JPH02102566A - 半導体装置 - Google Patents
半導体装置Info
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- JPH02102566A JPH02102566A JP63257770A JP25777088A JPH02102566A JP H02102566 A JPH02102566 A JP H02102566A JP 63257770 A JP63257770 A JP 63257770A JP 25777088 A JP25777088 A JP 25777088A JP H02102566 A JPH02102566 A JP H02102566A
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- semiconductor chip
- chip
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- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
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- H10W72/50—Bond wires
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- H10W72/5473—Dispositions of multiple bond wires multiple bond wires connected to a common bond pad
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Landscapes
- Wire Bonding (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野1
この発明はパワートランジスタ等に用いられるTO−2
20モールドタイプの半導体装置の内部構造に関するも
のである。
20モールドタイプの半導体装置の内部構造に関するも
のである。
〔従来の技術1
第3図は従来のTo−220モールドタイプの半導体装
置のパッケージにアセンブリされた状態の斜視図、第4
図は第3図の側面図を示す。
置のパッケージにアセンブリされた状態の斜視図、第4
図は第3図の側面図を示す。
図において、半導体装置のペース(1)上には半導体チ
ップ(3)が半田(4)を介してペースα)上のほぼ中
央に接着されている。また、半導体装置のリード部(2
)と半導体チップ(3)は金線等の金属細線(5)によ
シ接続されている。
ップ(3)が半田(4)を介してペースα)上のほぼ中
央に接着されている。また、半導体装置のリード部(2
)と半導体チップ(3)は金線等の金属細線(5)によ
シ接続されている。
配線時の半導体チップ(3)上面と金属細線(5)が接
続されるリード部C)との段差は通常1〜2mmと大き
い。その後、半導体チップ(3)、金属細線(5)、リ
ード部■)の金線接続部を含みエポキシ等の樹脂(図示
せず)Kよりモールドされ、半導体装置が形成される。
続されるリード部C)との段差は通常1〜2mmと大き
い。その後、半導体チップ(3)、金属細線(5)、リ
ード部■)の金線接続部を含みエポキシ等の樹脂(図示
せず)Kよりモールドされ、半導体装置が形成される。
〔発明が解決しようとする課題1
従来の半導体装置は以上のように構成されていたので、
半導体チップ上面とリード部の金線接続部の段差が大き
いため、配線時のループ長の不安定による半導体装置の
特性のばらつきや歩留シの低下、また金属細線が長いた
めループ長が不安定でモールド時の樹脂の流れによる金
属細線の断線等の問題点があった。
半導体チップ上面とリード部の金線接続部の段差が大き
いため、配線時のループ長の不安定による半導体装置の
特性のばらつきや歩留シの低下、また金属細線が長いた
めループ長が不安定でモールド時の樹脂の流れによる金
属細線の断線等の問題点があった。
この発明は上記の様な問題点を解消するためになされた
もので、半導体装置の特性のばらつきを押え、断線等の
不具合をなくすことができる半導体装置を得ることを目
的とする。
もので、半導体装置の特性のばらつきを押え、断線等の
不具合をなくすことができる半導体装置を得ることを目
的とする。
〔課題を解決するための手段1
この発明に係る半導体装置は半導体チップとリード部と
の段差の中間の高さの中間部材を用いると共に、半導体
チップとリードの金属細線の配線をこの中間部材を介し
て行うようにしたものであるO 〔作用1 この発明における中間部材はセラミックなどの絶縁物に
よシ構成され、その金属細線の配線部にはメタライズが
形成されている。
の段差の中間の高さの中間部材を用いると共に、半導体
チップとリードの金属細線の配線をこの中間部材を介し
て行うようにしたものであるO 〔作用1 この発明における中間部材はセラミックなどの絶縁物に
よシ構成され、その金属細線の配線部にはメタライズが
形成されている。
〔実施例1
以下、この発明の一実施例を図について説明する。第1
図はこの発明のモールドタイプ半導体装置のパッケージ
にアセンブリされた状態の斜視図、第2図は第1図の側
面図を示す。
図はこの発明のモールドタイプ半導体装置のパッケージ
にアセンブリされた状態の斜視図、第2図は第1図の側
