JPH03197880A - インサーキットテスタによる不良データの出力表示方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ この発明は、インサーキットテスタによる不良データの
出力表示方法に係り、さらに詳しくは、被検査基板から
測定ステップ順に取り込まれた測定データ中、不良であ
ると判定された測定データを基準データとの間の格差の
大きい順に不良データとして出力表示することができる
インサーキットテスタによる不良データの出力表示方法
に関する。

［従来の技術］ インサーキットテスタによる回路基板の検査においては
、フィクスチャと称される基板固定装置が用いられる。

そして、このフィクスチャには、被検査基板の測定ポイ
ントに対応させた複数本のプローブビンが植設されてお
り、これらのプローブビンを介して測定信号を与えると
ともに、その応答信号を測定データとして検出し、この
測定データを例えば良品基板の対応箇所から予め吸収し
である良品データから求めた基準データと比較すること
で、当該測定ポイントの良否の判別が可能となっており
、しかも、その際に仕分けられた不良データは、表示器
やプリンタを介して出力表示させることができるように
なっている。

第４図は、この種のインサーキットテスタによる不良デ
ータの出力表示パターンの従来例を示すものである。同
図によれば、表示部１には、測定ステップ数表示欄２の
ほか、ビン番号表示欄３、測定値表示欄４、充足率表示
欄５、許容範囲値表示欄６などが表示されるようになっ
ている。

このうち、ステップ数表示欄２は、被検査基板との関係
で予め定められている測定ステップ中、基準に合致しな
い測定データが検出された測定ステップを教示するもの
であり、ビン番号表示欄３は、基準に合致しない測定デ
ータが検出された測定ステップにて用いられたプローブ
ビンの番号を教示するようになっている。

また、測定値表示欄４には、当該測定ステップにおいて
実測された測定データであるインピーダンスを表示し、
充足率表示欄５には、例えば良品基板における対応箇所
から予め吸収しである基準データとしてのインピーダン
スに対し前記測定値表示欄４に表示されている前記測定
データが充足する割合を表示するようになっている。

さらに、許容範囲値表示欄６には、良品基板から吸収さ
れている前記基準データに対する実測された測定データ
の充足率についての許容範囲を表示するようになってい
る。

このため、表示部１には、測定ステップの順に不良デー
タ８を羅列表示することができ、したがって、計測者等
は、表示部１に出力表示されるデータリストを確認する
ことで、被検査基板における測定ポイント中の不良測定
ポイントを個別に知ることができるようになっている。

［発明が解決しようとする課題］ ところで、上記従来手法によれば、不良データを測定ス
テップの順に羅列して表示することができ、その点での
一覧性には優れているということができる。

一方、不良データの中には、許容充足率から大きく離れ
ているものから、極（僅かにしか離れていないものまで
があり、デバッグ時における要確認ポイントの優先順位
を直観的には把握しずらく、作業性が悪いという不都合
のあることが指摘されていた。

［課題を解決するための手段］ この発明は、従来手法の上記課題に鑑みてなされたもの
であり、その構成上の特徴は、被検査基板から測定ステ
ップの順に測定データの取込みが可能な計測部と、この
計測部を介して取り込まれる各測定データとこれに対応
する各基準データとを比較演算する演算制御部と、測定
データと対応基準データとの間の比較結果を測定ステッ
プ別の検査データとして格納可能なメモリと、出力制御
された出力手段とを有し、前記計測部を介して取り込ま
れる測定データのそれぞれは、各測定ステップに対応さ
せて予め設定されている基準データとの関係でその良否
が判別され、基準に合致しない検査データについては、
対応する基準データとの間の格差の大きい順に不良デー
タとして出力表示することにある。

［作　用］ このため、被検査基板の各測定ポイントから測定ステッ
プの順に得られる各測定データは、予め設定されている
対応基準データと比較され、その良否の判別が可能な検
査データとしてメモリ格納することができる。

しかも、基準に合致しない検査データは、測定データと
基準データとの間の格差が大きい順に不良データとして
表示手段を介して出力表示させることができるので、そ
のデパック時においては、優先して検査しなければなら
ない測定ステップを直ちに知ることができ、このデータ
リストに従ったデパック作業を円滑、かつ、迅速に遂行
して作業性の向上を図ることができる。

［実施例］ 以下、添付の図面を参酌してこの発明の一実施例を詳細
に説明する。

第１図は、この発明方法の実施に供されるインサーキッ
トテスタの要部構成の一例を示す機能ブロック図であり
、計測部２４を介して取り込まれる被検査基板からの測
定データは、例えば良品基板の対応箇所から予め吸収し
である良品データなどからなる基準データとＣＰＵ　（
中央処理装置）　１１を構成している演算制御部２２を
介して比較演算され、その結果得られる検査データは、
メモリ２３に格納させることができ、しかも、このよう
にして格納される一連の検査データは、その全てを、若
しくは不良データ１８のみをデータリストとしてＣＲＴ
等の表示器やプリンタ等で構成される表示手段２５へと
出力表示させることができるようになっている。

第２図は、この発明に係る不良データの出力表示方法の
処理手順の一例を示すフローチャートである。

すなわち、同図によれば、被検査基板に対しては、まず
、計測部２４を介して各測定ステップごとに所定の手順
に従った計測テストが行なわれ、その結果得られる測定
データは、予め良品基板の対応箇所から吸収してメモリ
２３に格納しである基準データと演算制御部２２を介し
て比較され、設定基準に達しているか否かが判別される
。

