JPH0193834A - 計算機システム診断方式 - Google Patents
計算機システム診断方式Info
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- JPH0193834A JPH0193834A JP62251115A JP25111587A JPH0193834A JP H0193834 A JPH0193834 A JP H0193834A JP 62251115 A JP62251115 A JP 62251115A JP 25111587 A JP25111587 A JP 25111587A JP H0193834 A JPH0193834 A JP H0193834A
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- test
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は計算機システムの診断方式に関し、特に計算
機に接続される各種入出力装置の診断用プログラムを効
率良く活用する方式に関するものである。
機に接続される各種入出力装置の診断用プログラムを効
率良く活用する方式に関するものである。
〔従来の技術）
第３図は計算機システムの診断実行時における診断シス
テムブロック構成図である。図において、（１）は中央
処理装置及び主記憶装置等を含む診断装置本体（以下、
車に本体と略記する）、（２）はテストプログラム（診
断プログラム）の実行を行う中央処理装置、（３）は主
記憶装置であり、本体装置（１）に接続された入出力装
置等の被診断装置をテストするテストプログラムか記憶
されている。（５ａ）〜（５ｎ）は本体装置（１）に接
続される各種の被診断装置である。
テムブロック構成図である。図において、（１）は中央
処理装置及び主記憶装置等を含む診断装置本体（以下、
車に本体と略記する）、（２）はテストプログラム（診
断プログラム）の実行を行う中央処理装置、（３）は主
記憶装置であり、本体装置（１）に接続された入出力装
置等の被診断装置をテストするテストプログラムか記憶
されている。（５ａ）〜（５ｎ）は本体装置（１）に接
続される各種の被診断装置である。
第４図は上記主記憶装置（以降ＭＭＵと称する）（３）
に記憶されたテストプログラム（４）のソフトウェア構
成をも含めた計算機システムの診断システム構成図であ
る。図において、（ｌＯ）は各被診断装置（５ａ）〜（
５ｎ）をテストするテストパッケージ（各テストプログ
ラムをそれぞれパッケージ化したもの）に対して共通の
処理、又はテスト前の準備そしてテスト後の処理、更に
各種テストパッケージの実行制御を行うプログラムから
構成された実行制御部、（ｌｌａ）〜（１１ｎ）は各種
被診断装置（５ａ）〜（５０）に対応し装置をテストす
るテストパッケージである。
に記憶されたテストプログラム（４）のソフトウェア構
成をも含めた計算機システムの診断システム構成図であ
る。図において、（ｌＯ）は各被診断装置（５ａ）〜（
５ｎ）をテストするテストパッケージ（各テストプログ
ラムをそれぞれパッケージ化したもの）に対して共通の
処理、又はテスト前の準備そしてテスト後の処理、更に
各種テストパッケージの実行制御を行うプログラムから
構成された実行制御部、（ｌｌａ）〜（１１ｎ）は各種
被診断装置（５ａ）〜（５０）に対応し装置をテストす
るテストパッケージである。
第５図はテストプログラムの実行制御部（ｌＯ）が各種
テストパッケージ（ｌｌａ）〜（ｌｌｎ）を実行制御す
るとぎの処理手順を示したもので、（２０）は各種テス
トパッケージ（ｌｌａ）〜（ｌｌｎ）が人出力割込み等
を待っている状態であり、（２１）は各種テストパッケ
ージ（１１ａ）〜（ｌｌｎ）が各処理を完了し再実行可
能な状態であり、（２２）はパッケージが実行している
状態であることを示している。
テストパッケージ（ｌｌａ）〜（ｌｌｎ）を実行制御す
るとぎの処理手順を示したもので、（２０）は各種テス
トパッケージ（ｌｌａ）〜（ｌｌｎ）が人出力割込み等
を待っている状態であり、（２１）は各種テストパッケ
ージ（１１ａ）〜（ｌｌｎ）が各処理を完了し再実行可
能な状態であり、（２２）はパッケージが実行している
状態であることを示している。
第６図（ａ）〜（Ｃ）は実行制御部（ｌＯ）が各種テス
トパッケージ（ｌｌａ）〜（ｌｌｎ）の処理を示したフ
ローチャートである。
トパッケージ（ｌｌａ）〜（ｌｌｎ）の処理を示したフ
