JPH02101734A - ウェハー周辺の露光方法 - Google Patents

ウェハー周辺の露光方法

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Publication number
JPH02101734A
JPH02101734A JP25382088A JP25382088A JPH02101734A JP H02101734 A JPH02101734 A JP H02101734A JP 25382088 A JP25382088 A JP 25382088A JP 25382088 A JP25382088 A JP 25382088A JP H02101734 A JPH02101734 A JP H02101734A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
exposure
wafer
orientation flat
light source
width
Prior art date
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Pending
Application number
JP25382088A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazuo Shimane
島根 一男
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
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Publication of JPH02101734A publication Critical patent/JPH02101734A/ja
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  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概 要〕 半導体製造時におけるウェハーの周辺露光方法に関し、 ウェハー周辺露光の精度向上及びオリフラ部分と他の部
分の露光幅を変更可能とすることを目的とし、回転する
ウェハーの端面を検出し追従する光学系を搭載した移動
ステージと、ウェハーの半径方向及び接線方向に移動可
能な露光用光源とを具備した露光装置を用いてウェハー
の端面を検出し、その際の移動ステージの移動データを
利用してウェハーのオリフラとオリフラ以外の部分を区
別し、オリフラ以外の部分に対しては、移動ステージの
移動データに対応して露光用光源をウェハーの半径方向
に移動し、オリフラに対しては、該オリフラに平行して
露光用光源を移動させてウェハー上のレジストを露光す
るように構成する。
〔産業上の利用分野〕
本発明は、半導体製造時におけるウェハーの周辺露光方
法に関する。
近年半導体の高集積化に伴い、素子欠陥の原因となるゴ
ミが大きな問題となって来ている。ゴミ発生の原因の一
つにフォト工程に用いるフォトレジストがある。このフ
ォトレジストのウェハーへの塗布は普通スピンコード法
によるが、第4図に示すようにスピンコードされたフォ
トレジスト1は遠心力によりウェハー2の周辺に溜まっ
て盛り上がり3を生ずる。この盛り上がり3はウェハー
を一時収納するキャリヤに収容されたとき該キャリヤの
溝と接触して剥離し、ゴミの原因となる。
このためウェハー周辺のフォトレジストは除去しておく
ことが必要となる。
〔従来の技術〕
従来のウェハー周辺のフォトレジストを除去するための
露光方法は、第5図に示すように予めポジ型フォトレジ
ストが塗布されたウェハー2を回転台にのせて回転させ
、ウェハー2の端面位置をCCD等のラインセンサ4で
検出し、そのデータで露光用光源5をウェハーの半径方
向に移動させてウェハー周辺を一定幅で露光するように
している。
〔発明が解決しようとする課題〕
上記従来のウェハー周辺の露光方法では、ウェハーの端
面からの距離に合わせて露光していた。
ところがウェハーにはオリエンテーション・フラット2
a(以後オリフラと称す)があるため、端面からの距離
だけによる制御では、センサ4のデータに対する光源5
の追従性が悪い場合は露光幅の精度が下がる。特にオリ
フラ2a部分では、第6図に示すように、光源の追従性
の遅れからA部で凹部6が、B部で凸部7が生ずる。
また従来の露光方法では、ウェハーのチップの配列上、
オリフラ部分の露光幅を他の部分より小さくしたいとい
う要求に対応できないという問題がある。
本発明は露光精度の向上及びオリフラ部分と他の部分と
の露光幅を変えることができるウェハー周辺部の露光方
法を提供することを目的とする。
〔課題を解決するための手段〕
上記目的を達成するために、本発明のウェハー周辺の露
光方法は、回転するウェハー10の端面を検出し、追従
する光学系13を搭載した移動ステージ14と、ウェハ
ー10の半径方向及び接線方向に移動可能な露光用光源
15とを具備した露光装置を用いてウェハー10の端面
を検出し、その際の移動ステージ14の移動データを利
用してウェハー10のオリフラ10aとオリフラ以外の
部分を区別し、オリフラ10a以外の部分に対しては移
動ステージ14の移動データに対応して露光用光源15
をウェハー10の半径方向に移動し、オリフ10aに対
しては、該オリフラに平行して露光用光源15を移動さ
せてウェハー10上のレジストを露光することを特徴と
する。
〔作 用〕
ウェハー10のオリフラ10a以外の部分はつエバーの
端面を光学系により検出して移動する移動ステージ14
のデータにより露光し、オリフラ10a部分は、前記と
は別1とオリフラ10aに平行して露光することにより
、オリフラ部分の露光幅を他の部分に対し変えることが
容易となり、また移動ステージ14の移動データに対す
る光源15の追従遅れがあっても第6図に示したような
露光幅の変動はなくなり露光精度は向上する。
〔実施例〕
第1図は本発明方法を実施するための露光装置を示す図
であり、(a)は上面図、(b)は正面図である。また
第2図はその光学系を示す図である。
第1図において、10はウェハーであり、ステップモー
タ等の駆動源11により回転駆動される回転台12の上
に載置されている。13はウェハー10の端部を検出す
