JPH01320458A - 穀粒水分測定装置 - Google Patents
穀粒水分測定装置Info
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- JPH01320458A JPH01320458A JP15541888A JP15541888A JPH01320458A JP H01320458 A JPH01320458 A JP H01320458A JP 15541888 A JP15541888 A JP 15541888A JP 15541888 A JP15541888 A JP 15541888A JP H01320458 A JPH01320458 A JP H01320458A
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- grain
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Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
この発明は、穀粒水分測定装置に関するもので、穀粒乾
燥機等に利用できる。
燥機等に利用できる。
従来の技術
従来は、回転により穀粒を挟圧粉砕しながらこの粉砕穀
粒の電圧を検出して、この穀粒水分を検出する一対の検
出ロールを、@粗水分検出行程の時の回転速度と非検出
行程の時の回転速度とは同じ回転速度に制御して穀粒の
水分を検出する穀粒水分測定装置であった。
粒の電圧を検出して、この穀粒水分を検出する一対の検
出ロールを、@粗水分検出行程の時の回転速度と非検出
行程の時の回転速度とは同じ回転速度に制御して穀粒の
水分を検出する穀粒水分測定装置であった。
発明が解決しようとする課題
例えば、穀粒乾燥機に装着した穀粒水分測定装置では、
この乾燥機で穀粒を乾燥中は、電気的測定信号の発信に
より該穀粒水分測定装置の各部が始動し、該乾燥機内に
収容して循環乾燥中の一部の穀粒は、この乾燥機からこ
の穀粒水分測定装置内へ供給され、この穀粒を回転する
移送ロールで一粒づつ繰込み移送して一対の検出ロール
上へ供給され、回転するこの検出ロールの外周面部へ繰
込み挟圧粉砕すると同時に、この粉砕穀粒の電圧が検出
され、この検出電圧によって穀粒水分が検出され、該穀
粒水分測定装置が穀粒の仕上目標水分と同じ穀粒水分を
検出すると、該乾燥機は自動停止制御されて穀粒の乾燥
が停止される。
この乾燥機で穀粒を乾燥中は、電気的測定信号の発信に
より該穀粒水分測定装置の各部が始動し、該乾燥機内に
収容して循環乾燥中の一部の穀粒は、この乾燥機からこ
の穀粒水分測定装置内へ供給され、この穀粒を回転する
移送ロールで一粒づつ繰込み移送して一対の検出ロール
上へ供給され、回転するこの検出ロールの外周面部へ繰
込み挟圧粉砕すると同時に、この粉砕穀粒の電圧が検出
され、この検出電圧によって穀粒水分が検出され、該穀
粒水分測定装置が穀粒の仕上目標水分と同じ穀粒水分を
検出すると、該乾燥機は自動停止制御されて穀粒の乾燥
が停止される。
この乾燥作業中の穀粒の水分検出は一粒づつの測定であ
るために1例えば、−測定32粒の穀粒水分検出に長時
間を要していたが、これをできるだけ短時間で測定でき
るようにしようとするものである。
るために1例えば、−測定32粒の穀粒水分検出に長時
間を要していたが、これをできるだけ短時間で測定でき
るようにしようとするものである。
課題を解決するための手段
この発明は、回転により穀粒を挟圧粉砕しながらこの粉
砕穀粒の電圧を検出して、この穀粒水分を検出する一対
の検出ロール(1)、(1)を、該穀粒水分検出行程の
回転速度を非検出行程時の回転速度に対して低速回転に
制御することを特徴とする穀粒水分測定装置の構成とす
