JPH02192047A - 光磁気記録媒体 - Google Patents
光磁気記録媒体Info
- Publication number
- JPH02192047A JPH02192047A JP1269308A JP26930889A JPH02192047A JP H02192047 A JPH02192047 A JP H02192047A JP 1269308 A JP1269308 A JP 1269308A JP 26930889 A JP26930889 A JP 26930889A JP H02192047 A JPH02192047 A JP H02192047A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- film
- magneto
- optical recording
- alloy
- copper
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
発明の技術分野
本発明は、光磁気記録媒体に関し、さらに詳しくけ優れ
た耐酸化性、を有するとともに優れたC/N比を有する
ような光磁気記録媒体に関する。
た耐酸化性、を有するとともに優れたC/N比を有する
ような光磁気記録媒体に関する。
発明の技術的背景
鉄、コバルトなどの遷移金属と、テルビウム(Tb)、
ガドリニウム(Gd)などの希土類元素との合金からな
る非晶質薄膜は、膜面と垂直な方向に磁化容易軸を有し
、一方向に全面磁化された膜面にこの全面磁化方向とは
逆向きの小さな反転磁区を形成することができることが
知られている。
ガドリニウム(Gd)などの希土類元素との合金からな
る非晶質薄膜は、膜面と垂直な方向に磁化容易軸を有し
、一方向に全面磁化された膜面にこの全面磁化方向とは
逆向きの小さな反転磁区を形成することができることが
知られている。
この反転磁区の有無を「1」、「0」に対応させること
によって、上記のような非晶質薄膜にデジタル信号を記
録させることが可能となる。
によって、上記のような非晶質薄膜にデジタル信号を記
録させることが可能となる。
このような光磁気記録媒体として用いられる遷移金属と
希土類元素とからなる非晶質薄膜としては、たとえば特
公昭57−20691号公報に15〜30原子%のTb
を含むTb−Fe系合金非晶質薄膜が開示されている。
希土類元素とからなる非晶質薄膜としては、たとえば特
公昭57−20691号公報に15〜30原子%のTb
を含むTb−Fe系合金非晶質薄膜が開示されている。
またT b−F eに第3の金属を添加してなる合金非
晶質薄膜も光磁気記録媒体として用いられている。さら
にT b−Co系、T b−F e−Co系などの光磁
気記録媒体も知られている。
晶質薄膜も光磁気記録媒体として用いられている。さら
にT b−Co系、T b−F e−Co系などの光磁
気記録媒体も知られている。
これらの合金非晶質薄膜からなる光磁気記録媒体は、優
れた記録再生特性を有しているが、使用時にこの非晶質
薄膜は酸化を受けてその特性が経時的に変化してしまう
という実用上の大きな問題点があった。
れた記録再生特性を有しているが、使用時にこの非晶質
薄膜は酸化を受けてその特性が経時的に変化してしまう
という実用上の大きな問題点があった。
このような遷移金属と希土類元素とを含む合金非晶質薄
膜からなる光磁気記録媒体の酸化劣化のメカニズムは、
たとえば日本応用磁気学会誌第9巻、No、2、第93
〜96頁で検討されており、以下のような3つのタイプ
があることが報告されている。
膜からなる光磁気記録媒体の酸化劣化のメカニズムは、
たとえば日本応用磁気学会誌第9巻、No、2、第93
〜96頁で検討されており、以下のような3つのタイプ
があることが報告されている。
イ)孔食
孔食とは合金非晶質薄膜にピンホールが発生することを
意味するが、この腐食は、主として高湿雰囲気下で進行
し、たとえばT b−F e系、TbCo系などで著し
く進行する。
意味するが、この腐食は、主として高湿雰囲気下で進行
し、たとえばT b−F e系、TbCo系などで著し
く進行する。
口)表面酸化
合金非晶質薄膜に表面酸化層が形成され、カー回転角θ
kが経時的に変化し、ついにはカー回転角θkが減少し
てしまう。
kが経時的に変化し、ついにはカー回転角θkが減少し
てしまう。
ハ)希土類金属の選択酸化
合金非晶質薄膜中の希土類金属が選択的に酸化され、保
磁力Hcが経時的に大きく変化してしまう。
磁力Hcが経時的に大きく変化してしまう。
上記のような合金非晶質薄膜の酸化劣化を防止するため
、従来、種々の方法が試みられている。
、従来、種々の方法が試みられている。
たとえば、合金非晶質薄膜を、813N4、SiO,S
iO、AA’Nなどの酸化防止保護膜でサンドイッチし
たような3層構造にする方法が検討されている。ところ
がこの酸化防止保護膜は高価であるとともに形成するの
に手間がかかり、またこの保護膜を形成しても必ずしも
合金非晶質薄膜の酸化劣化を充分には防止することがで
きないという問題点があった。
iO、AA’Nなどの酸化防止保護膜でサンドイッチし
たような3層構造にする方法が検討されている。ところ
がこの酸化防止保護膜は高価であるとともに形成するの
に手間がかかり、またこの保護膜を形成しても必ずしも
合金非晶質薄膜の酸化劣化を充分には防止することがで
きないという問題点があった。
また、T b−F e系、Tb−C++系などの合金非
晶質薄膜中に、この薄膜の耐酸化性を向上させるために
、第3の金属を添加する方法が種々試みられている。
晶質薄膜中に、この薄膜の耐酸化性を向上させるために
、第3の金属を添加する方法が種々試みられている。
たとえば上述した日本応用磁気学会誌では、T b−F
eあるいはT b−COに、Co 、Ni pl、
AI、Cr、Tiなどの第3金属を3.5原子%までの
量で添加することによって、Tb−Fe系あるいはTb
−Co系の合金非晶質薄膜の耐酸化性を向上させる試み