る光学系でウェハーの半径方向(X−X方向)に移動で
きる移動ステージ14上に搭載されている。また15は
露光用光源でウェハーの半径方向(X−X方向)及び接
線方向(Y−Y方向)に移動できるようになっている。
なお前記光学系は第2図に示すように、発光回路16に
より発光するLED 17と、該LEDからの光を2つ
に分けるハーフミラ−19と、2つに分けられた光をそ
れぞれ受光する基準側の受光素子20と、測定側受光素
子21と、2つの受光素子20.21に接続した受光回
路22とを具備し、該受光回路22はLBD 17の光
量に変化があっても2つの受光素子20.21の光量比
が一定であることを利用して該光学系の位置を変化しな
い様にし、ウェハー10の端部が移動したときは、2つ
の受光素子20.21の光量比が変化するので、その変
化を元に戻すように移動ステージを移動させるようにな
っている。
以上のように構成された露光装置を用いた露光方法を次
に説明する。
第1図において、もしウェハーが完全に円形ならば光学
系13及び移動ステージ14の移動をウェハーの回転角
を横軸にとってプロットすれば、ウェハー10の中心と
回転中心が一致している場合は直線、ずれている場合は
サインカーブを描くはずである。しかしウェハー10に
はオリフラ10aがあるため曲線は第3図に示すように
オリフラによりA部からB部まで波形が乱れる。この波
形を処理することによりオリフラ10aの位置を確J忍
することができる。そして、先ずオリフラ10aの部分
を除いてウェハー10の円周部分を露光する。この場合
露光用光源15は移動ステージ14の移動データにより
移動して露光幅を一定にする。
次にオリフラ10aの中心を露光用光源15の位置にも
っていき、ウェハー10を回転せずに露光用光源15を
オリフラ10aと平行(Y−Y方向)に移動して露光す
るのである。
本実施例は以上のようにオリフラ以外の部分とオリフラ
部分を2段階に露光するため、オリフラ部分の露光幅を
他の部分と変化させることができる。また露光用光源の
追従性に遅れがあっても2段階露光により第6図で説明
したような露光幅の凹凸は生じない。従って露光精度は
向上する。
〔発明の効果〕
以上説明した様に、本発明によれば、ウエノ1−周辺の
露光をオリフラ以外の部分とオリフラ部分を2段階に露
光することにより露光精度の向上が可能となり、且つオ
リフラ部分の露光幅を他の部分と変化させることが可能
となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明のウェハーの周辺露光方法を実施するた
めの装置を示す図、 第2図は本発明のウェハーの周辺露光方法を実施するた
めの装置の光学系を示す図、 第3図はウェハーの回転角を光学系の移動量の関係の1
例を示す図、 第4図はフォトレジストをスピンコードしたウェハーを
示す図、 第5図は従来のウェハーの周辺露光方法を説明するため
の図、 第6図は従来のウェハーの周辺露光方法の問題点を説明
するための図である。 図において、 10はウェハー 10aはオリフラ、 11は駆動源、 12は回転台、 13は光学系、 14は移動ステージ、 15は露光用光源 を示す。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、回転するウェハー(10)の端面を検出し追従する
    光学系(13)を搭載した移動ステージ(14)と、ウ
    ェハー(10)の半径方向および接線方向に移動可能な
    露光用光源(15)とを具備した露光装置を用いてウェ
    ハー(10)の端面を検出し、その際の移動ステージ(
    14)の移動データを利用してウェハー(10)のオリ
    フラ(10a)とオリフラ以外の部分を区別し、オリフ
    ラ(10a)以外の部分に対しては、移動ステージ(1
    4)の移動データに対応して露光用光源(15)をウェ
    ハー(10)の半径方向に移動し、オリフラ(10a)
    に対しては、該オリフラに平行して露光用光源(15)
    を移動させてウェハー(10)上のレジストを露光する
    ことを特徴とするウェハー周辺の露光方法。
JP25382088A 1988-10-11 1988-10-11 ウェハー周辺の露光方法 Pending JPH02101734A (ja)

Priority Applications (1)

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JP25382088A JPH02101734A (ja) 1988-10-11 1988-10-11 ウェハー周辺の露光方法

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JP25382088A JPH02101734A (ja) 1988-10-11 1988-10-11 ウェハー周辺の露光方法

Publications (1)

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JPH02101734A true JPH02101734A (ja) 1990-04-13

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ID=17256592

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP25382088A Pending JPH02101734A (ja) 1988-10-11 1988-10-11 ウェハー周辺の露光方法

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JP (1) JPH02101734A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02288326A (ja) * 1989-04-28 1990-11-28 Dainippon Screen Mfg Co Ltd ウエハの周辺部露光装置
JP2008143667A (ja) * 2006-12-11 2008-06-26 Akiyama International Kk 枚葉印刷機のスイング装置

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