JPH0135483Y2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0135483Y2 JPH0135483Y2 JP6819284U JP6819284U JPH0135483Y2 JP H0135483 Y2 JPH0135483 Y2 JP H0135483Y2 JP 6819284 U JP6819284 U JP 6819284U JP 6819284 U JP6819284 U JP 6819284U JP H0135483 Y2 JPH0135483 Y2 JP H0135483Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- semiconductor circuit
- socket
- pin
- circuit
- conductor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 36
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 33
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 5
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 5
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 4
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910000906 Bronze Inorganic materials 0.000 description 1
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010974 bronze Substances 0.000 description 1
- KUNSUQLRTQLHQQ-UHFFFAOYSA-N copper tin Chemical compound [Cu].[Sn] KUNSUQLRTQLHQQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 239000010408 film Substances 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Structures For Mounting Electric Components On Printed Circuit Boards (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
(技術分野)
本考案はパツケージ化された半導体回路の保護
装置に関する。
装置に関する。
(従来技術)
近年、半導体技術の進歩発展により、電子回路
の大部分が薄膜、厚膜等の集積回路によりパツケ
ージ化されるようになつてきている。このような
パツケージ化された半導体回路は、通常TO−5
パツケージやデイツプ形のパツケージ内に封入さ
れ、外部回路との接続は、パツケージから外部に
突き出したピンにより行うようになつている。具
体的には、これらピンを例えばプリント板のスル
ーホールに挿入して、ハンダ付けしている。
の大部分が薄膜、厚膜等の集積回路によりパツケ
ージ化されるようになつてきている。このような
パツケージ化された半導体回路は、通常TO−5
パツケージやデイツプ形のパツケージ内に封入さ
れ、外部回路との接続は、パツケージから外部に
突き出したピンにより行うようになつている。具
体的には、これらピンを例えばプリント板のスル
ーホールに挿入して、ハンダ付けしている。
ところで、MOS形ICや半導体レーザダイオー
ド等の素子は、空間電荷による高電圧や電磁波に
よる過電流等によつて破壊することがある。従つ
て、このような部品を含む半導体回路をプリント
板にハンダ付けする場合等においては、すばやく
ハンダ付けすることによつて破損を最小限にくい
とめるか、ピン相互間に導線を巻付けておいて、
ハンダ付けが終了したら、この導線を取り除く等
の方法がとられている。しかしながら、ハンダ付
けでは、素子が破壊されたときの着脱が不便であ
るし、プリント板にハンダ付けするときの操作も
煩雑である。
ド等の素子は、空間電荷による高電圧や電磁波に
よる過電流等によつて破壊することがある。従つ
て、このような部品を含む半導体回路をプリント
板にハンダ付けする場合等においては、すばやく
ハンダ付けすることによつて破損を最小限にくい
とめるか、ピン相互間に導線を巻付けておいて、
