JPH02157156A - 高誘電率系誘電体磁器組成物の製造方法 - Google Patents
高誘電率系誘電体磁器組成物の製造方法Info
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- JPH02157156A JPH02157156A JP63311092A JP31109288A JPH02157156A JP H02157156 A JPH02157156 A JP H02157156A JP 63311092 A JP63311092 A JP 63311092A JP 31109288 A JP31109288 A JP 31109288A JP H02157156 A JPH02157156 A JP H02157156A
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- Japan
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- dielectric
- powder
- fired
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は焼成温度が800〜1000℃でかつ大気中、
中性雰囲気中または還元雰囲気中にて短時間で焼成し得
る、高誘電率系誘電体磁器組成物の製造方法に関するも
のである。
中性雰囲気中または還元雰囲気中にて短時間で焼成し得
る、高誘電率系誘電体磁器組成物の製造方法に関するも
のである。
従来の技術
小型化・大容量化の進むセラミックコンデンサの高誘電
率材料としては、従来よりチタン酸バリウムを主成分と
する材料が用いられてきたが、この材料を焼結させるに
は大気中でかつ焼成温度として1300′C程度の高温
が必要であるため、積層型セラミックコンデンサを作成
する場合に、電極材料としては高価な白金あるいはパラ
ジュウムなどの貴金属の使用が不可欠であり、特に大容
量化に伴い内部電極材料が原材料費を押し上げる要因と
なっていた。
率材料としては、従来よりチタン酸バリウムを主成分と
する材料が用いられてきたが、この材料を焼結させるに
は大気中でかつ焼成温度として1300′C程度の高温
が必要であるため、積層型セラミックコンデンサを作成
する場合に、電極材料としては高価な白金あるいはパラ
ジュウムなどの貴金属の使用が不可欠であり、特に大容
量化に伴い内部電極材料が原材料費を押し上げる要因と
なっていた。
これに対して、近年、チタン酸バリウム材料に耐還元性
を持たせ、電極材料として安価な卑金属を用いて酸素分
圧の低い雰囲気中で焼成する方法や、鉛系誘電体材料と
安価な銀を主体とする銀パラジウム合金の電41料とを
用いて、1000℃前後の低温で焼成する方法により、
積層セラミックコンデンサの低コスト化が図られている
。
を持たせ、電極材料として安価な卑金属を用いて酸素分
圧の低い雰囲気中で焼成する方法や、鉛系誘電体材料と
安価な銀を主体とする銀パラジウム合金の電41料とを
用いて、1000℃前後の低温で焼成する方法により、
積層セラミックコンデンサの低コスト化が図られている
。
方、小型化や高信頼性が望まれる電子機器においては、
実装密度の高いハイジノリドIC化が進められており、
従来のチップコンデンサに変わって厚膜コンデンサに対
する要望が高捷っている。
実装密度の高いハイジノリドIC化が進められており、
従来のチップコンデンサに変わって厚膜コンデンサに対
する要望が高捷っている。
この厚膜コンデンサを作成するには、低温、短時間焼成
が可能な誘電体が必要であり、このための材料としては
主に鉛系誘電体が用いられる。
が可能な誘電体が必要であり、このための材料としては
主に鉛系誘電体が用いられる。
従って、積層チップコンデンサの大容量化あるいはコン
デンサの厚膜化のいずれにも対応できる材料として、鉛
系誘電体の開発が盛んに進められている。
デンサの厚膜化のいずれにも対応できる材料として、鉛
