JPH02116224A - A/d変換装置 - Google Patents

A/d変換装置

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JPH02116224A
JPH02116224A JP26981188A JP26981188A JPH02116224A JP H02116224 A JPH02116224 A JP H02116224A JP 26981188 A JP26981188 A JP 26981188A JP 26981188 A JP26981188 A JP 26981188A JP H02116224 A JPH02116224 A JP H02116224A
Authority
JP
Japan
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circuit
voltage
conversion
output
amplifier
Prior art date
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Pending
Application number
JP26981188A
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English (en)
Inventor
Takehisa Matsuura
松浦 武久
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、被計測信号としてアナログ信号を取り扱う
計測分野に関するものである。
〔従来の技術〕
第2図は、従来の逐次比較型Δ/I)変換装置であり1
図においてSaは被計測信号、(I)はL記被計測信号
とD/A変換回路(4)の信号を電圧比較する電圧比較
型コンパレータ、(2)は電圧比較型コンパレータの信
号を蓄積する逐次比較レジスタ。
(3)は基準電圧発生回路、(4)は上記基準電圧発生
回路(3)の電圧を入力し逐次比較レジスタ(2)のデ
ータに対応したアナログ電圧を発生させるD/A変換回
路、(5)は上記装置の動作のタイミングを制御するタ
イミング回路、DaはA/D変換値である〔発明が解決
しようとする課題〕 上記構成によるとA/D変換装置の計測装置はD/A変
換回路そのものの分解能によってのみ装置の分解能が決
定されるため計測精度を向上させるためにはより良い分
解能を有したD/A変換回路が必要となり価格の増加を
招くという課題があった。
この発明はかかる課題を解消するためになされたもので
、D/A変換回路を変更することなく計測精度を向−F
できるA/D変換装置を得ることを目的とする。
〔課題を解決するための手段〕
この発明に係わるA/D変換装置は2入力信号Saを増
幅器にて2倍に増幅しその信号SAを第二のコンパレー
タによって基準電圧発生回路の出力電圧と増幅器の出力
信号SAを比較し、その結果によりA/D変換回路とし
ての最上位ビットの判定ヲ行い、加算回路へのオフセッ
ト電圧を供給するか否か制御している。
このことにより従来回路に比べ電圧の計測精度を2倍に
でき、さらに−上記加算回路の出力電圧をサンプルホー
ルド回路にてホールドした後差動増幅器にて上記増幅器
の出力信号SAと、上記加算回路出力電圧の差分のみを
増幅し再度A/D変換することにより本A/D変換装置
の最下位ビットの判定を行う。
このため1本装置は従来の計測精度に比べ4倍の計測精
度を有することができる。
〔作用〕
この発明に係わるA/D変換装置は、入力信号Saを増
幅器にて増幅しその信号SAを第二の電圧比較コンパレ
ータによって基準電圧発生回路の出力電圧と比較し、結
果がA/D変換装置としての最上位ビットの判定となり
、その結果をタイミング回路へ入力する。
その結果、上記基準電圧発生回路の出力電圧を超えない
と判定した場合、上記第二のスイッチ回路を絶縁状態と
し上記基準電圧発生回路の出力電圧を加算回路へのオフ
セット電圧として供給しないよう」1記第二のスイッチ
回路を制御し、従来のA/D変換を実施する。
また、上記比較結果が上記基準電圧発生回路の出力電圧
