JPH07113575B2 - 電子計数はかり - Google Patents
電子計数はかりInfo
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- JPH07113575B2 JPH07113575B2 JP63009302A JP930288A JPH07113575B2 JP H07113575 B2 JPH07113575 B2 JP H07113575B2 JP 63009302 A JP63009302 A JP 63009302A JP 930288 A JP930288 A JP 930288A JP H07113575 B2 JPH07113575 B2 JP H07113575B2
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Description
【発明の詳細な説明】 ＜産業上の利用分野＞ 本発明は、被測定試料の単重で、未知個数の試料の重量
を除すことによってその個数を算出して表示する、電子
計数はかりに関する。
を除すことによってその個数を算出して表示する、電子
計数はかりに関する。
＜従来の技術＞ 電子計数はかりでは、一般に、試料の単重（１個当たり
の重量）の推定値が計数結果の正確さに大きな影響を及
ぼす。そこで、従来の電子計数はかりでは、この単重の
推定手法に種々の工夫がなされているが、基本的には次
の２つの手法に分類することができる。
の重量）の推定値が計数結果の正確さに大きな影響を及
ぼす。そこで、従来の電子計数はかりでは、この単重の
推定手法に種々の工夫がなされているが、基本的には次
の２つの手法に分類することができる。
１つは、10個、40個、100個等、試料の個数をあらかじ
め限定しておき、その個数を皿上に載せたときの荷重値
をその既知個数で除す方法である。
め限定しておき、その個数を皿上に載せたときの荷重値
をその既知個数で除す方法である。
他の１つは、最初に５個等の少数の既知個数の試料を皿
上に載せて同様に単重を算出した後、試料を適宜に追加
してゆき、その追加の都度、先に算出した単重で追加重
量を除して追加個数を求めて順次加算することで皿上の
全個数を推定し、その推定個数で皿上の全重量を除し、
単重を更新してゆく方法である。
上に載せて同様に単重を算出した後、試料を適宜に追加
してゆき、その追加の都度、先に算出した単重で追加重
量を除して追加個数を求めて順次加算することで皿上の
全個数を推定し、その推定個数で皿上の全重量を除し、
単重を更新してゆく方法である。
＜発明が解決しようとする問題点＞ 前者の従来方法によれば、単重推定のためのサンプリン
グ個数が大きくなると、その数を数えるのが煩わしく、
更に、数えまちがいも生じる虞れがある等の欠点があ
る。
グ個数が大きくなると、その数を数えるのが煩わしく、
更に、数えまちがいも生じる虞れがある等の欠点があ
る。
後者の方法では、試料の追加ごとの推定が全て正しいと
いう保証がなく、結局、最終的に得られた単重の推定値
についても正しいということが保証されないという問題
がある。
いう保証がなく、結局、最終的に得られた単重の推定値
についても正しいということが保証されないという問題
がある。
ここで、単重の推定に当たっては、計数すべき試料の重
量の変動係数を用いなければ定量的に明確な取扱いは不
可能であることは云うまでもなく、この点に鑑み、本出
願人は既に、試料重量のばらつきの度合を用いた手法に
より、後者の方法に基づく単重推定に際し、その保証を
行なうことのできるアルゴリズムを提案している（特開
昭60−31023号）。
量の変動係数を用いなければ定量的に明確な取扱いは不
可能であることは云うまでもなく、この点に鑑み、本出
願人は既に、試料重量のばらつきの度合を用いた手法に
より、後者の方法に基づく単重推定に際し、その保証を
行なうことのできるアルゴリズムを提案している（特開
昭60−31023号）。
本発明はこの提案に更に改良を加え、計数誤差の確率論
的な扱いに基づいて、定量的に明確な保証を与えること
ができ、かつ、実際の作業に際しても煩雑さを伴うこと
なく、容易に正確な単重推定値を得ることのできる、電
子計数はかりの提供を目的としている。
的な扱いに基づいて、定量的に明確な保証を与えること
ができ、かつ、実際の作業に際しても煩雑さを伴うこと
なく、容易に正確な単重推定値を得ることのできる、電
子計数はかりの提供を目的としている。
＜問題点を解決するための手段＞ 第１の発明は、第１図にその基本概念図を示すように、
皿上に載せられた荷重を検出する荷重検出部ａと、計数
すべき試料の単重μを記憶する単重メモリｂと、荷重検
出部ａによる検出値Ｗと単重メモリｂの内容μから、皿
上に追加された試料個数を算出する追加個数算出手段ｃ
と、その追加個数算出手段ｃによる算出結果ｋを加算格
納する総個数メモリｄと、その総個数メモリｄの内容Ｔ
と荷重検出部ａによる検出値Ｗから試料の単重μを算出
して単重メモリｂの内容μを更新する単重算出手段ｅを
備えた計数はかりにおいて、試料の変動係数に係る情報
を設定する変動係数設定手段ｆと、確率P0を設定する確
率設定手段ｕと、変動係数設定手段ｆおよび確率設定手
段ｕの各設定内容CVおよびP0、更に総個数メモリｄの内