ハンダ付けが終了したら、この導線を取り除く等
の方法がとられている。しかしながら、ハンダ付
けでは、素子が破壊されたときの着脱が不便であ
るし、プリント板にハンダ付けするときの操作も
煩雑である。
(考案の目的)
本考案はこのような点に鑑みてなされたもので
あつて、その目的は、着脱が容易で、且つ回路中
の素子を静電破壊等から確実に保護することので
きる半導体回路の保護装置を実現することにあ
る。
あつて、その目的は、着脱が容易で、且つ回路中
の素子を静電破壊等から確実に保護することので
きる半導体回路の保護装置を実現することにあ
る。
(考案の構成)
このような目的を達成する本考案は、半導体回
路のパツケージに外部ソケツトと接続するための
複数個の接続用ピンを設け、該パツケージの所定
の位置にこれらピンとパツケージ内半導体回路の
導体部分とを短絡可能にするためのバネ性導体を
設け、ピンと導体部分との接触はパツケージを外
部ソケツトに挿入することにより断たれるように
構成したことを特徴とするものである。
路のパツケージに外部ソケツトと接続するための
複数個の接続用ピンを設け、該パツケージの所定
の位置にこれらピンとパツケージ内半導体回路の
導体部分とを短絡可能にするためのバネ性導体を
設け、ピンと導体部分との接触はパツケージを外
部ソケツトに挿入することにより断たれるように
構成したことを特徴とするものである。
(実施例)
以下、図面を参照して本考案の実施例を詳細に
説明する。
説明する。
第1図は、本考案の一実施例を示す機械的構成
図である。図において、1はパツケージ化された
半導体回路、2は該半導体回路1の取り付けられ
た基板、3は半導体回路1と外部回路とを接続す
るためのピンである。図では、ピンが2本の場合
を示しているが、これに限るものではなく任意の
数のピンであつてよい。又、パツケージ及び基板
2の形状も図に示すものに限る必要はなく、任意
の形状であつてもよい。
図である。図において、1はパツケージ化された
半導体回路、2は該半導体回路1の取り付けられ
た基板、3は半導体回路1と外部回路とを接続す
るためのピンである。図では、ピンが2本の場合
を示しているが、これに限るものではなく任意の
数のピンであつてよい。又、パツケージ及び基板
2の形状も図に示すものに限る必要はなく、任意
の形状であつてもよい。
4はその一端がピン3の一方と接触するように
取り付けられたバネ性(弾性)を有した導体であ
る。該バネ性導体4の他端は、半導体回路1の所
定の導体部分と接続されている。バネ性導体4の
材料としては、例えばりん青銅が用いられる。こ
のように構成された装置の動作を説明すれば、以
下の通りである。
取り付けられたバネ性(弾性)を有した導体であ
る。該バネ性導体4の他端は、半導体回路1の所
定の導体部分と接続されている。バネ性導体4の
材料としては、例えばりん青銅が用いられる。こ
のように構成された装置の動作を説明すれば、以
下の通りである。
バネ性導体4は、通常は図に示すように半導体
回路1の導体部分とピン3との間を短絡してい
る。このような短絡は、この間に静電気或いは電
磁波が印加されると、内部素子(例えば
MOSFET)が破壊されるような端子間について
行うものとする。即ち、高圧電界が印加されると
内部素子が静電破壊されるおそれがある場合に、
そのような箇所を予めバネ性導体4で短絡してお
くのである。このようにしておけば、高圧電界が
印加されることがなくなるので、内部素子、従つ
て半導体回路1は保護される。
回路1の導体部分とピン3との間を短絡してい
る。このような短絡は、この間に静電気或いは電
磁波が印加されると、内部素子(例えば
MOSFET)が破壊されるような端子間について
行うものとする。即ち、高圧電界が印加されると
内部素子が静電破壊されるおそれがある場合に、
そのような箇所を予めバネ性導体4で短絡してお
くのである。このようにしておけば、高圧電界が
印加されることがなくなるので、内部素子、従つ
て半導体回路1は保護される。
第2図は、第1図に示す半導体パツケージをプ
リント板に取り付けた状態を示す図である。第1
図と同一のものは、同一の番号を付して示す。1
1はプリント板、12は該プリント板11に取り
付けられたソケツトである。ソケツト12は、そ
の底部に設けられたピン13をプリント板11に
ハンダ付けすることにより、プリント板11と固
着される。14はハンダである。15はソケツト
ピン13と導通しているピンホルダで、ソケツト
内部に設けられている。
リント板に取り付けた状態を示す図である。第1
図と同一のものは、同一の番号を付して示す。1
1はプリント板、12は該プリント板11に取り
付けられたソケツトである。ソケツト12は、そ