ローチャートである。
第７図（ａ）〜（Ｃ）は各種テストパッケージ’ （
ｌｌａ）〜（ｌｌｎ）の実行過程の状態を、例を用いて
示した図である。
ｌｌａ）〜（ｌｌｎ）の実行過程の状態を、例を用いて
示した図である。
次に上記構成に係る従来の計算機システムの診断方式を
上記各図を参照しながら説明するが、説明に入る前に本
体（１）に接続された被診断装置（５ａ）〜（５ｎ）は
テストプログラム（４）によフていかにテストされるか
簡単に説明する。
上記各図を参照しながら説明するが、説明に入る前に本
体（１）に接続された被診断装置（５ａ）〜（５ｎ）は
テストプログラム（４）によフていかにテストされるか
簡単に説明する。
先ず、被診断装置（５ａ）〜（５ｎ）は、第３図に示す
如＜ Ｍ Ｍ Ｕ （３）に記憶されたテストプログラ
ム（４）の指令にて動作するｃ ｐ Ｕ （２）により
テストされる。このテストプログラムは第４図に示す如
くテストプログラムを制御する実行制御部（１０）と被
診断装置（５ａ）〜（５ｎ）を診断するテストパッケー
ジ（１１ａ）〜（ｌｌｎ） に分けることができる。そ
して、この実行制御部（１０）の主な機能としては人出
力割込み、外部割込みなど各種割込み処理、また各種の
共通したサブルーチンの提供、操作員とのコミュニケー
ション機能、実行時間などの監視機能、テストに入る前
のフラグ、バッファ、テーブルなどの初期化、異常処理
などいわゆるオペレーティングシステムが持っているよ
うな機能を有している。
如＜ Ｍ Ｍ Ｕ （３）に記憶されたテストプログラ
ム（４）の指令にて動作するｃ ｐ Ｕ （２）により
テストされる。このテストプログラムは第４図に示す如
くテストプログラムを制御する実行制御部（１０）と被
診断装置（５ａ）〜（５ｎ）を診断するテストパッケー
ジ（１１ａ）〜（ｌｌｎ） に分けることができる。そ
して、この実行制御部（１０）の主な機能としては人出
力割込み、外部割込みなど各種割込み処理、また各種の
共通したサブルーチンの提供、操作員とのコミュニケー
ション機能、実行時間などの監視機能、テストに入る前
のフラグ、バッファ、テーブルなどの初期化、異常処理
などいわゆるオペレーティングシステムが持っているよ
うな機能を有している。
一方、テストパッケージ（ｌｌａ）〜（ｌｌｎ）は各被
診断装置（５ａ）〜（５ｎ）にそれぞれ対応しているも
ので、たとえばテストパッケージａ （ｌｌａ） に対
しては被診断装置（５ａ）、テストパッケージｂ （ｌ
ｌｂ）に対しては被診断装置（５ｂ）にそれぞれ対応し
ている。従ってテストパッケージの個数と被診断装置の
個数が等しくなる。又このテストパッケージはその被診
断装置特有な機能をテストするような機能も含んでおり
、各種の入出力命令の起動などを行っている。
診断装置（５ａ）〜（５ｎ）にそれぞれ対応しているも
ので、たとえばテストパッケージａ （ｌｌａ） に対
しては被診断装置（５ａ）、テストパッケージｂ （ｌ
ｌｂ）に対しては被診断装置（５ｂ）にそれぞれ対応し
ている。従ってテストパッケージの個数と被診断装置の
個数が等しくなる。又このテストパッケージはその被診
断装置特有な機能をテストするような機能も含んでおり
、各種の入出力命令の起動などを行っている。
計算機のシステム診断においてはこれらのテストパッケ
ージを１個づつアクセスし、システム診断を実行させた
のではテストの効率が悪いのでこれらのテストパッケー
ジを同時に並列にアクセスし効率良く診断を実行しなけ
ればならない。このように並列に実行することによって
試験時間の短縮ばかりでなく本体（１）に接続された被
診断装置（５ａ）〜（５ｎ）、 ＭＭＵ（３）、ＣＰＵ
（２）などの競合によって発生する間欠的な故障を未然
に検知するなどテストをより強力に行うことができる。
ージを１個づつアクセスし、システム診断を実行させた
のではテストの効率が悪いのでこれらのテストパッケー
ジを同時に並列にアクセスし効率良く診断を実行しなけ
ればならない。このように並列に実行することによって
試験時間の短縮ばかりでなく本体（１）に接続された被
診断装置（５ａ）〜（５ｎ）、 ＭＭＵ（３）、ＣＰＵ
（２）などの競合によって発生する間欠的な故障を未然
に検知するなどテストをより強力に行うことができる。
第５図はテストパッケージを並列に実行する場合の手法
を述べたものである。
を述べたものである。
レディステート（２１）は各種テストパッケージがレデ
ィつまりいつでも実行しても良い状態にあるものである
。このレディステートにはいくつかのテストパッケージ
