JPH02160391A - フレーム付半導体装置の試験用ソケット - Google Patents
フレーム付半導体装置の試験用ソケットInfo
- Publication number
- JPH02160391A JPH02160391A JP63314136A JP31413688A JPH02160391A JP H02160391 A JPH02160391 A JP H02160391A JP 63314136 A JP63314136 A JP 63314136A JP 31413688 A JP31413688 A JP 31413688A JP H02160391 A JPH02160391 A JP H02160391A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- semiconductor device
- frame
- positioning
- pins
- test socket
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 21
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 11
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims abstract description 9
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 2
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Details Of Connecting Devices For Male And Female Coupling (AREA)
- Connecting Device With Holders (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、フレーム付半導体装置の電気試験用ソケット
に関し、詳しくはフラットパッケージ半導体装置の製造
工程においてリードフレームに半導体チップを搭載し樹
脂封止したのち、タイバーを切断した状態で試験を行う
ときに使用するソケットに関する。
に関し、詳しくはフラットパッケージ半導体装置の製造
工程においてリードフレームに半導体チップを搭載し樹
脂封止したのち、タイバーを切断した状態で試験を行う
ときに使用するソケットに関する。
従来、この種のソケットは、第3図(a)(b)に示す
ように、°フレームの位置決め穴に対応する2本の位置
決めピンと、フレーム付半導体装置のリードを位置決め
する位置決め枠10−1〜10−4とを有していた。
ように、°フレームの位置決め穴に対応する2本の位置
決めピンと、フレーム付半導体装置のリードを位置決め
する位置決め枠10−1〜10−4とを有していた。
上述した従来のフレーム付半導体装置の試験用ソケット
は、半導体装置のリードを直接位置決めする構造となっ
ているので、リードの変形等を起こすという欠点がある
。
は、半導体装置のリードを直接位置決めする構造となっ
ているので、リードの変形等を起こすという欠点がある
。
本発明は、複数のリードを備えたフラットパッケージ半
導体装置に吊りピンを介して取付けられた金属フレーム
を有するフレーム付半導体装置の試験用ソケットにおい
て、前記金属フレームに設けられた位置決め穴又はスプ
ロケット穴に対応して設けられた少なくとも3個の位置
決めピンか設けられているというものである。
導体装置に吊りピンを介して取付けられた金属フレーム
を有するフレーム付半導体装置の試験用ソケットにおい
て、前記金属フレームに設けられた位置決め穴又はスプ
ロケット穴に対応して設けられた少なくとも3個の位置
決めピンか設けられているというものである。
次に、本発明の実施例について図面を参照して説明する
。
。
第1図(a>及び(b>はそれぞれ本発明の一実施例の
上面図及び側面図である。
上面図及び側面図である。
この実施例は、第2図に示すような、複数のり−ド6を
備えたフラットパッケージ半導体装置に吊りピン7を介
して取付けられた金属フレーム4を有するフレーム付半
導体装置の試験用ソケットにおいて、金属フレーム4に
設けられた位置決め六8−1.8−2及びスプロケット
穴9−1.9−2CR密にはスプロケット穴の半分)に
対応して設けられた4個の位置決めピン2−1〜2−4
が設けられているというものである。
備えたフラットパッケージ半導体装置に吊りピン7を介
して取付けられた金属フレーム4を有するフレーム付半
導体装置の試験用ソケットにおいて、金属フレーム4に
設けられた位置決め六8−1.8−2及びスプロケット
穴9−1.9−2CR密にはスプロケット穴の半分)に
対応して設けられた4個の位置決めピン2−1〜2−4
が設けられているというものである。
フレーム付半導体装置をこのようなソケットに装着し、
リードと接触子を接触させ(適当な重しをのせてもよい
)た状態で、各接触子には図示しない配線から電気信号
を印加して試験を行なう。
リードと接触子を接触させ(適当な重しをのせてもよい
)た状態で、各接触子には図示しない配線から電気信号
を印加して試験を行なう。
最終的には吊りピン7を切除するとフラットパッケージ
半導体装置が得られる。
半導体装置が得られる。
以上説明したように本発明によると、位置決めピンによ
りフレームで位置決めを行うことができるので、半導体
装置のリードの変形等の損傷をなくすことができ、歩留
りが向上する効果がある。
りフレームで位置決めを行うことができるので、半導体
装置のリードの変形等の損傷をなくすことができ、歩留
りが向上する効果がある。
第1図(a)及び(b)はそれぞれ本発明の一実施例の
上面図及び側面図、第2図はフレーム付半導体装置の上
面図、第3図(a)及び(b)はそれぞれ従来例を示す
上面図及び側面図である。 1・・・ソケット本体、2−1〜2−4・・・位置決め
ピン、3・・・接触子、4・・・金属フレーム、5・・
・封止樹脂、6・・・リード、7・・・吊りピン、8−
1.82・・・位置決め穴、9−1.9−2・・・スプ
ロケット穴、10−1〜10−4・・・位置決め枠。
上面図及び側面図、第2図はフレーム付半導体装置の上
面図、第3図(a)及び(b)はそれぞれ従来例を示す
上面図及び側面図である。 1・・・ソケット本体、2−1〜2−4・・・位置決め
ピン、3・・・接触子、4・・・金属フレーム、5・・
・封止樹脂、6・・・リード、7・・・吊りピン、8−
1.82・・・位置決め穴、9−1.9−2・・・スプ
ロケット穴、10−1〜10−4・・・位置決め枠。
Claims (1)
- 複数のリードを備えたフラットパッケージ半導体装置に
吊りピンを介して取付けられた金属フレームを有するフ
レーム付半導体装置の試験用ソケットにおいて、前記金
属フレームに設けられた位置決め穴又はスプロケット穴
に対応して設けられた少なくとも3個の位置決めピンが
設けられていることを特徴とするフレーム付半導体装置
の試験用ソケット。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63314136A JPH02160391A (ja) | 1988-12-12 | 1988-12-12 | フレーム付半導体装置の試験用ソケット |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63314136A JPH02160391A (ja) | 1988-12-12 | 1988-12-12 | フレーム付半導体装置の試験用ソケット |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02160391A true JPH02160391A (ja) | 1990-06-20 |
Family
ID=18049669
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63314136A Pending JPH02160391A (ja) | 1988-12-12 | 1988-12-12 | フレーム付半導体装置の試験用ソケット |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02160391A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH07106036A (ja) * | 1993-10-07 | 1995-04-21 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | ソケットにおける電子部品の位置決め装置 |
-
1988
- 1988-12-12 JP JP63314136A patent/JPH02160391A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH07106036A (ja) * | 1993-10-07 | 1995-04-21 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | ソケットにおける電子部品の位置決め装置 |
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