の底部に設けられたピン13をプリント板11に
ハンダ付けすることにより、プリント板11と固
着される。14はハンダである。15はソケツト
ピン13と導通しているピンホルダで、ソケツト
内部に設けられている。
このように構成されたソケツト12に、半導体
回路1がピン3を介して挿入される。ピン3は、
ソケツト12内のピンホルダ15に保持され、こ
のことにより半導体回路1は、プリント板11上
に構成された電気回路(図示せず)と接続され
る。半導体パツケージがソケツト12に挿入され
ると、それまでピン3と接触していたバネ性導体
4は、ソケツト12のために外に向けて押し出さ
れる。この結果、半導体回路1の所定の導体部分
とピン3との接触は断たれることになる。しかし
ながら、その代わりにバネ性導体4で短絡されて
いた部分には、プリント板11上に構成された電
気回路が接続されるので、直接その部分に高圧電
界が印加されることはなくなる。又、逆に半導体
回路1が電気回路の一部に組込まれたにも拘わら
ず、その導体部分とピン3とが短絡されているこ
とは不都合である。従つて、半導体回路1がソケ
ツト12に封入されたときには、バネ性導体4は
ピン3から外れる必要がある。図に示す装置によ
れば、バネ性導体4は、ソケツト12の物理的制
約のためにピン3と接触できないので好都合であ
る。
回路1がピン3を介して挿入される。ピン3は、
ソケツト12内のピンホルダ15に保持され、こ
のことにより半導体回路1は、プリント板11上
に構成された電気回路(図示せず)と接続され
る。半導体パツケージがソケツト12に挿入され
ると、それまでピン3と接触していたバネ性導体
4は、ソケツト12のために外に向けて押し出さ
れる。この結果、半導体回路1の所定の導体部分
とピン3との接触は断たれることになる。しかし
ながら、その代わりにバネ性導体4で短絡されて
いた部分には、プリント板11上に構成された電
気回路が接続されるので、直接その部分に高圧電
界が印加されることはなくなる。又、逆に半導体
回路1が電気回路の一部に組込まれたにも拘わら
ず、その導体部分とピン3とが短絡されているこ
とは不都合である。従つて、半導体回路1がソケ
ツト12に封入されたときには、バネ性導体4は
ピン3から外れる必要がある。図に示す装置によ
れば、バネ性導体4は、ソケツト12の物理的制
約のためにピン3と接触できないので好都合であ
る。
上述の説明では、半導体回路をプリント板に取
り付ける場合について説明したが、本考案はこれ
に限るものではなく、半導体回路と他の電気回路
を接続する場合の全てについて適用することがで
きる。第3図は、本考案の他の実施例を示す機械
的構成図である。図は、半導体回路としてのレー
ザダイオードをソケツトに接続した状態を示して
いる。図において、21は筐体、22は回路ケー
ス、23はレーザダイオード、24は該レーザダ
イオード23が封入されるソケツト、25は該ソ
ケツト24のソケツト端子、26は基板である。
レーザダイオード23は、ソケツト端子25を介
して外部電気回路と接続される。図中には示され
ていないが、基板26中には電気回路(例えばレ
ーザダイオード23の駆動回路)が封入されてお
り、この電気回路とソケツト端子25とは接続さ
れている。
り付ける場合について説明したが、本考案はこれ
に限るものではなく、半導体回路と他の電気回路
を接続する場合の全てについて適用することがで
きる。第3図は、本考案の他の実施例を示す機械
的構成図である。図は、半導体回路としてのレー
ザダイオードをソケツトに接続した状態を示して
いる。図において、21は筐体、22は回路ケー
ス、23はレーザダイオード、24は該レーザダ
イオード23が封入されるソケツト、25は該ソ
ケツト24のソケツト端子、26は基板である。
レーザダイオード23は、ソケツト端子25を介
して外部電気回路と接続される。図中には示され
ていないが、基板26中には電気回路(例えばレ
ーザダイオード23の駆動回路)が封入されてお
り、この電気回路とソケツト端子25とは接続さ
れている。
27はレーザダイオード23の発光を集光する
レンズ、28はレンズケース、29はレンズ27
を固定するレンズ固定ネジ、30はレンズケース
28のガタを吸収するための反発バネ、31はレ
ーザダイオード23のケースをアース電位(回路
ケース22の電位)におとすためのアースバネ、
32は基板26を押さえるための基板押さえネ
ジ、33はカバー、34はゴムブツシユである。
レンズ、28はレンズケース、29はレンズ27
を固定するレンズ固定ネジ、30はレンズケース
28のガタを吸収するための反発バネ、31はレ
ーザダイオード23のケースをアース電位(回路
ケース22の電位)におとすためのアースバネ、
