JPH05196699A - 半導体集積回路 - Google Patents
半導体集積回路Info
- Publication number
- JPH05196699A JPH05196699A JP4008582A JP858292A JPH05196699A JP H05196699 A JPH05196699 A JP H05196699A JP 4008582 A JP4008582 A JP 4008582A JP 858292 A JP858292 A JP 858292A JP H05196699 A JPH05196699 A JP H05196699A
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- JP
- Japan
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- input
- circuit
- terminal
- input buffer
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Abstract
(57)【要約】
【目的】入出力端子数が多数の場合でも短時間に、かつ
容易に入力バッファを検査することの出来る半導体集積
回路を提供する。 【構成】複数の単位回路を２個づつの組に分け、各組ご
とに一方の入力端子１０１から第１のスイッチング回路
ＳＷ１を介して他方の入力バッファ１０４の出力端子へ
接続し、また、他方の入力端子１００から第２のスイッ
チング回路ＳＷ２を介して一方の入力バッファ１０５の
出力端子へ接続し、入力バッファの検査時には、上記第
１と第２のスイッチング回路を一方づつオンにし、一方
の入力端子から入力バッファにトリガ信号を入力し、そ
の入力バッファの出力をオン状態のスイッチング回路を
介して他方の入力端子で検出するように構成した。
容易に入力バッファを検査することの出来る半導体集積
回路を提供する。 【構成】複数の単位回路を２個づつの組に分け、各組ご
とに一方の入力端子１０１から第１のスイッチング回路
ＳＷ１を介して他方の入力バッファ１０４の出力端子へ
接続し、また、他方の入力端子１００から第２のスイッ
チング回路ＳＷ２を介して一方の入力バッファ１０５の
出力端子へ接続し、入力バッファの検査時には、上記第
１と第２のスイッチング回路を一方づつオンにし、一方
の入力端子から入力バッファにトリガ信号を入力し、そ
の入力バッファの出力をオン状態のスイッチング回路を
介して他方の入力端子で検出するように構成した。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は半導体集積回路に関し、
特に入力バッファ回路の性能試験を容易化する技術に関
する。
特に入力バッファ回路の性能試験を容易化する技術に関
する。
【０００２】
【従来の技術】従来の半導体集積回路としては、例えば
図２に示すようなものがある。図２において、入力端子
１００、入力バッファ１０４、組合せ回路１０８、順列
回路１１２、出力端子１１６は、一つの単位回路を構成
しており、このような単位回路が複数個集積されてい
る。なお、組合せ回路１０８とは、例えばＡＮＤ回路や
ＯＲ回路のように複数の信号の組合せに応じた信号を出
力する回路であり、また、順列回路１１２とは、例えば
カウント回路のように信号の入力に応じて内容が順次移
動する回路である。上記のような集積回路において、各
単位回路の入力バッファの検査を行なう場合には、入力
端子から入力トリガ電圧（ハイレベル電圧やロウレベル
電圧）を与え、出力端子の出力を観察する方法が考えら
れるが、出力端子には、組合せ回路や順列回路を通った
信号が出力されるので、入力バッファの出力とは必ずし
も一致せず、したがって正確な検査を行なうことが出来
ない場合がある。そのような場合には、入力電圧レベル
測定用組合せ検出回路２００を設けて、各入力バッファ
の出力点Ａ，Ｂ，Ｃに接続し、各入力端子１００〜１０
２から複数の複雑な組み合わせパターンの信号を印加
し、その入力に応じた入力電圧レベル測定用組合せ検出
回路２００の出力レベルを測定する方法が行なわれてい
る。
図２に示すようなものがある。図２において、入力端子
１００、入力バッファ１０４、組合せ回路１０８、順列
回路１１２、出力端子１１６は、一つの単位回路を構成
しており、このような単位回路が複数個集積されてい
る。なお、組合せ回路１０８とは、例えばＡＮＤ回路や