容Ｔを用いて、確率P0以上で計数誤差なく次の追加個数
を算出し得る最大の許容個数Ｋを算出する許容追加個数
算出手段ｇと、その算出された許容個数Ｋと追加個数算
出手段ｃにより算出された追加個数ｋを比較する比較手
段ｈを備え、その比較結果に基づいて、算出された追加
個数ｋが許容個数Ｋ以上のときに限り、この追加個数ｋ
を総個数メモリｄに加算格納するとともに、単重算出手
段ｅによる単重μの算出・更新を実行するよう構成した
ことによって、特徴づけられる。
皿上に載せられた荷重を検出する荷重検出部ａと、計数
すべき試料の単重μを記憶する単重メモリｂと、荷重検
出部ａによる検出値Ｗと単重メモリｂの内容μから、皿
上に追加された試料個数を算出する追加個数算出手段ｃ
と、その追加個数算出手段ｃによる算出結果ｋを加算格
納する総個数メモリｄと、その総個数メモリｄの内容Ｔ
と荷重検出部ａによる検出値Ｗから試料の単重μを算出
して単重メモリｂの内容μを更新する単重算出手段ｅを
備えた計数はかりにおいて、試料の変動係数に係る情報
を設定する変動係数設定手段ｆと、確率P0を設定する確
率設定手段ｕと、変動係数設定手段ｆおよび確率設定手
段ｕの各設定内容CVおよびP0、更に総個数メモリｄの内
容Ｔを用いて、確率P0以上で計数誤差なく次の追加個数
を算出し得る最大の許容個数Ｋを算出する許容追加個数
算出手段ｇと、その算出された許容個数Ｋと追加個数算
出手段ｃにより算出された追加個数ｋを比較する比較手
段ｈを備え、その比較結果に基づいて、算出された追加
個数ｋが許容個数Ｋ以上のときに限り、この追加個数ｋ
を総個数メモリｄに加算格納するとともに、単重算出手
段ｅによる単重μの算出・更新を実行するよう構成した
ことによって、特徴づけられる。
また、第２の発明は、前記と同様の荷重検出部ａ、単重
メモリｂ、追加個数算出手段ｃ、総個数メモリｄおよび
単重算出手段ｅを備えた計数はかりにおいて、同様に試
料の変動係数に係る情報を設定するための変動係数設定
手段ｆおよび確率P0を設定するための確率設定手段ｕを
設けるとともに、あらかじめ設定されている皿上への初
期載置個数K0およびそれ以後の試料の追加回数Ｎに応じ
て、各回の試料追加時においてあらかじめ設定された上
記確率P0以上で計数誤差なく追加個数kiを算出し得る各
最大の許容個数ki（ｉ＝1,2,…Ｎ）を算出して記憶する
許容追加個数算出記憶手段ｑと、各追加時において追加
個数算出手段ｃにより算出された追加個数kiと許容追加
個数算出記憶手段ｑにおける該当する許容個数Kiとを比
較する比較手段ｒと、その比較結果の報知手段ｓを備
え、許容追加個数算出記憶手段ｑは、少くとも１回目の
試料追加前に、変動係数設定手段ｆと確率設定手段ｕの
各設定内容CVとP0、および を用いて、各許容個数Kiを、K1から順次算出するよう構
成されていることによって、特徴づけられる。
メモリｂ、追加個数算出手段ｃ、総個数メモリｄおよび
単重算出手段ｅを備えた計数はかりにおいて、同様に試
料の変動係数に係る情報を設定するための変動係数設定
手段ｆおよび確率P0を設定するための確率設定手段ｕを
設けるとともに、あらかじめ設定されている皿上への初
期載置個数K0およびそれ以後の試料の追加回数Ｎに応じ
て、各回の試料追加時においてあらかじめ設定された上
記確率P0以上で計数誤差なく追加個数kiを算出し得る各
最大の許容個数ki（ｉ＝1,2,…Ｎ）を算出して記憶する
許容追加個数算出記憶手段ｑと、各追加時において追加
個数算出手段ｃにより算出された追加個数kiと許容追加
個数算出記憶手段ｑにおける該当する許容個数Kiとを比
較する比較手段ｒと、その比較結果の報知手段ｓを備
え、許容追加個数算出記憶手段ｑは、少くとも１回目の
試料追加前に、変動係数設定手段ｆと確率設定手段ｕの
各設定内容CVとP0、および を用いて、各許容個数Kiを、K1から順次算出するよう構
成されていることによって、特徴づけられる。
＜作用＞ 一般に、平均重量μ、標準偏差σの正規分布をしている
母集団Ｍ（μ，σ２）から、ｎ個の試料を取り出したと
きの重量ｗは、 となる。ここでξ１は確率変数で、その密度関数は、 である。
母集団Ｍ（μ，σ２）から、ｎ個の試料を取り出したと
きの重量ｗは、 となる。ここでξ１は確率変数で、その密度関数は、 である。
一方、重量ｗから試料の単重を推定すると、（１）式か
ら、 となる。
ら、 となる。
次に、ｋ個の試料を取り出し、その重量がＷであったと
すると、 となる。ここで、ξ２はξ１と独立な確率変数である。
すると、 となる。ここで、ξ２はξ１と独立な確率変数である。
とＷを用いて個数を推定すると、 となる。従って、このときの係数誤差ξは、 となる。ξはξ1,ξ２の一次結合として表されるので、
公知の定理より、 となる。すなわち、ξは正規確率変数であり、そのξの
平均値は０、ξの標準偏差は、 である。
公知の定理より、 となる。すなわち、ξは正規確率変数であり、そのξの
平均値は０、ξの標準偏差は、 である。
従って、４捨５入によって整数として個数を推定する
場合に、が正しく求まる確率Ｐは、 となる。ここで、 と置くと、 と表すことができる。
場合に、が正しく求まる確率Ｐは、 となる。ここで、 と置くと、 と表すことができる。
以上のことから、十分１に近い確率値P0を予め設定して
