JPH02149154A - 伝送品質自動試験方式 - Google Patents
伝送品質自動試験方式Info
- Publication number
- JPH02149154A JPH02149154A JP63302953A JP30295388A JPH02149154A JP H02149154 A JPH02149154 A JP H02149154A JP 63302953 A JP63302953 A JP 63302953A JP 30295388 A JP30295388 A JP 30295388A JP H02149154 A JPH02149154 A JP H02149154A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- test pattern
- test
- transmission quality
- synchronization
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 41
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 title claims abstract description 31
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 7
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 5
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 claims description 2
- 238000012372 quality testing Methods 0.000 claims 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 abstract description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Dc Digital Transmission (AREA)
- Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、伝送線路の途中に間隔を置いて配置した中継
装置により、伝送線路による損失を補いながら長距離に
信号を伝送する多段中継伝送系において、各中継区間の
伝送品質を判定する自動試験方式に関する。
装置により、伝送線路による損失を補いながら長距離に
信号を伝送する多段中継伝送系において、各中継区間の
伝送品質を判定する自動試験方式に関する。
（従来の技術）
多段中継伝送系における各中継区間の伝送品質を判定す
る従来の試験方式では、各中継装置に固有のアドレスを
割りふり、試験器からの試験設定情報とアドレスにより
、該当する中継装置での折返しを実行していた。
る従来の試験方式では、各中継装置に固有のアドレスを
割りふり、試験器からの試験設定情報とアドレスにより
、該当する中継装置での折返しを実行していた。
（発明が解決しようとする課題）
上述した従来の試験方式では、障害区間を判定する為に
はｎ段中継の場合には試験器から最大１回アドレスをか
えて試験を実行する必要があるという欠点が有った。
はｎ段中継の場合には試験器から最大１回アドレスをか
えて試験を実行する必要があるという欠点が有った。
（課題を解決するための手段）
前述の課題を解決するために本発明が提供する手段は、
伝送線路の途中に間隔を置いて複数の中継装置を配して
、該伝送線路における信号品質の劣化を該中継装置で補
うことにより長距離に信号伝送する多段中継伝送系にお
いて、隣接する中継装置間の前記伝送線路の伝送品質を
前記伝送線路に試１狭器を接続することにより自動的に
試験する方式であって、 前記伝送線路に試験パターン列を送る試験パターン発生
回路と、前記中継装置で折り返された前記試験パターン
列を検出したときに同期信号を生成する第１の同期回路
と、この第１の同期回路から前記同期信号を受けている
期間に前記中継装置で折り返された前記試験パターン列
の誤りを検出する回路と、前記中継装置で折り返して送
られて来る前記試験パターン列の継続時間と前記誤り検
出回路で検出された前記誤りとから前記伝送品質を判定
する回路とを前記試験器に備え、前記試験パターン発生
回路から送られる前記試験パターン列を検出したときに
同期信号を生成する第２の同期回路と、この第２の同期
回路から前記同期信号を受けたときから前記各中継装置
ごとに予め定められた折返継続時間だけ折返し信号を出
力する時定数回路と、前記折返し信号を受けている期間
だけ前記試験パターン発生回路から送られた前記試験パ
ターン列を前記試験器に向けて折返す回路とを前記各中
継装置に備える ことを特徴とする。
伝送線路の途中に間隔を置いて複数の中継装置を配して
、該伝送線路における信号品質の劣化を該中継装置で補
うことにより長距離に信号伝送する多段中継伝送系にお
いて、隣接する中継装置間の前記伝送線路の伝送品質を
前記伝送線路に試１狭器を接続することにより自動的に
試験する方式であって、 前記伝送線路に試験パターン列を送る試験パターン発生
回路と、前記中継装置で折り返された前記試験パターン
列を検出したときに同期信号を生成する第１の同期回路
と、この第１の同期回路から前記同期信号を受けている
期間に前記中継装置で折り返された前記試験パターン列
の誤りを検出する回路と、前記中継装置で折り返して送
られて来る前記試験パターン列の継続時間と前記誤り検
出回路で検出された前記誤りとから前記伝送品質を判定
する回路とを前記試験器に備え、前記試験パターン発生
回路から送られる前記試験パターン列を検出したときに
同期信号を生成する第２の同期回路と、この第２の同期
回路から前記同期信号を受けたときから前記各中継装置
ごとに予め定められた折返継続時間だけ折返し信号を出
力する時定数回路と、前記折返し信号を受けている期間
だけ前記試験パターン発生回路から送られた前記試験パ
ターン列を前記試験器に向けて折返す回路とを前記各中
継装置に備える ことを特徴とする。
（実施例）
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第１図は本発明の一実施例で用いる試験器の構成を示す
ブロック図、第２図はその実施例で用いる中継装置の構
成を示すブロック図である。ＩＮｌ及び０ＵＴ１は試験
器の入力及び出力、ＩＮ２及び０ＵＴ２は中継装置に於
ける試験器側の入力及び出力、１Ｎ３及びＯＵ Ｔ ３
は中継装置に於ける次段の中継装置側の入力及び出方で
ある。１は試験パターン発生回路、２は同期回路、３は
受信データから試験パターンの誤りを検出する誤り検出
回路、４は各中継装置の折返し試験継続時間と誤り検出
回路３からの誤り情報から各中継区間の伝送品質を判定
する判定回路、５は同期回路、６は当該中継装置固有の
折返し試Ｉｌｌ！継続時間を設定する時定数回路、７は
