JPH0219778A - 高周波混成集積回路検査治具 - Google Patents
高周波混成集積回路検査治具Info
- Publication number
- JPH0219778A JPH0219778A JP63169607A JP16960788A JPH0219778A JP H0219778 A JPH0219778 A JP H0219778A JP 63169607 A JP63169607 A JP 63169607A JP 16960788 A JP16960788 A JP 16960788A JP H0219778 A JPH0219778 A JP H0219778A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- high frequency
- inspection jig
- hybrid integrated
- integrated circuit
- buzzer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は高周波混成集積回路の検査治具に関するもの
である。
である。
第２図は従来の高周波混成集積回路検査治具（以下、検
査治具という）の回路構成図である。図において、（１
）は高周波入力端子、（２）はインピーダンスが５０Ω
の５０Ω線路、（３）は高周波出力端子、（４）は高周
波信号周波数の入／４の波長に対応する入／４線路、（
５）は直流電圧検出用 出端子、（７）はコンデンサー、（８）は抵抗、（９）
はＩＪＤである。
査治具という）の回路構成図である。図において、（１
）は高周波入力端子、（２）はインピーダンスが５０Ω
の５０Ω線路、（３）は高周波出力端子、（４）は高周
波信号周波数の入／４の波長に対応する入／４線路、（
５）は直流電圧検出用 出端子、（７）はコンデンサー、（８）は抵抗、（９）
はＩＪＤである。
次に動作について説明する。直流電圧検出端子（５）は
高周波的には開放（オープン）の状態にある。
高周波的には開放（オープン）の状態にある。
若し直流電圧検出端子（５）に、直流電圧が印加されれ
ば、抵抗（８）を通し、ＬＥＤ＋９）に電流が流れて発
光し、不良を検出する。
ば、抵抗（８）を通し、ＬＥＤ＋９）に電流が流れて発
光し、不良を検出する。
従来の検査治具は、直流電圧検出用として、ＬＥＤの発
光を利用しているが、検査時には作業者が計測器を注目
しているために、ＬＥＤでは、見落す可能性があるとい
う問題点があった。
光を利用しているが、検査時には作業者が計測器を注目
しているために、ＬＥＤでは、見落す可能性があるとい
う問題点があった。
この発明は、上記のような問題点を解消するためになさ
れたもので、作業者が検査治具を見なくても、不良品の
場合ブザーで判断できる検査治具を得ることを目的とす
る。
れたもので、作業者が検査治具を見なくても、不良品の
場合ブザーで判断できる検査治具を得ることを目的とす
る。
この発明に係る検査治具は、直流電圧検出用として・従
来ＬＲＤを使用していたものを、ブザーを使用すること
Ｋよシネ良選別を確実にし％作業性を向上したものであ
る。
来ＬＲＤを使用していたものを、ブザーを使用すること
Ｋよシネ良選別を確実にし％作業性を向上したものであ
る。
（作用〕
この発明における不良選別のためのブザーは、入７４線
路により、直流ＷＥＥのみが供給され、動作する。
路により、直流ＷＥＥのみが供給され、動作する。
以下、この発明の一実施例を図について説明する。第１
図は検査治具の回路構成図である。図において、（１）
〜（５） 、 （７）は第２図の従来例に示したものと
同等であるので説明を省略する。（６）はブザーである
。
図は検査治具の回路構成図である。図において、（１）
〜（５） 、 （７）は第２図の従来例に示したものと
同等であるので説明を省略する。（６）はブザーである
。
次にＭ ＶＰＫついて説明する。通常の５０Ω系信号は
高周波入力端子（１）よＦ） ５０９線路（２）を経て
高周波出力端子（３）へ通過する。直流電圧検出端子（
５）の場所は、高周波的には開放（オープン）の状態に
ある。いま、第３図の回路図に示すごとき高周波混成集
積回路を検査する場合について述べると、第３図のコン
デンサー翰が短絡していると、第１図の５０９線路（２
）、入／４線路（４）にＶＣＣ端子（ロ）の電圧が印加
し、ブザー（６）に電流が流れて、ブザー（６）が鳴る
ので、コンデンサーａ値の短絡を検出できる。
高周波入力端子（１）よＦ） ５０９線路（２）を経て
高周波出力端子（３）へ通過する。直流電圧検出端子（
５）の場所は、高周波的には開放（オープン）の状態に
ある。いま、第３図の回路図に示すごとき高周波混成集
積回路を検査する場合について述べると、第３図のコン
デンサー翰が短絡していると、第１図の５０９線路（２
）、入／４線路（４）にＶＣＣ端子（ロ）の電圧が印加
し、ブザー（６）に電流が流れて、ブザー（６）が鳴る
ので、コンデンサーａ値の短絡を検出できる。
コンデンサー（７）は不要信号除去用である。
上記のように、入／４線路（４）を構成して、高周波特
性を損失すること無く、直流電圧を取り出せるので、高
周波特性を検査すると同時に、製品のコンデンサー〇【
１短絡不良を検出し、検査員は別の計測器を見ながら、
不良品をブザー（６）の音で判別できるため、作業のミ
スが無く、作業性も向上する０ 〔発明の効果〕 以上のように、この発明によれば、直流電圧の検出方法
として、側周波特性を測定しながら、高周波特性の損失
なく、ブザーによる検出ができるので、検出ミスがなく
作業性が良くなる。
性を損失すること無く、直流電圧を取り出せるので、高
周波特性を検査すると同時に、製品のコンデンサー〇【
１短絡不良を検出し、検査員は別の計測器を見ながら、
不良品をブザー（６）の音で判別できるため、作業のミ
スが無く、作業性も向上する０ 〔発明の効果〕 以上のように、この発明によれば、直流電圧の検出方法
として、側周波特性を測定しながら、高周波特性の損失
なく、ブザーによる検出ができるので、検出ミスがなく
作業性が良くなる。
第１図はこの発明に係る検査治具の一実施例を示す回路
構成図、第２図は従来の検査治具の回路構成図、第３図
はこの検査治具を適用する被測定混成集積回路例の回路
図である。 図において、（１）は高周波入力端子、（２）は５０Ω
線路、（３）は高周波出力端子、（４）は入／４線路、
（５）は直流電圧検出端子、（６）はブザー、（７）は
コンデンサーで必る。 なお、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。
構成図、第２図は従来の検査治具の回路構成図、第３図
はこの検査治具を適用する被測定混成集積回路例の回路
図である。 図において、（１）は高周波入力端子、（２）は５０Ω
線路、（３）は高周波出力端子、（４）は入／４線路、
（５）は直流電圧検出端子、（６）はブザー、（７）は
コンデンサーで必る。 なお、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。
Claims (1)
- 高周波混成集積回路で、高周波電力測定時に、直流電流
しや断用コンデンサーの短絡を除去するために入／４の
線路で直流電流を取り出し、上記短絡をブザーを使つて
検出することを特徴とする高周波混成集積回路検査治具
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63169607A JPH0219778A (ja) | 1988-07-07 | 1988-07-07 | 高周波混成集積回路検査治具 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63169607A JPH0219778A (ja) | 1988-07-07 | 1988-07-07 | 高周波混成集積回路検査治具 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0219778A true JPH0219778A (ja) | 1990-01-23 |
Family
ID=15889634
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63169607A Pending JPH0219778A (ja) | 1988-07-07 | 1988-07-07 | 高周波混成集積回路検査治具 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0219778A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5149914A (en) * | 1990-03-09 | 1992-09-22 | Seiko Epson Corporation | Development apparatus using a flexible magnetic field forming layer |
-
1988
- 1988-07-07 JP JP63169607A patent/JPH0219778A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5149914A (en) * | 1990-03-09 | 1992-09-22 | Seiko Epson Corporation | Development apparatus using a flexible magnetic field forming layer |
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