おき、 Ｐ≧P0 となるように（13）式からβを求め、ｎと が既知であるならば、（12）式から確率P0以上でを正
しく（計数誤差なく）求めることのできる最大の許容個
数Ｋを算出することができる。
おき、 Ｐ≧P0 となるように（13）式からβを求め、ｎと が既知であるならば、（12）式から確率P0以上でを正
しく（計数誤差なく）求めることのできる最大の許容個
数Ｋを算出することができる。
第１の発明において、許容追加個数算出手段ｇが、総個
数メモリｄの内容Ｔ（（12）式のｎに対応）と変動係数
設定手段ｆの設定内容CV（＝σ／μ）および確率設定手
段ｕの設定内容P0とから、上述のＫを算出し、作業者が
Ｋ以下の追加を行ったことを比較手段ｈでモニタするこ
とで、確率P0以上で追加個数に関して正しい計数がなさ
れていることの保証を行なうことができる。
数メモリｄの内容Ｔ（（12）式のｎに対応）と変動係数
設定手段ｆの設定内容CV（＝σ／μ）および確率設定手
段ｕの設定内容P0とから、上述のＫを算出し、作業者が
Ｋ以下の追加を行ったことを比較手段ｈでモニタするこ
とで、確率P0以上で追加個数に関して正しい計数がなさ
れていることの保証を行なうことができる。
第２の発明では、皿上への初期載置個数K0が定められる
と、１回目の追加時における許容個数K1は、（12）式の
ｎをK0とすることで算出でき、１回目の追加個数k1をK1
に等しくするという前提に立てば、２回目の追加の許容
個数K2は同様に（12）式のｎをK0＋K1と置くことで、よ
り一般的には、ｉ回目の許容個数Kiは（12）式のｎを と置くことで算出できることから、総個数メモリｄの内
容を用いることなく、事前にK1,K2,…KNを算出して記憶
しようとするものである。このとき、Kiと対応するKiを
比較手段ｒで比較してその結果を報知手段ｓで報知する
ことで、作業者にその追加個数kiが前述した前提を満足
しているか否かを知らせる。
と、１回目の追加時における許容個数K1は、（12）式の
ｎをK0とすることで算出でき、１回目の追加個数k1をK1
に等しくするという前提に立てば、２回目の追加の許容
個数K2は同様に（12）式のｎをK0＋K1と置くことで、よ
り一般的には、ｉ回目の許容個数Kiは（12）式のｎを と置くことで算出できることから、総個数メモリｄの内
容を用いることなく、事前にK1,K2,…KNを算出して記憶
しようとするものである。このとき、Kiと対応するKiを
比較手段ｒで比較してその結果を報知手段ｓで報知する
ことで、作業者にその追加個数kiが前述した前提を満足
しているか否かを知らせる。
＜実施例＞ 本発明の実施例を、以下、図面に基づいて説明する。
第３図は本発明実施例の構成を示すブロック図である 荷重検出部１は皿1aに係合する荷重センサおよびＡ−Ｄ
変換器等を内蔵しており、皿1a上の荷重に対応するデジ
タルデータを出力することができる。
変換器等を内蔵しており、皿1a上の荷重に対応するデジ
タルデータを出力することができる。
荷重検出部１からのデータは、CPU21、ROM22およびRAM2
3等を備えたマイクロコンピュータ２に刻々と採り込ま
れる。このマイクロコンピュータ２には、変動係数CV等
を入力するためのテンキーを主体とするキーボード３
と、試料個数をデジタル表示するための表示器４、およ
び後述する追加個数ｋが許容個数Ｋを越えているときに
点灯する警告灯５が接続されている。
3等を備えたマイクロコンピュータ２に刻々と採り込ま
れる。このマイクロコンピュータ２には、変動係数CV等
を入力するためのテンキーを主体とするキーボード３
と、試料個数をデジタル表示するための表示器４、およ
び後述する追加個数ｋが許容個数Ｋを越えているときに
点灯する警告灯５が接続されている。
RAM23には、ワークエリアのほかに、算出される単重μ
を記憶する単重メモリ、追加個数の算出値を加算格納す
る総個数メモリとしてのエリア等が設定されている。
を記憶する単重メモリ、追加個数の算出値を加算格納す
る総個数メモリとしてのエリア等が設定されている。
第４図はROM22に書き込まれたプログラムのうち、単重
推定ルーチンの内容を示すフローチャートで、この図を
参照しつつ以下に作用を述べる。
推定ルーチンの内容を示すフローチャートで、この図を
参照しつつ以下に作用を述べる。
測定に先立って、測定すべき試料の個々の重量の変動係
数CVをキーボード３から入力する（ST1）。この変動係
数CVは、試料を適当なｍ個だけ抜き採り、その個々の重
量wiの標準偏差σと平均重量から、 によって算出することができ、その結果をキーボード３
から入力すればよい。
数CVをキーボード３から入力する（ST1）。この変動係
数CVは、試料を適当なｍ個だけ抜き採り、その個々の重
量wiの標準偏差σと平均重量から、 によって算出することができ、その結果をキーボード３
から入力すればよい。
次に、試料をあらかじめ設定されたK0個、例えば５個、
だけ皿1a上に載せる（ST2）。このときの荷重データか
ら、皿1a上の試料重量Ｗが公知の手法によって決定さ
れ、RAM23内に記憶される（ST3）。次いで、この重量Ｗ
をK0で除すことによって、最初の単重μが算出され（ST
4）、RAM23内の単重メモリに格納されると同時に、総個
