JPH0221550A - X線像観察装置 - Google Patents
X線像観察装置Info
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- JPH0221550A JPH0221550A JP17224888A JP17224888A JPH0221550A JP H0221550 A JPH0221550 A JP H0221550A JP 17224888 A JP17224888 A JP 17224888A JP 17224888 A JP17224888 A JP 17224888A JP H0221550 A JPH0221550 A JP H0221550A
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- ray
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- film
- rays
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はX線像観察装置に関し、特に詳細には、光電変
換膜をその中に備えた真空容器を有するX線像観察装置
に関する。
換膜をその中に備えた真空容器を有するX線像観察装置
に関する。
従来、X線像観察装置では拡大されてきたX線像をX線
フィルム上に投影し、そのX線フィルムを現1象するこ
とにより拡大像を観察していた。また、特に微弱なX線
像を観察するためには、X線の減衰を防止するために真
空容器内で拡大して観察する必要がある。その為、X線
フィルムは真空容器内に固定された状態で拡大像を撮影
し、その後、真空容器を破壊して取り出して現像するこ
とにより拡大像を観察していた。
フィルム上に投影し、そのX線フィルムを現1象するこ
とにより拡大像を観察していた。また、特に微弱なX線
像を観察するためには、X線の減衰を防止するために真
空容器内で拡大して観察する必要がある。その為、X線
フィルムは真空容器内に固定された状態で拡大像を撮影
し、その後、真空容器を破壊して取り出して現像するこ
とにより拡大像を観察していた。
また、X線フィルムを使用せず、シンチレータを用いて
X線像を電子像に変換して、その電子像を蛍光面に写し
出すことにより像を観察する装置が、例えば特開昭59
−101134号公報に開示されている。
X線像を電子像に変換して、その電子像を蛍光面に写し
出すことにより像を観察する装置が、例えば特開昭59
−101134号公報に開示されている。
更にまた、測定物を真空容器のX線入射窓上に固定し、
その対向面で真空容器の内面にX線−電子変換膜を付着
し、測定物を透過したX線をX線−電子変換膜により電
子に変換し、その電子像をフィルムに撮影する方法も知
られている。
その対向面で真空容器の内面にX線−電子変換膜を付着
し、測定物を透過したX線をX線−電子変換膜により電
子に変換し、その電子像をフィルムに撮影する方法も知
られている。
上記X線フィルムを使用する方法では、拡大像を観察す
るためにはX線フィルムを現像しなければならない。こ
の為、観察すべき物体の時間的変化を観察することがで
きず、またこのX線フィルムを現像するためには真空容
器を破壊し取り出さなければならなかった。更に、この
様なX線フィルムを使用する方法では、X線フィルムに
照射されたX線の量とそのフィルムの黒化度との関係の
再現性が悪く、更に、そのX線の量と黒化度との直線性
が悪いことにより、正確な拡大像を観察出来なかった。
るためにはX線フィルムを現像しなければならない。こ
の為、観察すべき物体の時間的変化を観察することがで
きず、またこのX線フィルムを現像するためには真空容
器を破壊し取り出さなければならなかった。更に、この
様なX線フィルムを使用する方法では、X線フィルムに
照射されたX線の量とそのフィルムの黒化度との関係の
再現性が悪く、更に、そのX線の量と黒化度との直線性
が悪いことにより、正確な拡大像を観察出来なかった。
また、人間がその拡大像を目視するためには、その現像
したX線フィルムを拡大したり顕微鏡で観察したりしな
ければならず、拡大像の観察に繁雑な手間が掛かつてい
た。
したX線フィルムを拡大したり顕微鏡で観察したりしな
ければならず、拡大像の観察に繁雑な手間が掛かつてい
た。
一方、上記公報に開示されるシンチレータを使用する装
置では、真空容器内でX線像を拡大していないため、微
細なX線像を観察することが出来ず、また顕微鏡として
使用できるほど拡大することも出来ない。
置では、真空容器内でX線像を拡大していないため、微
細なX線像を観察することが出来ず、また顕微鏡として
使用できるほど拡大することも出来ない。
更に、真空容器のX線入射窓の内面にX線−電子変換膜
を付着させる方法では、大気圧と真空容器内の圧力差に
よる破壊を防止するため、このX線入射窓の厚さを一定
以上にしなければならない。
を付着させる方法では、大気圧と真空容器内の圧力差に
よる破壊を防止するため、このX線入射窓の厚さを一定
以上にしなければならない。
そのため、入射窓部においてX線が吸収されて減衰する
ことによって、鮮明な像を得ることが難しくなっていた
。
ことによって、鮮明な像を得ることが難しくなっていた
。
そこで、本発明は上記問題点を解決し、被観察物の時間
的変化を連続的に観察でき、かつ、X線を利用して拡大
率の大きい像を観察することの出来るX線像観察装置を
提供することを目的とする。
的変化を連続的に観察でき、かつ、X線を利用して拡大
率の大きい像を観察することの出来るX線像観察装置を
提供することを目的とする。
本発明のX線像観察装置は、真空容器と、この真空容器
の観察窓から入射されたX線を所定の位置に結像させる
X線結像手段と、X線の結像位置に設けられた支持膜と
、この支持膜に付着形成された光電変換膜と、この光電
変換膜がX線の結像位置に配置されるように支持膜を支
持して真空容器に固定された支持部材と、光電変換膜か
らの電子を所定の位置に結像する電子結像手段とを備え
、支持膜はX線の透過を妨げない程度に薄くなっており
、かつ支持部材には少なくとも1つの貫通穴が形成され
いることを特徴とする。
の観察窓から入射されたX線を所定の位置に結像させる
X線結像手段と、X線の結像位置に設けられた支持膜と
、この支持膜に付着形成された光電変換膜と、この光電
変換膜がX線の結像位置に配置されるように支持膜を支
持して真空容器に固定された支持部材と、光電変換膜か
らの電子を所定の位置に結像する電子結像手段とを備え
、支持膜はX線の透過を妨げない程度に薄くなっており
、かつ支持部材には少なくとも1つの貫通穴が形成され
いることを特徴とする。
ここで、支持部材は真空容器中の電子結像手段側に突出
形成された筒体をなし、貫通穴はこの筒体の側壁に形成
されていることを特徴としてもよい。また、X線源は上
記真空容器中に設けられていてもよい。
形成された筒体をなし、貫通穴はこの筒体の側壁に形成
されていることを特徴としてもよい。また、X線源は上
記真空容器中に設けられていてもよい。
本発明のX線像観察装置では、光電変換膜をX線の透過
を妨げない程度に薄い支持膜に固定し真空容器内に配置
して、拡大されたX線像を減衰させること無く光電変換
し、その変換された像を可視像として観察することによ
り、フィルム現像、または拡大等の繁雑な処理を必要と
せず、被観察物の拡大された像の観察を可能とし、また
連続的な時間的変化をも観察可能とする。さらに、支持
膜を支持する支持部材には貫通穴が形成されているので
、X線結像側と電子結像側で真空の程度を同一にでき、
従って支持膜を極めて薄くすることが可能になる。
を妨げない程度に薄い支持膜に固定し真空容器内に配置
して、拡大されたX線像を減衰させること無く光電変換
し、その変換された像を可視像として観察することによ
り、フィルム現像、または拡大等の繁雑な処理を必要と
せず、被観察物の拡大された像の観察を可能とし、また
連続的な時間的変化をも観察可能とする。さらに、支持
膜を支持する支持部材には貫通穴が形成されているので
、X線結像側と電子結像側で真空の程度を同一にでき、
従って支持膜を極めて薄くすることが可能になる。
以下添付図面の第1図および第2図を参照して、本発明
の詳細な説明する。尚、図面の説明において同一の要素
には同一の符号を付し、重複する説明を省略する。
の詳細な説明する。尚、図面の説明において同一の要素
には同一の符号を付し、重複する説明を省略する。
第1図は実施例に係るX線像観察装置の全体構造図であ
る。図示の通り実施例の装置は、X線を出射するだめの
X線源をなすX線出射部1と、試料をセラして導入する
ため試料導入部2と、X線像を拡大するためのX線像拡
大部3と、電子像を拡大するための電子像拡大部4と、
拡大像を観察するための拡大像観察部5とを備えている
。そして、上記のX線出射部1、試料導入部2、X線像
拡大部3および電子像拡大部4は真空容器100中に組
み付けられている。
る。図示の通り実施例の装置は、X線を出射するだめの
X線源をなすX線出射部1と、試料をセラして導入する
ため試料導入部2と、X線像を拡大するためのX線像拡
大部3と、電子像を拡大するための電子像拡大部4と、
拡大像を観察するための拡大像観察部5とを備えている
。そして、上記のX線出射部1、試料導入部2、X線像
拡大部3および電子像拡大部4は真空容器100中に組
み付けられている。
X線出射部1は真空室11に設けられた熱陰極12とタ
ーゲット13を含み、この真空室11はバルブ14を介
して真空系に接続されている。試料導入部2は試料室2
1に設けられた直線導入端子22と、この直線導入端子
22に固定された試料セット部材23と、X線像拡大部
3とを仕切るゲートバルブ24とを含み、試料セット部
材23には試料25がセットされるようになっている。
ーゲット13を含み、この真空室11はバルブ14を介
して真空系に接続されている。試料導入部2は試料室2
1に設けられた直線導入端子22と、この直線導入端子
22に固定された試料セット部材23と、X線像拡大部
3とを仕切るゲートバルブ24とを含み、試料セット部
材23には試料25がセットされるようになっている。
そして、試料室21はバルブ26を介して真空系に接続
され、真空引きが可能になっている。
され、真空引きが可能になっている。
X線像拡大部3は真空容器100により形成される真空
室31と、X線を反射させる斜入射反射v132と、不
要なX線をカットする遮光板33とを釘し、真空室31
はバルブ34を介して真空系に接続されている。電子像
拡大部4は真空容器100により形成される真空室41
と、X線を受けて電子(光電子)を放出する光電変換膜
42と、光電変換膜42を支持する支持膜43と、支持
膜43を支持して真空容器100に固定される筒状の支
持部材44と、電子を増倍させるマイクロチャンネルプ
レート45と、電子を受けて螢光を発する螢光膜46と
、電子像を拡大するコイル47.48とを有し、真空室
41はバルブ4つを介して真空系に接続されている。拡
大像観察部5はリレーレンズ51と撮像管52を有し、
更に図示しないフレームメモリ、モニタなどを有してい
る。
室31と、X線を反射させる斜入射反射v132と、不
要なX線をカットする遮光板33とを釘し、真空室31
はバルブ34を介して真空系に接続されている。電子像
拡大部4は真空容器100により形成される真空室41
と、X線を受けて電子(光電子)を放出する光電変換膜
42と、光電変換膜42を支持する支持膜43と、支持
膜43を支持して真空容器100に固定される筒状の支
持部材44と、電子を増倍させるマイクロチャンネルプ
レート45と、電子を受けて螢光を発する螢光膜46と
、電子像を拡大するコイル47.48とを有し、真空室
41はバルブ4つを介して真空系に接続されている。拡
大像観察部5はリレーレンズ51と撮像管52を有し、
更に図示しないフレームメモリ、モニタなどを有してい
る。
第2図は光電変換膜42の近傍の拡大構成を示している
。図示の通り、X線像拡大部3の真空室31と電子像拡
大部4の真空室41は支持部材44によって仕切られ、
この支持部材44の基端部は真空容器100の内面に固
定される。支持部材44の先端部は電子像拡大部4側に
突出する筒体をなし、その先端には支持膜43が固定さ
れてここに光電変換膜42が付着形成される。ここで、
支持膜43は微弱なX線を透過できる程度に十分に薄く
(数μm)かつその材料はX線透過性を有するものと
なっている。従って、矢印A方向にX線が入射されると
矢印B方向に光電子が放出される。また、支持部材44
の側壁には複数の貫通穴40か形成され、これによって
真空室31と真空室41の真空の程度が同等になるよう
になっており、従って支持膜43を極めて薄くすること
が可能になっている。
。図示の通り、X線像拡大部3の真空室31と電子像拡
大部4の真空室41は支持部材44によって仕切られ、
この支持部材44の基端部は真空容器100の内面に固
定される。支持部材44の先端部は電子像拡大部4側に
突出する筒体をなし、その先端には支持膜43が固定さ
れてここに光電変換膜42が付着形成される。ここで、
支持膜43は微弱なX線を透過できる程度に十分に薄く
(数μm)かつその材料はX線透過性を有するものと
なっている。従って、矢印A方向にX線が入射されると
矢印B方向に光電子が放出される。また、支持部材44
の側壁には複数の貫通穴40か形成され、これによって
真空室31と真空室41の真空の程度が同等になるよう
になっており、従って支持膜43を極めて薄くすること
が可能になっている。
次に、上記実施例に係るX線像観察装置の作用を順次に
説明する。
説明する。
まず、試料セットの際にはゲートバルブ24を図中の点
線のように閉じて試料室21の真空を解除する。この状
態では、直線導入端子22および試料セット部材23は
図中の実線のように試料室21に収容されており、図示
しない扉をあけて試料25を試料セット部材23にセッ
トする。そして、扉を閉じてバルブ26を開き、試料室
21を真空引きする。試料室21が真空になったらゲー
トバルブ24を図中の実線のように開き、直線導入端子
22を操作して試料セット部材23を観察位置まで送る
。これにより、試料25は所定の位置にセットされる。
線のように閉じて試料室21の真空を解除する。この状
態では、直線導入端子22および試料セット部材23は
図中の実線のように試料室21に収容されており、図示
しない扉をあけて試料25を試料セット部材23にセッ
トする。そして、扉を閉じてバルブ26を開き、試料室
21を真空引きする。試料室21が真空になったらゲー
トバルブ24を図中の実線のように開き、直線導入端子
22を操作して試料セット部材23を観察位置まで送る
。これにより、試料25は所定の位置にセットされる。
次に、熱陰極12に通電して熱電子をターゲット13に
向けて放出する。これにより、ターゲット13からはX
線が生成され、試料25に向けて出射される。X線は試
料25を透過して斜入射反射鏡32で反射され、従って
光電変換膜42に拡大されたX線像が形成される。ここ
で、不要なX線は遮光板33によりカットされる。光電
変換膜42にX線像が形成されると、これに対応して電
子が放出される。これによる電子像はコイル47゜48
を介して拡大され、マイクロチャンネルプレート45で
電子増幅されて螢光膜46に結像される。従って、螢光
膜46では拡大された光学像が得られることになる。
向けて放出する。これにより、ターゲット13からはX
線が生成され、試料25に向けて出射される。X線は試
料25を透過して斜入射反射鏡32で反射され、従って
光電変換膜42に拡大されたX線像が形成される。ここ
で、不要なX線は遮光板33によりカットされる。光電
変換膜42にX線像が形成されると、これに対応して電
子が放出される。これによる電子像はコイル47゜48
を介して拡大され、マイクロチャンネルプレート45で
電子増幅されて螢光膜46に結像される。従って、螢光
膜46では拡大された光学像が得られることになる。
ここで、斜入射反射鏡32の拡大倍率を20倍とし、電
子像拡大部4の光電変換膜42上での分解能を1μmと
し、コイル47.48で構成される電子レンズの拡大倍
率を100倍とすると、試料25上での分解能は1μm
/ 20−50 n mとなり、また螢光膜46上で
は試料25上の50nmが0.1mmに拡大されること
になる。
子像拡大部4の光電変換膜42上での分解能を1μmと
し、コイル47.48で構成される電子レンズの拡大倍
率を100倍とすると、試料25上での分解能は1μm
/ 20−50 n mとなり、また螢光膜46上で
は試料25上の50nmが0.1mmに拡大されること
になる。
更に、螢光膜46上に形成された拡大像はリレーレンズ
51を通してTVカメラ(撮像管52)にその像が捕ら
えられ、このTVカメラで捕らえられた拡大像は電気ビ
デオ信号に変換されてビデオフレームメモリに送られる
。このビデオフレームメモリでは送られてきた電気ビデ
オ信号をA/D変換し、一定時間積算する。そして積算
された結果をモニタに送る。このモニタでは積算された
結果より可視像を作成する。このTVカメラで螢光膜4
6上に形成された可視像を撮像することにより、モニタ
上では試料上での50nmも容易に目視することができ
る。すなわち、リレーレンズ51の倍率を1倍、TVカ
メラ52の入力面の大きさを10mm×10mmとし、
モニタの画面を20cmx20cmとすると、このX線
顕微鏡では全体として、20X100X20−4000
0倍の倍率を得ることができる。
51を通してTVカメラ(撮像管52)にその像が捕ら
えられ、このTVカメラで捕らえられた拡大像は電気ビ
デオ信号に変換されてビデオフレームメモリに送られる
。このビデオフレームメモリでは送られてきた電気ビデ
オ信号をA/D変換し、一定時間積算する。そして積算
された結果をモニタに送る。このモニタでは積算された
結果より可視像を作成する。このTVカメラで螢光膜4
6上に形成された可視像を撮像することにより、モニタ
上では試料上での50nmも容易に目視することができ
る。すなわち、リレーレンズ51の倍率を1倍、TVカ
メラ52の入力面の大きさを10mm×10mmとし、
モニタの画面を20cmx20cmとすると、このX線
顕微鏡では全体として、20X100X20−4000
0倍の倍率を得ることができる。
また、X線像が十分な強度を有している場合にはビデオ
フレームメモリを用いること無く、TVカメラの一般的
な時間分解能である1/30秒毎に1枚の画像が得られ
るので、はぼリアルタイムのX線像の観察が可能となる
。しかし、X線像が微弱な場合には、先に説明した実施
例のようにビデオフレームメモリを用いて電気ビデオ信
号をA/D変換し、信号を積算することにより良好な画
像を得るようにする必要がある。この場合には、リアル
タイムでの拡大像の観察を行うことは出来ないが、連続
的な観察は可能となる。
フレームメモリを用いること無く、TVカメラの一般的
な時間分解能である1/30秒毎に1枚の画像が得られ
るので、はぼリアルタイムのX線像の観察が可能となる
。しかし、X線像が微弱な場合には、先に説明した実施
例のようにビデオフレームメモリを用いて電気ビデオ信
号をA/D変換し、信号を積算することにより良好な画
像を得るようにする必要がある。この場合には、リアル
タイムでの拡大像の観察を行うことは出来ないが、連続
的な観察は可能となる。
本発明は上記実施例に限定されるものでなく、種々の変
形が可能である。
形が可能である。
例えば、光電変換膜42及び支持膜43の構成について
は、ガラス、金属またはSi等の支持体44にS l
a N 4膜、有機薄膜等(パリレン等)を張り付け、
その上にAuの薄膜を付着させればよい。またX線を電
子に直接変換することの出来るAuの薄膜の代わりにヨ
ウ化セシウムとアンチモンセシウムとの2層構造体を用
いて、X線を間接的に光電子に変換してもよい。
は、ガラス、金属またはSi等の支持体44にS l
a N 4膜、有機薄膜等(パリレン等)を張り付け、
その上にAuの薄膜を付着させればよい。またX線を電
子に直接変換することの出来るAuの薄膜の代わりにヨ
ウ化セシウムとアンチモンセシウムとの2層構造体を用
いて、X線を間接的に光電子に変換してもよい。
上記実施例では斜入射X線反射鏡を用いてX線像を拡大
しているが、本発明の装置にはX線ゾーンプレート又は
多層膜X線反射鏡を用いてX線像を拡大してもよい。ま
た、入射X線強度が十分に高いときはマイクロチャンネ
ルプレートを設けることは必須ではなく、更に蛍光膜4
6の位置にCCDデバイスを設けて画像情報を得るよう
うにしてもよい。更に、上記実施例では像を拡大する例
について説明したが、等倍、すなわち拡大しない場合に
も本発明は適用できる。
しているが、本発明の装置にはX線ゾーンプレート又は
多層膜X線反射鏡を用いてX線像を拡大してもよい。ま
た、入射X線強度が十分に高いときはマイクロチャンネ
ルプレートを設けることは必須ではなく、更に蛍光膜4
6の位置にCCDデバイスを設けて画像情報を得るよう
うにしてもよい。更に、上記実施例では像を拡大する例
について説明したが、等倍、すなわち拡大しない場合に
も本発明は適用できる。
以上、詳細に説明した通り本発明では、X線を光電変換
して更に可視像として観察できるので、X線フィルムを
現像拡大するような繁雑な処理を必要とせずに拡大像を
得られ、更に被観察物の拡大像のリアルタイムな変化の
観察が可能となる。
して更に可視像として観察できるので、X線フィルムを
現像拡大するような繁雑な処理を必要とせずに拡大像を
得られ、更に被観察物の拡大像のリアルタイムな変化の
観察が可能となる。
さらに、X線像を拡大したのち電子像に変換し、更にこ
の電子像を拡大して可視像とするため、非常に大きい拡
大倍率を得ることができる。
の電子像を拡大して可視像とするため、非常に大きい拡
大倍率を得ることができる。
また、X線像を最終的に電気信号に変換できるため、光
電変換膜より放出された光電子に相当する電気信号を積
算することにより、非常に微弱なX線像であっても、鮮
明にその拡大像を得ることができる。
電変換膜より放出された光電子に相当する電気信号を積
算することにより、非常に微弱なX線像であっても、鮮
明にその拡大像を得ることができる。
第1図は、本発明に従う実施例の側面構成図、第2図は
、第1図に示す光電膜近傍の拡大側面図である。 1・・・X線出射部、11・・・真空室、12・・・熱
陰極、13・・・ターゲット、2・・・試料導入部、2
1・・・試料室、22・・・直線導入端子、23・・・
試料セット部材、24・・・ゲートバルブ、25・・・
試料、3・・・X線像拡大部、31・・・真空室、32
・・・斜入射反射鏡、33・・・遮光板、4・・・電子
像拡大部、41・・・真空室、42・・・光電変換膜、
43・・・支持膜、44・・・支持部材、45・・・マ
不クロチャンネルプレート、46・・・螢光膜46.5
・・・拡大像観察部、51・・・リレーレンズ、52・
・・TV左カメラ 特許出願人 浜松ホトニクス株式会社代理人弁理士
長谷用 芳 樹光電変換膜近傍の構成 第2図
、第1図に示す光電膜近傍の拡大側面図である。 1・・・X線出射部、11・・・真空室、12・・・熱
陰極、13・・・ターゲット、2・・・試料導入部、2
1・・・試料室、22・・・直線導入端子、23・・・
試料セット部材、24・・・ゲートバルブ、25・・・
試料、3・・・X線像拡大部、31・・・真空室、32
・・・斜入射反射鏡、33・・・遮光板、4・・・電子
像拡大部、41・・・真空室、42・・・光電変換膜、