る。
砕穀粒の電圧を検出して、この穀粒水分を検出する一対
の検出ロール(1)、(1)を、該穀粒水分検出行程の
回転速度を非検出行程時の回転速度に対して低速回転に
制御することを特徴とする穀粒水分測定装置の構成とす
る。
発明の作用
乾燥機に装着した穀粒水分測定装置では、この乾燥機で
穀粒を乾燥中は、電気的測定信号の発信により該穀粒水
分測定装置の各部が始動し、該乾燥機内に収容して循環
乾燥中の一部の穀粒は、この乾燥機からこの穀粒水分測
定装置内へ供給され、この穀粒を回転する移送ロールで
一粒づつ繰込み移送して検出ロール(1)、(1)上へ
供給され、回転するこの検出ロールfl)、 +1)の
外周面部へ繰込み挟圧粉砕すると同時に、この粉砕穀粒
の電圧が検出され、この検出電圧によって穀粒水分が検
出され、該穀粒水分測定装置が穀粒の仕上目標水分と同
じ穀粒水分を検出すると、該乾燥機は自動停止制御され
、穀粒の乾燥は停止される。
穀粒を乾燥中は、電気的測定信号の発信により該穀粒水
分測定装置の各部が始動し、該乾燥機内に収容して循環
乾燥中の一部の穀粒は、この乾燥機からこの穀粒水分測
定装置内へ供給され、この穀粒を回転する移送ロールで
一粒づつ繰込み移送して検出ロール(1)、(1)上へ
供給され、回転するこの検出ロールfl)、 +1)の
外周面部へ繰込み挟圧粉砕すると同時に、この粉砕穀粒
の電圧が検出され、この検出電圧によって穀粒水分が検
出され、該穀粒水分測定装置が穀粒の仕上目標水分と同
じ穀粒水分を検出すると、該乾燥機は自動停止制御され
、穀粒の乾燥は停止される。
この穀粒乾燥作業中の穀粒水分測定のときで、穀粒水分
検出行程のときの該検出ロール(11,fl)の回転速
度は、非検出行程のときの回転速度より低速回転速度に
制御されて穀粒は検出される。
検出行程のときの該検出ロール(11,fl)の回転速
度は、非検出行程のときの回転速度より低速回転速度に
制御されて穀粒は検出される。
発明の効果
この発明により、穀粒水分測定のときで、穀粒水分検出
行程のときの検出ロール(11、(1)の回転速度は、
非検出行程のときの回転速度より低速回転に制御されて
穀粒は検出されることにより、穀粒水分を非検出行程の
ときは1回転速度が早いため穀粒が該検出ロール(11
,+11上へ移送供給される時間が短縮されることとな
り、このため穀粒の測定時間が大幅に短縮させることが
できた。
行程のときの検出ロール(11、(1)の回転速度は、
非検出行程のときの回転速度より低速回転に制御されて
穀粒は検出されることにより、穀粒水分を非検出行程の
ときは1回転速度が早いため穀粒が該検出ロール(11
,+11上へ移送供給される時間が短縮されることとな
り、このため穀粒の測定時間が大幅に短縮させることが
できた。
実施例
なお、回倒において、乾燥機(2)に装着した穀粒水分
測定装置(3)について説明する。
測定装置(3)について説明する。
該乾燥機(2)の槽壁(4)向上部には貯留室(5)を
形成し、この貯留室(5)下側には下部に回転自在に繰
出バルブ(6)を軸支した各乾燥室(7)を設けて連通
させ。
形成し、この貯留室(5)下側には下部に回転自在に繰
出バルブ(6)を軸支した各乾燥室(7)を設けて連通
させ。
この各乾燥室(7)下側には移送螺旋を回転自在に軸支
した集穀樋(8)を設けて連通させた構成であり、前側
の該槽壁(4)にはこの乾燥機(2)を始動及び停止の
操作を行なう操作装置(9)及びバーナ0■を内装した
バーナケース(10を設け、後側の該槽壁(4)には排
風機(175を設けた構成であり、該貯留室(5)上側
には天井板f131及び移送螺旋を内装した移送樋04
を設け、この移送樋oitr中央部にはこの貯留室(5
)内へ移送穀粒を供給する供給口を設け、この供給口下