32は基板26を押さえるための基板押さえネ
ジ、33はカバー、34はゴムブツシユである。
レーザダイオード23には、第1図に示したと
同様のバネ性導体35が取り付けられている
(尚、第3図中では、該バネ性導体35とレーザ
ダイオード23を黒塗りに一体的に示した)。
同様のバネ性導体35が取り付けられている
(尚、第3図中では、該バネ性導体35とレーザ
ダイオード23を黒塗りに一体的に示した)。
このように構成された装置において、レーザダ
イオード23をソケツト24に挿入しない状態に
おいては、バネ性導体35がレーザダイオード2
3の所定の導体部分とピン部とを短絡し、高電界
が印加された場合等からレーザダイオード23を
保護している。このレーザダイオード23がソケ
ツト24に挿入されると、バネ性導体35は物理
的にレーザダイオード23のピンと接触すること
が不可能になり、接触が断たれる。代わりに、そ
れまでバネ性導体35で保護されていた部分には
外部の電気回路がソケツト端子25を介して接続
されるので、レーザダイオード23に直接高圧電
界が印加されることはなくなり、該レーザダイオ
ード23は保護される。この間の事情は第2図に
示した場合と同様である。
イオード23をソケツト24に挿入しない状態に
おいては、バネ性導体35がレーザダイオード2
3の所定の導体部分とピン部とを短絡し、高電界
が印加された場合等からレーザダイオード23を
保護している。このレーザダイオード23がソケ
ツト24に挿入されると、バネ性導体35は物理
的にレーザダイオード23のピンと接触すること
が不可能になり、接触が断たれる。代わりに、そ
れまでバネ性導体35で保護されていた部分には
外部の電気回路がソケツト端子25を介して接続
されるので、レーザダイオード23に直接高圧電
界が印加されることはなくなり、該レーザダイオ
ード23は保護される。この間の事情は第2図に
示した場合と同様である。
上述したバネ性導体は必ずしも図に示す形状の
ものに限る必要はなく、半導体回路をソケツトに
挿入したときに該半導体回路の所定の導体部分と
ピンとの接触が断たれるものであればどのような
構造のものであつてもよい。又、ピンとの接触が
も1個に限る必要はなく、複数個のピンと同時に
接触する構造のものであつてもよく、複数個の導
体部分と、複数個のピンがそれぞれ複数個のバネ
性導体で短絡されるような構成のものであつても
よい。
ものに限る必要はなく、半導体回路をソケツトに
挿入したときに該半導体回路の所定の導体部分と
ピンとの接触が断たれるものであればどのような
構造のものであつてもよい。又、ピンとの接触が
も1個に限る必要はなく、複数個のピンと同時に
接触する構造のものであつてもよく、複数個の導
体部分と、複数個のピンがそれぞれ複数個のバネ
性導体で短絡されるような構成のものであつても
よい。
(考案の効果)
以上詳細に説明したように、本考案によれば、
通常は半導体回路の導体部分と半導体回路のピン
とを短絡しておき、該半導体回路とソケツトに挿
入したときに導体部分とピンとの接触が断たれる
構成にすることにより、着脱が容易で、且つ回路
中の素子を静電破壊等から確実に保護することの
できる半導体回路の保護装置を実現することがで
きる。
通常は半導体回路の導体部分と半導体回路のピン
とを短絡しておき、該半導体回路とソケツトに挿
入したときに導体部分とピンとの接触が断たれる
構成にすることにより、着脱が容易で、且つ回路
中の素子を静電破壊等から確実に保護することの
できる半導体回路の保護装置を実現することがで
きる。
第1図は本考案の一実施例を示す機械的構成
図、第2図は第1図に示す半導体パツケージをプ
リント板に取り付けた状態を示す図、第3図は本
考案の他の実施例を示す機械的構成図である。 1……半導体回路、2……基板、3,13……
ピン、4,35……バネ性導体、11……プリン
ト板、12,24……ソケツト、14……ハン
ダ、15……ピンホルダ、21……筐体、22…
…回路ケース、23……レーザダイオード、25
……ソケツト端子、26……基板、27……レン
ズ、28……レンズケース、29……レンズ固定
ネジ、30……反発バネ、31……アースバネ、
32……基板押さえネジ、33……カバー、34
……ゴムブツシユ。
図、第2図は第1図に示す半導体パツケージをプ
リント板に取り付けた状態を示す図、第3図は本
考案の他の実施例を示す機械的構成図である。 1……半導体回路、2……基板、3,13……
ピン、4,35……バネ性導体、11……プリン
ト板、12,24……ソケツト、14……ハン
ダ、15……ピンホルダ、21……筐体、22…
…回路ケース、23……レーザダイオード、25