数メモリにはK0が格納される（ST5）。なお、総個数メ
モリの内容は表示器４に表示される。
だけ皿1a上に載せる（ST2）。このときの荷重データか
ら、皿1a上の試料重量Ｗが公知の手法によって決定さ
れ、RAM23内に記憶される（ST3）。次いで、この重量Ｗ
をK0で除すことによって、最初の単重μが算出され（ST
4）、RAM23内の単重メモリに格納されると同時に、総個
数メモリにはK0が格納される（ST5）。なお、総個数メ
モリの内容は表示器４に表示される。
次いで、総個数メモリの内容Ｔと先に入力されている変
動係数CVを用いて、あらかじめ設定されている１に十分
近い確率P0以上で計数誤差の生じない最大の追加個数、
即ち許容個数Ｋが算出され、RAM23内に記憶される（ST
6）。このＫの算出法は前記した通りであるが、実際に
は、（13）式のＰがあらかじめ設定されているP0となる
βを求めておき、そのβから（12）式に基づいてｋを算
出し、端数を切捨てる等によってＫを求めることができ
る。
動係数CVを用いて、あらかじめ設定されている１に十分
近い確率P0以上で計数誤差の生じない最大の追加個数、
即ち許容個数Ｋが算出され、RAM23内に記憶される（ST
6）。このＫの算出法は前記した通りであるが、実際に
は、（13）式のＰがあらかじめ設定されているP0となる
βを求めておき、そのβから（12）式に基づいてｋを算
出し、端数を切捨てる等によってＫを求めることができ
る。
次いで作業者が試料を皿1a上に追加すると（ST7）、そ
のときの荷重データから皿1a上の全試料重量Ｗが決定さ
れて記憶され、先に記憶している重量との差Wa、つまり
追加重量Waが算出される（ST8）。この追加重量Waを単
重メモリの内容μで除して丸めることにより、追加個数
ｋが算出される（ST9）。そして、このｋがST6で求めた
許容個数Ｋと比較され（ST10）、ｋがＫを越えていると
きには警告灯５を点灯し（ST11）、作業者にその旨を報
知する。作業者がこれに基づいて試料の適当個数を皿1a
上から採り除くと（ST12）、ST8へと戻って追加個数の
再算出を行なう。
のときの荷重データから皿1a上の全試料重量Ｗが決定さ
れて記憶され、先に記憶している重量との差Wa、つまり
追加重量Waが算出される（ST8）。この追加重量Waを単
重メモリの内容μで除して丸めることにより、追加個数
ｋが算出される（ST9）。そして、このｋがST6で求めた
許容個数Ｋと比較され（ST10）、ｋがＫを越えていると
きには警告灯５を点灯し（ST11）、作業者にその旨を報
知する。作業者がこれに基づいて試料の適当個数を皿1a
上から採り除くと（ST12）、ST8へと戻って追加個数の
再算出を行なう。
ｋがＫ以下であるならば、ｋを総個数メモリに加算格納
した後（ST13）、加算後の総個数メモリの内容Ｔでその
時点の皿1a上の全試料重量Ｗを除することによって単重
μを算出し、単重メモリの内容を更新する（ST14）。そ
して、単重推定のためのサンプリングを終了するまで
は、ST6以下へと戻って次回の追加時における許容個数
Ｋを算出して記憶する等、同様のルーチンを繰り返す。
した後（ST13）、加算後の総個数メモリの内容Ｔでその
時点の皿1a上の全試料重量Ｗを除することによって単重
μを算出し、単重メモリの内容を更新する（ST14）。そ
して、単重推定のためのサンプリングを終了するまで
は、ST6以下へと戻って次回の追加時における許容個数
Ｋを算出して記憶する等、同様のルーチンを繰り返す。
以上のように、確率P0以上で計数誤差の生じない最大の
追加個数である許容個数Ｋが、試料を皿1a上に載せてゆ
くごとに算出され、追加個数ｋがＫ以下の場合に限っ
て、その追加個数ｋに基づく単重μの更新がなされる。
追加個数である許容個数Ｋが、試料を皿1a上に載せてゆ
くごとに算出され、追加個数ｋがＫ以下の場合に限っ
て、その追加個数ｋに基づく単重μの更新がなされる。
なお、以上の実施例においては、十分１に近い確率P0を
定めておき、次回の追加時における許容個数を全てその
確率P0に基づいて算出した例を示したが、例えばＮ回に
亘る追加による全サンプリング後に得られた単重μがあ
る確率PPのもとに正確であるということを保証すること
は、１回ごとのサンプリングにおいてそれぞれ正確であ
るという確率P1,P2…PNの積、つまり が、 を満足するということである。そこで、最終的にPPの確
率以上で単重μの正さを保証するに当たっては、Ｎ回の
試料追加でサンプリングを終了すると定めた場合におい
て、前述したP0は、 によってあらかじめ求めておく必要がある。
定めておき、次回の追加時における許容個数を全てその
確率P0に基づいて算出した例を示したが、例えばＮ回に
亘る追加による全サンプリング後に得られた単重μがあ
る確率PPのもとに正確であるということを保証すること
は、１回ごとのサンプリングにおいてそれぞれ正確であ
るという確率P1,P2…PNの積、つまり が、 を満足するということである。そこで、最終的にPPの確
率以上で単重μの正さを保証するに当たっては、Ｎ回の
試料追加でサンプリングを終了すると定めた場合におい
て、前述したP0は、 によってあらかじめ求めておく必要がある。
この（16）式に基づく確率P0は、最終的な保証に供する
