JPH02185020A - 気相成長装置 - Google Patents

気相成長装置

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JPH02185020A
JPH02185020A JP515389A JP515389A JPH02185020A JP H02185020 A JPH02185020 A JP H02185020A JP 515389 A JP515389 A JP 515389A JP 515389 A JP515389 A JP 515389A JP H02185020 A JPH02185020 A JP H02185020A
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JP
Japan
Prior art keywords
exhaust port
growth chamber
exhaust
raw material
substrate
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Pending
Application number
JP515389A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroya Kubota
久保田 博也
Junichi Umegaki
梅垣 淳一
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は気相成長装置、特に、複数の成長室を有する気
相成長装置に関する。
〔従来の技術〕
従来の気相成長装置について図面を参照して詳細に説明
する。
第2図は従来の気相成長装置の一例を示す模式反応管1
は2つの成長室11.11−を有しており、それぞれに
は原料ソース6.6゛が載置されている。キャリアガス
導入口2,2°より水素ガスを導入した上で、加熱炉9
により反応管1内のソース6.6°と基板8を加熱する
基板8は、フランジ部10と支持部20との調整によっ
てアーム7を移動して所定の位置に設置される。
1、Pの基板8が成長室11に設置される場合、ソース
6に工。、原料ガス導入口3からPH3が導入され、基
板8上にIfiP層結晶成長させることができる。
次に、基板8が成長室11“に設置された場合、ソース
6°にG、原料ガス導入口3−からはASH3が導入さ
れ、基板8上には1.G、A5層を結晶成長させるこの
ができる。
〔発明が解決しようとする課題〕
上述した従来の気相成長装置は、排気口4が基板8より
も下流側にのみ配置されているので、原料ガスの混在す
る領域が存在し、基板8の移動の際にはその領域を通過
しなければならず、結晶組成が不安定になるという欠点
があった。
〔課題を解決するための手段〕
本発明の気相成長装置は、ソースの載置された複数の成
長室を有する反応管を備え結晶成長される基板が前記成
長室間を移動する気相成長装置において、前記成長室の
各々で前記ソースと前記基板との中間位置に排気口が設
置される 〔実施例〕 次に、本発明の実施例について図面を参照して説明する
第1図は本発明の一実施例を示す模式図である。
第1図に示す気相成長装置は、成長室11.11°の下
流側で、ソース6.6“の下流側かつ基板8の上流側に
設置された排気口5,5゛を含んで構成される。
成長窓11においてInP層の成長を行なっている際は
、排気口4からの排気とともに排気口5°からの排気を
行なう。(この時、排気口5からの排気は行なわれない
) これにより、成長室11−からの原料ガスは下流の排気
口4に達する以前に排気口5゛から排気されるので、成
長室11゛から成長室11への原料ガスの混入は抑制さ
れる。
次に、アーム7を操作して、基板8を成長室11°に移
動し、工。GAAs層の成長を行なう際は、排気口4か
らの排気とともに排気口5からの排気を行なう、(この
時、排気口5−からの排気は行なわない) これにより、成長室11からの原料ガスは下流の排気口
4に達する以前に排気口5から排気されるので、成長室
11から成長室11−への原料ガスの混入は抑制される
基板8が移動を開始した時点で上述の操作を行なうと、
2つの成長室11.11“の原料ガスが混在する領域は
減少する。
〔発明の効果〕
本発明の気相成長装置は、各々の成長室のソースと基板
の中間位置に排気口を追加することにより、結晶成長に
関与しない成長室の排気口から排気することができりた
め、他の成長室へのガスの混入を抑制し、原料ガスの混
在領域を減少させることができるので、基板上に成長さ
れた半導体層の結晶組成を安定化できるという効果があ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す模式図、第2図従来の
一例を示す模式図である。 1・・・・・・反応管、2・・・・・・キャリアガス導
入管、3・・・・・・原料ガス導入口、4・・・・・・
排気口、5・・・・・・排気口、6・・・・・・ソース
、7・・・・・・アーム、8・・・・・・基板、9・・
・・・・加熱炉、10・・・・・・フランジ部、11・
旧・・成長室、20・・・・・・支持部。 夷  1 3 ; 原シトずス榊入奮 6 ; ゛ノース 代理人 弁理士  内 原  晋 第  ′l  品

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. ソースの載置された複数の成長室を有する反応管を備え
    結晶成長される基板が前記成長室間を移動する気相成長
    装置において、前記成長室の各々で前記ソースと前記基
    板との中間位置に排気口が設置されることを特徴とする
    気相成長装置。
JP515389A 1989-01-11 1989-01-11 気相成長装置 Pending JPH02185020A (ja)

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