が存在したり、また、ない場合つまり“０”個の状態も
ある。実行ステート（２２）は実行中を示しているもの
で１信のテストパッケージしか存在しない。ウェイトス
テート（２０）は実行待ちの状態であり、なんらかのき
っかけがないとレディステートにはならない状態である
。
ィつまりいつでも実行しても良い状態にあるものである
。このレディステートにはいくつかのテストパッケージ
が存在したり、また、ない場合つまり“０”個の状態も
ある。実行ステート（２２）は実行中を示しているもの
で１信のテストパッケージしか存在しない。ウェイトス
テート（２０）は実行待ちの状態であり、なんらかのき
っかけがないとレディステートにはならない状態である
。
ウェイトステートの例として入出力起動命令を発行し入
出力割込みを待っている状態などがある。
出力割込みを待っている状態などがある。
この３つのステートはレディステートから実行ステート
、実行ステートからウェイトステート、さらにウェイト
ステートからレディステートと循環する関係にある。
、実行ステートからウェイトステート、さらにウェイト
ステートからレディステートと循環する関係にある。
これらの実行制御の方法を第６図（ａ）〜（ｃ）に示す
フローチャートを用いて説明する。
フローチャートを用いて説明する。
（ａ）は人出力割込み処理ルーチンの概略フローチャー
トであり、ウェイトステート（２０）からレディステー
ト（２１）へ移行する手順を示している。
トであり、ウェイトステート（２０）からレディステー
ト（２１）へ移行する手順を示している。
ステップ５０ａは人出力割込みが発生した装置アドレス
から該当ＴＰ（テストパッケージ）を計算し探し出すス
テップである。ここで見つけられたＴＰはウェイトリン
クテーブル、つまり該当ＴＰが見つけられる前はウェイ
トステート（２０）にあるはずであり、ステップ５０ｂ
ではこのテーブル（ＴＰＷＡＩＴ）の中から自分のＴＰ
を探す。探したら、そのウェイトリンクテーブルにある
自分のＴＰを取り出しそして自分のＴＰの前後のＴＰを
互いに接続する。ステップ５０ｃではこの動作を行う。
から該当ＴＰ（テストパッケージ）を計算し探し出すス
テップである。ここで見つけられたＴＰはウェイトリン
クテーブル、つまり該当ＴＰが見つけられる前はウェイ
トステート（２０）にあるはずであり、ステップ５０ｂ
ではこのテーブル（ＴＰＷＡＩＴ）の中から自分のＴＰ
を探す。探したら、そのウェイトリンクテーブルにある
自分のＴＰを取り出しそして自分のＴＰの前後のＴＰを
互いに接続する。ステップ５０ｃではこの動作を行う。
ステップ５０ｄではそのＴＰをレディリンクテーブル（
ＴＰＲＤＹ）にセットする。このときレディリンクテー
ブルにすでにセットされたＴＰの後にセットする。
ＴＰＲＤＹ）にセットする。このときレディリンクテー
ブルにすでにセットされたＴＰの後にセットする。
この入出力割込み処理によってウェイトステートからレ
ディステートに穆る例として第７図を用いて説明する。
ディステートに穆る例として第７図を用いて説明する。
たとえば人出力割込みが発生した被診断装置に対するテ
ストパッケージがＴＰ−５（６０Ｇ）であるとすれば、
処理前はウェイト・リンクテーブル（Ｔ ＰＷＡ Ｉ
Ｔ）にはＴＰ−１゜ＴＰ−２，ＴＰ−５，ＴＰ−１０と
いう順番に接続されており、最後は接続されていないこ
とを示すコードとして“０”が入っている。処理後では
このテーブルはＴＰ−１，ＴＰ−２，ＴＰ−１０という
ふうにＴＰ−５は取除かれ、それにかわってレディリン
クテーブル（ＴＰＲＤＹ）にセットされる。その順番と
してこのテーブルの最後のＴＰつまりＴ Ｐ −２２（
８１ｇ）の次に接続される。
ストパッケージがＴＰ−５（６０Ｇ）であるとすれば、
処理前はウェイト・リンクテーブル（Ｔ ＰＷＡ Ｉ
Ｔ）にはＴＰ−１゜ＴＰ−２，ＴＰ−５，ＴＰ−１０と
いう順番に接続されており、最後は接続されていないこ
とを示すコードとして“０”が入っている。処理後では
このテーブルはＴＰ−１，ＴＰ−２，ＴＰ−１０という
ふうにＴＰ−５は取除かれ、それにかわってレディリン
クテーブル（ＴＰＲＤＹ）にセットされる。その順番と
してこのテーブルの最後のＴＰつまりＴ Ｐ −２２（
８１ｇ）の次に接続される。
次に（ｂ）の実行スケジューラの処理について説明する
。
。
ステップ５１ａではレディリンクテーブル（ＴＰＲＤＹ
）の先頭からレディになったＴＰを取出しＲＯにセット
する。
）の先頭からレディになったＴＰを取出しＲＯにセット
する。
