JPH0142053Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0142053Y2 JPH0142053Y2 JP3809377U JP3809377U JPH0142053Y2 JP H0142053 Y2 JPH0142053 Y2 JP H0142053Y2 JP 3809377 U JP3809377 U JP 3809377U JP 3809377 U JP3809377 U JP 3809377U JP H0142053 Y2 JPH0142053 Y2 JP H0142053Y2
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- JP
- Japan
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- circuit
- voltage
- under test
- switch
- connection point
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 14
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 9
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 claims description 9
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 9
- 238000004804 winding Methods 0.000 claims description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は、漂遊容量の影響を除去するオフセツ
ト補正回路を具えた回路素子定数測定装置に係
る。
ト補正回路を具えた回路素子定数測定装置に係
る。
回路素子たる抵抗器、コンデンサ、インダクタ
等の定数を測定する回路素子定数測定装置は周知
である（例えば、特公昭50−27741号、特公昭53
−9539号）。かような測定装置には、測定線路に
分布する容量の影響を除去せんがためのオフセツ
ト補正回路を具えている。またこの容量は経時的
に装置の周囲温度等で変化するため、前記オフセ
ツト補正の設定を経時的にやり直す必要があつ
た。
等の定数を測定する回路素子定数測定装置は周知
である（例えば、特公昭50−27741号、特公昭53
−9539号）。かような測定装置には、測定線路に
分布する容量の影響を除去せんがためのオフセツ
ト補正回路を具えている。またこの容量は経時的
に装置の周囲温度等で変化するため、前記オフセ
ツト補正の設定を経時的にやり直す必要があつ
た。
本考案は上記欠点を解消するためになされたも
ので、被測定素子が逐時接続される度に自動的に
オフセツト補正がなされる回路素子定数測定装置
を提供せんとするものである。
ので、被測定素子が逐時接続される度に自動的に
オフセツト補正がなされる回路素子定数測定装置
を提供せんとするものである。
図は本考案の一実施例による回路素子定数測定
装置の回路図である。図において、一方の測定端
子１１は同期整流器１３の一方の入力端子１５
に、また他方の測定端子１７は標準素子（抵抗
器）１９を介して同期整流器１３の他方の入力端
子２１にそれぞれ接続される。同期整流器１３の
出力端子は計算回路２３に接続されると共に、開
閉スイツチ２５、ホールドコンデンサ２７、入力
インピーダンスが十分に大きい高利得増幅器２９
で構成される電圧保持回路３１に接続される。電
圧保持回路３１の出力端子は、オフセツト制御回
路３３における抵抗器３４を介し、更に変成器３
５の中間タツプが接地された二次巻線の両端子に
それぞれ電圧可変容量素子３７およびコンデンサ
３９を介して接続される。電圧可変容量素子３
７、コンデンサ３９の共通接続点４１は測定端子
１７と標準素子１９との共通接続点４３に直流阻
止用コンデンサ４５を介して接続される。測定端
子１１に接続された入力端子６１には測定電圧源
１から交流電圧erが供給される。共通接続点４３
は仮想接地となるようになつている。なお、この
理由については前記特許公告公報にも詳述されて
いるが、これを略記すれば次のとおりである。共
通接続点４３に生じた電圧は一方の入力端子が接
地された高増幅度を持つ増幅器（例えば、演算増
幅器や、AC→DC→AC変換形増幅器）で検出、
増幅される。そして該増幅器の出力は標準素子１
９の他方の端子６３に与えられ、測定端子１１，
１７間に流れる電流と標準素子１９に流れる電流
とが等しくなるように、換言すれば共通接続点４
３の電圧が零電圧（仮想接地）となるように制御
される。また、端子６１と接地との間に変成器３
５の１次巻線が接続される。なおスイツチ５１，
５３の開閉動作はタイミング回路６５によつて制
御されて、被測定素子（ここではコンデンサ）６