側には拡散盤fistを設けた構成である。
した集穀樋(8)を設けて連通させた構成であり、前側
の該槽壁(4)にはこの乾燥機(2)を始動及び停止の
操作を行なう操作装置(9)及びバーナ0■を内装した
バーナケース(10を設け、後側の該槽壁(4)には排
風機(175を設けた構成であり、該貯留室(5)上側
には天井板f131及び移送螺旋を内装した移送樋04
を設け、この移送樋oitr中央部にはこの貯留室(5
)内へ移送穀粒を供給する供給口を設け、この供給口下
側には拡散盤fistを設けた構成である。
前側の該槽壁(4)前方部には昇穀機(IGを設け、内
部にはパケットコンベアー(mベルトを上下プーリ間に
張設し、上端部と該移送&!04始端部との間には投出
筒(111を設けて連通させ、下端部と該集穀樋(8)
終端部との間には供給@ (ILjを設けて連通させた
構成であり、該昇穀機(1υ上下方向はぼ中央部には市
記穀粒水分測定装置(3)を設け、該パケットコンベア
ー(■で上部へ搬送中に落下する穀粒を流穀樋シJで受
け、この穀粒をこの流穀樋(至)で該穀粒水分測定装置
(3)内へ流下案内する構成である。
部にはパケットコンベアー(mベルトを上下プーリ間に
張設し、上端部と該移送&!04始端部との間には投出
筒(111を設けて連通させ、下端部と該集穀樋(8)
終端部との間には供給@ (ILjを設けて連通させた
構成であり、該昇穀機(1υ上下方向はぼ中央部には市
記穀粒水分測定装置(3)を設け、該パケットコンベア
ー(■で上部へ搬送中に落下する穀粒を流穀樋シJで受
け、この穀粒をこの流穀樋(至)で該穀粒水分測定装置
(3)内へ流下案内する構成である。
前記穀粒水分測定装置(3)は前後板り1)、el)、
上下板(23、Qδ及び左右横板(至)、(至)で箱形
状に形成し、この箱体内には各支持メタル凶、(至)、
(5)、(至)及び仕切板(ハ)、(至)を設け、この
箱体向上部には移送ロール軸(至)を該支持メタル四、
(5)、(至)で回転自在に軸支し、この移送ロール軸
(至)一端部には移送ロール00を固着し、他端部には
ギヤーを固着した構成であり、この移送ロール011外
周面には穀粒を一粒づつ繰込み嵌合して移送する螺旋溝
(支)と、この螺旋溝(支)へ繰込まれなかった残穀粒
を漏下させる深溝の螺旋溝(至)とを設けた構成であり
、該移送ロールOυ上部には軸(ロ)を該支持メタル(
ハ)、(5)で固着して設け、この軸(ロ)には該移送
ロール011全幅とほぼ同じ幅の案内板(至)を、この
移送ロール0υの一側外周面へほぼ接触する形態に固着
して設けた構成である。
上下板(23、Qδ及び左右横板(至)、(至)で箱形
状に形成し、この箱体内には各支持メタル凶、(至)、
(5)、(至)及び仕切板(ハ)、(至)を設け、この
箱体向上部には移送ロール軸(至)を該支持メタル四、
(5)、(至)で回転自在に軸支し、この移送ロール軸
(至)一端部には移送ロール00を固着し、他端部には
ギヤーを固着した構成であり、この移送ロール011外
周面には穀粒を一粒づつ繰込み嵌合して移送する螺旋溝
(支)と、この螺旋溝(支)へ繰込まれなかった残穀粒
を漏下させる深溝の螺旋溝(至)とを設けた構成であり
、該移送ロールOυ上部には軸(ロ)を該支持メタル(
ハ)、(5)で固着して設け、この軸(ロ)には該移送
ロール011全幅とほぼ同じ幅の案内板(至)を、この
移送ロール0υの一側外周面へほぼ接触する形態に固着
して設けた構成である。
前記流穀樋(2)から該移送ロールOD上へ供給される
穀粒は、この移送ロールO11の該螺旋溝(支)内へ一
粒づつ操込み嵌合し、この螺旋溝(支)に沿って該案内
板(至)で案内されながら移送され、端部より下側に設
けた流下案内板C(Q上へ供給され、この流下案内板O
Qでこの穀粒は流下案内されて下側に設けた一対の検出
