下、ウエハと称する)の
製造過程で、複数のウエハを収納したカセツト
(収納容器)より、1枚ずつウエハを取り出す際、
次に取り出すべきウエハの有無を検知するための
装置に関するものである。
〔従来の技術とその課題〕
従来、カセツトに収納された複数のウエハを1
枚ずつ取り出し、搬送ベルトに載置して搬送する
ための装置は、第1図に示すような構成になつて
いる。この装置において、ウエハ2を収納したカ
セツト3はエレベータテーブル4に載置され、こ
のエレベータテーブル4を所定のピツチで段階的
に下降させることにより、カセツト3内のウエハ
2を1枚ずつ搬送ベルト5上に移乗させ搬出して
いる。このエレベータテーブル4は送りネジ7の
回転により、ガイド6,6に沿つて前記したごと
く所定のピツチずつ下降または上昇する。したが
つて、カセツト3内のウエハ2を搬出する場合に
は、先ず、エレベータテーブル4を下降し、カセ
ツト3内に収納された、次に送り出すべきウエハ
2を検出する必要がある。また、かかるウエハ2
の検知手段は、以後の処理工程を自動的に作動さ
せるためにも必要であり、かかる検知手段として
は、従来より、エアセンサー方式、メカニカ
ル方式、反射光方式、透過光方式、等の方式
が知られている。
前記エアセンサー方式は、エアの噴出圧力の微
小な変化を感知して、エアノズル上のウエハの有
無を検知する方式で、この場合には、噴出される
エアによつてウエハ表面に、埃等の微小な不純物
が付着するという問題点があつた。
次にメカニカル方式は、ウエハの裏面に触針等
が接触したとき、この触針の他方に設けたセンサ
ーを作動させ、ウエハの有無を検知する方式で、
この場合、触針等がウエハ裏面に接触したとき、
裏面にキズをつけるという問題点があつた。
次に反射光方式は、例えば特開昭57−157536号
公報に開示されたような検出手段が知られてい
る。これは第1図に示すように検知手段1を反射
型光センサーとし、ウエハ2が搬送ベルト5の上
もしくは上部に有るか否かを、ウエハ2の裏面か
らの反射光をセンサーで感知することによつて検
出する方法で、ウエハ2の裏面と検知手段は接触
しないためキズが発生したりすることはないが、
ウエハ2の裏面側の表面処理条件によつてはセン
サーによる感知が不安定になることがあつた。例
えば、ウエハ裏面にSiO2膜がある場合、入射光
が吸収されやすく、また、ウエハ裏面が窒化処理
されている場合、入射光が散乱するため、反射光
を充分感知できず、搬送ベルト5上にウエハ2が
ある場合でも、ウエハ2不存在と検知する誤動作
がしばしば生じていた。
更に透過光方式としては、第2図にその1例を
示すように、投光部8を搬送ベルト5の上側に、
受光部9を搬送ベルト5の下側にそれぞれ装備
し、投光部8から受光部9に照射する光ビーム
を、カセツト3内の、次に送り出されるできウエ
ハ2が遮ることにより、ウエハ2の有無を検知す
るものである。かかる検出装置では、投光部8と
受光部9を搬送方向と同一方向で、かつ、搬送ベ
ルト5,5間の中央に装備し、更に、投光部8と
搬送ベルト5との間隔を、ウエハ2が通過できる
程度のスペースをあけている。その理由は、本出
願人が以前に出願した実開昭56−81535号公報で
も開示しているように、カセツト3内のウエハ2
が空になつた場合、エレベータテーブル4を搬送
ベルト5より上昇させ、エレベータテーブル4と
搬送ベルト5との間に、後方より送られてくるウ
エハ2を通過させるためである。
ところで、この第2図の場合、カセツト3内で
ウエハ2を積載収容するピツチは、通常、決まつ
ているため、ウエハ2の直径が、例えば、100mm
〜125mm程度のものでは、投光部8および受光部
9は比較的近接して装備することができるが、ウ
エハ2の直径が150mm以上になると、投光部8と
受光部9との相対位置、投光角度等を調整しなけ
れば、投光部8からの光ビームを複数枚のウエハ
2が遮ることとなり、最下位のウエハ2が搬送ベ
ルト5に載置され、カセツト3から搬送されて
も、まだその上のウエハ2が光ビームを遮断して
いるため、カセツト3が下降せず、次のウエハ2
が搬送ベルト5上に載置されないことになる。そ
のため、投光部8の位置をカセツト3より離した
位置に装備することも考えられるが、各種のウエ
ハ処理装置を設置したクリーンルーム内では、で
きる限りその装置そのものをコンパクトにしたい
現状にすれば、この対策にも難点が潜在する。
〔課題を解決するための手段〕
本考案は、これらの従来の検出装置における欠
点を一挙に解決しようとして案出されたもので、
ウエハの直径が大きくなつた場合(最近大きくな
る傾向にある)でも、所定のピツチのカセツト内
の次に送り出すべきウエハの有無を確実に検知し
得る検出装置を提供するものであり、その要旨と
するところは、複数の薄片を等間隔に収納できる
カセツトが載置される上下動可能なエレベータテ
ーブルと、該エレベータテーブル上に載置された
カセツトに対向し、当該エレベータテーブルの上
下動と共動して薄片をカセツトに給排する一対の
搬送ベルトとから構成されたカセツト式薄片搬出
入装置において、前記一対の搬送ベルトより外側
で、かつ最小寸法の薄片が収納されるカセツト内
面側であつて、検知すべき薄片を含む面に対し上
下に齟齬する位置で対向させた一対の投光部及び
受光部から成る透過センサーを、投光部からの光
