JPH02220405A - 積層型バリスタの製造方法 - Google Patents

積層型バリスタの製造方法

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JPH02220405A
JPH02220405A JP1041316A JP4131689A JPH02220405A JP H02220405 A JPH02220405 A JP H02220405A JP 1041316 A JP1041316 A JP 1041316A JP 4131689 A JP4131689 A JP 4131689A JP H02220405 A JPH02220405 A JP H02220405A
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JP
Japan
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layer
lead
ceramic
exposed
electrode
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JP1041316A
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English (en)
Inventor
Hiroaki Taira
浩明 平
Kazuyoshi Nakamura
和敬 中村
Yasunobu Yoneda
康信 米田
Yukio Sakabe
行雄 坂部
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Murata Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Murata Manufacturing Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、電圧非直線性抵抗として機能する積層型バリ
スタの製造方法に関し、特に内部電極の変賀を防止して
バリスタ特性の悪化を回避でき、部品の信鯨性を向上で
きるようにした製造方法に関する。・ 〔従来の技術〕 一般に、バリスタは、印加電圧に応じて抵抗値が非直線
的に変化する抵抗体素子であり、このようなバリスタと
して、従来、第7図に示すような直方体状の積層型バリ
スタがある(特公昭5B−23921号公報参照)、こ
の積層型バリスタ10は、ZnOを主成分とするセラミ
クス層11と内部電極12とを交互に積層して一体焼結
するとともに、該焼結体13の左、右端面13a、13
bに外部電極14を形成して構成されている。また、上
記各内部電極12の一端面12aは、上記焼結体13の
左、右1面13a、13bに交互に露出されて上記外部
電極14に接続されている。
このような積層型バリスタ1を製造する場合、従来、Z
nOを主成分とするグリーンシートを切断して所定形状
のセラミクス層11を形成し、これの上面に高融点貴金
属からなる内部電極12を形成した後、両者が交互に位
置するように積層して積層体を形成し、しかる後これを
加熱焼成して焼結体13を形成する0次に、この焼結体
13の内部電極12の一端面12aが露出した左、右端
面13a、13bに電解めっきにより外部電極14を形
成する。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかしながら、上記従来の積層型バリスタの製造方法は
、焼結体13として見れば、内部電極12の一端面12
aが外部に露出した構造であるから、湿度の高い雰囲気
中においては上記内部電極12の露出部分が変質し易く
、まためっき処理により上記外部電極14を形成する際
にめっき液が内部電極12の露出部分から侵入し易く、
その結果バリスタ特性が悪化し、品質に対する信頼性に
劣るという問題点がある。
ここで、上記高湿度やめっき液の侵入による内部電極1
2の変質を防止するには、該内部電極12の一端面12
aをセラミクス層11内に封入して外部に露出させない
ようにすることが考えられるが、このようにすると内部
電極12を外部電極14に接続できないことから、その
ままでは採用できない。
本発明は上記従来の問題点を解決するためになされたも
ので、内部[極の変質を防止して、バリスタ特性の悪化
を回避でき、ひいては品質の信頼性を向上できる積層型