がなされている。そしてTb−FeあるいはT b−C
oにCo、Ni、Ptを少量添加した場合には、表面酸
化の防止および孔食の防止には有効であるが、この合金
非晶質薄膜中の希土類金属であるTbの選択酸化の防止
には効果がないと報告されている。このことは、Tb−
FeあるいはTb−Coに少量のCo 、Ni Pj
を添加した場合には、得られる合金非晶質薄膜では、T
bが選択酸化されてしまい、保磁力Hcが経時的に大き
く変化してしまうことを意味している。したかってT
b−F eあるいはTb−Coに3.5原子%までの少
量のCo 、Ni Pjを添加しても、得られる合金
非晶質薄膜の耐酸化性は充分には改善されていない。
eあるいはT b−COに、Co 、Ni pl、
AI、Cr、Tiなどの第3金属を3.5原子%までの
量で添加することによって、Tb−Fe系あるいはTb
−Co系の合金非晶質薄膜の耐酸化性を向上させる試み
がなされている。そしてTb−FeあるいはT b−C
oにCo、Ni、Ptを少量添加した場合には、表面酸
化の防止および孔食の防止には有効であるが、この合金
非晶質薄膜中の希土類金属であるTbの選択酸化の防止
には効果がないと報告されている。このことは、Tb−
FeあるいはTb−Coに少量のCo 、Ni Pj
を添加した場合には、得られる合金非晶質薄膜では、T
bが選択酸化されてしまい、保磁力Hcが経時的に大き
く変化してしまうことを意味している。したかってT
b−F eあるいはTb−Coに3.5原子%までの少
量のCo 、Ni Pjを添加しても、得られる合金
非晶質薄膜の耐酸化性は充分には改善されていない。
また第9回日本応用磁気学会学術講演概要集(1985
年11月)の第209頁には、やはり合金非晶質薄膜の
耐酸化性を向上させる目的で、T b−F eあるいは
T b−F e−COに、PI、AI。
年11月)の第209頁には、やはり合金非晶質薄膜の
耐酸化性を向上させる目的で、T b−F eあるいは
T b−F e−COに、PI、AI。
Cr、Tiを10原子%までの量で添加してなる合金非
晶質薄膜が教示されている。ところがTb−Feあるい
はT b−F e−Coに10原子%までの量のPt、
AI、Cr、Tiを添加しても、表面酸化および孔食は
かなり効果的に防止できるものの、得られる合金非晶質
薄膜中のTbの選択酸化に対する酸化防止性は充分では
なく、やはり時間の経過とともに保磁力Hcが大きく変
化し、ついには保磁力Hcが大きく低下してしまうとい
う問題点は依然としてあった。
晶質薄膜が教示されている。ところがTb−Feあるい
はT b−F e−Coに10原子%までの量のPt、
AI、Cr、Tiを添加しても、表面酸化および孔食は
かなり効果的に防止できるものの、得られる合金非晶質
薄膜中のTbの選択酸化に対する酸化防止性は充分では
なく、やはり時間の経過とともに保磁力Hcが大きく変
化し、ついには保磁力Hcが大きく低下してしまうとい
う問題点は依然としてあった。
さらにまた、特開昭58−7゛806号公報には、Pj
Coなる組成を有し、PIが10〜30原子%の量で
含まれている多結晶薄膜からなる磁気薄膜材料が開示さ
れている。
Coなる組成を有し、PIが10〜30原子%の量で
含まれている多結晶薄膜からなる磁気薄膜材料が開示さ
れている。
ところがこのPi Coなる組成を有する多結晶薄膜は
、多結晶であるため、成膜後にアニール処理などの熱処
理が必要であり、また結晶間の粒界部分がノイズ信号と
して発生することがあり、さらにこの多結晶薄膜はキュ
リー点が高いという問題点があった。
、多結晶であるため、成膜後にアニール処理などの熱処
理が必要であり、また結晶間の粒界部分がノイズ信号と
して発生することがあり、さらにこの多結晶薄膜はキュ
リー点が高いという問題点があった。
このような問題点を解決するため、本発明者らは、特願
昭62−94799号において、(i)FeまたはGo
などの3d遷移金属から選ばれる少なくとも1種と、(
ii)PtまたはPdなどの耐腐食性金属と、(iii
)希土類から選ばれる少なくとも1種の元素とからな
る、膜面に垂直な磁化容易軸を有する非晶質合金薄膜を
提案した。
昭62−94799号において、(i)FeまたはGo
などの3d遷移金属から選ばれる少なくとも1種と、(
ii)PtまたはPdなどの耐腐食性金属と、(iii
)希土類から選ばれる少なくとも1種の元素とからな
る、膜面に垂直な磁化容易軸を有する非晶質合金薄膜を
提案した。
この非晶質合金薄膜は、耐酸化性に優れているため、膜
厚を薄くすることができ、反りあるいは膜割れが生じに
くい光磁気記録媒体を得ることができる。
厚を薄くすることができ、反りあるいは膜割れが生じに
くい光磁気記録媒体を得ることができる。
ところで上記のような耐酸化性に優れ、膜厚を薄くする
ことができる非晶質合金薄膜からなる光磁気記録膜に、
従来から用いられているアルミニウム、金などからなる
反射膜を設けた構成の光磁気記録媒体は、優れた感度(
c/N比)を有しているが、さらに優れた感度を有する
光磁気記録媒体の出現が望まれている。
ことができる非晶質合金薄膜からなる光磁気記録膜に、
従来から用いられているアルミニウム、金などからなる
反射膜を設けた構成の光磁気記録媒体は、優れた感度(
c/N比)を有しているが、さらに優れた感度を有する
光磁気記録媒体の出現が望まれている。
本発明者らは、上記のような点に鑑みて鋭意研究したと
ころ、光磁気記録媒体に特定の合金金属からなる反射膜
を設ければ、優れたC/N比を有する光磁気記録媒体が
得られることを見出して本発明を完成するに至った。
ころ、光磁気記録媒体に特定の合金金属からなる反射膜
を設ければ、優れたC/N比を有する光磁気記録媒体が
得られることを見出して本発明を完成するに至った。
発明の目的
本発明は、上記のような点に鑑みて完成されたものであ
って、耐酸化性に優れているため光磁気記録膜を薄くす
ることが可能であって、光磁気記録媒体に反りあるいは