７が逐時測定端子１１，１７間に接続される。な
お、スイツチ５１，５３は必ずしも必要ではな
く、被測定素子６７を測定端子１１，１７間に接
続する動作が可能であればよい（例えば、手動操
作による）。
装置の回路図である。図において、一方の測定端
子１１は同期整流器１３の一方の入力端子１５
に、また他方の測定端子１７は標準素子（抵抗
器）１９を介して同期整流器１３の他方の入力端
子２１にそれぞれ接続される。同期整流器１３の
出力端子は計算回路２３に接続されると共に、開
閉スイツチ２５、ホールドコンデンサ２７、入力
インピーダンスが十分に大きい高利得増幅器２９
で構成される電圧保持回路３１に接続される。電
圧保持回路３１の出力端子は、オフセツト制御回
路３３における抵抗器３４を介し、更に変成器３
５の中間タツプが接地された二次巻線の両端子に
それぞれ電圧可変容量素子３７およびコンデンサ
３９を介して接続される。電圧可変容量素子３
７、コンデンサ３９の共通接続点４１は測定端子
１７と標準素子１９との共通接続点４３に直流阻
止用コンデンサ４５を介して接続される。測定端
子１１に接続された入力端子６１には測定電圧源
１から交流電圧erが供給される。共通接続点４３
は仮想接地となるようになつている。なお、この
理由については前記特許公告公報にも詳述されて
いるが、これを略記すれば次のとおりである。共
通接続点４３に生じた電圧は一方の入力端子が接
地された高増幅度を持つ増幅器（例えば、演算増
幅器や、AC→DC→AC変換形増幅器）で検出、
増幅される。そして該増幅器の出力は標準素子１
９の他方の端子６３に与えられ、測定端子１１，
１７間に流れる電流と標準素子１９に流れる電流
とが等しくなるように、換言すれば共通接続点４
３の電圧が零電圧（仮想接地）となるように制御
される。また、端子６１と接地との間に変成器３
５の１次巻線が接続される。なおスイツチ５１，
５３の開閉動作はタイミング回路６５によつて制
御されて、被測定素子（ここではコンデンサ）６
７が逐時測定端子１１，１７間に接続される。な
お、スイツチ５１，５３は必ずしも必要ではな
く、被測定素子６７を測定端子１１，１７間に接
続する動作が可能であればよい（例えば、手動操
作による）。
次に上記構成の動作を説明する。先ず、スイツ
チ５１，５３を開いた状態でスイツチ２５を閉じ
る補正モードについて説明する。この場合端子６
３における電圧ex1は、 ex1＝jωC0・１／Gr・er (1) となる。ここで。C0は測定端子１１，１７間の
漂遊容量値、Grは標準素子１９のコンダクタン
スである。すなわち、電圧ex1は漂遊容量のアド
ミタンスに比例しているので、電圧er（一定）を
基準として電圧ex1を同期整流器１３で整流する
と、前記漂遊容量値C0に比例した大きさの電圧
Vr1が得られる。この電圧Vr1はホールドコンデ
ンサ２７にストアされて、該電圧Vr1に応じたオ
フセツト制御電圧V0が電圧保持回路３１から発
生される。この制御電圧V0に応じて電圧可変容
量素子３７の容量値が変化し、これに応じて変成
器３５を介して標準素子１９の電流と逆方向に供
給される電流が変化する。かようにして標準素子
１９に流れる電流が零となるように制御される。
オフセツト制御電圧V0は次の測定モードの期間
中も電圧保持回路３１から発生され続ける。
チ５１，５３を開いた状態でスイツチ２５を閉じ
る補正モードについて説明する。この場合端子６
３における電圧ex1は、 ex1＝jωC0・１／Gr・er (1) となる。ここで。C0は測定端子１１，１７間の
漂遊容量値、Grは標準素子１９のコンダクタン
スである。すなわち、電圧ex1は漂遊容量のアド
ミタンスに比例しているので、電圧er（一定）を
基準として電圧ex1を同期整流器１３で整流する
と、前記漂遊容量値C0に比例した大きさの電圧
Vr1が得られる。この電圧Vr1はホールドコンデ
ンサ２７にストアされて、該電圧Vr1に応じたオ
フセツト制御電圧V0が電圧保持回路３１から発
生される。この制御電圧V0に応じて電圧可変容
量素子３７の容量値が変化し、これに応じて変成
器３５を介して標準素子１９の電流と逆方向に供
給される電流が変化する。かようにして標準素子
１９に流れる電流が零となるように制御される。
オフセツト制御電圧V0は次の測定モードの期間
中も電圧保持回路３１から発生され続ける。
次に、スイツチ２５を開き、そしてスイツチ５
１，５３を閉じる測定モードについて説明する。
この場合も被測定素子６７に流れる電流と標準素
子１９に流れる電流とは等しくなるように制御さ
れまた漂遊容量C0による影響は前述補正モード
で補正されているので、端子６３における電圧
ex2は、 ex2＝jωCX・１／Gr・er (2) の関係が成立する。ここで、CXは被測定素子６
７の容量値である。(2)式には漂遊容量C0は含ま
れていないので、電圧erを基準にして電圧ex2を
同期整流すれば被測定容量値CXに応じた電圧Vr2
が得られる。従つて、この電圧Vr2に基いて計算
回路２３による被測定容量値CXが求まる。