確率PPをあらかじめ設定しておき、最終的な追加回数Ｎ
をキーボード３等によって入力することで、マイクロコ
ンピュータ２が自動的に算出するよう構成することもで
きる。
確率PPをあらかじめ設定しておき、最終的な追加回数Ｎ
をキーボード３等によって入力することで、マイクロコ
ンピュータ２が自動的に算出するよう構成することもで
きる。
以上は、各試料追加時の許容個数を、前回までに皿1a上
に載せられた個数（総個数メモリの内容Ｔ）を用いてサ
ンプリング中に順次算出する場合について説明したが、
次に、サンプリング前にＮ回に亘る各追加時におけるそ
れぞれの許容個数を算出する例を説明する。
に載せられた個数（総個数メモリの内容Ｔ）を用いてサ
ンプリング中に順次算出する場合について説明したが、
次に、サンプリング前にＮ回に亘る各追加時におけるそ
れぞれの許容個数を算出する例を説明する。
第５図はその例の構成を示すブロック図で、第６図はそ
のROM22に書き込まれたプログラムの単重推定ルーチン
の内容を示すフローチャートである。
のROM22に書き込まれたプログラムの単重推定ルーチン
の内容を示すフローチャートである。
この第５図の例において第３図の例とハードウェア上で
相違する点は、警告灯５に代えて、許容個数Kiに対する
追加個数kiの過不足数をデジタル的に表示するための過
不足数表示器６を設けている点であり、他の共通する部
材は第３図と同一の番号を付してその説明を省略する。
なお、RAM23には、前述の例と同様の単重メモリおよび
総個数メモリ等のほか、各許容個数Kiを記憶するエリア
が設定されている。
相違する点は、警告灯５に代えて、許容個数Kiに対する
追加個数kiの過不足数をデジタル的に表示するための過
不足数表示器６を設けている点であり、他の共通する部
材は第３図と同一の番号を付してその説明を省略する。
なお、RAM23には、前述の例と同様の単重メモリおよび
総個数メモリ等のほか、各許容個数Kiを記憶するエリア
が設定されている。
以下、第６図を参照しつつ作用を述べる。
測定に先立って、まず試料の変動係数CVを入力する（ST
21）。これにより、既定の初期載置個数K0とこのCVを用
いて、あらかじめ設定されている１に十分近い確率P0以
上で１回目の追加時に計数誤差の生じない最大の追加個
数、すなわち許容個数K1が算出され、記憶される（ST2
2）。このK1は（13）式のP0を満足するβから、（12）
式のｎをK0とすることで算出できる。
21）。これにより、既定の初期載置個数K0とこのCVを用
いて、あらかじめ設定されている１に十分近い確率P0以
上で１回目の追加時に計数誤差の生じない最大の追加個
数、すなわち許容個数K1が算出され、記憶される（ST2
2）。このK1は（13）式のP0を満足するβから、（12）
式のｎをK0とすることで算出できる。
次に、あらかじめ定められたサンプリング回数Ｎに応じ
て、２回目以降Ｎ回目までの各追加時における許容個数
Kiを、K2から順に同様に（12）式のｎを として算出し、それぞれ記憶する（ST23,ST24,ST25,ST2
6）。つまり、１回目以降Ｎ−１回目までの追加個数ki
を全て該当するKiと等しくすると仮定するわけである。
て、２回目以降Ｎ回目までの各追加時における許容個数
Kiを、K2から順に同様に（12）式のｎを として算出し、それぞれ記憶する（ST23,ST24,ST25,ST2
6）。つまり、１回目以降Ｎ−１回目までの追加個数ki
を全て該当するKiと等しくすると仮定するわけである。
以上のKiの算出後、皿1a上にK0個の試料を載せると（ST
27），試料重量Ｗが決定・記憶され（ST28）、最初の単
重μが算される（ST29）。このμとK0はそれぞれ単重メ
モリおよび総個数メモリに格納される（ST30）。
27），試料重量Ｗが決定・記憶され（ST28）、最初の単
重μが算される（ST29）。このμとK0はそれぞれ単重メ
モリおよび総個数メモリに格納される（ST30）。
この状態で試料の追加を開始するが、試料を追加するご
とに、追加重量Waと単重μから追加個数Kiが算出され、
対応する許容個数Kiに対する差△が算出される（ST31,S
T32,ST33,ST34,ST35）。そしてkiがKiに満たない場合に
は、過不足数表示器６にその旨を例えば“Add△”の形
で表示し、kiがKiを越えている場合にはその旨を“Sub|
△|"の形等で表示する（ST36,ST37,ST39）。その表示に
基づいて作業者が皿1a上の試料の追加もしくは除去を行
うと（ST38,ST40）、ST33へと戻ってkiが算出し直され
る。
とに、追加重量Waと単重μから追加個数Kiが算出され、
対応する許容個数Kiに対する差△が算出される（ST31,S
T32,ST33,ST34,ST35）。そしてkiがKiに満たない場合に
は、過不足数表示器６にその旨を例えば“Add△”の形
で表示し、kiがKiを越えている場合にはその旨を“Sub|
△|"の形等で表示する（ST36,ST37,ST39）。その表示に
基づいて作業者が皿1a上の試料の追加もしくは除去を行
うと（ST38,ST40）、ST33へと戻ってkiが算出し直され
る。
追加個数kiが対応する許容個数Kiに一致すると、そのki
が総個数メモリに加算格納されるとともに、新たに総個