ステップ５１ｂではそのテーブルが“０”つまり存在す
るかしないかをテストする。“０”ならばレディステー
トにあるＴＰは存在しないことになりＣＰＵは待ち状態
となる。それに対して存在するならばステップ５１ｃへ
進む。ステップ５１ｃではそのＴＰを実行ステートテー
ブル（ＴＰＥＸＵ）にセットする。ステップ５１ｄでは
このレディステート（２１）にあるＴＰをレディリンク
テーブルからはずす。そして実行テーブルにセットされ
たＴＰの実行に入る。実行スケジューラの例を第７図を
用いて説明すると次のようになる。
るかしないかをテストする。“０”ならばレディステー
トにあるＴＰは存在しないことになりＣＰＵは待ち状態
となる。それに対して存在するならばステップ５１ｃへ
進む。ステップ５１ｃではそのＴＰを実行ステートテー
ブル（ＴＰＥＸＵ）にセットする。ステップ５１ｄでは
このレディステート（２１）にあるＴＰをレディリンク
テーブルからはずす。そして実行テーブルにセットされ
たＴＰの実行に入る。実行スケジューラの例を第７図を
用いて説明すると次のようになる。
第７図においてはレディにあるＴＰはＴＰ−２０（６１
ａ）、Ｔ Ｐ −３（６１ｂ）、Ｔ Ｐ −１８（６１
ｃ）、Ｔ Ｐ −１５（６１ｄ）、Ｔ Ｐ −１３（ａ
ｌｅ）、Ｔ Ｐ −９（６１ｆ）、Ｔ Ｐ−２２（６１
ｇ） という順番でスタックされている。先頭のＴＰ
はＴＰ−２０であるため処理後のテーブルはＴＰ−３，
ＴＰ−１８，ＴＰ−１５，ＴＰ−１３，ＴＰ−９，ＴＰ
−２２となりＴＰ−２０が取除かれ、それにかわってＴ
Ｐ−２０が実行テーブル（６２）にセットされる。実行
スケジューラではレディステート（２１）から実行ステ
ート（２２）へ移行する働きを持っている。
ａ）、Ｔ Ｐ −３（６１ｂ）、Ｔ Ｐ −１８（６１
ｃ）、Ｔ Ｐ −１５（６１ｄ）、Ｔ Ｐ −１３（ａ
ｌｅ）、Ｔ Ｐ −９（６１ｆ）、Ｔ Ｐ−２２（６１
ｇ） という順番でスタックされている。先頭のＴＰ
はＴＰ−２０であるため処理後のテーブルはＴＰ−３，
ＴＰ−１８，ＴＰ−１５，ＴＰ−１３，ＴＰ−９，ＴＰ
−２２となりＴＰ−２０が取除かれ、それにかわってＴ
Ｐ−２０が実行テーブル（６２）にセットされる。実行
スケジューラではレディステート（２１）から実行ステ
ート（２２）へ移行する働きを持っている。
次に（Ｃ）の入出力処理について説明する。
ステップ５２ａでは自分のパッケージに対する被診断装
置へ入出力命令を起動する。
置へ入出力命令を起動する。
ステップ５２ｂでは自分のパッケージをウェイトリンク
テーブルにセットする。それと同時に実行テーブルから
はずす。つまりこの処理では入出力命令を起動したため
、入出力割込が帰ってこない限り次に進めないためその
ＴＰを待ち状態にさせるものである。この処理過程を第
７図を用いて説明すると次のようになる。
テーブルにセットする。それと同時に実行テーブルから
はずす。つまりこの処理では入出力命令を起動したため
、入出力割込が帰ってこない限り次に進めないためその
ＴＰを待ち状態にさせるものである。この処理過程を第
７図を用いて説明すると次のようになる。
たとえばＴ Ｐ −１１（６２）のテストパッケージが
入出力命令などを発行すると、そのＴＰを実行テーブル
からはずしてウェイトリンクテーブルにスタックされた
ＴＰの後ろにセットされる。これによってＴＰはＴＰ−
１，ＴＰ−２，ＴＰ−５゜Ｔ Ｐ−１０，Ｔ Ｐ−１１
という順番にスタックされる。このようにこの処理では
実行ステート（２２）からウェイトステート（２０）へ
移行する働きを持っている。
入出力命令などを発行すると、そのＴＰを実行テーブル
からはずしてウェイトリンクテーブルにスタックされた
ＴＰの後ろにセットされる。これによってＴＰはＴＰ−
１，ＴＰ−２，ＴＰ−５゜Ｔ Ｐ−１０，Ｔ Ｐ−１１
という順番にスタックされる。このようにこの処理では
実行ステート（２２）からウェイトステート（２０）へ
移行する働きを持っている。
（発明が解決しようとする問題点）
従来の計算機システムの診断方式は以上のように各テス
トパッケージをアクセスして本体装置に接続された被診
断装置を診断していた為、各被診断装置の内でも入出力
起動時間の早い装置と、遅い装置とが混在していた場合
、入出力起動時間の早い装置に対するテストパッケージ
がレディリンクテーブルを介してウェイトリンクテーブ
ルと実行テーブル間で伝送授受され、入出力起動時間の
遅い装置に対するテストパッケージは容易に実行テーブ
ルへ移行されず、したがって、入出力起動時間の早い装