面図を示す。
図において、(6)はこの発明によるセラミックで形成
された中間部材で、その上面には、メタライズ(6a)
(6b)が施こされ、金等の仕上げめっきがなされて
いる。また、この中間部材(6)の高さは、半導体チッ
プ(3)とリード部(2)の金属細線(5a)の接続部
の高さの約2程度となっておシ、そのベース(1)上へ
の取付位置も半導体チップ(3)と、リード部(2)と
のほぼ中間に位置させである。金属細線(5a)の配線
は、半導体チップ(3)から中間部材(6)上のメタラ
イズ部(6a) (6b)へ行われ、その後中間部材(
6)上のメタライズ部(6a) (6b)からリード部
(2)へ金属細線(58)の配線が行われる。
された中間部材で、その上面には、メタライズ(6a)
(6b)が施こされ、金等の仕上げめっきがなされて
いる。また、この中間部材(6)の高さは、半導体チッ
プ(3)とリード部(2)の金属細線(5a)の接続部
の高さの約2程度となっておシ、そのベース(1)上へ
の取付位置も半導体チップ(3)と、リード部(2)と
のほぼ中間に位置させである。金属細線(5a)の配線
は、半導体チップ(3)から中間部材(6)上のメタラ
イズ部(6a) (6b)へ行われ、その後中間部材(
6)上のメタライズ部(6a) (6b)からリード部
(2)へ金属細線(58)の配線が行われる。
この様な構造を用いることにより金属細線(5a)の配
線時の段差が小さくなり安定し九配線とループ長のばら
つきを押えることが出来る効果がある◎〔発明の効果1 以上のようKこの発明によれば、金属細線の配線を中間
部材を介して行うことKよシ、安定した金属MNIaの
配線やループ長さのばらつきが押えられ、半導体装置の
特性のばらつきの低減、安定した歩留り、金属m線の断
線等を防ぐ効果がある。
線時の段差が小さくなり安定し九配線とループ長のばら
つきを押えることが出来る効果がある◎〔発明の効果1 以上のようKこの発明によれば、金属細線の配線を中間
部材を介して行うことKよシ、安定した金属MNIaの
配線やループ長さのばらつきが押えられ、半導体装置の
特性のばらつきの低減、安定した歩留り、金属m線の断
線等を防ぐ効果がある。
第1図はこの発明の半導体装置の一実施例の斜視図、第
2図は81図の側面図、第3図は従来の半導体装置の斜
視図、第4図は第31図の側面図を示す。 図中、α)は半導体装置のパッケージのベース部、伐)
はリード部、(3)は半導体チップ、(4)は半田、(
5) (5a )は金属細線、(6)は中間部材、(6
a) (6b)は中間部材(6)上に形成されたメタラ
イズ部、(7)は接着部材である。 なお、図中、同一符号は同一、または相当部分を示す。
2図は81図の側面図、第3図は従来の半導体装置の斜
視図、第4図は第31図の側面図を示す。 図中、α)は半導体装置のパッケージのベース部、伐)
はリード部、(3)は半導体チップ、(4)は半田、(
5) (5a )は金属細線、(6)は中間部材、(6
a) (6b)は中間部材(6)上に形成されたメタラ
イズ部、(7)は接着部材である。 なお、図中、同一符号は同一、または相当部分を示す。
Claims (1)
- チップ接着面とワイヤで接続されるリードとが段差を有
する構造の半導体装置のパッケージにおいて、前記チッ
プと前記リードとの間に前記段差の中間の高さからなる
中間部材を備えたことを特徴とする半導体装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63257770A JPH02102566A (ja) | 1988-10-12 | 1988-10-12 | 半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63257770A JPH02102566A (ja) | 1988-10-12 | 1988-10-12 | 半導体装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02102566A true JPH02102566A (ja) | 1990-04-16 |
Family
ID=17310858
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63257770A Pending JPH02102566A (ja) | 1988-10-12 | 1988-10-12 | 半導体装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02102566A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2020106617A (ja) * | 2018-12-26 | 2020-07-09 | ネオフォトニクス・セミコンダクタ合同会社 | 光送信器及び検査方法 |
-
1988
- 1988-10-12 JP JP63257770A patent/JPH02102566A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2020106617A (ja) * | 2018-12-26 | 2020-07-09 | ネオフォトニクス・セミコンダクタ合同会社 | 光送信器及び検査方法 |
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