数メモリの内容Ｔで皿1a上の試料重量Ｗを除すことによ
って単重μが算出され、単重メモリの内容が更新される
（ST36,ST41,ST42）。
が総個数メモリに加算格納されるとともに、新たに総個
数メモリの内容Ｔで皿1a上の試料重量Ｗを除すことによ
って単重μが算出され、単重メモリの内容が更新される
（ST36,ST41,ST42）。
以上の動作が各試料の追加ごとに行われ、追加回数がＮ
回に達するまでは、kiとKiが一致するごとに過不足数表
示器６に例えば“Next"の表示を行って次の試料追加を
促し、Ｎ回に達した時点でサンプリングを終了する（ST
43,ST44,S45）。
回に達するまでは、kiとKiが一致するごとに過不足数表
示器６に例えば“Next"の表示を行って次の試料追加を
促し、Ｎ回に達した時点でサンプリングを終了する（ST
43,ST44,S45）。
なお、この例においても、確率P0は前述した（16）式等
に基づいてマイクロコンピュータ２が自動的に算出する
よう構成することができる。
に基づいてマイクロコンピュータ２が自動的に算出する
よう構成することができる。
また、Kiに対するkiの過不足は、上述の例のように個数
で表示する以外に、単に不足、過剰、一致等を表すラン
プを設けて適宜のものを点灯するよう構成してもよい。
で表示する以外に、単に不足、過剰、一致等を表すラン
プを設けて適宜のものを点灯するよう構成してもよい。
更に上述の例ではkiがKiと一致しなければ単重μの更新
を行わないように構成したが、作業性を重視する場合に
は次のように構成してもよい。
を行わないように構成したが、作業性を重視する場合に
は次のように構成してもよい。
すなわち、各許容個数Kiが決定した後に、その各Kiより
も所定個数、例えば５個づつ少ない個数▲Ｋ′ ｉ▼＝Ki
−５（ｉ＝1,2,...N）を算出しておき、追加個数kiが、 ▲Ｋ′ ｉ▼≦ki≦Ki ……（17） を満足したときにST41以下へと進む。この手法による
と、論理的には必ずしも を満足するとは限らないが、PPに近似した確率のもとに
保証がなされることになり、実用上は大きな問題となら
ない。
も所定個数、例えば５個づつ少ない個数▲Ｋ′ ｉ▼＝Ki
−５（ｉ＝1,2,...N）を算出しておき、追加個数kiが、 ▲Ｋ′ ｉ▼≦ki≦Ki ……（17） を満足したときにST41以下へと進む。この手法による
と、論理的には必ずしも を満足するとは限らないが、PPに近似した確率のもとに
保証がなされることになり、実用上は大きな問題となら
ない。
以上説明した各例において、試料の変動係数CVについて
は、実用的にはあまり厳密に推定できる量ではないこと
から、あらかじめＭ個の離散的な係数CV1,CV2,…,CV
M（０＜CV1＜CV2…＜CVM）を設定しておき、入力された
変動係数CVをこれらと比較し、 CVi-1＜CV≦CVi ……（19） もしくは、 ０＜CV≦CV1 ……（20） または、 CVM＜CV ……（21） であるときに、CViもしくはCV1またはCVMをもってこの
試料の変動係数とし、（12）式の演算に供してもよい。
この場合、第６図に示した例においては、Ko,Nが一定で
CVが決まっておれば許容個数列｛Ki｝を算出できること
から、各CViに対応して許容個数列｛Kij｝をあらかじめ
算出して記憶しておき、（19），（20），または（21）
の結果に応じて直ちに対応する｛Kij｝を許容個数列と
して採用するよう構成することができる。なお、CViの
個数，互いの差等はROMの容量に応じて決定すればよ
い。
は、実用的にはあまり厳密に推定できる量ではないこと
から、あらかじめＭ個の離散的な係数CV1,CV2,…,CV
M（０＜CV1＜CV2…＜CVM）を設定しておき、入力された
変動係数CVをこれらと比較し、 CVi-1＜CV≦CVi ……（19） もしくは、 ０＜CV≦CV1 ……（20） または、 CVM＜CV ……（21） であるときに、CViもしくはCV1またはCVMをもってこの
試料の変動係数とし、（12）式の演算に供してもよい。
この場合、第６図に示した例においては、Ko,Nが一定で
CVが決まっておれば許容個数列｛Ki｝を算出できること
から、各CViに対応して許容個数列｛Kij｝をあらかじめ
算出して記憶しておき、（19），（20），または（21）
の結果に応じて直ちに対応する｛Kij｝を許容個数列と
して採用するよう構成することができる。なお、CViの
個数，互いの差等はROMの容量に応じて決定すればよ
い。
更には、一般に単重値（試料平均重量）の小さいものほ
ど変動係数は大きく、単重値の大きいものほど変動係数
は小さいという傾向があることから、上述のようなCVi
を定めておくとともに、その各CViについて単重値を定
めておき、初期載置個数K0を皿1a上に載せた後の最初の
単重の算出値により、対応するCViを当該試料の変動係
数とすることもできる。
ど変動係数は大きく、単重値の大きいものほど変動係数
は小さいという傾向があることから、上述のようなCVi
を定めておくとともに、その各CViについて単重値を定
めておき、初期載置個数K0を皿1a上に載せた後の最初の
単重の算出値により、対応するCViを当該試料の変動係
数とすることもできる。
更にまた、試料の変動係数をこの電子計数はかりによっ