ロール(1)、(1)上へ供給される構成である。
穀粒は、この移送ロールO11の該螺旋溝(支)内へ一
粒づつ操込み嵌合し、この螺旋溝(支)に沿って該案内
板(至)で案内されながら移送され、端部より下側に設
けた流下案内板C(Q上へ供給され、この流下案内板O
Qでこの穀粒は流下案内されて下側に設けた一対の検出
ロール(1)、(1)上へ供給される構成である。
該各検出ロール(1)は前記支持メタル(5)、(社)
で回転自在に軸支した各検出ロール軸(5)の一端部に
固着し、他端部にはギヤーを固着し、この各検出ロール
(11外周面部間で前記螺旋溝(支)から供給された穀
粒を繰込み挟圧粉砕すると同時に、この粉砕穀粒の電圧
が検出され、この検出電圧が演算されてこの粉砕穀粒の
水分が検出される構成であり、この検出した32粒検出
の穀粒水分の平均値を演算し、この演算平均値を一測定
の検出穀粒水分とする構成である。
で回転自在に軸支した各検出ロール軸(5)の一端部に
固着し、他端部にはギヤーを固着し、この各検出ロール
(11外周面部間で前記螺旋溝(支)から供給された穀
粒を繰込み挟圧粉砕すると同時に、この粉砕穀粒の電圧
が検出され、この検出電圧が演算されてこの粉砕穀粒の
水分が検出される構成であり、この検出した32粒検出
の穀粒水分の平均値を演算し、この演算平均値を一測定
の検出穀粒水分とする構成である。
前記各検出ロール(1)下側には各清掃ロール軸(至)
を、前記支持メタル(イ)、(5)で固着し、この各清
掃ロール軸(至)には清掃メタル(至)を固着し、この
各清掃メタル(至)で回転駆動する該各検出ロール(1
)外周面に付着する水分検出済み粉砕穀粒を除去する構
成である。
を、前記支持メタル(イ)、(5)で固着し、この各清
掃ロール軸(至)には清掃メタル(至)を固着し、この
各清掃メタル(至)で回転駆動する該各検出ロール(1
)外周面に付着する水分検出済み粉砕穀粒を除去する構
成である。
該清掃メタル(至)下側で前記支持メタル四と前記支持
メタル(5)との間には、水分検出済み粉砕穀粒と前記
g旋溝(至)部から漏下した残穀粒とを前記昇穀機ti
e内へ還元供給する排出@(ト)を設けた構成である。
メタル(5)との間には、水分検出済み粉砕穀粒と前記
g旋溝(至)部から漏下した残穀粒とを前記昇穀機ti
e内へ還元供給する排出@(ト)を設けた構成である。
前記箱体内の上部で前記支持メタル(至)には正逆回転
及び変速回転する変速モータ帽)を設け、この変速モー
タ泪)の軸端部にはギヤーを固着し、このギヤーと前記
移送ロール軸(至)の前記ギヤー及び前記各検出ロール
軸(資)の前記各ギヤーとは噛合した構成であり、前記
操作装置(9)から所定時間間隔で発信される電気的測
定信号の発信により、該変速モータ6υが正逆回転する
構成であり、この変速モータ6υの正回転により前記移
送ロール0υ及び前記各検出ロール(1)等が正回転駆
動し、穀粒水分を検出する構成であり、又−測定の穀粒
水分検出が終了すると該変速モータ帽)は逆回転し、該
移送ロールOD及び該各検出ロール(1)等が逆回転駆
動して。
及び変速回転する変速モータ帽)を設け、この変速モー
タ泪)の軸端部にはギヤーを固着し、このギヤーと前記
移送ロール軸(至)の前記ギヤー及び前記各検出ロール
軸(資)の前記各ギヤーとは噛合した構成であり、前記
操作装置(9)から所定時間間隔で発信される電気的測
定信号の発信により、該変速モータ6υが正逆回転する
構成であり、この変速モータ6υの正回転により前記移
送ロール0υ及び前記各検出ロール(1)等が正回転駆
動し、穀粒水分を検出する構成であり、又−測定の穀粒
水分検出が終了すると該変速モータ帽)は逆回転し、該
移送ロールOD及び該各検出ロール(1)等が逆回転駆
動して。
停滞する穀粒を除去する構成である。