膜割れが生じに<<、シがも優れたC/N比を有し、そ
の上経時的に保磁力が変化したりあるいはカー回転角が
変化することがなく、さらに反射率も高い光磁気記録媒
体を提供することを目的としている。
って、耐酸化性に優れているため光磁気記録膜を薄くす
ることが可能であって、光磁気記録媒体に反りあるいは
膜割れが生じに<<、シがも優れたC/N比を有し、そ
の上経時的に保磁力が変化したりあるいはカー回転角が
変化することがなく、さらに反射率も高い光磁気記録媒
体を提供することを目的としている。
発明の概要
本発明に係る光磁気記録媒体は、基板上に(I)光磁気
記録膜と(II)反射膜とが順次積層されてなる光磁気
記録媒体において、(I)光磁気記録膜は、 [Pd Pll−8]、[RE TM ]a
x Lx 1−y(式中
、REは少なくとも50原子%以上がTbおよび/また
はDyであり、残部がNd 、 Gd 。
記録膜と(II)反射膜とが順次積層されてなる光磁気
記録媒体において、(I)光磁気記録膜は、 [Pd Pll−8]、[RE TM ]a
x Lx 1−y(式中
、REは少なくとも50原子%以上がTbおよび/また
はDyであり、残部がNd 、 Gd 。
Ce Eu、Pt HoSTm、Smであり、TM
はFeおよび/またはCoであり、0≦a≦1.0.2
<x<Q、7.0.05≦y≦0.3である)で表わさ
れる膜面に垂直な磁化容易軸を有する非晶質合金薄膜か
らなり、 (II)反射膜は、反射率が50%以上であり、熱伝導
率が2J/cm−secsK以下であり、(8)鉄を主
成分として、かつ銅、クロム、モリブデン、シリコンお
よびニッケルの少なくとも1種を含有する鉄合金、 (b)銅を主成分として、かつアルミニウム、シリコン
、スズ、亜鉛およびニッケルの少なくとも1種を含有す
る銅合金、 (c)鉛を主成分として、かつ銅、ビスマス、テルルお
よびスズの少なくとも1種を含有する鉛合金または (d)ステンレス系合金、 からなることを特徴としている。
はFeおよび/またはCoであり、0≦a≦1.0.2
<x<Q、7.0.05≦y≦0.3である)で表わさ
れる膜面に垂直な磁化容易軸を有する非晶質合金薄膜か
らなり、 (II)反射膜は、反射率が50%以上であり、熱伝導
率が2J/cm−secsK以下であり、(8)鉄を主
成分として、かつ銅、クロム、モリブデン、シリコンお
よびニッケルの少なくとも1種を含有する鉄合金、 (b)銅を主成分として、かつアルミニウム、シリコン
、スズ、亜鉛およびニッケルの少なくとも1種を含有す
る銅合金、 (c)鉛を主成分として、かつ銅、ビスマス、テルルお
よびスズの少なくとも1種を含有する鉛合金または (d)ステンレス系合金、 からなることを特徴としている。
本発明に係る光磁気記録媒体では、基板上に、特定の組
成を有する非晶質合金薄膜からなる(I)光磁気記録膜
と、反射率50%以上、熱伝導率2J/alI−8eC
−に以下の上記のような合金からなる(II)反射膜と
が順次積層された構成を有しており、耐酸化性に優れて
いるため光磁気記録膜を薄くすることが可能であって、
光磁気記録媒体に反りあるいは膜割れが生じにくく、し
かも優れたC/N比を有し、その上優れた光磁気光学特
性を有し、経時的に保持力が変化したりあるいはカー回
転角が変化することがなく、さらに反射率も高い。
成を有する非晶質合金薄膜からなる(I)光磁気記録膜
と、反射率50%以上、熱伝導率2J/alI−8eC
−に以下の上記のような合金からなる(II)反射膜と
が順次積層された構成を有しており、耐酸化性に優れて
いるため光磁気記録膜を薄くすることが可能であって、
光磁気記録媒体に反りあるいは膜割れが生じにくく、し
かも優れたC/N比を有し、その上優れた光磁気光学特
性を有し、経時的に保持力が変化したりあるいはカー回
転角が変化することがなく、さらに反射率も高い。
発明の詳細な説明
以下本発明に係る光磁気記録媒体について具体的に説明
する。
する。
本発明に係る光磁気記録媒体1は、第1図に断面図を示
すように、透明基板などの基板2上に、光磁気記録膜3
と反射膜4とがこの順序で積層された構成を有している
。
すように、透明基板などの基板2上に、光磁気記録膜3
と反射膜4とがこの順序で積層された構成を有している
。
また第2図に示すように基板2と光磁気記録膜3との間
に、エンハンス膜5が設けられた構造を有していてもよ
い。
に、エンハンス膜5が設けられた構造を有していてもよ
い。
基板2は、透明基板であることが好ましく、具体的には
ガラスやアルミニウム等の無機材料の他に、ポリメチル
メタクリレート、ポリカーボネート、ポリカーボネート
とポリスチレンのポリマーアロイ、米国特許第4614
778号明細書に示されるような非晶質ポリオレフィン
、ポリ4−メチルーl−ペンテン、エポキシ樹脂、ポリ
エーテルサルフォン、ポリサルフォン、ポリエーテルイ
ミド、エチレン・テトラシクロドデセン共重合体等の有
機材料の使用できる。
ガラスやアルミニウム等の無機材料の他に、ポリメチル
メタクリレート、ポリカーボネート、ポリカーボネート
とポリスチレンのポリマーアロイ、米国特許第4614
778号明細書に示されるような非晶質ポリオレフィン
、ポリ4−メチルーl−ペンテン、エポキシ樹脂、ポリ
エーテルサルフォン、ポリサルフォン、ポリエーテルイ
ミド、エチレン・テトラシクロドデセン共重合体等の有
機材料の使用できる。
本発明で用いられる膜面に垂直な磁化容易軸を有する光
磁気記録膜3は、 [Pd Pl ] [RE TM ]
a ha y X LX by・・
・[I] (式中、REは少なくとも50原子%以上がTbおよび
/またはDyであり、残部がNd 、 Gd 。
磁気記録膜3は、 [Pd Pl ] [RE TM ]
a ha y X LX by・・
・[I] (式中、REは少なくとも50原子%以上がTbおよび
/またはDyであり、残部がNd 、 Gd 。
Ce、Eu、Pr、Ho、Smであり、TMはFeおよ
び/またはCoであり、0≦a≦1.0.2<x<0.