置のみが多く診断されることになり、遅い被診断装置は
ほとんど診断動作を受けず、よって計算機システム全体
を平均に効率良く診断する上で問題があった。
トパッケージをアクセスして本体装置に接続された被診
断装置を診断していた為、各被診断装置の内でも入出力
起動時間の早い装置と、遅い装置とが混在していた場合
、入出力起動時間の早い装置に対するテストパッケージ
がレディリンクテーブルを介してウェイトリンクテーブ
ルと実行テーブル間で伝送授受され、入出力起動時間の
遅い装置に対するテストパッケージは容易に実行テーブ
ルへ移行されず、したがって、入出力起動時間の早い装
置のみが多く診断されることになり、遅い被診断装置は
ほとんど診断動作を受けず、よって計算機システム全体
を平均に効率良く診断する上で問題があった。
この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、被診断装置の入出力起動時間の早い、遅いに
拘わらず、各被診断装置を平均的に効率良く診断し得る
計算機システムの診断方式を得ることを目的とする。
たもので、被診断装置の入出力起動時間の早い、遅いに
拘わらず、各被診断装置を平均的に効率良く診断し得る
計算機システムの診断方式を得ることを目的とする。
この発明による計算機システムの診断方式は、各被診断
装置（外部装置）に対する各々のテストパッケージに対
して、診断動作時間の遅い装置に対しては診断優先順位
を早める為、高優先順位を割り当て、一方動作時間の早
い装置に対して優先順位を遅めるため低優先順位を割り
当てた後、各テストパッケージを呼び出す毎に、自己の
優先順位にあった順位テーブルにテストパッケージをセ
ットし、各テストパッケージを高（Ｍ先順位から低優先
順位に実行し各被診断装置を診断する。
装置（外部装置）に対する各々のテストパッケージに対
して、診断動作時間の遅い装置に対しては診断優先順位
を早める為、高優先順位を割り当て、一方動作時間の早
い装置に対して優先順位を遅めるため低優先順位を割り
当てた後、各テストパッケージを呼び出す毎に、自己の
優先順位にあった順位テーブルにテストパッケージをセ
ットし、各テストパッケージを高（Ｍ先順位から低優先
順位に実行し各被診断装置を診断する。
（作用）
この発明によれば、各テストパッケージに実行優先順位
を設定し、実行するテストパッケージの実行制御を優先
順位の高い方から処理することにより、高優先順位を割
り当てられた動作時間の遅い被診断装置は動作時間の早
い装置より多く診断動作を実行し、その為動作時間の長
い（遅い）装置と短い（早い）装置はほとんど同等に診
断動作を実行し得る。
を設定し、実行するテストパッケージの実行制御を優先
順位の高い方から処理することにより、高優先順位を割
り当てられた動作時間の遅い被診断装置は動作時間の早
い装置より多く診断動作を実行し、その為動作時間の長
い（遅い）装置と短い（早い）装置はほとんど同等に診
断動作を実行し得る。
以下、この発明の一実施例を図について説明する。第１
図（ａ）〜（ｃ）は本実施例における実行制御部が行う
各種テストパッケージの処理方法を示すフローチャート
、第２図は各種テストパッケージの実行過程の状態を示
した実行過程図である。
図（ａ）〜（ｃ）は本実施例における実行制御部が行う
各種テストパッケージの処理方法を示すフローチャート
、第２図は各種テストパッケージの実行過程の状態を示
した実行過程図である。
尚、診断システム構成図、テストプログラム構成図、及
び実行制御部が各種テストパッケージを実行制御する処
理手順は、第３図、第４図、第５図に示した従来例と同
様であるので詳細説明は省略する。
び実行制御部が各種テストパッケージを実行制御する処
理手順は、第３図、第４図、第５図に示した従来例と同
様であるので詳細説明は省略する。
次に本実施例の動作を第１図（ａ）〜（Ｃ）のフローチ
ャート、第２図（ａ）〜（ｃ）の実行過程図に基づいて
説明する。
ャート、第２図（ａ）〜（ｃ）の実行過程図に基づいて
説明する。
第１図（ａ）は入出力割込み処理ルーチンの概略フロー
チャートであり、ウェイトステート（２０）からレディ
ステート（２１）へ移行する手順を示している。ステッ
プ３０ａは入出力割込みが発生した装置アドレスからテ
ストパッケージを計算し探し出すステップである。ここ
で見つけられたＴＰはウェイトリンクテーブル第２図（
ａ）つまりこの前状態はウェイトステート（２０）にあ
るはずであり、ステップ３０ｂではこのテーブル（ＴＰ
ＷＡＩＴ）の中から自分のＴＰを探す。