系誘電体の開発が盛んに進められている。
発明が解決しようとする課題
さて、P b T 103P b (N I V WV
2) 03系固溶体は、特開昭61−56601号公報
で知られているように、1100°C以下の大気中で焼
成される高誘電率組成物であるが、誘電率を高め、充分
緻密な焼結体を得るためには、焼成温度にて数時間保持
する必要がある。一方、ハイブリッドIC用の厚膜コン
デンサを作成する場合、低温短時間焼成が不可欠となり
、このような条件化では前記誘電体材料は未焼結となる
ため、所望の特性が得られないという問題が起こる。さ
らに、長時間の中性あ5・・−・ るいは還元雰囲気中における熱処理により誘電体磁器中
に酸素欠陥が生じ易くなり、誘電率の低下、絶縁抵抗の
低下をきたし、実用上問題であった。
2) 03系固溶体は、特開昭61−56601号公報
で知られているように、1100°C以下の大気中で焼
成される高誘電率組成物であるが、誘電率を高め、充分
緻密な焼結体を得るためには、焼成温度にて数時間保持
する必要がある。一方、ハイブリッドIC用の厚膜コン
デンサを作成する場合、低温短時間焼成が不可欠となり
、このような条件化では前記誘電体材料は未焼結となる
ため、所望の特性が得られないという問題が起こる。さ
らに、長時間の中性あ5・・−・ るいは還元雰囲気中における熱処理により誘電体磁器中
に酸素欠陥が生じ易くなり、誘電率の低下、絶縁抵抗の
低下をきたし、実用上問題であった。
本発明ではかかる問題に鑑み、PbTi05−Pb(N
i+/2WV2)03 系固溶体の持つ高い誘電率を損
なわず、大気中ならびに中性雰囲気中あるいは還元雰囲
気中にて800〜100Q℃で短時間焼成が可能な高誘
電率誘電体磁器組成物の製造方法、およびそれを用いた
セラミックコンデンサまたは厚膜コンデンサを提供する
ことを目的とするものである。
i+/2WV2)03 系固溶体の持つ高い誘電率を損
なわず、大気中ならびに中性雰囲気中あるいは還元雰囲
気中にて800〜100Q℃で短時間焼成が可能な高誘
電率誘電体磁器組成物の製造方法、およびそれを用いた
セラミックコンデンサまたは厚膜コンデンサを提供する
ことを目的とするものである。
課題を解決するための手段
前記間頌点を解決するために本発明の高誘電率系誘電体
磁器組成物の製造方法は、PbTi03P b (N
1V2WV2) O=、で表され、0.35≦X≦0.
70の範囲の組成からなる主成分誘電体の粉体に対して
、副成分として酸化鉛1.○〜25−0モル%にて前記
誘電体粉体を被覆した粉体を用い、その後、成形。
磁器組成物の製造方法は、PbTi03P b (N
1V2WV2) O=、で表され、0.35≦X≦0.
70の範囲の組成からなる主成分誘電体の粉体に対して
、副成分として酸化鉛1.○〜25−0モル%にて前記
誘電体粉体を被覆した粉体を用い、その後、成形。
焼成するという構成を備えたものである。
作用
すなわち、本発明の特許請求の範囲の組成物においては
、ベロプスカイ)1%j造を有するPbTiO3Pb
(Nj4WV2) Os系の粉体を酸化鉛にて被覆する
ことにより、酸化鉛の隅点(880℃)を利用して低温
で前記誘電体粉体の表面に均一な液相を発生させ、液相
焼結することによって誘電体への拡散を円滑に行え、添
加物による粒界相の形成が抑制されることによって誘電
率の低下を防ぎ、1Q○○℃以下という低い焼成温度に
て、短時間に緻密に焼成し得る大容量の積層セラミック
コンデンサあるいは厚膜コンデンサ用の組成物が得られ
ることとなる。
、ベロプスカイ)1%j造を有するPbTiO3Pb
(Nj4WV2) Os系の粉体を酸化鉛にて被覆する
ことにより、酸化鉛の隅点(880℃)を利用して低温
で前記誘電体粉体の表面に均一な液相を発生させ、液相
焼結することによって誘電体への拡散を円滑に行え、添
加物による粒界相の形成が抑制されることによって誘電
率の低下を防ぎ、1Q○○℃以下という低い焼成温度に
て、短時間に緻密に焼成し得る大容量の積層セラミック