7.0.05≦y≦0.3である)で表わされる。
び/またはCoであり、0≦a≦1.0.2<x<0.
7.0.05≦y≦0.3である)で表わされる。
さらに本発明で用いられる特に好ましい膜面に垂直な磁
化容易軸を有する光磁気記録膜は、上記式において0.
25<x<0.6であり、REの少なくとも80原子%
以上好ましくは90原子%以上がTbおよび/またはD
Yであり、残部がNd、Gd、Ce、Eu5Pr、Ho
またはSmである光磁気記録膜である。
化容易軸を有する光磁気記録膜は、上記式において0.
25<x<0.6であり、REの少なくとも80原子%
以上好ましくは90原子%以上がTbおよび/またはD
Yであり、残部がNd、Gd、Ce、Eu5Pr、Ho
またはSmである光磁気記録膜である。
次にこのような好ましい光磁気記録膜について具体的に
説明する。
説明する。
(i)上記式においてTMは、FeまたはCoあるいは
この両者である。このようなTMは、光磁気記録膜を上
記式[I]で表わした場合に、工X(ただし0.2<x
’<0.7、好ましくは0.2.5<x≦0.6である
)で示されるような量で存在している。
この両者である。このようなTMは、光磁気記録膜を上
記式[I]で表わした場合に、工X(ただし0.2<x
’<0.7、好ましくは0.2.5<x≦0.6である
)で示されるような量で存在している。
TMとしては、Fe とCo とがともに存在している
ことが好ましく、とくにこのTMとしては、Feが90
〜35原子%の量で、そしてCoが10〜65原子%の
量で存在していることが好ましい。
ことが好ましく、とくにこのTMとしては、Feが90
〜35原子%の量で、そしてCoが10〜65原子%の
量で存在していることが好ましい。
なおTMとして、5原子%以下好ましくは3原子%以下
のNiを含んでいてもよい。
のNiを含んでいてもよい。
(ii )本発明で用いられる光磁気記録膜は、Pdあ
るいはPdとPIとの両者を含んでいる。
るいはPdとPIとの両者を含んでいる。
Pd、あるいはPtlとPlとの両者は、光磁気記録膜
中に15原子%以上で30原子%以下好ましくは10原
子%以上で25原子%以下の量で存在している。
中に15原子%以上で30原子%以下好ましくは10原
子%以上で25原子%以下の量で存在している。
またPdとPIとは、これらの含有割合をPd Pj
で表わした場合に、0≦a≦1でa ト8 ある。Pdの含有割合が0.2<a≦1であると、経済
性に優れた光磁気記録膜が得られる。
で表わした場合に、0≦a≦1でa ト8 ある。Pdの含有割合が0.2<a≦1であると、経済
性に優れた光磁気記録膜が得られる。
このPdあるいはPdとPIとの両者の含有量が5原子
%未満であると、反射膜を積層しても得られる光磁気記
録膜の耐酸化性が充分には改善されず、経時的に保磁力
Hcが大きく変化したりするため好ましくない。
%未満であると、反射膜を積層しても得られる光磁気記
録膜の耐酸化性が充分には改善されず、経時的に保磁力
Hcが大きく変化したりするため好ましくない。
また、30原子%を越えて存在する場合には、得られた
光磁気記録膜のキュリー点が室温以下となり、光磁気記
録しにくくなる傾向もあるため好ましくない。
光磁気記録膜のキュリー点が室温以下となり、光磁気記
録しにくくなる傾向もあるため好ましくない。
(iii )本発明で用いられる光磁気記録膜は、上記
(i)および(ii )に加えて、少なくとも1種の希
土類元素(RE)を含んで構成されている。
(i)および(ii )に加えて、少なくとも1種の希
土類元素(RE)を含んで構成されている。
このREとしては、その50原子%以上がTbおよび/
またはDYであり、残部がNd 、 Gd 。
またはDYであり、残部がNd 、 Gd 。
Ce、Eu、P+、HoまたはSmである。好ましくは
REの80原子%以上がTbであり、残部がDy、、、
Nd、Gd5Ce、EuXPr、HoまたはSmである
。さらに好ましくは、REの90原子%以上特に好まし
くは95原子%以上がTbであり、残部がDy 、 N
d 、 Gd 、%Ce 、 Eu 。
REの80原子%以上がTbであり、残部がDy、、、
Nd、Gd5Ce、EuXPr、HoまたはSmである
。さらに好ましくは、REの90原子%以上特に好まし
くは95原子%以上がTbであり、残部がDy 、 N
d 、 Gd 、%Ce 、 Eu 。
Pr、HoまたはSmである。
上記のような希土類元素REは、光磁気記録膜を上記式
[I]で表わした場合に、0.2<x<0.7好ましく
は0.25<x<0.60であるような量で存在してい
る。
[I]で表わした場合に、0.2<x<0.7好ましく
は0.25<x<0.60であるような量で存在してい
る。
膜厚は100〜600人好ましくは100〜400人程
度であり、X値は良好な角形ループを示し、保磁力がI
KOe以上となるために、好ましくは0.25よりも大
きいことが望ましく、また0、6未満であることが望ま
しい。
度であり、X値は良好な角形ループを示し、保磁力がI
KOe以上となるために、好ましくは0.25よりも大
きいことが望ましく、また0、6未満であることが望ま
しい。
上記のような組成を有する光磁気記録膜は、膜面に垂直
な磁化容易軸を有し、多くはカー・ヒステリシスが良好
な角形ループを示す垂直磁気および光磁気記録可能な光
磁気記録膜となることがVSM測定(振動試料型磁力計
)などにより確かめられる。
な磁化容易軸を有し、多くはカー・ヒステリシスが良好
な角形ループを示す垂直磁気および光磁気記録可能な光
磁気記録膜となることがVSM測定(振動試料型磁力計
)などにより確かめられる。
ここでX≦0.2、X≧0.7であると、カーヒステリ