時定数回路６にて設定されている試験継続時間だけ折返
し状態になる折返し回路である。この折返し回路７が折
返し状態になると信号線１０が信号線１１に接続され、
その他のときは信号線１１は信号線１２に接続されてい
る。
ブロック図、第２図はその実施例で用いる中継装置の構
成を示すブロック図である。ＩＮｌ及び０ＵＴ１は試験
器の入力及び出力、ＩＮ２及び０ＵＴ２は中継装置に於
ける試験器側の入力及び出力、１Ｎ３及びＯＵ Ｔ ３
は中継装置に於ける次段の中継装置側の入力及び出方で
ある。１は試験パターン発生回路、２は同期回路、３は
受信データから試験パターンの誤りを検出する誤り検出
回路、４は各中継装置の折返し試験継続時間と誤り検出
回路３からの誤り情報から各中継区間の伝送品質を判定
する判定回路、５は同期回路、６は当該中継装置固有の
折返し試Ｉｌｌ！継続時間を設定する時定数回路、７は
時定数回路６にて設定されている試験継続時間だけ折返
し状態になる折返し回路である。この折返し回路７が折
返し状態になると信号線１０が信号線１１に接続され、
その他のときは信号線１１は信号線１２に接続されてい
る。
次に、この実施例の動作について説明する。まず、試験
パターン発生回路１にて発生した試験パターン列から中
継装置の同期回路５で同期がとられ折返し試験状態の認
識を行ない、時定数回１６で認定する当該中継装置固有
の時間長だけ折返し回路７でＩＮ２の入力信号を０ＵＴ
２に折返す。
パターン発生回路１にて発生した試験パターン列から中
継装置の同期回路５で同期がとられ折返し試験状態の認
識を行ない、時定数回１６で認定する当該中継装置固有
の時間長だけ折返し回路７でＩＮ２の入力信号を０ＵＴ
２に折返す。
次段以降の中継装置でも同様の動作を行なう、ここで、
時定数は次段以降順次に長くとるものとする。試験器の
受信部では同期回路２で同期をとり、誤り検出回路３で
受信データから試験パターンの誤りを検出し、判定回路
４に於て各中継装置固有の折返し試験継続時間と誤り検
出回路３からの誤り情報から各中継区間の伝送品質を判
定する。
時定数は次段以降順次に長くとるものとする。試験器の
受信部では同期回路２で同期をとり、誤り検出回路３で
受信データから試験パターンの誤りを検出し、判定回路
４に於て各中継装置固有の折返し試験継続時間と誤り検
出回路３からの誤り情報から各中継区間の伝送品質を判
定する。
（発明の効果）
以上に説明したように本発明の方式によれば、各中継装
置固有の折返し試験継続時間を試験器からの中継段を経
る毎に長く設定することにより、各中継区間の伝送品質
を一回の試験の実行で判定できる。
置固有の折返し試験継続時間を試験器からの中継段を経
る毎に長く設定することにより、各中継区間の伝送品質
を一回の試験の実行で判定できる。
第１図は本発明の一実繕例における試験器の構成を示す
ブロック図、第２図はその実施例における中継装置の構
成を示すブロック図である。 １・・・試１１パターン発生回路、２・・・同期回路、
３・・・誤り検出回路、４・・・判定回路、５・・・同
期回路、６・・・時定数回路、７・・・折返し回路。
ブロック図、第２図はその実施例における中継装置の構
成を示すブロック図である。 １・・・試１１パターン発生回路、２・・・同期回路、
３・・・誤り検出回路、４・・・判定回路、５・・・同
期回路、６・・・時定数回路、７・・・折返し回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 伝送線路の途中に間隔を置いて複数の中継装置を配して
、該伝送線路における信号品質の劣化を該中継装置で補
うことにより長距離に信号を伝送する多段中継伝送系に
おいて、隣接する前記中継装置間の前記伝送線路の伝送
品質を前記伝送線路に試験器を接続することにより自動
的に試験する方式であって、 前記伝送線路に試験パターン列を送る試験パターン発生
回路と、前記中継装置で折り返された前記試験パターン
列を検出したときに同期信号を生成する第１の同期回路
と、この第１の同期回路から前記同期信号を受けている
期間に前記中継装置で折り返された前記試験パターン列
の誤りを検出する回路と、前記中継装置で折り返して送
られて来る前記試験パターン列の継続時間と前記誤り検
出回路で検出された前記誤りとから前記伝送品質を判定
する回路とを前記試験器に備え、 前記試験パターン発生回路から送られる前記試験パター
ン列を検出したときに同期信号を生成する第２の同期回
路と、この第２の同期回路から前記同期信号を受けたと
きから前記各中継装置ごとに予め定められた折返継続時
間だけ折返し信号を出力する時定数回路と、前記折返し
信号を受けている期間だけ前記試験パターン発生回路か
ら送られた前記試験パターン列を前記試験器に向けて折
り返す回路とを前記各中継装置に備える ことを特徴とする伝送品質自動試験方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63302953A JPH02149154A (ja) | 1988-11-30 | 1988-11-30 | 伝送品質自動試験方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63302953A JPH02149154A (ja) | 1988-11-30 | 1988-11-30 | 伝送品質自動試験方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02149154A true JPH02149154A (ja) | 1990-06-07 |
Family
ID=17915137
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63302953A Pending JPH02149154A (ja) | 1988-11-30 | 1988-11-30 | 伝送品質自動試験方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02149154A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6462911B1 (en) | 1998-08-28 | 2002-10-08 | Hitachi, Ltd. | Magnetic head support mechanism and magnetic disk device |
-
1988
- 1988-11-30 JP JP63302953A patent/JPH02149154A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6462911B1 (en) | 1998-08-28 | 2002-10-08 | Hitachi, Ltd. | Magnetic head support mechanism and magnetic disk device |
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