て求めるよう構成してもよい。すなわち、キーボード３
の何らかのキー操作等によって変動係数測定モードを選
択できるように構成しておき、このモードにおいては、
例えば試料を１個づづ皿1a上に載せていってその都度荷
重データをRAM23に格納し、ｍ個に達した時点で前述し
た（14）式を用いて変動係数CVを求めるようにすればよ
い。
て求めるよう構成してもよい。すなわち、キーボード３
の何らかのキー操作等によって変動係数測定モードを選
択できるように構成しておき、このモードにおいては、
例えば試料を１個づづ皿1a上に載せていってその都度荷
重データをRAM23に格納し、ｍ個に達した時点で前述し
た（14）式を用いて変動係数CVを求めるようにすればよ
い。
なお、ハードウェアとしては、内蔵のマイクロコンピュ
ータ２にパーソナルコンピュータ等を接続して、適宜の
ルーチンを分担をさせるよう構成し得ることは勿論であ
る。
ータ２にパーソナルコンピュータ等を接続して、適宜の
ルーチンを分担をさせるよう構成し得ることは勿論であ
る。
＜発明の効果＞ 以上説明したように、本発明によれば、あらかじめ試料
の変動係数に係る情報と確率を設定しておくだけで、そ
の確率のもとに計数誤差を生じずに追加個数を算出する
ことのできる許容個数を求め、追加個数がその許容個数
を越えているときには単重の更新を実行しないよう構成
したから、単重の推定値に対して定量的に明確な保証を
行うことができ、ひいては計数結果を保証することがで
き、その信頼性を大幅に向上させることのできる電子計
数はかりが得られる。また、実際の作業においても試料
を計数する等の煩雑さがなく、取扱いが簡単で正確な電
子計数はかりが得られる。
の変動係数に係る情報と確率を設定しておくだけで、そ
の確率のもとに計数誤差を生じずに追加個数を算出する
ことのできる許容個数を求め、追加個数がその許容個数
を越えているときには単重の更新を実行しないよう構成
したから、単重の推定値に対して定量的に明確な保証を
行うことができ、ひいては計数結果を保証することがで
き、その信頼性を大幅に向上させることのできる電子計
数はかりが得られる。また、実際の作業においても試料
を計数する等の煩雑さがなく、取扱いが簡単で正確な電
子計数はかりが得られる。
第１図は第１の発明の構成を示す基本概略図、 第２図は第２の発明の構成を示す基本概略図、 第３図は第１の発明の実施例の構成を示すブロック図、 第４図はそのROM22に書き込まれたプログラムの単重推
定ルーチンの内容を示すフローチャート、 第５図は第２の発明の実施例の構成を示すブロック図、 第６図はそのROM22に書き込まれたプログラムの単重推
定ルーチンの内容を示すフローチャートである。 １……荷重検出部 1a……皿 ２……マイクロコンピュータ 21……CPU 22……ROM 23……RAM ３……キーボード ４……表示器 ５……警告灯 ６……過不足数表示器
定ルーチンの内容を示すフローチャート、 第５図は第２の発明の実施例の構成を示すブロック図、 第６図はそのROM22に書き込まれたプログラムの単重推
定ルーチンの内容を示すフローチャートである。 １……荷重検出部 1a……皿 ２……マイクロコンピュータ 21……CPU 22……ROM 23……RAM ３……キーボード ４……表示器 ５……警告灯 ６……過不足数表示器
Claims (4)
- 【請求項１】皿上に載せられた荷重を検出する荷重検出
部と、計数すべき試料の単重を記憶する単重メモリと、
上記荷重検出部による検出値と上記単重メモリの内容か
ら、皿上に追加された試料個数を算出する追加個数算出
手段と、その追加個数算出手段による算出結果を加算格
納する総個数メモリと、その総個数メモリの内容と上記
荷重検出部による検出値から試料の単重を算出して上記
単重メモリの内容を更新する単重算出手段を備えた計数
はかりにおいて、試料の変動係数に係る情報を設定する
変動係数設定手段と、確率P0を設定する確率設定手段
と、これらの設定内容と上記総個数メモリの内容を用い
て、上記確率P0以上で計数誤差なく次の追加個数を算出
し得る最大の許容個数を算出する許容追加個数算出手段
と、その算出された許容個数と上記追加個数算出手段に
より算出された追加個数を比較する比較手段を備え、そ
の比較結果に基づいて、算出された追加個数が許容個数
以下のときに限り、当該追加個数を上記総個数メモリに
加算格納するとともに、上記単重算出手段による単重の
算出・更新を実行するよう構成されていることを特徴と
する、電子計数はかり。 - 【請求項２】上記確率設定手段は、別途設定されている
確率PPに基づいて、あらかじめ設定される単重算出のた
めの試料の追加回数Ｎに応じて、設定すべき確率P0を、
そのＮ個の積が上記確率PPよりも小さくならないように
自動的に算出・設定するよう構成されていることを特徴
とする、請求項１に記載の電子計数はかり。 - 【請求項３】皿上に載せられた荷重を検出する荷重検出
部と、計数すべき試料の単重を記憶する単重メモリと、
上記荷重検出部による検出値と上記単重メモリの内容か
ら、皿上に追加された試料個数を算出する追加個数算出
手段と、その追加個数算出手段による算出結果を加算格
納する総個数メモリと、その総個数メモリの内容と上記
荷重検出部による検出値から試料の単重を更新して上記