この穀粒水分検出のときに、前記各検出ロール(1)間
で穀粒を挟圧粉砕し、この粉砕穀粒の電圧波形が検出さ
れるが、第3図の如く、この検出電圧波形が最高値(イ
)点に達すると該変速モータ0υの回転速度が、前記操
作装置(9)内に設けたCPU叩に記憶させた所定時間
内は低速回転速度に制御され、この所定時間が経過後は
元の高速回転に。
で穀粒を挟圧粉砕し、この粉砕穀粒の電圧波形が検出さ
れるが、第3図の如く、この検出電圧波形が最高値(イ
)点に達すると該変速モータ0υの回転速度が、前記操
作装置(9)内に設けたCPU叩に記憶させた所定時間
内は低速回転速度に制御され、この所定時間が経過後は
元の高速回転に。
このc p v haによって復元制御され、これら低
速回転速度及び高速回転速度が繰返されなから穀粒水分
が検出される構成であり、この所定時間はおおよそ一粒
の穀粒の電圧波形検出から電圧波形検出終了(ロ)点ま
での時間を設定した構成である。
速回転速度及び高速回転速度が繰返されなから穀粒水分
が検出される構成であり、この所定時間はおおよそ一粒
の穀粒の電圧波形検出から電圧波形検出終了(ロ)点ま
での時間を設定した構成である。
又第6図の如く、検出電圧波形が該CPUN3に記憶さ
せたレベル(ハ)点以上に達すると該変速モータ帽)の
回転速度を低速回転速度に制御され。
せたレベル(ハ)点以上に達すると該変速モータ帽)の
回転速度を低速回転速度に制御され。
この記憶させたレベル(ハ)点以下になると元の高速回
転速度に、このCPUM21によって復元制御される構
成とするもよい。
転速度に、このCPUM21によって復元制御される構
成とするもよい。
操作装置(9)を操作することにより、乾燥機(2)が
始動すると同時に、バーナ(1[I及び穀粒水分測定装
置(3)が始動し、このバーナ(111から熱風が発生
しこの熱風が乾燥室(7)を通風して排風機(功で吸引
排風されることにより、貯留室(5)内へ収容した穀粒
はこの貯留室(5)から該乾燥室(7)内を流下中にこ
の熱風に晒されて乾燥され、繰出バルブ(6)で下部へ
と繰出されて流下し、集穀@(8)から供給樋(1を経
て昇穀機fle内へ下部の移送螺旋で移送供給され、パ
ケットコンベアー(圀で上部へ搬送され投出筒08を経
て移送樋04内へ供給され、この移送@(ロ)から拡散
盤fiIit上へ上部の移送螺旋で移送供給され、この
拡散盤(19で該貯留室(5)内へ均等に拡散還元され
、循環乾燥されて該穀粒水分測定装置(3)が仕上目標
と同じ穀粒水分を検出すると、該操作装置(9)で自動
制御して該乾燥機(2)を自動停止する。
始動すると同時に、バーナ(1[I及び穀粒水分測定装
置(3)が始動し、このバーナ(111から熱風が発生
しこの熱風が乾燥室(7)を通風して排風機(功で吸引
排風されることにより、貯留室(5)内へ収容した穀粒
はこの貯留室(5)から該乾燥室(7)内を流下中にこ
の熱風に晒されて乾燥され、繰出バルブ(6)で下部へ
と繰出されて流下し、集穀@(8)から供給樋(1を経
て昇穀機fle内へ下部の移送螺旋で移送供給され、パ
ケットコンベアー(圀で上部へ搬送され投出筒08を経
て移送樋04内へ供給され、この移送@(ロ)から拡散
盤fiIit上へ上部の移送螺旋で移送供給され、この
拡散盤(19で該貯留室(5)内へ均等に拡散還元され
、循環乾燥されて該穀粒水分測定装置(3)が仕上目標
と同じ穀粒水分を検出すると、該操作装置(9)で自動
制御して該乾燥機(2)を自動停止する。
この乾燥作業中は、該パケットコンベアー(r71で上
部へ搬送中に落下する穀粒は、流穀樋(至)で受けて流
下案内して該穀粒水分測定装置(3)の移送ロールOD
上で供給され、この穀粒水分測定装置(3)が該操作装
置(9)から所定時間間隔で発信される電気的測定信号
の発信により作動し、該移送ロールC31]の螺旋溝(