チャートであり、ウェイトステート（２０）からレディ
ステート（２１）へ移行する手順を示している。ステッ
プ３０ａは入出力割込みが発生した装置アドレスからテ
ストパッケージを計算し探し出すステップである。ここ
で見つけられたＴＰはウェイトリンクテーブル第２図（
ａ）つまりこの前状態はウェイトステート（２０）にあ
るはずであり、ステップ３０ｂではこのテーブル（ＴＰ
ＷＡＩＴ）の中から自分のＴＰを探す。
探したら、そのウェイトリンクテーブルにある自分のＴ
Ｐを取出しそして自分子Ｐの前後を互いに接続する。ス
テップ３０ｃではこの動作を行う。
Ｐを取出しそして自分子Ｐの前後を互いに接続する。ス
テップ３０ｃではこの動作を行う。
ステップ３０ｄではそのＴＰを自分のレベルに応じたレ
ディリンクテーブル（ＴＰＲＤＹ）第２図（ｂ） に
セットする。このときレディリンクテーブルにすでにセ
ットされたＴＰの後にセットする。
ディリンクテーブル（ＴＰＲＤＹ）第２図（ｂ） に
セットする。このときレディリンクテーブルにすでにセ
ットされたＴＰの後にセットする。
この入出力割込み処理によってウェイトステート（２０
）からレディステート（２１）に移る例として第２図（
ａ）〜（Ｃ）を用いて説明する。たとえば人出力割込み
が発生した被診断装置に対するテストパッケージがＴ
Ｐ −５（５４ｃ）であるとすれば、処理前はウェイト
リンクテーブル（ＴＰＷＡＩＴ）にはＴＰ−１，ＴＰ−
２，ＴＰ−５，ＴＰ−１０という順番に接続されており
、最後は接続されていないことを示すコードとして“０
”が人フている。処理前ではこのテーブルはＴＰ−１゜
ＴＰ−２，ＴＰ−１０というふうにＴＰ−５は取除かれ
、それにかわってレディリンクテーブル（ＴＰＲＤＹ）
にセットされる。このレディリンクテーブルは階層構造
になっておりテストパッケージつまり被診断装置毎に決
められており、それぞれのレディテーブルにセットされ
る。このＴＰ−５のレベルたとえばレベル１４とすると
、レディリンクテーブルのレベル１４のテーブルにおい
て、最後のＴＰでるＴ Ｐ −１８（５５ｇ）の次にセ
ットされる。
）からレディステート（２１）に移る例として第２図（
ａ）〜（Ｃ）を用いて説明する。たとえば人出力割込み
が発生した被診断装置に対するテストパッケージがＴ
Ｐ −５（５４ｃ）であるとすれば、処理前はウェイト
リンクテーブル（ＴＰＷＡＩＴ）にはＴＰ−１，ＴＰ−
２，ＴＰ−５，ＴＰ−１０という順番に接続されており
、最後は接続されていないことを示すコードとして“０
”が人フている。処理前ではこのテーブルはＴＰ−１゜
ＴＰ−２，ＴＰ−１０というふうにＴＰ−５は取除かれ
、それにかわってレディリンクテーブル（ＴＰＲＤＹ）
にセットされる。このレディリンクテーブルは階層構造
になっておりテストパッケージつまり被診断装置毎に決
められており、それぞれのレディテーブルにセットされ
る。このＴＰ−５のレベルたとえばレベル１４とすると
、レディリンクテーブルのレベル１４のテーブルにおい
て、最後のＴＰでるＴ Ｐ −１８（５５ｇ）の次にセ
ットされる。
次に第１図（ｂ）の実行スケジューラの処理について説
明する。
明する。
ステップ３１ａでは最高のレベル、つまり１５をレベル
インデックスであるＬＥＶ Ｉ Ｘにロードする。ステ
ップ３１ｂではそのレベルインデックスの値に応じたレ
ディリンクテーブルから情報を取出しレジスタＯにセッ
トする。ステップ３１ｃではもしこのＴＰが“０”つま
りそのレベルのＴＰが存在しなければステップ３１ｄに
進む。ステップ３１ｄでは次のレベルのインデックスを
示すため”１”を引く。ステップ３１ｅではレベル１５
からレベルＯまですべて調べられたかを示すもので、も
しそうならＣＰＵは待ち状態となる。もしまだすべての
レベルについて調べられていなければステップ３１ｂに
進む。この処理によってレベルの高い方から調べられて
いくのがわかる。
インデックスであるＬＥＶ Ｉ Ｘにロードする。ステ
ップ３１ｂではそのレベルインデックスの値に応じたレ
ディリンクテーブルから情報を取出しレジスタＯにセッ
トする。ステップ３１ｃではもしこのＴＰが“０”つま
りそのレベルのＴＰが存在しなければステップ３１ｄに
進む。ステップ３１ｄでは次のレベルのインデックスを
示すため”１”を引く。ステップ３１ｅではレベル１５
からレベルＯまですべて調べられたかを示すもので、も
しそうならＣＰＵは待ち状態となる。もしまだすべての
レベルについて調べられていなければステップ３１ｂに