単重メモリの内容を更新する単重算出手段を備えた計数
はかりにおいて、試料の変動係数に係る情報を設定する
変動係数設定手段と、確率P0を設定する確率設定手段
と、あらかじめ設定されている皿上への初期載置個数K0
およびそれ以後の試料の追加回数Ｎに応じて、各試料追
加時において上記確率P0で計数誤差なく追加個数を算出
し得る各最大の許容個数K1,K2,…KNを算出して記憶する
許容追加個数算出記憶手段と、各追加時において上記追
加個数算出手段により算出された追加個数と上記許容追
加個数算出記憶手段における該当する許容個数とを比較
する比較手段と、その比較結果の報知手段を備え、上記
許容追加個数算出記憶手段は、少なくとも一回目の試料
追加前に、上記変動係数設定手段と確率設定手段の各設
定内容、および を用いて、上記各許容個数KiをK1から順次算出して記憶
するよう構成されていることを特徴とする、電子計数は
かり。 - 【請求項４】上記比較手段による比較結果に基づいて、
上記報知手段は、各試料追加時における上記追加個数算
出手段による算出結果kiの、該当する許容個数Kiに対す
る過不足数を表示するとともに、上記許容追加個数算出
記憶手段における各許容個数K1,K2,…KNに基づいて、そ
の各許容個数K1,K2,…KNよりそれぞれ所定個数だけ少な
い個数K1′,K2′，…KN′を算出し、上記比較手段は、
各試料追加時における上記追加個数算出手段による算出
結果kiが、 Ki′≦ki≦Ki を満足するか否かの比較判別を行い、満足する場合に限
って当該追加個数kiを上記総個数メモリに加算格納する
とともに、上記単重算出手段による単重の算出・更新を
実行するよう構成されていることを特徴とする、請求項
３に記載の電子計数はかり。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63009302A JPH07113575B2 (ja) | 1988-01-18 | 1988-01-18 | 電子計数はかり |
| EP89300471A EP0325439B1 (en) | 1988-01-18 | 1989-01-18 | Electronic counting balance |
| CN89101833A CN1019998C (zh) | 1988-01-18 | 1989-01-18 | 电子计数秤 |
| US07/298,567 US4958693A (en) | 1988-01-18 | 1989-01-18 | Electronic counting balance |
| DE68914478T DE68914478T2 (de) | 1988-01-18 | 1989-01-18 | Elektronische Waage zum Zählen. |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63009302A JPH07113575B2 (ja) | 1988-01-18 | 1988-01-18 | 電子計数はかり |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01184419A JPH01184419A (ja) | 1989-07-24 |
| JPH07113575B2 true JPH07113575B2 (ja) | 1995-12-06 |
Family
ID=11716675
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63009302A Expired - Fee Related JPH07113575B2 (ja) | 1988-01-18 | 1988-01-18 | 電子計数はかり |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07113575B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0460425A (ja) * | 1990-06-29 | 1992-02-26 | Ishida Scales Mfg Co Ltd | 計数装置 |
| JP2956859B2 (ja) * | 1991-03-29 | 1999-10-04 | 株式会社島津製作所 | 計数はかり |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6031023A (ja) * | 1983-07-29 | 1985-02-16 | Shimadzu Corp | 電子計数はかり |
| JPS62113030A (ja) * | 1985-11-12 | 1987-05-23 | Anritsu Corp | 計数装置 |
-
1988
- 1988-01-18 JP JP63009302A patent/JPH07113575B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01184419A (ja) | 1989-07-24 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |