JPH0220363U - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0220363U JPH0220363U JP2694888U JP2694888U JPH0220363U JP H0220363 U JPH0220363 U JP H0220363U JP 2694888 U JP2694888 U JP 2694888U JP 2694888 U JP2694888 U JP 2694888U JP H0220363 U JPH0220363 U JP H0220363U
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- JP
- Japan
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- light
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- photodetector
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- Granted
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- BJQHLKABXJIVAM-UHFFFAOYSA-N bis(2-ethylhexyl) phthalate Chemical compound CCCCC(CC)COC(=O)C1=CC=CC=C1C(=O)OCC(CC)CCCC BJQHLKABXJIVAM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Lasers (AREA)
Description
第１図は本考案に係る波長安定化光源の一実施
例を示す構成図、第２図は透過光の光強度曲線を
示す特性曲線図、第３図は本考案の他の実施例を
示す構成図、第４図は従来の波長安定化光源を示
す構成図、第５図は透過光の強度曲線の特性曲線
図である。 １……半導体レーザー、３，１０１，１０２…
…ハーフミラー、６，１２，１３……光検出器、
７，１９……制御手段、１０……光学手段、１１
……フアブリペローエタロン、１４……補正手段
、１５……ヒータ、１８……演算手段。
例を示す構成図、第２図は透過光の光強度曲線を
示す特性曲線図、第３図は本考案の他の実施例を
示す構成図、第４図は従来の波長安定化光源を示
す構成図、第５図は透過光の強度曲線の特性曲線
図である。 １……半導体レーザー、３，１０１，１０２…
…ハーフミラー、６，１２，１３……光検出器、
７，１９……制御手段、１０……光学手段、１１
……フアブリペローエタロン、１４……補正手段
、１５……ヒータ、１８……演算手段。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 光源からの出力光を基準スペースを有し波長弁
別特性がある素子に入力し、この素子の出力光強
度に関連する値が一定になるように前記光源を制
御する波長安定化光源において、 前記素子に異なる２つの角度から前記光源の出
力光を入力する光学手段と、これら異なつた角度
で入力された光に対応する前記素子の透過光の強
度を測定する第１及び第２の光検出器と、この第
１の光検出器の出力が入力され前記光源を制御す
る第１の制御手段と、前記第２の光検出器の出力
が入力され前記素子の基準スペースの間隔の変化
に起因する誤差を補正する補正手段とを有するこ
とを特徴とする波長安定化光源。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2694888U JPH0427178Y2 (ja) | 1988-03-02 | 1988-03-02 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2694888U JPH0427178Y2 (ja) | 1988-03-02 | 1988-03-02 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0220363U true JPH0220363U (ja) | 1990-02-09 |
| JPH0427178Y2 JPH0427178Y2 (ja) | 1992-06-30 |
Family
ID=31249028
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2694888U Expired JPH0427178Y2 (ja) | 1988-03-02 | 1988-03-02 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0427178Y2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012037479A (ja) * | 2010-08-11 | 2012-02-23 | Ihi Inspection & Instrumentation Co Ltd | Ａｅ計測方法及びその装置 |
-
1988
- 1988-03-02 JP JP2694888U patent/JPH0427178Y2/ja not_active Expired
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012037479A (ja) * | 2010-08-11 | 2012-02-23 | Ihi Inspection & Instrumentation Co Ltd | Ａｅ計測方法及びその装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0427178Y2 (ja) | 1992-06-30 |
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