ＯＲ回路のように複数の信号の組合せに応じた信号を出
力する回路であり、また、順列回路１１２とは、例えば
カウント回路のように信号の入力に応じて内容が順次移
動する回路である。上記のような集積回路において、各
単位回路の入力バッファの検査を行なう場合には、入力
端子から入力トリガ電圧（ハイレベル電圧やロウレベル
電圧）を与え、出力端子の出力を観察する方法が考えら
れるが、出力端子には、組合せ回路や順列回路を通った
信号が出力されるので、入力バッファの出力とは必ずし
も一致せず、したがって正確な検査を行なうことが出来
ない場合がある。そのような場合には、入力電圧レベル
測定用組合せ検出回路２００を設けて、各入力バッファ
の出力点Ａ，Ｂ，Ｃに接続し、各入力端子１００〜１０
２から複数の複雑な組み合わせパターンの信号を印加
し、その入力に応じた入力電圧レベル測定用組合せ検出
回路２００の出力レベルを測定する方法が行なわれてい
る。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上記のように、従来の
検査方法においては、入力信号に複数の複雑な組み合わ
せパターンを印加し、各々の入力パターンでその入力電
圧レベルを変動させ、その入力に応じた出力レベルを測
定することによって検査を行なっているため、測定時間
が非常に長くなる。また、試験用入力信号に対応した出
力信号がでてくるまでに回路内部の入力バッファ、組み
合わせ回路、順列回路などを経るため、出力が安定する
まで非常に長い測定時間を必要とするという問題があっ
た。
検査方法においては、入力信号に複数の複雑な組み合わ
せパターンを印加し、各々の入力パターンでその入力電
圧レベルを変動させ、その入力に応じた出力レベルを測
定することによって検査を行なっているため、測定時間
が非常に長くなる。また、試験用入力信号に対応した出
力信号がでてくるまでに回路内部の入力バッファ、組み
合わせ回路、順列回路などを経るため、出力が安定する
まで非常に長い測定時間を必要とするという問題があっ
た。
【０００４】また、入力バッファの信号変化が外部出力
端子の信号変化として現われないような回路の場合に
は、入力電圧レベル測定用組み合わせ検出回路２００を
接続して測定しなければならず、そのための外部出力端
子２０１を必要とする、という問題もあった。特に、最
近の半導体集積回路においては、入力端子数、出力端子
数が５０〜１００にも達するものがあるので、それらを
一つづつ検査するためには時間と手間が非常に多くな
る。
端子の信号変化として現われないような回路の場合に
は、入力電圧レベル測定用組み合わせ検出回路２００を
接続して測定しなければならず、そのための外部出力端
子２０１を必要とする、という問題もあった。特に、最
近の半導体集積回路においては、入力端子数、出力端子
数が５０〜１００にも達するものがあるので、それらを
一つづつ検査するためには時間と手間が非常に多くな
る。
【０００５】本発明は上記のごとき従来技術の問題を解
決するためになされたものであり、入出力端子数が多数
の場合でも短時間に、かつ容易に入力バッファを検査す
ることの出来る半導体集積回路を提供することを目的と
する。
決するためになされたものであり、入出力端子数が多数
の場合でも短時間に、かつ容易に入力バッファを検査す
ることの出来る半導体集積回路を提供することを目的と
する。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、本発明においては、特許請求の範囲に記載するよう
に構成している。すなわち、本発明においては、複数の
単位回路を２個づつの組に分け、各組ごとに一方の入力
端子からスイッチング回路を介して他方の入力バッファ
の出力端子へ接続し、また、他方の入力端子から第２の
スイッチング回路を介して一方の入力バッファの出力端
子へ接続し、さらに上記第１と第２のスイッチング回路
の両方をオフにする信号と、一方をオン、他方をオフに
する信号とを送出する手段を備え、通常動作時は上記第
１と第２のスイッチング回路を共にオフにし、入力バッ
ファの検査時には、上記第１と第２のスイッチング回路
を一方づつオンにし、一方の入力端子から入力バッファ
にトリガ信号を入力し、その入力バッファの出力をオン
状態のスイッチング回路を介して他方の入力端子で検出
するように構成している。
め、本発明においては、特許請求の範囲に記載するよう
に構成している。すなわち、本発明においては、複数の