コンデンサあるいは厚膜コンデンサ用の組成物が得られ
ることとなる。
実施例
以下、本発明の実施例を示す。
〈実施例1〉
まず、出発原料としては化学的に高純度なpbo 。
TiO2、NiO、WO3を用いた。これらを純度補正
を行った上で所定量を秤量し、純水を加えメノウ製玉石
を用いてボールミル これを吸引濾過して水分の大半を分離した後乾燥し、そ
の後ライカイ機で充分解砕した後、粉体量71、−7 sWt$の純水を加え、直径60mm、高さ約5On+
mの円柱状に成形圧力500kg/cAで成形した。こ
れをアルミナルツボ中に入れ同質の蓋をし、750〜1
000℃で2時間仮焼した。次に、前記仮焼物をアルミ
ナ乳鉢で粗砕し、さらにボールミルて17時間粉砕し、
吸引濾過した後、乾燥した。
を行った上で所定量を秤量し、純水を加えメノウ製玉石
を用いてボールミル これを吸引濾過して水分の大半を分離した後乾燥し、そ
の後ライカイ機で充分解砕した後、粉体量71、−7 sWt$の純水を加え、直径60mm、高さ約5On+
mの円柱状に成形圧力500kg/cAで成形した。こ
れをアルミナルツボ中に入れ同質の蓋をし、750〜1
000℃で2時間仮焼した。次に、前記仮焼物をアルミ
ナ乳鉢で粗砕し、さらにボールミルて17時間粉砕し、
吸引濾過した後、乾燥した。
以上の仮焼・粉砕・乾燥を数回繰り返した。この粉末を
X線回折法によシ解析し、ペロプスカイト相であること
を確認した。この誘電体粉本に酸化鉛の被覆を行う。
X線回折法によシ解析し、ペロプスカイト相であること
を確認した。この誘電体粉本に酸化鉛の被覆を行う。
ここで、酸化鉛の被覆方法としては、乾式法・液相法・
気相法とがある。才ず、乾式法ではメカノケミカル反応
を利用して、基体である誘電体粉本の表面を酸化鉛の微
粉が付着したような構造を有する。一方の液相法は湿式
法ともいわれ、化学反応を利用して誘電体粉末の表面に
酸化鉛の被覆層を(14成させるものである。この方法
はセラミック粉末を得るための合成方法として知られて
いるものであり、液相法は沈澱法と溶媒蒸発法に大別さ
れるが、沈澱法で合成されることが圧倒的に多い。さら
に、気相法による被覆方法では蒸発−凝縮法と気相化学
反応法があり、いずれも被覆層を薄くすることができる
。これらのいずれの方法で被覆してもよいが、本実施例
では液相法を用いて被覆処理を行った。
気相法とがある。才ず、乾式法ではメカノケミカル反応
を利用して、基体である誘電体粉本の表面を酸化鉛の微
粉が付着したような構造を有する。一方の液相法は湿式
法ともいわれ、化学反応を利用して誘電体粉末の表面に
酸化鉛の被覆層を(14成させるものである。この方法
はセラミック粉末を得るための合成方法として知られて
いるものであり、液相法は沈澱法と溶媒蒸発法に大別さ
れるが、沈澱法で合成されることが圧倒的に多い。さら
に、気相法による被覆方法では蒸発−凝縮法と気相化学
反応法があり、いずれも被覆層を薄くすることができる
。これらのいずれの方法で被覆してもよいが、本実施例
では液相法を用いて被覆処理を行った。
まず、誘電体粉末,純水,分散剤としてアンモニウム塩
を加えて分散処理する。その後、鉛水溶液,鉛沈戦剤と
を加えて鉛沈澱物を生成させる。
を加えて分散処理する。その後、鉛水溶液,鉛沈戦剤と
を加えて鉛沈澱物を生成させる。
その後、濾過,乾燥をした後、500℃程度の低温にて
加熱することによって酸化鉛の被覆層を有した誘電体粉
本を得ることができる。この誘電体粉末をX線回折、E
SGA 、電顕観察にて解析を行った結果、ペロブスカ
イト単一相の誘電体粉末の表面を酸化鉛層が被覆してい
ることを確認した。
加熱することによって酸化鉛の被覆層を有した誘電体粉
本を得ることができる。この誘電体粉末をX線回折、E
SGA 、電顕観察にて解析を行った結果、ペロブスカ
イト単一相の誘電体粉末の表面を酸化鉛層が被覆してい
ることを確認した。
さらに、第3成分としてNiO、またはwo3を下記の
表1に示すモル%にて添加・混合する。この酸化鉛被覆
誘電体粉水にポリビニルアルコ−/V6wt%水溶液を
粉体量のewt形加え、32メツシユのふるいをパスさ
せた後、造粒し成形圧力1o O O kg / r4
で直径13mm、高さ約5mmの円盤9A,:、+ 状に成形した。次いで、この成形物を大気中6000で
、1時間保持して脱バインダーした後、マグネシア磁器
容器に入れて同質の蓋をし、大気中、中性雰囲気中ある
いは還元雰囲気中で所定温度まで24Qo℃/時間で昇
温し、最高温度で5〜30分間保持後、2400℃/時
間で降温した。
表1に示すモル%にて添加・混合する。この酸化鉛被覆
誘電体粉水にポリビニルアルコ−/V6wt%水溶液を
粉体量のewt形加え、32メツシユのふるいをパスさ
せた後、造粒し成形圧力1o O O kg / r4
で直径13mm、高さ約5mmの円盤9A,:、+ 状に成形した。次いで、この成形物を大気中6000で
、1時間保持して脱バインダーした後、マグネシア磁器
容器に入れて同質の蓋をし、大気中、中性雰囲気中ある
いは還元雰囲気中で所定温度まで24Qo℃/時間で昇
温し、最高温度で5〜30分間保持後、2400℃/時
間で降温した。
以上のようにして得られた焼成物を厚さ1 mmの円盤
状に加工し、両面に電極としてOr−Agを蒸着し、誘
電率,誘電圧接を1KHz 、 1V 7mmの電界下
で測定した。下記のく表1〉に本発明の材料組成と、大
気中にて焼成した焼成物の誘電特性を示す。!!.た、
焼成雰囲気を中性雰囲気である窒素中とした場合、ある
いは1Q”atm 以上の酸素分圧を有する屋素ー水素
混合ガス中とした場合の900℃焼成の結果をそれぞれ
下記のく表2〉および〈3〉に示す。
状に加工し、両面に電極としてOr−Agを蒸着し、誘
電率,誘電圧接を1KHz 、 1V 7mmの電界下
で測定した。下記のく表1〉に本発明の材料組成と、大
気中にて焼成した焼成物の誘電特性を示す。!!.た、
焼成雰囲気を中性雰囲気である窒素中とした場合、ある
いは1Q”atm 以上の酸素分圧を有する屋素ー水素
混合ガス中とした場合の900℃焼成の結果をそれぞれ
下記のく表2〉および〈3〉に示す。
また、前記の実施例においては、被覆する酸化鉛の形態
としてpboを用いているが、これはpb2os 、
pb3o4 、 Pb02のいずれにおいても誘電特性
の優れた焼結体が得られた。
としてpboを用いているが、これはpb2os 、
pb3o4 、 Pb02のいずれにおいても誘電特性
の優れた焼結体が得られた。
く表1〉
10、、
く表2〉
13へ
(注)
※印は比較例で請求範囲外である。
(注)
※印は比較例で請求範囲外である。
14、、
く表3〉
(注) ※印は比較例で請求範囲外である。
17A 、。
前記のく表1〉〜〈表3〉に示すように、本発明の材料
組成にかかる焼成物は、900℃短時間焼成にもかかわ
らず、またさまざまな雰囲気焼成においても高誘電率の
緻密な焼結体が得られた。
組成にかかる焼成物は、900℃短時間焼成にもかかわ
らず、またさまざまな雰囲気焼成においても高誘電率の
緻密な焼結体が得られた。
ここで、本発明において、特許請求の範囲をP b T
10 x (N IV2WIA ) 1X O3で表
され、0.35≦X≦0.70の範囲の組成からなる主
成分誘電体の粉体に対して、副成分として酸化鉛1.0
〜25.0モル%にて前記誘電体粉体を被覆した粉体を
用いること、および第3成分としてNiOまたはWO6
を1.0〜15.0モル%添加することを特徴とする誘
電体磁器組成物の製造方法と具体的に限定した理由は、
〈表1〉〈表2〉〈表3〉の比較例に示すように、限定
範囲外の組成では9o○℃焼成温度で焼結体の誘電率が
2500以下となり、焼結が不十分となるものである。
10 x (N IV2WIA ) 1X O3で表
され、0.35≦X≦0.70の範囲の組成からなる主
成分誘電体の粉体に対して、副成分として酸化鉛1.0
〜25.0モル%にて前記誘電体粉体を被覆した粉体を
用いること、および第3成分としてNiOまたはWO6
を1.0〜15.0モル%添加することを特徴とする誘
電体磁器組成物の製造方法と具体的に限定した理由は、
〈表1〉〈表2〉〈表3〉の比較例に示すように、限定
範囲外の組成では9o○℃焼成温度で焼結体の誘電率が
2500以下となり、焼結が不十分となるものである。
また、800℃より低い温度での焼成では、焼結が不十
分となり、1000℃より高い温度での焼成は誘電率の
低下などの問題を生じ、所望の特性は得られないためで
ある。
分となり、1000℃より高い温度での焼成は誘電率の
低下などの問題を生じ、所望の特性は得られないためで
ある。
〈実施例2〉
18、、、9
前記実施例1にて用いた酸化鉛被覆誘電体粉末、さらに
は第3成分としてNiO、WO5を添加してボールミル ルローズを主成分とする樹脂を溶媒で溶かしたビヒクル
を加え、三段ロールにて混練し、誘電体ペーストを作成
した。一方、純度96%のアルミナ基板上に2×2−の
形成を有する厚膜コンデンサを形成するために、下部電
極として銅電極を印刷し、乾燥させた。次に、誘電体層
として前記誘電体ペーストを厚み5o〜60μmになる
ように2度印刷・乾燥することにより、電極−誘電体−
電極の3層構造の印刷厚膜を形成し、ベルト炉を用いて
最高温度800〜1000℃、保持時間5〜30分間窒
素中で焼成した。このようにして得られた厚膜コンデン
サの誘電率、誘電正接を1Kllz。
は第3成分としてNiO、WO5を添加してボールミル ルローズを主成分とする樹脂を溶媒で溶かしたビヒクル
を加え、三段ロールにて混練し、誘電体ペーストを作成
した。一方、純度96%のアルミナ基板上に2×2−の
形成を有する厚膜コンデンサを形成するために、下部電
極として銅電極を印刷し、乾燥させた。次に、誘電体層
として前記誘電体ペーストを厚み5o〜60μmになる
ように2度印刷・乾燥することにより、電極−誘電体−
電極の3層構造の印刷厚膜を形成し、ベルト炉を用いて
最高温度800〜1000℃、保持時間5〜30分間窒
素中で焼成した。このようにして得られた厚膜コンデン
サの誘電率、誘電正接を1Kllz。
1v//mm・の電界下で測定した。下記のく表4〉に
本発明の材料組成と、窒素中900℃で焼成した焼成物
の誘電特性を示す。
本発明の材料組成と、窒素中900℃で焼成した焼成物
の誘電特性を示す。
19、、。
〈表4〉
(注)
※印は比較例で請求範囲外である。
21A−ノ
前記〈表4〉に示すように、本発明の製造方法にかかる
焼成物は、短時間低温焼結にもかかわらず、緻密な焼結
体からなる高誘電率の厚膜コンデンサが得られた。
焼成物は、短時間低温焼結にもかかわらず、緻密な焼結
体からなる高誘電率の厚膜コンデンサが得られた。
また、特許請求の範囲を限定した理由は、実施例1と同
様に、く表4〉の比較例に示すように、限定範囲外の組
成物では、8o○〜1000℃の焼成温度で焼結の誘電
率が25oO以下となり、焼結が不十分となるためであ
る。本実施例では窒素中にて焼成が可能であることを示
したが、アルゴン、ヘリウムなどの中性雰囲気中でも焼
成が可能であることは容易に推測される。
様に、く表4〉の比較例に示すように、限定範囲外の組
成物では、8o○〜1000℃の焼成温度で焼結の誘電
率が25oO以下となり、焼結が不十分となるためであ
る。本実施例では窒素中にて焼成が可能であることを示
したが、アルゴン、ヘリウムなどの中性雰囲気中でも焼
成が可能であることは容易に推測される。
尚、本発明で用いられる電極としては、大気中、中性雰
囲気中、あるいは還元雰囲気中にて800〜1000℃
で焼成可能な電極が適宜選択され、使用されるものであ
る。
囲気中、あるいは還元雰囲気中にて800〜1000℃
で焼成可能な電極が適宜選択され、使用されるものであ
る。
発明の効果
以上述べてきたように、本発明は、
PbTix(Ni1/2WV2)1−x03 で表され
、0.35≦X≦0.70の範囲の組成からなる主成分
誘電体磁器組22、、、。
、0.35≦X≦0.70の範囲の組成からなる主成分