この際、当該測定データが対応する基準データとの関係
で設定基準に達していると判別された場合には、その結
果を検査データとしてメモリ２３に格納した後、次の測
定ステップの計測テストへと移行し、以後、最終の測定
ステップに至まで同様な処理が繰り返し行なわれる。

一方、測定データが対応する基準データとの関係で設定
基準に達していないと判別された場合には、当該測定デ
ータと基準データとの間の格差を求める処理が行なわれ
る。

かくして、当該測定データと基準データとの間の格差を
求めた後には、この格差の大きいものから順次、表示部
１１に不良データ１８として表示される。

第３図は、この際における表示部１１への不良データ１
８の表示パターンの一例を示すものである。

同図によれば、表示部１１には、不良データ１８の別に
測定ステップ数表示欄１２のほか、ビン番号表示欄１３
、測定値表示欄１４、充足率表示欄１５、許容範囲値表
示欄１６、格差表示欄１７が表示されるようになってい
る。

このうち、ステップ数表示欄１２は、被検査基板との関
係で予め定められている測定ステップ中、基準に合致し
ない測定データが検出された測定ステップを教示するも
のであり、ビン番号表示欄１３は、基準に合致しない測
定データが検出された測定ステップにて用いられたプロ
ーブビンの番号を教示するようになっている。

また、測定値表示欄１４には、当該測定ステップにおい
て実測された測定データであるインピーダンスを表示し
、充足率表示欄１５には、例えば良品基板における対応
箇所から予め吸収しである基準データとしてのインピー
ダンスに対し前記測定値表示欄１４に表示されている前
記測定データが充足する割合を表示するようになってい
る。

さらに、許容範囲値表示欄１６には、良品基板から吸収
されている前記基準データに対する実測された測定デー
タの充足率についての許容範囲が表示され、格差表示１
１１１７には、充足率表示欄１５に表示されている数値
と許容範囲値表示欄１６に表示された最も近似している
数値との間の格差が表示されるようになっている。

このような表示パターンのもとて表示部１１に不良デー
タ１８を表示した後、次の測定ステップの計測テストへ
と移行し、以後、最終の測定ステップに至まで同様な処
理が繰り返し行なわれる。

この発明に係る出力表示方法は、上述したようにして行
なわれるので、被検査基板の各測定ポイントから測定ス
テップの順に得られる各測定データは、これに対応させ
て予め設定しである基準データと演算制御部２２を介し
て比較され、その良否の判別が可能な検査データとして
メモリ２３に格納することができる。

しかも、基準に合致しない検査データは、第３図に示す
ように、測定データと基準データとの間の格差、実施例
においては充足率表示欄１５に表示されている数値と許
容範囲値表示欄１６に表示されたより近似している数値
との間の格差（図中の格差表示欄１７に表示される）に
ついてその数値の大きい順に不良データ１８として表示
手段２５を構成する表示部１１を介して出力表示させる
ことができる。

このため、デパック時においては、優先して検査しなけ
ればならない測定ステップを直ちに知ることができ、こ
のデータリストに従ってデパック作業を円滑、かつ、迅
速に遂行して作業性の向上を図ることができる。

［発明の効果］ 以上述べたようにこの発明方法によれば、被検査基板の
各測定ポイントから測定ステップの順に得られる各測定
データは、その良否の判別が可能な検査データとしてメ
モリ格納してお（ことができ、しかも、基準に合致しな
い検査データは、測定データと基準データとの間の格差
が大きい順に不良データとして表示手段を介して出力表
示させることができるので、そのデパック時においては
、優先確認対象としての測定ステップを直ちに知ること
ができ、このデータリストに従ってのデパック作業を円
滑、かつ、迅速に遂行して作業性の向上を図ることがで
きる。

【図面の簡単な説明】

第１図は、この発明方法の実施に供されるインサーキッ
トテスタの要部構成の一例を示す機能ブロック図、第２
図は、この発明方法の処理手順の一例を示すフローチャ
ート、第３図は、インサーキットテスタを構成する表示
部への不良データの表示パターン例を示す説明図、第４
図は、従来手法による不良データの表示パターン例を示
す説明図である。 １１・・・表示部、　　　　１２・・・ステップ数表示
欄、１３・・・ビン番号表示欄、１４・・・測定値表示
欄、１５・・・充足率表示欄、　１６・・・許容範囲値
表示欄、１７・・・格差表示欄、　　２１・・・ＣＰＵ
、２２・・・演算制御部、　　２３・・・メモリ、２４
・・・計測部、　　　　２５・・・表示手段第１図 第３図 第２図 第４図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. （１）被検査基板から測定ステップの順に測定データの
   取込みが可能な計測部と、この計測部を介して取り込ま
   れる各測定データとこれに対応する各基準データとを比
   較演算する演算制御部と、測定データと対応基準データ
   との間の比較結果を測定ステップ別の検査データとして
   格納可能なメモリと、出力制御された出力手段とを有し
   、前記計測部を介して取り込まれる測定データのそれぞ
   れは、各測定ステップに対応させて予め設定されている
   基準データとの関係でその良否が判別され、基準に合致
   しない検査データについては、対応する基準データとの
   間の格差の大きい順に不良データとして出力表示するこ
   とを特徴とするインサーキットテスタによる不良データ
   の出力表示方法。