単位回路を２個づつの組に分け、各組ごとに一方の入力
端子からスイッチング回路を介して他方の入力バッファ
の出力端子へ接続し、また、他方の入力端子から第２の
スイッチング回路を介して一方の入力バッファの出力端
子へ接続し、さらに上記第１と第２のスイッチング回路
の両方をオフにする信号と、一方をオン、他方をオフに
する信号とを送出する手段を備え、通常動作時は上記第
１と第２のスイッチング回路を共にオフにし、入力バッ
ファの検査時には、上記第１と第２のスイッチング回路
を一方づつオンにし、一方の入力端子から入力バッファ
にトリガ信号を入力し、その入力バッファの出力をオン
状態のスイッチング回路を介して他方の入力端子で検出
するように構成している。
【０００７】
【作用】第１のスイッチング回路をオンにし、第２のス
イッチング回路をオフにした状態で、一方の入力端子か
らトリガ信号を入力すると、それに応じて一方の入力バ
ッファの出力端子に出力が現われる。この入力バッファ
の出力端子はオンになっている第１のスイッチング回路
を介して他方の入力端子に接続されているので、入力バ
ッファの出力が他方の入力端子で測定することが出来
る。したがって一方の入力端子に与えるトリガ信号を変
化させ、それに応じた他方の入力端子の出力状態を測定
することにより、一方の入力バッファを検査することが
出来る。次に、第１のスイッチング回路をオフにし、第
２のスイッチング回路をオンにして上記と同様の測定を
行なうことにより、他方の入力バッファを検査すること
が出来る。上記の検査は、各組共通に行なうことが出来
るので、入出力端子数が幾つであっても２回の測定で全
体の入力バッファを全て検査することが出来る。検査終
了後は、第１、第２のスイッチング回路を共にオフにす
ることにより、通常の動作を行なうことが出来る。
イッチング回路をオフにした状態で、一方の入力端子か
らトリガ信号を入力すると、それに応じて一方の入力バ
ッファの出力端子に出力が現われる。この入力バッファ
の出力端子はオンになっている第１のスイッチング回路
を介して他方の入力端子に接続されているので、入力バ
ッファの出力が他方の入力端子で測定することが出来
る。したがって一方の入力端子に与えるトリガ信号を変
化させ、それに応じた他方の入力端子の出力状態を測定
することにより、一方の入力バッファを検査することが
出来る。次に、第１のスイッチング回路をオフにし、第
２のスイッチング回路をオンにして上記と同様の測定を
行なうことにより、他方の入力バッファを検査すること
が出来る。上記の検査は、各組共通に行なうことが出来
るので、入出力端子数が幾つであっても２回の測定で全
体の入力バッファを全て検査することが出来る。検査終
了後は、第１、第２のスイッチング回路を共にオフにす
ることにより、通常の動作を行なうことが出来る。
【０００８】
【実施例】図１は、本発明の一実施例の回路図である。
図１において、ＳＷ１およびＳＷ２はそれぞれスイッチ
ング回路であり、ＳＷＰ１およびＳＷＰ２はスイッチン
グ回路ＳＷ１、ＳＷ２を制御する制御信号である。その
他、前記図２と同符号は同じものを示す。図１の回路に
おいては、複数個の単位回路を２個づつの組に分け、各
組ごとに一方の入力端子から第１のスイッチング回路を
介して他方の入力バッファの出力端子へ接続し、また、
他方の入力端子から第２のスイッチング回路を介して一
方の入力バッファの出力端子へ接続している。例えば、
入力端子１００に接続された単位回路と入力端子１０１
に接続された単位回路とを１組とし、同様に、入力端子
１０２の回路と入力端子１０３の回路とを１組としてい
る。そして入力端子１０１からスイッチング回路ＳＷ１
を介して入力バッファ１０４の出力端子に接続し、入力
端子１００からスイッチング回路ＳＷ２を介して入力バ
ッファ１０５の出力端子に接続している。他の組におい
ても同様である。
図１において、ＳＷ１およびＳＷ２はそれぞれスイッチ
ング回路であり、ＳＷＰ１およびＳＷＰ２はスイッチン
グ回路ＳＷ１、ＳＷ２を制御する制御信号である。その
他、前記図２と同符号は同じものを示す。図１の回路に
おいては、複数個の単位回路を２個づつの組に分け、各
組ごとに一方の入力端子から第１のスイッチング回路を
介して他方の入力バッファの出力端子へ接続し、また、
他方の入力端子から第２のスイッチング回路を介して一
方の入力バッファの出力端子へ接続している。例えば、
入力端子１００に接続された単位回路と入力端子１０１
に接続された単位回路とを１組とし、同様に、入力端子
１０２の回路と入力端子１０３の回路とを１組としてい
る。そして入力端子１０１からスイッチング回路ＳＷ１
を介して入力バッファ１０４の出力端子に接続し、入力
端子１００からスイッチング回路ＳＷ２を介して入力バ
ッファ１０５の出力端子に接続している。他の組におい
ても同様である。
【０００９】以下、入力端子１００と入力端子１０１と
の組について説明する。まず、ＳＷＰ１をＶdd電圧、Ｓ
ＷＰ２をＧＮＤ電圧にすると、スイッチング回路ＳＷ１
はオン、スイッチング回路ＳＷ２はオフになる。この状
態で入力端子１００からトリガ信号を入力バッファ１０
４に入力する。このとき入力バッファ１０４の出力端子
は、スイッチング回路ＳＷ１を介して入力端子１０１に
接続されているので、入力トリガ信号に対応した入力バ
ッファ１０４の出力が入力端子１０１に現われる。した
がって入力するトリガ信号を変化させてそのときの入力
端子１０１の電圧を検出すれば、入力バッファ１０４を
検査することが出来る。次に、ＳＷＰ１をＧＮＤ電圧、
ＳＷＰ２をＶdd電圧にすると、スイッチング回路ＳＷ１
はオフ、スイッチング回路ＳＷ２はオンになる。この状
態で入力端子１０１からトリガ信号を入力バッファ１０
５に入力する。このとき入力バッファ１０５の出力端子
は、スイッチング回路ＳＷ２を介して入力端子１００に
接続されているので、入力トリガ信号に対応した入力バ
ッファ１０５の出力が入力端子１００に現われる。した
がって入力するトリガ信号を変化させてそのときの入力
端子１００の電圧を検出すれば、入力バッファ１０５を
検査することが出来る。
の組について説明する。まず、ＳＷＰ１をＶdd電圧、Ｓ
ＷＰ２をＧＮＤ電圧にすると、スイッチング回路ＳＷ１
はオン、スイッチング回路ＳＷ２はオフになる。この状
態で入力端子１００からトリガ信号を入力バッファ１０
４に入力する。このとき入力バッファ１０４の出力端子
は、スイッチング回路ＳＷ１を介して入力端子１０１に
接続されているので、入力トリガ信号に対応した入力バ
ッファ１０４の出力が入力端子１０１に現われる。した
がって入力するトリガ信号を変化させてそのときの入力
端子１０１の電圧を検出すれば、入力バッファ１０４を
検査することが出来る。次に、ＳＷＰ１をＧＮＤ電圧、
ＳＷＰ２をＶdd電圧にすると、スイッチング回路ＳＷ１
はオフ、スイッチング回路ＳＷ２はオンになる。この状
態で入力端子１０１からトリガ信号を入力バッファ１０
５に入力する。このとき入力バッファ１０５の出力端子
は、スイッチング回路ＳＷ２を介して入力端子１００に
接続されているので、入力トリガ信号に対応した入力バ
ッファ１０５の出力が入力端子１００に現われる。した
がって入力するトリガ信号を変化させてそのときの入力
端子１００の電圧を検出すれば、入力バッファ１０５を
検査することが出来る。
【００１０】上記のように、二つの単位回路を２回の測
定で検査することが出来る。そして制御信号ＳＷＰ１、
ＳＷＰ２は各組に共通に同時に与えることが出来るの
で、単位回路の組が何組あっても全体を２回の測定で検
査することが出来る。また、上記の検査が終了した後
は、制御信号ＳＷＰ１、ＳＷＰ２を共にＧＮＤ電圧にす
ることにより、検査用のスイッチング回路ＳＷ１、ＳＷ
２は切り離され、通常の動作を行なうことが出来る。な
お、本発明において設ける検査用のスイッチング回路Ｓ
Ｗ１、ＳＷ２は、前記図２に示した従来の検査用に設け
ている入力電圧レベル測定用組合せ検出回路２００より
も構成が簡略であり、したがって回路規模上も有利とな
る。
定で検査することが出来る。そして制御信号ＳＷＰ１、
ＳＷＰ２は各組に共通に同時に与えることが出来るの
で、単位回路の組が何組あっても全体を２回の測定で検
査することが出来る。また、上記の検査が終了した後
は、制御信号ＳＷＰ１、ＳＷＰ２を共にＧＮＤ電圧にす
ることにより、検査用のスイッチング回路ＳＷ１、ＳＷ
２は切り離され、通常の動作を行なうことが出来る。な
お、本発明において設ける検査用のスイッチング回路Ｓ
Ｗ１、ＳＷ２は、前記図２に示した従来の検査用に設け
ている入力電圧レベル測定用組合せ検出回路２００より
も構成が簡略であり、したがって回路規模上も有利とな
る。
【００１１】
【発明の効果】以上説明したように、本発明において
は、複数の単位回路を２個づつの組に分け、各組ごとに
一方の入力端子と他方の入力バッファの出力端子を接続
するスイッチング回路を設けることにより、入力トリガ
電圧とそれに対応した入力バッファ回路の出力電圧を簡
単に測定することが可能となり、しかも多数の組がある
場合でも全体を２回の測定で検査することが出来る。そ
のため検査時間を従来より大幅に短縮することが出来
る、という優れた効果が得られる。特に入出力端子数の
多い場合に本発明の効果は大きい。
は、複数の単位回路を２個づつの組に分け、各組ごとに
一方の入力端子と他方の入力バッファの出力端子を接続
するスイッチング回路を設けることにより、入力トリガ
電圧とそれに対応した入力バッファ回路の出力電圧を簡
単に測定することが可能となり、しかも多数の組がある
場合でも全体を２回の測定で検査することが出来る。そ
のため検査時間を従来より大幅に短縮することが出来
る、という優れた効果が得られる。特に入出力端子数の
多い場合に本発明の効果は大きい。
【図１】本発明の一実施例の回路図。
【図２】従来の検査回路を備えた半導体集積回路の一例
の回路図。
の回路図。
【図３】従来の入力電圧レベル測定用組み合わせ検出回
路の一例の回路図。
路の一例の回路図。
１００〜１０３…入力端子１〜Ｎ １０４〜１０７…入力バッファ１〜Ｎ １０８〜１１１…組み合わせ回路１〜Ｎ １１２〜１１５…順列回路１〜Ｎ １１６〜１１９…出力端子１〜Ｎ １２０…クロック入力端子 ２００…入力電圧レベル測定用組み合わせ検出回路 ２０１…組み合わせ検出回路出力端子 ２０２…組み合わせ検出回路電源端子 ＳＷ１、ＳＷ２…スイッチング回路 ＳＷＰ１、ＳＷＰ２…制御信号 Ａ、Ｂ、Ｃ…各入力バッファの出力信号
Claims (1)
- 【請求項１】入力端子、入力バッファ、各種回路、出力
端子の順に接続された単位回路を複数個備えた半導体集
積回路において、 上記複数の単位回路を２個づつの組に分け、各組ごとに
一方の入力端子から第１のスイッチング回路を介して他
方の入力バッファの出力端子へ接続し、また、他方の入
力端子から第２のスイッチング回路を介して一方の入力
バッファの出力端子へ接続し、 さらに上記第１と第２のスイッチング回路の両方をオフ
にする信号と、一方をオン、他方をオフにする信号とを
送出する手段を備え、 通常動作時は上記第１と第２のスイッチング回路を共に
オフにし、入力バッファの検査時には、上記第１と第２
のスイッチング回路を一方づつオンにし、一方の入力端
子から入力バッファにトリガ信号を入力し、その入力バ
ッファの出力をオン状態のスイッチング回路を介して他
方の入力端子で検出するように構成したことを特徴とす
る半導体集積回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4008582A JPH05196699A (ja) | 1992-01-21 | 1992-01-21 | 半導体集積回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4008582A JPH05196699A (ja) | 1992-01-21 | 1992-01-21 | 半導体集積回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05196699A true JPH05196699A (ja) | 1993-08-06 |
Family
ID=11697006
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4008582A Pending JPH05196699A (ja) | 1992-01-21 | 1992-01-21 | 半導体集積回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05196699A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06308200A (ja) * | 1993-04-27 | 1994-11-04 | Kawasaki Steel Corp | 半導体集積回路装置 |
-
1992
- 1992-01-21 JP JP4008582A patent/JPH05196699A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06308200A (ja) * | 1993-04-27 | 1994-11-04 | Kawasaki Steel Corp | 半導体集積回路装置 |
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