進む。この処理によってレベルの高い方から調べられて
いくのがわかる。
一方、ステップ３１ｃにおいてレディになったＴＰが存
在するとステップ３１ｆに進む。ステップ３１ｆではそ
のＴＰを実行テーブル（ＴＰＥｘＵ）にセットする。
在するとステップ３１ｆに進む。ステップ３１ｆではそ
のＴＰを実行テーブル（ＴＰＥｘＵ）にセットする。
ステップ３１ｇではこのレディステートにあるＴＰをレ
ディリンクテーブルからはずす。そして実行テーブルに
セットされたＴＰの実行に入る。
ディリンクテーブルからはずす。そして実行テーブルに
セットされたＴＰの実行に入る。
実行スケジューラの例を第２図（Ｃ）を用いて説明する
と次のようになる。
と次のようになる。
第２図（ｂ）においてはレベル１４にあるＴＰはＴ Ｐ
−２０（５５ｃ）、Ｔ Ｐ −２２（５５ｄ）、Ｔ Ｐ
−１８（５５ｇ）という順番でスタックされている。
−２０（５５ｃ）、Ｔ Ｐ −２２（５５ｄ）、Ｔ Ｐ
−１８（５５ｇ）という順番でスタックされている。
先頭のＴＰはＴＰ−２０であるため処理後のテーブルは
Ｔ Ｐ −２２，Ｔ Ｐ−１８となりＴＰ−２０が取除
かれ、それにかわってＴＰ−２０が実行テーブル（５６
ａ） にセットされる。実行スケジューラではこのよ
うにレディステートから実行ステートにする（動きを持
っている。
Ｔ Ｐ −２２，Ｔ Ｐ−１８となりＴＰ−２０が取除
かれ、それにかわってＴＰ−２０が実行テーブル（５６
ａ） にセットされる。実行スケジューラではこのよ
うにレディステートから実行ステートにする（動きを持
っている。
次に第１図（Ｃ）の入出力起動処置について説明する。
ステップ３２ａでは自分のパッケージに対する被診断装
置へ入出力命令を起動する。ステップ３２ｂては自分の
パッケージをウェイトリンクテーブルにセットする。そ
れと同時に実行テーブルからはずす。つまりこの処理で
は入出力命令を起動したため、人出月割込みが帰ってこ
ない限り次に進めないためそのＴＰを待ち状態にさせる
ものである。この処理過程を第２図（ａ）を用いて説明
すると次のようになる。
置へ入出力命令を起動する。ステップ３２ｂては自分の
パッケージをウェイトリンクテーブルにセットする。そ
れと同時に実行テーブルからはずす。つまりこの処理で
は入出力命令を起動したため、人出月割込みが帰ってこ
ない限り次に進めないためそのＴＰを待ち状態にさせる
ものである。この処理過程を第２図（ａ）を用いて説明
すると次のようになる。
たとえばＴ Ｐ −１１（５６ａ）のテストパッケージ
が入出力命令などを発行すると、そのＴＰを実行テーブ
ルからはずしてウェイトリンクテーブルにスタックされ
たＴＰの後ろにセットされる。これによってＴＰは、Ｔ
Ｐ−１，ＴＰ−２，ＴＰ−５、ＴＰ−１０，ＴＰ−１１
という順番にスタックされる。
が入出力命令などを発行すると、そのＴＰを実行テーブ
ルからはずしてウェイトリンクテーブルにスタックされ
たＴＰの後ろにセットされる。これによってＴＰは、Ｔ
Ｐ−１，ＴＰ−２，ＴＰ−５、ＴＰ−１０，ＴＰ−１１
という順番にスタックされる。
このようにこの処理では実行ステートからウェイトステ
ートにする働きを持っている。
ートにする働きを持っている。
なお、上記の実施例ではレディリンクテーブルのレベル
分けを０〜１５までとしたが、この値はこれ以外でも良
く、また上記実施例は汎用機、オフコン、ミニコン、パ
ソコンなどあらゆる計算機であっても良く、上記実施例
と同様の効果を奏する。
分けを０〜１５までとしたが、この値はこれ以外でも良
く、また上記実施例は汎用機、オフコン、ミニコン、パ
ソコンなどあらゆる計算機であっても良く、上記実施例
と同様の効果を奏する。
（発明の効果〕
以上のように、この発明によれば計算機システムを構成
する各種類の被診断装置をテストする場合、診断動作時
間の異なる各被診断装置に対応するテストパッケージに
対し、動作時間の遅い装Ｍはど高い実行優先順位をそし
て早い装置に対して低位のも６を設定し、診断動作実行
時には高位の優先順位が設定されたテストパッケージか
ら動作実行することで、並列診断動作中の診断実行を平
均化でき、それによって試験時間の短縮、効率良い診断
また故障指摘率が高くなるなどの効果がある。
する各種類の被診断装置をテストする場合、診断動作時
間の異なる各被診断装置に対応するテストパッケージに
対し、動作時間の遅い装Ｍはど高い実行優先順位をそし
て早い装置に対して低位のも６を設定し、診断動作実行
時には高位の優先順位が設定されたテストパッケージか
ら動作実行することで、並列診断動作中の診断実行を平