を超えたと判定した場合、−上記タイミング回路は上記
第二のスイッチ回路を導通状態とし上記基準電圧発生回
路の出力電圧を上記加算回路へのオフセット電圧として
供給する。
したがって、第二の電圧比較コンパレータへはD/A変
換回路の出力電圧プラス上記基準電圧発生回路の出力電
圧を加算した上記加算回路出力が供給されA/D変換を
実施する。
このことより従来のA/D変換装置に比べ2倍の計測精
度を有することができ、さらに]二1DりA変換回路の
出力電圧を−に記タイミング回路の制御によりサンプル
ホールド回路にてホールドし。
差動増幅器へ出力する。
上記差動増幅器では増幅器からの入力信号と上記サンプ
ルホールド回路出力電圧の差分のみを増幅し第一のスイ
ッチ回路経由上記第二の電圧比較コンパレータへ出力す
る。上記第二の電圧比較コンパレータでは再度A/D変
換を実施しA/D変換装置の最下位ビットを得ることが
できる。
従って本装置は従来のA/D変換装置と比べ。
計測精度を4倍とすることができる。
〔実施例〕
第1図は、この発明の一実施例を示す構成図である。
図において、(1)から(5)は上記従来回路と全く同
一のものである。
上記第一図において、外部から入力される被計測信号S
aを増幅器(6)で2倍に増幅し、第二の電圧比較型コ
ンパレータ(1b)にて−上記増幅器(6)の出力と基
準電圧発生回路(3)の出力電圧を比較し結果をレジス
タ回路(7)へ出力するとともにタイミング回路(5)
へ入力する。 この結果が本装置の最上位ビットの判定
結果となり、上記タイミング回路(5)では第二の電圧
比較型コンパレータ(1b)の結果をもとに第二のスイ
ッチ回路(8b)へ制御信号を出力する。
例えば上記第二の電圧比較型コンパレータ(1b)の比
較結果、上記基準電圧発生回路(3)の出力電圧が上記
増幅器(6)の出力より大きいと判定した場合、上記タ
イミング回路(5)では上記第二のスイッチ回路(8b
)を絶縁状態とするよう制御し、1−基準準電圧発生回
路(3)の出力電圧を加算回路(9)へ供給しない。 
これによりI−加算算回路(9)の出力電圧は、−1;
基準準電圧発生回路(3)の出力電圧とI) / A変
換回路(4)の出力電圧の加算された電圧となる。
このため、J二記増幅器(6)の出力は第一のスイッチ
回路(8a)を経由して第一の電圧比較型コンパレータ
(1a)で−h加算算回路(9)出力電圧と電圧比較す
ることにより逐次比較型Δ/D変換を行いその結果は逐
次比較レジスタ(2)に得ることかできる。
一1―記逐次比較レジスタ(2)の結果は、上記レジス
タ回路(7)へ先の上記第二の電圧比較型コンパレータ
(Ib)の結果とともに蓄積・出力しへ/D変換データ
Daとする。
さらに、L加算算回路(9)出力電圧を上記タイミング
回路(5)の制御によりサンプルホールド回路(10)
にてホールドする。
上記タイミング回路(5)では、−上記逐次比較レジス
タ(2)の結果を解除し初期状態に戻すと共に+−h記
第−のスイッチ回路(8a)を制御してスイッチ選択状
態を差動増幅器(11)へと変更する。
−上記差動増幅器(11)では、J二基すンプルホール
ド回路(10)の出力電圧と−に尼僧幅器(6)の出力
電圧の差分の電圧をゲイン2倍で増幅し、l−記第一の
スイッチ回路(8a)経由上記第一の電圧比較型コンパ
レータ(1a)へ出力し逐次比較型A/D変換を行い、
その結果本装置のA/D変換結果最丁位ビットDbを得
ることができる。
以」−の動作を行うことにより、計測精度が4倍の逐次
比較型A/D変換装置を得ることができるまた。l−記
第二の電圧比較型コンパレータ(1b)の比較結果、]
−記基準電圧発生回路(3)の出力電圧が上記増幅器(
6)の出力より大きいと判定した場合、」―記タイミン
グ回路(5)では上記第二のスイ、。
子回路(8b)を導通状態とするよう制御し、に基準準
電圧発生回路(3)の出力電圧を」1記加算回路(9)
へ供給する。
これにより]−記加算回路(9)の出力電圧は、−1−
基準準電圧発生回路(3)の出力電圧と上記D/Δ変換
回路(4)の出力電圧の加算された電圧となる。
さらに−]−記バッファ回路(+)の出力は、第一のス