バリスタの製造方法を提供することを目的としている。
〔問題点を解決するための手段〕
そこで本願第1項の発明は、セラミクス層と内部電極と
を交互に、かつ該内部電極の一端面が上記セラミクス層
の外縁に交互に露出するよう積層して積層体を形成する
第1工程と、該積層体の上記内部電極の露出面に焼成時
に半導化するセラミクス導出層を形成する第2工程と、
該導出層が形成された積層体を一体焼成して、上記導出
層を半導体化する第3工程とからなることを特徴とする
積層型バリスタの製造方法である。また、第2項の発明
は、上記第1工程と、上記積層体を焼成して焼結体を形
成する第2工程と、この焼結体の上記内部電極の露出面
に焼成時に半導化するセラミクス導出層を形成する第3
工程と、これを焼成して、上記導出層を半導体化する第
4工程とからなることを特徴とする製造方法である。
ここで、本発明における導出層は、例えば上記セラミク
ス層と同一組成からなる絶縁性のセラミクス粉末にAj
、Ga、Gd、Y等から選ばれた金属を添加混合し、こ
れをペースト状に形成したものを上記積層体や焼結体に
塗布したり、あるいはシート状に形成したものを接着し
た後、加熱焼成することにより半導体化させて実現する
のであるが、この半導体化とは、上記セラミクスに金属
を固溶させて抵抗値を減少させ、これにより上記内部電
極を外部に導出するという意味である。
〔作用〕
本願第1項の発明に係る積層型バリスタの製造方法によ
れば、積層体の内部電極が露出された端面にセラミクス
導出層を形成し、これを一体焼成して上記導出層を半導
体化したので、また、第2項の発明では、積層体を焼成
した焼結体の内部電極が露出された端面にセラミクス導
出層を形成し、これを耳び焼成して半導体化したので、
上記内部電極の露出面は上記導出層により完全に覆われ
ることとなる。従って湿度の高い雰囲気中においても内
部電極の変質を防止できるとともに、外部電極を形成す
る際のメツキ液の侵入を阻止でき、その結果バリスタ特
性の悪化を回避でき、品質の信頼性を向上できる。
また、本発明では、内部電極の一端面は導出層に接続さ
れているので、該導出層の外表面に外部電極を形成する
ことにより、上記内部電極を外部に導出できる。さらに
、上記導出層は、積層体。
又は焼結体の端面に、セラミクス組成物にAt等を混合
してなるペーストを塗布したり、あるいはシート状のも
のを接着し、これを熱処理することにより実現でき、製
造が容易である。しかも第1項の製造方法の場合は、積
層体の焼成と同時に導出層を半導体化するから、製造コ
ストの上昇を抑制できる。さらにまた、本発明の導出層
は、これのセラミクス組成、及び厚さを任意に選定でき
るので、内部電極との電気的接続性等における特性のば
らつきを生じさせることはない。
〔実施例〕
以下、本発明の実施例を図について説明する。
第1図ないし第4図は本願第1項の発明の一実施例によ
る積層型バリスタの製造方法を説明するための図である
第1工程 ■ まず、Z n O(95,Oso 1%)、Coo
(1゜0−01 %)  、  MnO(1,Omol
  %)、Sb*0x(2,Omel %)  、  
Cr*  Os   (1+Omol  %) を混合
してなるセラミクス材料に、B*O*、SiO!+  
pbo、ZnOからなるガラス粉末を10wt%加えて
原料とし、これに有機バインダーを混合して、ドクター
ブレード法によりグリーンシートを形成する9次に、こ
のグリーンシートを所定の大きさの矩形状に切断してセ
ラミクス112を形成する。
■ 上記各セラミクス層2の上面に、ptにビヒクルを
混合してなるペーストを印刷して内部電極3を形成する
。この場合、この内部電極3の一端面3−が上記セラミ
クス層2の一端面に露出するようにするとともに、上記
内部電極3の他端面がセラミクス層2の内側に位置する
ようにする。
■ 次に、第3図に示すように、セラミクス層2と内部
電極3とが交互に重なるように、かつ該内部電極3の一
端面3aが交互にセラミクス層2の端面に位置するよう
に順次積層し、さらにこれの上、下面にダミーとしての
セラミクスシート7を重ね、これをプレスで加圧、圧着
して積層体4を形成する。
第2工程 ■ 次に、第4rgJに示すように、上記積層体4の、
上記内部電極3の一端面3aが露出された左。
右端面4a、4bに導出層6を形成する。この導出層6
は、上記■工程のセラミクス材料と同一組成からなるセ
ラミクス粉末にAI粉末を5wt%添加し、これにビヒ
クルを混合してなるペーストを厚さ50μ−になるよう
