JPH02146637A - 集積回路 - Google Patents
集積回路Info
- Publication number
- JPH02146637A JPH02146637A JP63301740A JP30174088A JPH02146637A JP H02146637 A JPH02146637 A JP H02146637A JP 63301740 A JP63301740 A JP 63301740A JP 30174088 A JP30174088 A JP 30174088A JP H02146637 A JPH02146637 A JP H02146637A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- bus
- signals
- integrated circuit
- bits
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Microcomputers (AREA)
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は内部バスを有する集積回路において、外部ピン
本数を増やすことなくその内部バスを検査できるもので
ある。
本数を増やすことなくその内部バスを検査できるもので
ある。
本発明は、内部バスを有する集積回路において、信月切
り替え機構を追加することにより、ピッＩ・数の多い内
部バスの信号を分割して集積回路の外部信月ピンに取り
出すことを可能とし、外部信号ピンの本数を増やすこと
なく集積回路の内部バス検査を可能にした。
り替え機構を追加することにより、ピッＩ・数の多い内
部バスの信号を分割して集積回路の外部信月ピンに取り
出すことを可能とし、外部信号ピンの本数を増やすこと
なく集積回路の内部バス検査を可能にした。
従来は、集積回路の内部バス検査のために、すべての内
部バスを外部に取り出すテスト用の信号ビンを設けるこ
とにより、集積回路の内部バスを検査する方式が取られ
ていた。
部バスを外部に取り出すテスト用の信号ビンを設けるこ
とにより、集積回路の内部バスを検査する方式が取られ
ていた。
しかしながら、内部バスのビット数が増えるとテスト用
信号ビンの本数が増えるため、集積回路の製造品質の低
下、製造コストの上昇を招いていた。
信号ビンの本数が増えるため、集積回路の製造品質の低
下、製造コストの上昇を招いていた。
本発明は、上記のような点を鑑みてなされたもので、内
部バス信号を分割して集積回路の外部に取り出せるよう
に、信号切り替え機構を（−１けた。
部バス信号を分割して集積回路の外部に取り出せるよう
に、信号切り替え機構を（−１けた。
上記のように集積回路に信月切り替え機構を付けること
により、その信月切り替え機構により、ビット数の多い
内部バス信号を分割し、切り替えて、対象とする信号線
数より少ない外部ピンにその信号を取り出すことができ
る。
により、その信月切り替え機構により、ビット数の多い
内部バス信号を分割し、切り替えて、対象とする信号線
数より少ない外部ピンにその信号を取り出すことができ
る。
以下、本発明について実施例により詳細に説明する。
第１図は、本発明の一実施例のブロック図である。第１
図において、内部バス１は演算器の出力であり、３２ビ
ノト幅である。内部レジスタ２は、１６ビノト幅である
。信号切り替え機構３は内部レジスタからの信号と内部
バスから信号を切り替える。内部バスからの信号は３２
ビノト幅であるので、この場合には１６ビノトずつ上位
１６ビソトと下位１６ビソトとに分ける。よって信号切
り替え機構により切り替えられる信号は、この場合３系
統になる。
図において、内部バス１は演算器の出力であり、３２ビ
ノト幅である。内部レジスタ２は、１６ビノト幅である
。信号切り替え機構３は内部レジスタからの信号と内部
バスから信号を切り替える。内部バスからの信号は３２
ビノト幅であるので、この場合には１６ビノトずつ上位
１６ビソトと下位１６ビソトとに分ける。よって信号切
り替え機構により切り替えられる信号は、この場合３系
統になる。
切り替えられた信号は集積回路の外部ピン４から取り出
せる。
せる。
比較例として、従来の方式を示したブロック図を第２図
に示す。第２図では３２ビツト巾の内部バス１と１６ビ
ツト山の内部レジスタ２の信号が直接外部ピン４から取
り出す。
に示す。第２図では３２ビツト巾の内部バス１と１６ビ
ツト山の内部レジスタ２の信号が直接外部ピン４から取
り出す。
従って、比較例では、４８ピンの外部ピン４が必要とな
るが、本実施例では、本来内部レジスタのために必要と
される１６ピンの外部ピン４を用いて集積回路の内部バ
ス検査が可能となる。
るが、本実施例では、本来内部レジスタのために必要と
される１６ピンの外部ピン４を用いて集積回路の内部バ
ス検査が可能となる。
以上のように、本発明によれば、検査用の外部ピンを増
設することなく、本来集積回路で必要とされる外部ピン
を用いて、集積回路の内部バス検査が可能となる。
設することなく、本来集積回路で必要とされる外部ピン
を用いて、集積回路の内部バス検査が可能となる。
第１図は本発明に関わる一実施例を示した集積回路のブ
ロック図、第２図は従来の方式を示したブロック図であ
る。 １・・・内部バス ２・・・内部レジスタ ３・・・信号切り替え機構 ４・・・外部ピン 以上 出願人 セイコー電子工業株式会社 代理人 弁理士 林 敬 之 助
ロック図、第２図は従来の方式を示したブロック図であ
る。 １・・・内部バス ２・・・内部レジスタ ３・・・信号切り替え機構 ４・・・外部ピン 以上 出願人 セイコー電子工業株式会社 代理人 弁理士 林 敬 之 助
Claims (1)
- 内部バスを有する集積回路において、内部バスの信号を
分割して集積回路の外部に取り出すことができる信号切
り替え機構を具備したことを特徴とする集積回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63301740A JPH02146637A (ja) | 1988-11-28 | 1988-11-28 | 集積回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63301740A JPH02146637A (ja) | 1988-11-28 | 1988-11-28 | 集積回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02146637A true JPH02146637A (ja) | 1990-06-05 |
Family
ID=17900595
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63301740A Pending JPH02146637A (ja) | 1988-11-28 | 1988-11-28 | 集積回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02146637A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007042876A (ja) * | 2005-08-03 | 2007-02-15 | Nec Corp | 半導体集積回路及び半導体集積回路の内部信号モニタ方法 |
-
1988
- 1988-11-28 JP JP63301740A patent/JPH02146637A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007042876A (ja) * | 2005-08-03 | 2007-02-15 | Nec Corp | 半導体集積回路及び半導体集積回路の内部信号モニタ方法 |
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