支)へ穀粒を一粒づつ繰込み嵌合して、このa旋溝(支
)に沿って案内板09で案内されながら移送され端部か
ら落下し、流下案内板(至)を経て検出ロール(1)、
(1)上へ供給され、この検出ロール(1)、(1)の
外周面部で穀粒は繰込み挟圧粉砕され、この粉砕穀粒の
電圧が検出され、この検出電圧によって穀粒の水分が検
出され、この検出電圧が最高電圧に達すると、該移送ロ
ール0υ及び該検出ロール(1)、(1)等の回転速度
が低速回転速度に制御され、又この電圧検出が終了する
と、該移送ロールO11及び該検出ロールfll、+1
1等の回転速度が高速回転速度に制御が繰返されながら
、この粉砕穀粒32粒の平均値が演算され、この演算平
均水分値が一測定の穀粒水分として検出される。
部へ搬送中に落下する穀粒は、流穀樋(至)で受けて流
下案内して該穀粒水分測定装置(3)の移送ロールOD
上で供給され、この穀粒水分測定装置(3)が該操作装
置(9)から所定時間間隔で発信される電気的測定信号
の発信により作動し、該移送ロールC31]の螺旋溝(
支)へ穀粒を一粒づつ繰込み嵌合して、このa旋溝(支
)に沿って案内板09で案内されながら移送され端部か
ら落下し、流下案内板(至)を経て検出ロール(1)、
(1)上へ供給され、この検出ロール(1)、(1)の
外周面部で穀粒は繰込み挟圧粉砕され、この粉砕穀粒の
電圧が検出され、この検出電圧によって穀粒の水分が検
出され、この検出電圧が最高電圧に達すると、該移送ロ
ール0υ及び該検出ロール(1)、(1)等の回転速度
が低速回転速度に制御され、又この電圧検出が終了する
と、該移送ロールO11及び該検出ロールfll、+1
1等の回転速度が高速回転速度に制御が繰返されながら
、この粉砕穀粒32粒の平均値が演算され、この演算平
均水分値が一測定の穀粒水分として検出される。
この水分検出済み粉砕穀粒と、該fs旋溝圓へ繰込まれ
ず螺旋溝03から漏下する残穀粒とは排出樋に)を経て
前記昇穀機fIQ内へ還元され、乾燥中の穀粒と同時に
循環されて乾燥される。
ず螺旋溝03から漏下する残穀粒とは排出樋に)を経て
前記昇穀機fIQ内へ還元され、乾燥中の穀粒と同時に
循環されて乾燥される。
第7図の如く1箱体内の上部で支持メタル(至)には正
逆回転及び変速回転する変速モータ03を設け、この変
速モータ(ト)で移送ロールOυを回転駆動する構成と
し、又この箱体内の中央部で該支持メタルQ1には正逆
回転するモータ■を設け、このモータに)で検出ロール
fly、 [11を回転駆動する構成とし、穀粒水分測
定を開始すると、該変速モータ0及び該モータ■が回転
し、該移送ロール09及び該検a)ロール(1)、(1
)が回転駆動され、この移送ロールGυで移送された穀
粒が該検出ロール(1)、(1)間で挟圧粉砕され、こ
の粉砕穀粒の電圧波形が検出され、第9図の如く、この
検出電圧波形が立上る(二)点になると該変速モーター
1は停止制御され、該移送ロールCυは停止されて穀粒
は移送されな%N構成であり、−粗目の穀粒水分の測定
が終了し、検出電圧波形が下がり(ホ)点になると該変
速モータf113は再回転し、該移送ロール0υが再回
転駆動されて穀粒を繰込み移送する構成であり、該移送
ロール00は回転と停止とが交互に行なわれる構成であ
る。これしこより穀粒を二粒送り込むことがなく。
逆回転及び変速回転する変速モータ03を設け、この変
速モータ(ト)で移送ロールOυを回転駆動する構成と
し、又この箱体内の中央部で該支持メタルQ1には正逆
回転するモータ■を設け、このモータに)で検出ロール
fly、 [11を回転駆動する構成とし、穀粒水分測
定を開始すると、該変速モータ0及び該モータ■が回転
し、該移送ロール09及び該検a)ロール(1)、(1
)が回転駆動され、この移送ロールGυで移送された穀