43・・・支持膜、44・・・支持部材、45・・・マ
不クロチャンネルプレート、46・・・螢光膜46.5
・・・拡大像観察部、51・・・リレーレンズ、52・
・・TV左カメラ 特許出願人 浜松ホトニクス株式会社代理人弁理士
長谷用 芳 樹光電変換膜近傍の構成 第2図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、真空容器と、 この真空容器の観察窓から入射されたX線を所定の位置
に結像させるX線結像手段と、 前記X線の結像位置に設けられた支持膜と、この支持膜
に付着形成された光電変換膜と、この光電変換膜が前記
X線の結像位置に配置されるように前記支持膜を支持し
て前記真空容器に固定された支持部材と、 前記光電変換膜からの電子を所定の位置に結像する電子
結像手段とを備え、 前記支持膜は前記X線の透過を妨げない程度に薄くなっ
ており、かつ前記支持部材には少なくとも1つの貫通穴
が形成されいることを特徴とするX線像観察装置。 2、前記支持部材は前記真空容器中の前記電子結像手段
側に突出形成された筒体をなし、前記貫通穴はこの筒体
の側壁に形成されていることを特徴とする請求項1記載
のX線像観察装置。 3、前記真空容器はX線源を収容しており、このX線源
と前記X線結像手段は観察窓部材により仕切られている
ことを特徴とする請求項1記載のX線像観察装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17224888A JPH0640476B2 (ja) | 1988-07-11 | 1988-07-11 | X線像観察装置 |
| US07/263,254 US4912737A (en) | 1987-10-30 | 1988-10-27 | X-ray image observing device |
| EP88310177A EP0314502B1 (en) | 1987-10-30 | 1988-10-28 | An X-ray image observing device |
| DE3851297T DE3851297T2 (de) | 1987-10-30 | 1988-10-28 | Röntgenstrahlbilder-Beobachtungsvorrichtung. |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17224888A JPH0640476B2 (ja) | 1988-07-11 | 1988-07-11 | X線像観察装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0221550A true JPH0221550A (ja) | 1990-01-24 |
| JPH0640476B2 JPH0640476B2 (ja) | 1994-05-25 |
Family
ID=15938369
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17224888A Expired - Lifetime JPH0640476B2 (ja) | 1987-10-30 | 1988-07-11 | X線像観察装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0640476B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH095499A (ja) * | 1995-06-16 | 1997-01-10 | Toyota Central Res & Dev Lab Inc | 軟x線顕微鏡 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3573725B2 (ja) | 2001-08-03 | 2004-10-06 | 川崎重工業株式会社 | X線顕微鏡装置 |
-
1988
- 1988-07-11 JP JP17224888A patent/JPH0640476B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH095499A (ja) * | 1995-06-16 | 1997-01-10 | Toyota Central Res & Dev Lab Inc | 軟x線顕微鏡 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0640476B2 (ja) | 1994-05-25 |
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