JPH02186281A - 半導体装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、プリント基板に実装して使用するＩＣパッ
ケージ等の半導体装置、より詳しくは、実装後のプリン
ト基板製品の電気的検査を容易化し、かつ、その検査の
信頼性を高めるのに有効な半導体装置に関する。

〔従来の技術〕

半導体装置の実装されたプリント基板製品の配線不良、
半田付は不良等を調べる電気的検査は、インサーキット
テスタにより基板内の回路に電気的接触を図って個別の
半導体単位に不良の有無を検査することが実用的な方法
として広く採用されている。

〔発明が解決しようとする課題〕

従来のインサーキットテスタによる検査では、プリント
基板内に電気的接触を得るために針（テスタのプローブ
ビン）を立てないといけないが、近年、表面実装部品が
多用されており、針を立てることが困難になってきてい
る。

このため、コネクタ部から測定用の電気信号を出し入れ
するファンクションテスタを使用せざるを得なくなって
いるが、コネクタ部から見たプリント基板製品の回路は
複雑な順序回路となっているため、ファンクションテス
タによる検査は膨大なテストベクタを必要とする割に不
完全なテストしか行えないと云う問題があった。

そこで、この発明は、針立ての困難なプリント１＋反製
品であっても、インサーキットテスタによる簡便かつ正
確な電気的検査を可能ならしめる半導体装置を提供しよ
うとするものである。

〔課題を解決するための手段〕

上記の問題点を無くすため、この発明においては、入力
端子と出力端子との間に、両端子間の機能回路を動作さ
せる本来の動作モードとのモード切換えが可能でテスト
モード下では入力端子からの入力信号を機能回路を通さ
ずに直接出力端子に伝達するテスト回路を設けたのであ
る。

この半導体装置のテスト回路は、後述の実施例で詳しく
述べるように、入力端子から出力端子へ信号を直通させ
るためのシフトレジスタとセレクタ、本来の動作モード
とテストモードの切換え用端子、シフトレジスタを動作
させるだめのシフトクロック端子及びシフトレジスタ初
期化のためのりセント回路を具備したものが望ましい。

また、モード切換用端子とシフトクロック端子は、イン
サーキットテスタの接続の障害を無くずために装置の本
体部の上面に設けておくのが望ましい。

〔作用〕

上記の構成にした半導体装置は、モード切換え端子をテ
ストモードにして入力端子に電気信号を人力すると、そ
の信号が本来の機能回路を通らずにテスト回路を通って
直接出力端子に流れる。従って、半導体装置実装後に基
板のパターン回路並びに半田付は部の不良検出を目的と
してコネクタ部から測定用の電気信号を出し入れしても
機能回路の存在による影響が無く、インサーキットテス
タにより正値で簡便な検査が可能になる。

なお、請求項の（２）のシフトレジスタは各端子の接続
回路を個別検査するために設ける。

〔実施例〕

第１図及び第２図に、この発明の一具体例を示す０図の
１はＩＣパッケージ、２は入力ビン、３は出力ピン、４
は２．３間に設けた機能回路部である。また、点線で示
す部分はこの発明を特徴づけるテスト回路で、この回路
には入力ビン２からの入力信号をシリアル信号に変換し
て出力するシフトレジスタ５と、５からのシリアル信号
を入力して出力ビン３に流すシフトレジスタ５′と、４
及び５′の出力ラインに挿入したセレクタ６と、機能回
路部を使用する本来の動作モードとテストモードとを切
換えるための端子７と、シフトレジスタ５．５′を動作
させるためのシフトクロック入力端子８、及びシフトレ
ジスタの初期化のためのパワーオンリセット回路Ｓが組
込まれている。

なお、端子？、８は、第２図に示すようにパッケージの
本体部（ハウジング）上面に設けであるが、２．３間に
あるその他の要素は全て本体部内に密封されている。

この例示のＩＣパンケージは、テスタからモード切換端
子７に電流を流してテストモード状態となした上で入力
ビン２に電気信号を入力すると、その信号が点線のテス
ト回路を通って出力ピン３に伝達される。

なお、シフトレジスタ５．５′を動作させるクロンクパ
ルスは端子８から人力するが、検査後のシフトレジスタ
の初期化は、半導体装置に駆動用電源から電力が供給さ
れたときにパワーオンリセット回路９が働いて行われる
。

次に、例示のＩＣパッケージを用いたプリント基板製品
の電気的検査法を第３図に基づいて述べる。

先ず、インサーキットテスタは、各ＩＣパッケージＡ−
Ｚの本体上面にあるモード切換端子及びシフトクロック
端子７．８と、プリント基板１０のコネクタ部１０ａに
接続しておく。

次に、全てのＩＣをテストモードとなしてコネクタ部１
０ａより測定のための電気信号を入力する。また、同時
に端子８にはテスタからクロツクパルスを入力する。す
ると、各ＩＣはシフトクロンクに従って、人力信号を第
４図に示すような形で機能回路を通さずに出力していき
、最終的にＺのＩＣから出力された電気信号がコネクタ
部の出力端子に流れるや従って、入力に対して出力が確
実にあるか否かでプリント基板内の配線不良や半田付は
不良を見つけることができる。

〔効果］ 以上述べたように、この発明の半導体装置は、本来の機
能回路に信号を通さない専用のテスト回路を設けてイン
サーキットテスタを用いたコネクタ部からの信号の出し
入れによる製品検査、即ち、プリント基板製品の配線不
良、半田付は不良の検出を可能ならしめたものであるか
ら、表面実装部品を用いた場合にも支障無く簡便かつ正
確な検査が可能となり、生産性の向上、製品の信頼性向
上に寄与できると云う効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は、この発明の一実施例を示す回路図、第２図は
第１図の装置の正面図、第３図は製品検査の方法説明用
平面図、第４図は各ＩＣの信号入出カバターンを示す図
である。 １・・・・・・Ｉｃパッケージ、 ２・・・・・・入力ビン、　　３・・・・・・出力ビン
、４・・・・・・機能回路部、 ５．５′・・・・・・シフトレジスタ、６・・・・・・
セレクタ、 ７・・・・・・モード切換端子、 ８・・・・・シフトクロンク入力端子、Ｓ・・・・・・
パワーオンリセット回路。 特許用Ｉ頭人 住友電気工業株式会社 同

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. （１）入力端子と出力端子との間に、両端子間の機能回
   路を動作させる本来の動作モードとのモード切換えが可
   能でテストモード下では入力端子からの入力信号を機能
   回路を通さずに直接出力端子に伝達するテスト回路を設
   けたことを特徴とする半導体装置。
2. （２）上記テスト回路は、入力端子から出力端子へ信号
   を直通させるためのシフトレジスタとセレクタ、本来の
   動作モードとテストモードの切換え用端子、シフトレジ
   スタを動作させるためのシフトクロック端子及びシフト
   レジスタ初期化のためのリセット回路を具備したもので
   ある請求項（１）記載の半導体装置。
3. （３）上記モード切換用端子とシフトクロック端子を本
   体部の上面に備えている請求項（２）記載の半導体装置
   。