均化でき、それによって試験時間の短縮、効率良い診断
また故障指摘率が高くなるなどの効果がある。
第１図（ａ）〜（ｃ）は本発明の実施例による実行制御
部が各種テストパッケージの処理を示した概略フローチ
ャート、第２図（ａ）〜（Ｃ）は各種テストパッケージ
の実行過程の状態の例を示した図、第３図は計算機シス
テムにおける診断方式のブロック図、第４図は計算機シ
ステム診断の構成をテストプロプラム側から見た場合の
図、第５図はテストプログラムの実行制御部が各種テス
トパッケージを実行制御するときの処理手順を示した図
、第６図（ａ）〜（Ｃ）は従来例による実行制御部が行
なう各種テストパッケージの処理を示した概略フローチ
ャート、第７図（ａ）〜（Ｃ）は従来例による各種テス
トパッケージの実行過程の状態の例を示した図である。 図において、 （２）は中央処理装置、（３）は主記憶装置、（４）は
テストプログラム、 （５ａ）〜（５ｎ）は被診断装置、（１０）は実行制御
部、（ｌｌａ） 〜（ｌｌｎ）はテストパッケージ。 なお、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。
部が各種テストパッケージの処理を示した概略フローチ
ャート、第２図（ａ）〜（Ｃ）は各種テストパッケージ
の実行過程の状態の例を示した図、第３図は計算機シス
テムにおける診断方式のブロック図、第４図は計算機シ
ステム診断の構成をテストプロプラム側から見た場合の
図、第５図はテストプログラムの実行制御部が各種テス
トパッケージを実行制御するときの処理手順を示した図
、第６図（ａ）〜（Ｃ）は従来例による実行制御部が行
なう各種テストパッケージの処理を示した概略フローチ
ャート、第７図（ａ）〜（Ｃ）は従来例による各種テス
トパッケージの実行過程の状態の例を示した図である。 図において、 （２）は中央処理装置、（３）は主記憶装置、（４）は
テストプログラム、 （５ａ）〜（５ｎ）は被診断装置、（１０）は実行制御
部、（ｌｌａ） 〜（ｌｌｎ）はテストパッケージ。 なお、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。
Claims (1)
- 計算機に接続された各種外部装置に対応する装置診断
用のテストプログラムをそれぞれパッケージ化して記憶
装置に記憶し、計算機による装置診断時に、診断実行制
御手段によって被診断装置対応のテストプログラムを記
憶装置から計算機へ入力して装置の診断を行う計算機シ
ステムの診断方式において、上記診断実行制御手段によ
り、各種外部装置の診断動作に多くの時間を要するテス
トプログラムから順に実行優先順位を持たせると共に、
各テストプログラム読み出し毎に、自己の優先順位に応
じて優先順位テーブルにテストプログラムをセットした
後、優先順位テーブルを高優先順位テストプログラムよ
り走査し順次テストプログラムを計算機へ入力すること
を特徴とする計算機システムの診断方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62251115A JPH0193834A (ja) | 1987-10-05 | 1987-10-05 | 計算機システム診断方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62251115A JPH0193834A (ja) | 1987-10-05 | 1987-10-05 | 計算機システム診断方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0193834A true JPH0193834A (ja) | 1989-04-12 |
Family
ID=17217876
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62251115A Pending JPH0193834A (ja) | 1987-10-05 | 1987-10-05 | 計算機システム診断方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0193834A (ja) |
-
1987
- 1987-10-05 JP JP62251115A patent/JPH0193834A/ja active Pending
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