粒が該検出ロール(1)、(1)間で挟圧粉砕され、こ
の粉砕穀粒の電圧波形が検出され、第9図の如く、この
検出電圧波形が立上る(二)点になると該変速モーター
1は停止制御され、該移送ロールCυは停止されて穀粒
は移送されな%N構成であり、−粗目の穀粒水分の測定
が終了し、検出電圧波形が下がり(ホ)点になると該変
速モータf113は再回転し、該移送ロール0υが再回
転駆動されて穀粒を繰込み移送する構成であり、該移送
ロール00は回転と停止とが交互に行なわれる構成であ
る。これしこより穀粒を二粒送り込むことがなく。
又先に送り込んだ穀粒と後から送り込む穀粒との間隔を
最小間隔にすることができ、このため穀粒の測定時間を
短縮させることができる。
最小間隔にすることができ、このため穀粒の測定時間を
短縮させることができる。
図は、この発明の一実施例を示すもので、第1図は側断
面図、第2図は背面図、第3図は電圧波形と回転との関
係図、第4図は一部断面せる乾燥機の全体側面図、第5
図は一部断面せる乾燥機の全体正面図、第6図は電圧波
形と回転との関係図、第7図は側断面図、第8図は背面
図、第9図は電圧波形と変速モータ回転との関係図であ
る。 図中、符号(1)は検出ロールを示す。
面図、第2図は背面図、第3図は電圧波形と回転との関
係図、第4図は一部断面せる乾燥機の全体側面図、第5
図は一部断面せる乾燥機の全体正面図、第6図は電圧波
形と回転との関係図、第7図は側断面図、第8図は背面
図、第9図は電圧波形と変速モータ回転との関係図であ
る。 図中、符号(1)は検出ロールを示す。
Claims (1)
- 回転により穀粒を挟圧粉砕しながらこの粉砕穀粒の電圧
を検出して、この穀粒水分を検出する一対の検出ロール
(1)、(1)を、該穀粒水分検出行程の回転速度を非
検出行程時の回転速度に対して低速回転に制御すること
を特徴とする穀粒水分測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15541888A JPH01320458A (ja) | 1988-06-22 | 1988-06-22 | 穀粒水分測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15541888A JPH01320458A (ja) | 1988-06-22 | 1988-06-22 | 穀粒水分測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01320458A true JPH01320458A (ja) | 1989-12-26 |
Family
ID=15605567
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15541888A Pending JPH01320458A (ja) | 1988-06-22 | 1988-06-22 | 穀粒水分測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01320458A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH032250U (ja) * | 1989-05-30 | 1991-01-10 |
-
1988
- 1988-06-22 JP JP15541888A patent/JPH01320458A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH032250U (ja) * | 1989-05-30 | 1991-01-10 |
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