ビームがカセツト内の最下位に収納された薄片に
よつてのみ遮断されるように配置したカセツト式
薄片搬出入用薄片検知装置にある。
〔実施例〕
以下、本考案の構成を第3図に示す実施例によ
り詳細に説明する。第3図は第2図のA〜A断面
図で、本実施例では第2図に示す従来例における
共通部分は示していない。
第3図のウエハ12は、例えば、直径100mm、
ウエハ13は、例えば、直径150mmのもので、本
実施例における投光部8および受光部9は、図示
するごとく、搬出ベルト5,5の外側の、例えば
X′〜X′線を含む垂直面内で、かつ最小寸法のウ
エハが収納されるカセツト内面側に投光部8から
受光部9に投射される光ビームの光軸がウエハ1
2,13に対して、所定の角度をなすよう配置さ
れる。
このように、投光部8と受光部9を配置する
と、ウエハの寸法が、例えば、ウエハ12からウ
エハ13のように大きくなつた場合でも、ウエハ
2枚の検出を防止するため、後述するごとく、ウ
エハに対する投光部8からの光ビームの投射角度
を小さくする必要がない。すなわち、従来のよう
に搬送ベルト5,5間のX〜X線を含む垂直面内
に投光部8と受光部9が配置されている場合、ウ
エハの寸法がウエハ12からウエハ13のごとく
大きくなると、カセツト3内のウエハ収納ピツチ
13は通常一定であるため、第4図に示すごと
く、ウエハ12,13に対する投光部8からの光
ビームの投射角度θを小さくしなければ、複数枚
のウエハによつて光ビームが遮断されるため、カ
セツト3内の、次に送り出すべきウエハの有無が
正確に検出できないことになるが、実施例のよう
に搬送ベルト5,5の外側で、かつ最小寸法のウ
エハが収納されるカセツト内面側に投光部8と受
光部9を配置すれば、ウエハの寸法が多少大きく
なつてもそのままの状態でカセツト3内の、次に
送り出すべきウエハの有無を確実に検出すること
ができる。と言うのも、第3図の平面図からも明
白なごとく、投光部8と受光部9が配置された、
例えばX′〜X′線上においては、ウエハの寸法が
ウエハ12からウエハ13のように大きくなつて
も、投光部8からの光ビームが遮断されるウエハ
13の外周縁の張り出す度合いが、投光部8と受
光部9を、X〜X線を含む垂直面内に配置した従
来の場合と比較して小さく、第3図の例ではせい
ぜいウエハ12の外周縁程度におさまるため、カ
セツト3内に収納されたウエハの寸法が多少変化
した場合でもこの搬送ベルト3に収納された、次
に送り出すべきウエハの有無を確実に検出するこ
とができる。なお、同図中の14はカセツト3に
植設したストツパーを示す。
他の実施例として、図示は省略したが、透過光
センサーの投光部および受光部を、第3図におけ
るウエハ搬送方向と交差する方向に移動可能に構
成すれば、搬送ベルトやエレベータテーブルはそ
のままで、ウエハの直径が大サイズに変更されて
も、搬送用ベルトの外側とカセツト内側面との間
でこれらの投光部および受光部の装備位置を移行
するだけで、各種のサイズのウエハが検知でき
る。
また、第3図に示す実施例ではX−X線および
X′−X′線を、ウエハの搬送方向に平行なものと
して説明したが、これらは必ずしも平行でなくて
もよい。また、上記した実施例では、カセツトに
収納された、次に送り出すべきウエハの有無を検
出するための装置として説明したが、本考案に係
る検知装置は、搬送ベルト5,5上にウエハが載
置されたか否かを検出するためにも使用し得るこ
とは勿論である。
更に本考案は、ウエハをカセツトより取り出す
装置のみではなく、カセツトへウエハを1枚ずつ
収納する装置にも適用でき、また、ウエハ以外の
基板、とくに円形に近い形状の基板の取扱いにも
適用できる。
〔考案の効果〕
本考案によれば、投光部および受光部を、搬送
ベルトの外側で、かつ最小寸法の薄片が収納され
るカセツトの内面側に、しかも検知すべき薄片を
含む面に対し、上下に齟齬する位置に設けるとと
もに、薄片の寸法が変化した場合でも投光部より
投射される光ビームが1枚の薄片によつてのみ遮
断されるよう設けた薄片検知装置であるから、従
来の検知装置の欠点を一挙に解決でき、かつ大サ
イズの薄片に対しても確実にその有無を検知する
ことができる。殊に、従来、薄片の寸法が変わる
たびに、光ビーム投射角を調整しなければならな
い欠点をいとも簡単に解決することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図はウエハ送り出し部の一部切欠斜視図、
第2図は従来例を説明するための、ウエハ送り出
し部の側断面図、第3図は本考案の実施例で、第
2図のA〜A断面に該当する断面図を示し、第4
図は第3図の要部側面図である。 2……ウエハ、3……カセツト、8……投光
部、9……受光部。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 複数の薄片を等間隔に収納できるカセツトが
    載置される上下動可能なエレベータテーブル
    と、該エレベータテーブル上に載置されたカセ
    ツトに対向し、当該エレベータテーブルの上下
    動と共動して薄片をカセツトに給排する一対の
    搬送ベルトとから構成されたカセツト式薄片搬
    出入装置において、 前記一対の搬送ベルトより外側で、かつ最小
    寸法の薄片が収納されるカセツト内面側であつ