シスが良好な角形ループを示さなくなる傾向がある。
シスが良好な角形ループを示さなくなる傾向がある。
なお本明細書において、カー・ヒステリシスが良好な角
形ループを示すとは、最大外部磁場におけるカー回転角
である飽和カー回転角(θに1)と外部磁場ゼロにおけ
るカー回転角である残留カー回転角(θに2)との比θ
に2/θklが0.8以上であることを意味している。
形ループを示すとは、最大外部磁場におけるカー回転角
である飽和カー回転角(θに1)と外部磁場ゼロにおけ
るカー回転角である残留カー回転角(θに2)との比θ
に2/θklが0.8以上であることを意味している。
また上記のような本発明で用いられる光磁気記録膜は、
優れた耐酸化性を有し、第3図に示すようにP d 1
oP t+oT b 35F ! 25CO20なる組
成を有する光磁気記録膜は、たとえば85℃、相対湿度
85%の環境下に240時間以上保持しても、その保磁
力はほとんど変化しない。これに対して、Pdあるいは
PdとPIとの両者を含まないTb Co あるい
はTb25Fe66C09なる組成を有する光磁気記録
膜は、85℃、相対湿度85%の環境下に保持すると、
その保磁力は経時的に大きく変化してしまう。さらにこ
の環境試験を1000時間続けると、PdあるいはPd
とptとの両者を含有する系はやはりその保磁力がほと
んど変化しない。これらのことより、PdあるいはPt
lとPIとの両者を含む系は、希土類の選択酸化を抑制
することがわかる。
優れた耐酸化性を有し、第3図に示すようにP d 1
oP t+oT b 35F ! 25CO20なる組
成を有する光磁気記録膜は、たとえば85℃、相対湿度
85%の環境下に240時間以上保持しても、その保磁
力はほとんど変化しない。これに対して、Pdあるいは
PdとPIとの両者を含まないTb Co あるい
はTb25Fe66C09なる組成を有する光磁気記録
膜は、85℃、相対湿度85%の環境下に保持すると、
その保磁力は経時的に大きく変化してしまう。さらにこ
の環境試験を1000時間続けると、PdあるいはPd
とptとの両者を含有する系はやはりその保磁力がほと
んど変化しない。これらのことより、PdあるいはPt
lとPIとの両者を含む系は、希土類の選択酸化を抑制
することがわかる。
また、環境試験後におけるθにの変化も小さいことから
表面酸化が防止されていること、ならびに、顕微鏡によ
る膜表面の観察から孔食の発生も抑制されていることが
わかる。
表面酸化が防止されていること、ならびに、顕微鏡によ
る膜表面の観察から孔食の発生も抑制されていることが
わかる。
また、P d 12P l 6Tb 34F e 27
CO21、P d 5P t tsTb 36F e
25CO19などの組成を有する光磁気記録膜も同様に
優れた耐酸化性を有し、その保磁力はほとんど変化しな
い。
CO21、P d 5P t tsTb 36F e
25CO19などの組成を有する光磁気記録膜も同様に
優れた耐酸化性を有し、その保磁力はほとんど変化しな
い。
このように本発明で用いられる光磁気記録膜は、耐酸化
性に著しく優れており、したがってこの光磁気記録膜を
使用する際に、必ずしも酸化防止保護膜を光磁気記録膜
上に設ける必要はないという優れた特性を有している。
性に著しく優れており、したがってこの光磁気記録膜を
使用する際に、必ずしも酸化防止保護膜を光磁気記録膜
上に設ける必要はないという優れた特性を有している。
本発明で用いられる光磁気記録膜では、その他に種々の
元素を添加して、キュリー温度や補償温度あるいはHc
やθにの改善あるいは低コスト化を計ってもよい。これ
らの元素は、希土類元素に対してたとえば50原子%未
満の割合で置換可能である。
元素を添加して、キュリー温度や補償温度あるいはHc
やθにの改善あるいは低コスト化を計ってもよい。これ
らの元素は、希土類元素に対してたとえば50原子%未
満の割合で置換可能である。
併用できる他の元素の例としては、
(I)Fe 、Co以外の3d遷移元素具体的には、S
c、Ti V、Cr Mn。
c、Ti V、Cr Mn。
Ni Cu 、Znが用いられる。
これらのうち、Ti Ni 、Cu SZnなどが
好ましく用いられる。
好ましく用いられる。
(II)4d遷移元素
具体的には、Y、Z+ Nb、Mo、Tc。
Ru 、Rh 、Ag SCdが用いられる。
このうちZr5Nbが好ましく用いられる。
(m)pt以外の5d遷移元素
具体的には、HI Ta 、W、Re、、Os1丁、
Au SHgが用いられる。
Au SHgが用いられる。
このうちTaが好ましく用いられる。
(TV)IUB族元素
具体的には、BSAA’% Ga 、In 、T#が用
いられる。
いられる。
このうちB、AI、Gaが好ましく用いられる。
(V)IVB族元素
具体的には、C,Si Ge、Sn、Pbが用いられ
る。
る。
このうち、Si、Ge、Sn、Pbが好ましく用いられ
る。
る。
(Vl)VB族元素
具体的には、N、P、As、Sb、Biが用いられる。
このうちsbが好ましく用いられる。
(■)VIB族元素
具体的には、S、Se、Te、Poが用いられる。
このうちTeが好ましく用いられる。
本発明に係る光磁気記録媒体1では、上記のような光磁
気記録膜3上に、反射膜4が設けられている。
気記録膜3上に、反射膜4が設けられている。
この反射膜4は、反射率が50%以上好ましくは70%
以上であり、熱伝導率が2J/Cm−8eC−に以下好
ましくはIJ/C[1I−8eC−に以下である下記の
ような合金から構成されている。
以上であり、熱伝導率が2J/Cm−8eC−に以下好
ましくはIJ/C[1I−8eC−に以下である下記の
ような合金から構成されている。
(a)鉄合金
本発明で用いられる鉄合金は、鉄を主成分とし、かつ銅
、クロム、モリブデン、シリコンおよびニッケルからな
る群から選択される少なくとも1種を含有している。
、クロム、モリブデン、シリコンおよびニッケルからな
る群から選択される少なくとも1種を含有している。
このような反射膜を構成する鉄合金としては、具体的に
は下記のような鉄合金を用いることができる。
は下記のような鉄合金を用いることができる。
F e−Cr−N i系合金(19〜20原子%Cr。
22〜24原子%Ni、2〜3原子%MO11〜1.7
5原子%Cu、1〜3.25原子%5O107原子%C
1残部Fe、あるいは20原子%Cr、29原子%Ni
、2原子%MO14原子%Cu、1原子%Si O,
07原子%C1残部Fe、もしくは25原子%Cr、3
5原子%N5原子%Mo、0.2〜0.5原子%C1残
部Fe) F e−Cr系合金(4〜10原子%C+、0.5〜1
.5原子%MO1残部Fe) (b)銅合金 本発明で用いられる銅合金は、銅を主成分とし、かつア
ルミニウム、シリコン、スズ、亜鉛およびニッケルから
なる群から選択される少なくとも1種を含有している。
5原子%Cu、1〜3.25原子%5O107原子%C
1残部Fe、あるいは20原子%Cr、29原子%Ni
、2原子%MO14原子%Cu、1原子%Si O,
07原子%C1残部Fe、もしくは25原子%Cr、3
5原子%N5原子%Mo、0.2〜0.5原子%C1残
部Fe) F e−Cr系合金(4〜10原子%C+、0.5〜1
.5原子%MO1残部Fe) (b)銅合金 本発明で用いられる銅合金は、銅を主成分とし、かつア
ルミニウム、シリコン、スズ、亜鉛およびニッケルから
なる群から選択される少なくとも1種を含有している。
このような反射膜を構成する銅合金としては、具体的に
は下記のような銅合金を用いることができる。
は下記のような銅合金を用いることができる。
Cu−Al系合金(8,5〜1111原子Il、0〜4
原子%Fe、残部Cu) Cu−Si系合金(1〜4原子%Si、Q〜1原子%M
n、O〜1.75原子%Sn、0.1原子%Zn、残部
Cu) Cu−8n系合金(4〜12原子%5nO125原子%
以下のpbまたはZn、残部Cu)Cu−3n−Z n
系合金(20原子%以下Sn。
原子%Fe、残部Cu) Cu−Si系合金(1〜4原子%Si、Q〜1原子%M
n、O〜1.75原子%Sn、0.1原子%Zn、残部
Cu) Cu−8n系合金(4〜12原子%5nO125原子%
以下のpbまたはZn、残部Cu)Cu−3n−Z n
系合金(20原子%以下Sn。
17原子%以下Zn (Zn <Sn ) 、少量の
pb、残部Cu) Cu−Z n系合金(17原子%以下Zn、残部Cu) Cu−N i系合金(80原子%Cu、20原子%Ni
あるいは75原子%Cu、20原子%Ni。
pb、残部Cu) Cu−Z n系合金(17原子%以下Zn、残部Cu) Cu−N i系合金(80原子%Cu、20原子%Ni
あるいは75原子%Cu、20原子%Ni。
5原子%Zn、あるいは70原子%Cu、30原子%N
1) (c)鉛合金 本発明で用いられる鉛合金は、鉛を主成分とし、かつ銅
、ビスマス、テルルおよびスズからなる群から選択され
る少なくとも1種を含有している。
1) (c)鉛合金 本発明で用いられる鉛合金は、鉛を主成分とし、かつ銅
、ビスマス、テルルおよびスズからなる群から選択され
る少なくとも1種を含有している。
このような反射膜を構成する鉛合金としては、具体的に
は下記のような鉛合金を用いることができる。
は下記のような鉛合金を用いることができる。
P b−Cu−B i−T e系合金(99,85原子
%pb、最高0.085原子%まで(7)Cu 、最高
0.005原子%までのBi O,05原子%Te) P b−Cu−B i系合金(99原子%Pb、最高0
.08原子%までのCu、最高0.005原子%までの
Bi) P b−8n系合金(4〜1o原子%Sn 残部pb
) (d)ステンレス系合金 本発明で用いられるステンレス系合金は、鉄を主成分と
し、かつクロム、ニッケル、モリブデンおよび炭素から
なる群がら選択される少なくとも1種を含有している。
%pb、最高0.085原子%まで(7)Cu 、最高
0.005原子%までのBi O,05原子%Te) P b−Cu−B i系合金(99原子%Pb、最高0
.08原子%までのCu、最高0.005原子%までの
Bi) P b−8n系合金(4〜1o原子%Sn 残部pb
) (d)ステンレス系合金 本発明で用いられるステンレス系合金は、鉄を主成分と
し、かつクロム、ニッケル、モリブデンおよび炭素から
なる群がら選択される少なくとも1種を含有している。
このような反射膜を構成するステンレス系合金としては
、具体的には下記のようなステンレス系合金を用いるこ
とができる。
、具体的には下記のようなステンレス系合金を用いるこ
とができる。
(i)Cr :16〜20原子%、
Ni:10〜16原子%、
MO:2〜4原子%、
C:0.1原子%、残部Fe
(ii) Cr : 10〜16原子%、Ni:17
〜19原子%、 Mo : 1.2〜2.75原子%、Cu 二1.
0〜2.5原子%、 C:0.08原子%、残部Fe (iii) Cr : 22〜24原子%、Ni:1
2〜15原子%、 C:0.1原子%、残部Fe (iV) Ct : 24〜26原子%、Ni:19
〜22原子%、 C:Q、l原子%、残部Fe このようなニッケル合金からなる反射膜4を有する光磁
気記録媒体は、アルミニウム、金などからなる反射膜を
有する光磁気記録媒体と比較して、優れたC/N比を有
している。
〜19原子%、 Mo : 1.2〜2.75原子%、Cu 二1.
0〜2.5原子%、 C:0.08原子%、残部Fe (iii) Cr : 22〜24原子%、Ni:1
2〜15原子%、 C:0.1原子%、残部Fe (iV) Ct : 24〜26原子%、Ni:19
〜22原子%、 C:Q、l原子%、残部Fe このようなニッケル合金からなる反射膜4を有する光磁
気記録媒体は、アルミニウム、金などからなる反射膜を
有する光磁気記録媒体と比較して、優れたC/N比を有
している。
すなわち、アルミニウムなどの熱伝導率が大きな反射膜
を用いると、レーザービームを照射して光磁気記録膜に
ピットを形成する場合に、レーザービームから光磁気記
録膜に得られた熱エネルギーがこの反射膜を伝わって拡
散するため、大きな記録レーザーパワーを必要とする。
を用いると、レーザービームを照射して光磁気記録膜に
ピットを形成する場合に、レーザービームから光磁気記
録膜に得られた熱エネルギーがこの反射膜を伝わって拡
散するため、大きな記録レーザーパワーを必要とする。
さらに、光磁気記録膜に形成されるビットの形状は大き
くなったり、形状が乱れたりしてしまう。その他、反射
膜の膜厚に対する記録パワー依存性が大きくなりすぎて
しまう。
くなったり、形状が乱れたりしてしまう。その他、反射
膜の膜厚に対する記録パワー依存性が大きくなりすぎて
しまう。
また一方低い熱伝導率で高い反射率を有するニッケル系
合金からなる反射膜4を設けることによって、光磁気記
録膜の膜厚を薄くしても、高いカー回転角、反射率を得
ることができる。
合金からなる反射膜4を設けることによって、光磁気記
録膜の膜厚を薄くしても、高いカー回転角、反射率を得
ることができる。
このような反射膜4の膜厚は、100〜4000人好ま
しくは200〜2000人程度である。
しくは200〜2000人程度である。
また光磁気記録膜3と反射膜との合計膜厚は300〜4
600人好ましくは350〜2400人程度である。
600人好ましくは350〜2400人程度である。
本発明に係る光磁気記録媒体1では、上記のように基板
2と光磁気記録膜3との間にエンハンス膜5が設けられ
ていてもよく、エンハンス膜5は、基板の屈折率よりも
大きな屈折率を有する透明膜であれば用いることができ
る。
2と光磁気記録膜3との間にエンハンス膜5が設けられ
ていてもよく、エンハンス膜5は、基板の屈折率よりも
大きな屈折率を有する透明膜であれば用いることができ
る。
このようなエンハンス膜としては、Zn S。
Zn Se 、Cd S、Si N 、%Si N
x (0<x<4/3) 、Si Aj+ Nなど
を用いることができる。このエンハンス膜の膜厚は、1
00〜1000人好ましくは300〜850人程度であ
る。
x (0<x<4/3) 、Si Aj+ Nなど
を用いることができる。このエンハンス膜の膜厚は、1
00〜1000人好ましくは300〜850人程度であ
る。
次に、本発明に係る光磁気記録媒体の製造方法について
説明する。
説明する。
基板温度を室温程度に保ち、非晶質合金薄膜を構成する
各元素からなるチップを所定割合で配置した複合ターゲ
ット、または所定割合の組成を有する合金ターゲットを
用い、スパッタリング法あるいは電子ビーム蒸着法など
の従来公知の成膜条件を採用して、この基板(基板は固
定していてもよく、また自転していてもよい)上に所定
組成の非晶質合金薄膜を被着させ、次いでこの上に反射
膜を上記と同様にして被着させることによって、本発明
に係る光磁気記録媒体を製造することができる。
各元素からなるチップを所定割合で配置した複合ターゲ
ット、または所定割合の組成を有する合金ターゲットを
用い、スパッタリング法あるいは電子ビーム蒸着法など
の従来公知の成膜条件を採用して、この基板(基板は固
定していてもよく、また自転していてもよい)上に所定
組成の非晶質合金薄膜を被着させ、次いでこの上に反射
膜を上記と同様にして被着させることによって、本発明
に係る光磁気記録媒体を製造することができる。
このように本発明に係る光磁気記録媒体は、常温での成
膜が可能であり、膜面に垂直な磁化容易軸を持たせるた
めに成膜後にアニール処理などの熱処理をする必要がな
い。
膜が可能であり、膜面に垂直な磁化容易軸を持たせるた
めに成膜後にアニール処理などの熱処理をする必要がな
い。
なお必要に応じては、基板温度を50〜600℃に加熱
しながらまたは一50℃まで冷却しながら、基板上に非
晶質合金薄膜を形成することもできる。
しながらまたは一50℃まで冷却しながら、基板上に非
晶質合金薄膜を形成することもできる。
またスパッタリング時に、基板を負電位になるようにバ
イアスすることもできる。このようにすると、電界で加
速されたアルゴンなどの不活性ガスイオンはターゲット
物質ばかりでなく成膜されつつある垂直磁化膜をもたた
くことになり、優れた特性を有する垂直磁化膜が得られ
ることがある。
イアスすることもできる。このようにすると、電界で加
速されたアルゴンなどの不活性ガスイオンはターゲット
物質ばかりでなく成膜されつつある垂直磁化膜をもたた
くことになり、優れた特性を有する垂直磁化膜が得られ
ることがある。
発明の効果
本発明に係る光磁気記録媒体では、基板上に、特定の組
成を有する非晶質合金薄膜からなる(I)光磁気記録膜
と、反射率50%以上、熱伝導率2J/cm−8eC−
に以下の上記のような合金からなる(II)反射膜とが
順次積層されて構成を有しており、耐酸化性に優れてい
るため光磁気記録膜を薄くすることが可能であって、光
磁気記録媒体に反りあるいは膜割れが生じにくく、しか
も優れたC/N比を有し、経時的に保磁力が変化したり
あるいはカー回転角が変化することがなく、さらに反射
率も高い。
成を有する非晶質合金薄膜からなる(I)光磁気記録膜
と、反射率50%以上、熱伝導率2J/cm−8eC−
に以下の上記のような合金からなる(II)反射膜とが
順次積層されて構成を有しており、耐酸化性に優れてい
るため光磁気記録膜を薄くすることが可能であって、光
磁気記録媒体に反りあるいは膜割れが生じにくく、しか
も優れたC/N比を有し、経時的に保磁力が変化したり
あるいはカー回転角が変化することがなく、さらに反射
率も高い。
以下本発明を実施例によって説明するが、本発明は、こ
れら実施例に限定されるものではない。
れら実施例に限定されるものではない。
実施例1
エチレン・テトラシクロドデセン共重合体(エチレン含
量60モル%、テトラシクロドデセン含量40モル%)
からなる非晶質ポリオレフィン製ディスク基板上に、ス
パッタ法によってエンハンス層として700人のSiN
x、光磁気記録層として300人のP d IOP I
p、 Tb 34F e 38C0101反射層とし
て700人のN : 80 CT 20を遂次積層形成
し、光磁気ディスクを作成した。
量60モル%、テトラシクロドデセン含量40モル%)
からなる非晶質ポリオレフィン製ディスク基板上に、ス
パッタ法によってエンハンス層として700人のSiN