イッチ回路(8a)を経由して第一の電圧比較型フンパ
レータ(1a)で上記加算回路(9)出力電圧と電圧比
較することにより逐次比較型Δ/D変換を行いその結果
は逐次比較レジスタ(2)に得ることができる。
−に記逐次比較レジスタ(2)の結果は、J−記レジス
タ回路(7)へ先の上記第二の電圧比較型コンパレータ
(Ib)の結果とともに蓄積・出力しA/D変換データ
Daとする。
さらに、」1記加算回路(9)出力電圧を4−記タイミ
ング回路(5)の制御によりサンプルホールド回路(1
0)にてホールドする。
−に記タイミング回路(5)では、−に記逐次比較レジ
スタ(2)の結果を解除し初期状態に戻すと共に上記第
一のスイッチ回路(8a)を制御してスイ・ノチ選択状
態を上記差動増幅器(I+)へと変更する。
上記差動増幅器(11)では、上記サンプルホールド回
路(10)と上記増幅器(6)の出力電圧との出力電圧
の差分の電圧をゲイン2倍で増幅し、」〕記第のスイッ
チ回路(8a)経由−4二記第−・の電圧比較型コンパ
レータ(2a)へ出力し逐次比較型A/D変換を行い、
その結果本装置のA/D変換結果最下位ビットDbを得
ることができる。
以上の動作を行うことにより、上記第二の電圧比較型コ
ンパレータ(2b)の比較結果、−上記基準電圧発生回
路(3)の出力電圧が上記バッファ回路(1)の出力よ
り大きいと判定した場合と同様計測精度が4倍の逐次比
較型A/D変換装置を得ることができる。
〔発明の効果〕
以」二のように、この発明によれば被計測信号を増幅器
にて2倍とした後に基準電圧発生回路の出力電圧と比較
することにより本装置の最−ヒ位ビットの判定をし加算
回路へのオフセット電圧とし。
さらにサンプルホールド回路の出力電圧とバッファ回路
の出力電圧を差動増幅器にて差分のみを増幅し、再度A
/D変換することにより本装置の最下位ビットの判定を
行い、従来のA/D変換回路に比べ4倍の計測精度を得
ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例を示す装置の構成図、第2
図は従来の装置を示す構成図である。 図において(Ia)は第一の電圧比較型コンパレータ、
 (lb)は第二の電圧比較型コンパレータ、(2)は
逐次比較レジスタ、(3)は基準電圧発生回路、(4)
はD/A変換回路、(5)はタイミング回路、(6)は
増幅器、(7)はレジスタ回路、 (8a)は第一のス
イッチ回路、 (8b)は第二のスイッチ回路(9)は
加算回路。 (10)はサンプルホールド回路、 (II)は差動増
幅器である。 なお1図中同一符号は同一または相当部分を示す。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 外部より与えられる被計測信号をD/A変換回路出力電
    圧と電圧比較する第一の電圧比較型コンパレータと、上
    記第一の電圧比較型コンパレータの比較結果を入力する
    とともにタイミング回路によって動作速度を制御される
    逐次比較レジスタと上記逐次比較レジスタの出力をアナ
    ログ電圧に変換するD/A変換回路と、上記D/A変換
    回路に基準電圧を供給する基準電圧発生回路とから構成
    されるA/D変換装置において、外部より与えられる被
    計測信号を増幅する増幅器と上記増幅器の出力と上記増
    幅器の出力を分岐して入力する差動増幅器と、第一のス
    イッチ回路と、第二の電圧比較型コンパレータと、上記
    タイミング回路により制御される第二のスイッチ回路と
    、上記D/A変換回路出力電圧と、上記第二のスイッチ
    回路経由供給される上記基準電圧発生回路の出力を電圧
    加算する加算回路と、上記加算回路の出力電圧を上記タ
    イミング回路の制御によりサンプリングし電圧をホール
    ドするサンプルホールド回路とを備えたことを特徴とす
    るA/D変換装置。
JP26981188A 1988-10-26 1988-10-26 A/d変換装置 Pending JPH02116224A (ja)

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