    て、検知すべき薄片を含む面に対し上下に齟齬
    する位置で対向させた一対の投光部及び受光部
    から成る透過センサーを、投光部からの光ビー
    ムがカセツト内の最下位に収納された薄片によ
    つてのみ遮断されるように配置したカセツト式
    薄片搬出入用薄片検知装置。 (2) 投光部または受光部の装備位置を薄片のサイ
    ズに応じて変更可能にした実用新案登録請求の
    範囲第(1)項に記載のカセツト式薄片搬出入用薄
    片検知装置。
JP17708483U 1983-11-15 1983-11-15 カセツト式薄片搬出入用薄片検知装置 Granted JPS6083245U (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP17708483U JPS6083245U (ja) 1983-11-15 1983-11-15 カセツト式薄片搬出入用薄片検知装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP17708483U JPS6083245U (ja) 1983-11-15 1983-11-15 カセツト式薄片搬出入用薄片検知装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6083245U JPS6083245U (ja) 1985-06-08
JPH0128683Y2 true JPH0128683Y2 (ja) 1989-08-31

Family

ID=30384811

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP17708483U Granted JPS6083245U (ja) 1983-11-15 1983-11-15 カセツト式薄片搬出入用薄片検知装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6083245U (ja)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6382248A (ja) * 1986-09-26 1988-04-13 Canon Inc 薄板状物品の搬出または搬入装置
DE4310149C2 (de) * 1993-03-29 1996-05-02 Jenoptik Jena Gmbh Einrichtung zur Handhabung von scheibenförmigen Objekten in einer Handhabungsebene eines lokalen Reinraumes
JP6993631B2 (ja) * 2017-04-21 2022-01-13 株式会社日本キャリア工業 トレー検知機能を有する食品トレー搬送装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPS6083245U (ja) 1985-06-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101694646B1 (ko) 기판 처리 장치, 기판 처리 장치의 운용 방법 및 기억 매체
KR20190005759A (ko) 기판 휨 검출 장치 및 기판 휨 검출 방법, 그리고 이들을 사용한 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법
JPS61105853A (ja) オ−トロ−ダ−
KR20200034607A (ko) 기판 반송 방법 및 기판 반송 모듈
JPH0128683Y2 (ja)
JP2824421B2 (ja) マガジン内のマガジン棚と、同マガジン棚内に格納されたウェハ状物体とに使用するインデックス装置
US5092557A (en) Apparatus for holding and positioning a substrate cassette
JPH06345261A (ja) 自動搬送装置の搬送用ハンド
JP3017186B1 (ja) ウエハ搬送装置および半導体製造装置
JPH05294405A (ja) 基板検出装置
JPH0456338A (ja) ウエハ搬送方法およびウエハ搬送装置
JPH0669323A (ja) ウエハ検出装置およびウエハ位置決め装置
CN223990677U (zh) 一种光学膜批量自动上料校准装置
US4867631A (en) Spatula for wafer transport
JP3174452B2 (ja) 基板検出方法
JPH0520333B2 (ja)
JPH06263219A (ja) 搬送装置
KR100652286B1 (ko) 웨이퍼 카세트캐리어 이송시스템
JPH11106043A (ja) ウエハ搬送装置
JP3638735B2 (ja) 基板処理装置
TWI918420B (zh) 基板處理裝置及基板處理裝置之控制方法
JP4414681B2 (ja) カセット載置台及びこのカセット載置台を備える装置
JPH04215454A (ja) ウエハ用カセットの姿勢制御機構
JP3057945B2 (ja) 基板支持装置
JPH0245323B2 (ja)