誘電体磁器組22、、、。
放物の粉体に対して、副成分として酸化鉛1.0〜25
、oモp%にて前記誘電体粉体を被覆した粉体を用い、
その後成形、焼成するという構成を備えたものである。
、oモp%にて前記誘電体粉体を被覆した粉体を用い、
その後成形、焼成するという構成を備えたものである。
その粉体を用いることによって800〜1o00℃の温
度にて短時間でかつ大気中または中性雰囲気中あるいは
還元雰囲気中においても焼成可能な高誘電率を有するセ
ラミックコンデンサおよび厚膜コンデンサを提供し得る
という優れた効果を発揮するものである。
度にて短時間でかつ大気中または中性雰囲気中あるいは
還元雰囲気中においても焼成可能な高誘電率を有するセ
ラミックコンデンサおよび厚膜コンデンサを提供し得る
という優れた効果を発揮するものである。
Claims (7)
- (1)PbTi_x(Ni_1_/_2W_1_/_2
)_1_−_xO_3で表され、0.35≦x≦0.7
0の範囲の組成からなる主成分誘電体の粉体に対して、
副成分として酸化鉛1.0〜25.0モル%にて前記誘
電体粉体を被覆した粉体を用い、その後、成形焼成する
ことを特徴とする高誘電率系誘電体磁器組成物の製造方
法。 - (2)請求項1記載の酸化鉛として、PbO,Pb_2
O_3,Pb_3O_4,PbO_2のうち少なくとも
一種を含んだことを特徴とする高誘電率系誘電体磁器組
成物の製造方法。 - (3)請求項1、または2記載の組成に対して、NiO
を1.0〜15.0モル%添加することを特徴とする高
誘電率系誘電体磁器組成物の製造方法。 - (4)請求項1、または2記載の組成に対して、WO_
3を1.0〜15.0モル%添加することを特徴とする
高誘電率系誘電体磁器組成物の製造方法。 - (5)請求項1、2、3または4記載の誘電体磁器組成
物を用い、大気中にて800〜1000℃で焼成可能な
電極とで構成されたことを特徴とするセラミックコンデ
ンサ。 - (6)請求項1、2、3または4記載の誘電体磁器組成
物を用い、中性雰囲気中あるいは還元雰囲気中にて80
0〜1000℃で焼成可能な電極とで構成されたことを
特徴とするセラミックコンデンサ。 - (7)セラミック基板上に、請求項1、2、3または4
記載の誘電体磁器組成物からなる誘電体層と800〜1
000℃で焼成可能な電極とを設けて構成されたことを
特徴とする厚膜コンデンサ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63311092A JPH02157156A (ja) | 1988-12-08 | 1988-12-08 | 高誘電率系誘電体磁器組成物の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63311092A JPH02157156A (ja) | 1988-12-08 | 1988-12-08 | 高誘電率系誘電体磁器組成物の製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02157156A true JPH02157156A (ja) | 1990-06-15 |
Family
ID=18013036
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63311092A Pending JPH02157156A (ja) | 1988-12-08 | 1988-12-08 | 高誘電率系誘電体磁器組成物の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02157156A (ja) |
-
1988
- 1988-12-08 JP JP63311092A patent/JPH02157156A/ja active Pending
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