x、光磁気記録層として300人のP d IOP I
p、 Tb 34F e 38C0101反射層とし
て700人のN : 80 CT 20を遂次積層形成
し、光磁気ディスクを作成した。
このディスクの記録再生特性を記録周波数IMHz
(Duty比50%)、線速5.4m/sにて評価した
。
(Duty比50%)、線速5.4m/sにて評価した
。
その結果、最適記録レーザーパワーは3.5mWであり
、C/Nは50dB(再生レーザパワーは1.0mW)
であった。
、C/Nは50dB(再生レーザパワーは1.0mW)
であった。
実施例2〜7
実施例1と同様にして、表1に示すような組成および構
造を有する光磁気ディスクを作成し、実施例1と同様に
して評価を行なった。
造を有する光磁気ディスクを作成し、実施例1と同様に
して評価を行なった。
結果を表1に示す。
D
第1図および第2図は、本発明に係る光磁気記録媒体の
断面図である。 また第3図は、本発明に係る( P d +oP l
1゜T b 3s F e 25 CO20)の保磁力
の変化および比較例に係るTb COおよびTb25
Fe66C09の保磁力の変化を示す図−である。 1・・・光磁気記録媒体 2・・・基板3・・・光
磁気記録膜 4・・・反射膜5・・・エンハンス
膜
断面図である。 また第3図は、本発明に係る( P d +oP l
1゜T b 3s F e 25 CO20)の保磁力
の変化および比較例に係るTb COおよびTb25
Fe66C09の保磁力の変化を示す図−である。 1・・・光磁気記録媒体 2・・・基板3・・・光
磁気記録膜 4・・・反射膜5・・・エンハンス
膜
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、基板上に( I )光磁気記録膜と(II)反射膜とが
順次積層されてなる光磁気記録媒体において、( I )
光磁気記録膜は、 [Pd_aPt_1_−_a]_y[RE_xTM_1
_−_x]_1_−_y(式中、REは少なくとも50
原子%以上がTbおよび/またはDyであり、残部がN
d、Gd、Ce、Eu、Pr、Ho、Tm、Smであり
、TMはFeおよび/またはCoであり、0≦a≦1、
0.2<x<0.7、0.05≦y≦0.3である)で
表わされる膜面に垂直な磁化容易軸を有する非晶質合金
薄膜からなり、 (II)反射膜は、反射率が50%以上であり、熱伝導率
が2J/cm・sec・K以下であり、下記の合金から
なることを特徴とする光磁気記録媒体:(a)鉄を主成
分として、かつ銅、クロム、モリブデン、シリコンおよ
びニッケルの少なくとも1種を含有する鉄合金、 (b)銅を主成分として、かつアルミニウム、シリコン
、スズ、亜鉛およびニッケルの少なくとも1種を含有す
る銅合金、 (c)鉛を主成分として、かつ銅、ビスマス、テルルお
よびスズの少なくとも1種を含有する鉛合金または (d)ステンレス系合金。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1269308A JPH02192047A (ja) | 1988-10-17 | 1989-10-17 | 光磁気記録媒体 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26077788 | 1988-10-17 | ||
| JP63-260777 | 1988-10-17 | ||
| JP1269308A JPH02192047A (ja) | 1988-10-17 | 1989-10-17 | 光磁気記録媒体 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02192047A true JPH02192047A (ja) | 1990-07-27 |
Family
ID=26544749
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1269308A Pending JPH02192047A (ja) | 1988-10-17 | 1989-10-17 | 光磁気記録媒体 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02192047A (ja) |
-
1989
- 1989-10-17 JP JP1269308A patent/JPH02192047A/ja active Pending
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH02192046A (ja) | 光磁気記録媒体 | |
| WO1988008192A1 (fr) | Membrane d'enregistrement photomagnetique | |
| WO1989001687A1 (fr) | Support d'enregistrement photomagnetique | |
| US5958575A (en) | Magneto-optical recording medium | |
| JP2844604B2 (ja) | 光磁気記録媒体 | |
| JPH02192047A (ja) | 光磁気記録媒体 | |
| KR920007319B1 (ko) | 광자기 기록매체 | |
| JPH02108256A (ja) | 光磁気記録媒体 | |
| US5040166A (en) | Magneto-optical recording medium having a reflective film of Ag and Mn or Ag, Mn and Sn | |
| JPH02192048A (ja) | 光磁気記録媒体 | |
| JPH02107749A (ja) | 非晶質合金薄膜 | |
| JPH01179241A (ja) | 光磁気記録媒体 | |
| JPS6154059A (ja) | 磁気光学記録膜 | |
| JPS63262446A (ja) | 非晶質合金薄膜 | |
| JPH0757312A (ja) | 光磁気薄膜および光磁気記録媒体 | |
| JPH03152739A (ja) | 光記録媒体 | |
| JPH01162257A (ja) | 光磁気記録媒体 | |
| JPH01154334A (ja) | 光磁気記録媒体 | |
| JPH01136947A (ja) | 非晶質合金薄膜 | |
| JP2507592B2 (ja) | 光記録媒体 | |
| JP3566779B2 (ja) | 光磁気記録媒体 | |
| JPH01118244A (ja) | 光磁気記録膜 | |
| JPS63302443A (ja) | 光磁気記録膜 | |
| US5055364A (en) | Magnetooptical recording element | |
| JP2653520B2 (ja) | 光磁気記録媒体 |