……ソケツト端子、26……基板、27……レン
ズ、28……レンズケース、29……レンズ固定
ネジ、30……反発バネ、31……アースバネ、
32……基板押さえネジ、33……カバー、34
……ゴムブツシユ。
Claims (1)
- 半導体回路のパツケージに外部ソケツトと接続
するための複数個の接続用ピンを設け、該パツケ
ージの所定の位置にこれらピンとパツケージ内半
導体回路の導体部分とを短絡可能にするためのバ
ネ性導体を設け、ピンと導体部分との接触はパツ
ケージを外部ソケツトに挿入することにより断た
れるように構成したことを特徴とする半導体回路
の保護装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6819284U JPS60179046U (ja) | 1984-05-09 | 1984-05-09 | 半導体回路の保護装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6819284U JPS60179046U (ja) | 1984-05-09 | 1984-05-09 | 半導体回路の保護装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60179046U JPS60179046U (ja) | 1985-11-28 |
| JPH0135483Y2 true JPH0135483Y2 (ja) | 1989-10-30 |
Family
ID=30602721
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6819284U Granted JPS60179046U (ja) | 1984-05-09 | 1984-05-09 | 半導体回路の保護装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60179046U (ja) |
-
1984
- 1984-05-09 JP JP6819284U patent/JPS60179046U/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS60179046U (ja) | 1985-11-28 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5031076A (en) | Multifunctional card having a static protection | |
| US6610923B1 (en) | Multi-chip module utilizing leadframe | |
| JPH05196692A (ja) | 集積回路パッケージのテスト用のコネクタ・アセンブリ | |
| US5671121A (en) | Kangaroo multi-package interconnection concept | |
| JPH04329277A (ja) | プリント基板接続装置 | |
| JPH0638463B2 (ja) | 電子パッケージ | |
| JPH0135483Y2 (ja) | ||
| US3017550A (en) | Semiconductor device | |
| JP2817712B2 (ja) | 半導体装置及びその実装方法 | |
| JPH038632Y2 (ja) | ||
| KR100216499B1 (ko) | 칩 온 보드(Chip On Board) 패키지의 삽입형 테스트 소켓 | |
| JPH1050897A (ja) | 半導体装置 | |
| JP2798593B2 (ja) | 半導体装置 | |
| JPH07120543B2 (ja) | 電気コネクタ | |
| JP2879672B2 (ja) | 半導体パッケージのテスト用ソケット | |
| JPH0121566Y2 (ja) | ||
| KR100246317B1 (ko) | 반도체 패키지 | |
| KR800001583B1 (ko) | 전자시계 모듈의 제조방법 | |
| JP2003031710A (ja) | モノリシックicパッケージ | |
| JP2786047B2 (ja) | 樹脂封止型半導体装置 | |
| JPH04107191A (ja) | Icカード | |
| JPS62163351A (ja) | Icソケツト | |
| JPH06338366A (ja) | ツーピースコネクタ | |
| JPH0347331Y2 (ja) | ||
| JPH04188600A (ja) | 電子機器の接続孔の静電気侵入防止構造 |