１，５３を閉じる測定モードについて説明する。
この場合も被測定素子６７に流れる電流と標準素
子１９に流れる電流とは等しくなるように制御さ
れまた漂遊容量C0による影響は前述補正モード
で補正されているので、端子６３における電圧
ex2は、 ex2＝jωCX・１／Gr・er (2) の関係が成立する。ここで、CXは被測定素子６
７の容量値である。(2)式には漂遊容量C0は含ま
れていないので、電圧erを基準にして電圧ex2を
同期整流すれば被測定容量値CXに応じた電圧Vr2
が得られる。従つて、この電圧Vr2に基いて計算
回路２３による被測定容量値CXが求まる。
再びスイツチ５１，５３を開き、次いでスイツ
チ２５を閉じて補正モードに入る。その補正動作
後次の被測定素子を接続して測定動作を行う。
チ２５を閉じて補正モードに入る。その補正動作
後次の被測定素子を接続して測定動作を行う。
以上詳述する如く本考案によれば、特に逐時被
測定素子を代えて測定する場合、例えば複数個の
コンデンサを連続的に検査する場合、その都度漂
遊容量の影響を除去した回路素子定数測定ができ
実用に供して極めて効果大である。
測定素子を代えて測定する場合、例えば複数個の
コンデンサを連続的に検査する場合、その都度漂
遊容量の影響を除去した回路素子定数測定ができ
実用に供して極めて効果大である。
図は本考案の一実施例による回路素子定数測定
装置の回路図で、１：測定電圧源、１３：同期整
流器、１９：標準素子、２３：計算回路、３１：
電圧保持回路、３３：オフセツト制御回路、６
７：被測定素子である。
装置の回路図で、１：測定電圧源、１３：同期整
流器、１９：標準素子、２３：計算回路、３１：
電圧保持回路、３３：オフセツト制御回路、６
７：被測定素子である。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 被測定素子と標準素子との直列回路に同一電
流を供給すると共に、該直列回路の共通接続点
が仮想接地点になるように制御し、前記被測定
素子の両端電圧と前記標準素子の両端電圧とに
基づいて同期整流し、同期整流出力信号に応じ
て前記被測定素子の回路定数を測定する装置に
おいて、同期整流回路の出力に接続されたスイ
ツチおよび前記スイツチに接続されたホールド
回路を含み、前記被測定素子が測定端子間に接
続されない期間中前記スイツチを閉成して前記
同期整流出力信号を保持する保持回路と、前記
保持回路の出力信号に応じて、前記標準素子に
流れる電流と逆位相の電流を前記共通接続点に
供給する制御回路とより成るオフセツト補正回
路を具えた回路素子定数測定装置。 (2) 前記制御回路は、両測定端子と並列的に接続
された一次巻線を具えた変成器の二次側中間タ
ツプが接地された該二次側巻線の両端子と、前
記保持回路からの出力信号が供給される第２共
通接続点と、の間に電圧可変容量素子およびコ
ンデンサをそれぞれ接続して成る実用新案登録
請求の範囲第１項記載のオフセツト補正回路を
具えた回路素子定数測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3809377U JPH0142053Y2 (ja) | 1977-03-29 | 1977-03-29 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3809377U JPH0142053Y2 (ja) | 1977-03-29 | 1977-03-29 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS53133678U JPS53133678U (ja) | 1978-10-23 |
| JPH0142053Y2 true JPH0142053Y2 (ja) | 1989-12-11 |
Family
ID=28902393
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3809377U Expired JPH0142053Y2 (ja) | 1977-03-29 | 1977-03-29 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0142053Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58124969A (ja) * | 1982-01-21 | 1983-07-25 | Yokogawa Hewlett Packard Ltd | 静電容量測定装置 |
-
1977
- 1977-03-29 JP JP3809377U patent/JPH0142053Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS53133678U (ja) | 1978-10-23 |
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