塗布して形成する。
ここで、上記導出層6を形成する金属としては、Anの
他にGa、Gd、Y等が採用でき、またセラミクス組成
物としては、ZnO系の他にRuO3等の低抵抗セラミ
クスが採用できる。
また、上記導出層6は、ペーストの塗布の他にグリーン
シートを接着、圧着する方法も採用できる。
第3工程 ■ 上記導出層6が形成された積層体4を、空気中にて
1200℃×3時間で加熱焼成し、一体焼結して焼結体
を得る。すると、この加熱焼成によりZnOとAIとの
熱反応によって該ZnOにA1.0.が固溶し、これに
より半導体化した低抵抗値の導出層6が形成され、該導
出層6と上記内部電極3の一端面3aとが電気的に接続
されることとなる。
■ 次に、上記焼結体の導出層6以外の部分にマスクを
被覆し、この状態で電解めっき処理を施して上記導出層
6の外表面に外部電極5を形成する。なお、上記外部電
極5は、上記焼結体4にAgを主体としてPdを添加し
てなるペーストを塗布した後焼き付けて形成してもよい
、これにより、本実施例の積層型バリスタlが製造され
る。
このようにして製造された積層型バリスタ1は、第1図
及び第2図に示すように、バリスタ機能を発現するセラ
ミクス層2と内部電極3とが交互に重なり、かつ該内部
電極3の一端面3aが積層体4の左、右端面4a、4b
に交互に露出するとともに、この両端面4a、4bと外
部電極5との間に半導体化された導出+116が形成さ
れた構造となっており、これにより咳内部電1j3は導
出層6を介して上記外部電極5に電気的に接続されてい
る。
このように本実施例の製造方法によれば、内部電極3の
一端面3aが露出した積層体4の左、右端面4a、4b
にセラミクス導出層6を形成した後、これを一体焼成し
て上記導出層6を半導体化したので、該導出層6によっ
て内部t8i3の露出面は完全に隠すことができ、その
結果高湿度の雰囲気中で使用しても内部電極3が変質す
ることはなく、しかも焼結体を電解めっき液中に浸漬し
ても該めっき液が侵入することはないから、バリスタ特
性の悪化を防止でき、品質を向上できる。
また、上記導出層6と内部電極3とを電気的に接続し、
該導出層6を介して外部電極5に接続したので、上記内
部電極3を封入しながら外部に導出できる。しかもこの
導出層6は、セラミクス組成物にA1を添加してなるペ
ーストを塗布し、積層体4を焼成する際に同時に半導体
化できるから、製造コストを上昇させることはほとんど
ない、さらに、上記導出層6は、セラミクス組成物、A
jの添加量、及び塗布厚を正確に制御できるから、電気
的特性のばらつきを少なくすることができる。
第5図及び第6図は、本実施例の効果を確認するために
行った耐湿試験の結果を示す特性図である。この試験で
は、本実施例の製造方法により作成した積層型バリスタ
を、温度60℃1相対凛度90%の雰囲気中に1000
時間放置し、しかる後v1.A及びVe、laAの変化
率を調べた。なお、比較のため、内部電極の端面を焼結
体の表面に露出させてなる従来の積層型バリスタについ
ても同様の試験を行った。
第5図はv+msの変化率と経過時間との関係を示し、
第6図はVe、laAの変化率と経過時間との関係を示
す0図中、曲線A(実線)は本実施例試料、曲&IB 
(破線)は従来試料を示す。
同図からも明らかなように、VIsAの変化率では両者
(曲線A、B)ともそれほど大きな差はないものの、V
e、laAの変化率では、従来試料Bは一25%変化し
ているのに対して、本実施例試料Aは一9%の変化に改
善されており、耐湿性が向上していることがわかる。
また、本実施例試料に外部電極を形成するためのめっき
処理を施したが、これによる特性の劣化は全く認められ
なかった。
次に本願第2項の発明の一実施例による積層型バリスタ
の製造方法を説明する。
本実施例は、上述した第1項の発明の実施例による第1
図ないし第4図と基本的には同様であるから、同図を兼
用して説明し、また上記実施例方法と同様の工程は省略
する。
第1工程 上記■ないし■工程により積層体を形成する。
第2工程 ii  次に、上記積層体を空気中にて1200℃×3
時間で加熱焼成し、焼結体4を得る。
第3工程 i そして、上記焼結体4の、上記内部電極3の一端面
3aが露出された左、右端面4a、4bに導出層6を形
成する。この導出層6は、上記セラミクス層2と同一組
成からなるセラミクス粉末にAjtR末を5 wtj4
添加し、これにビヒクルを混合してなるペーストを厚さ
50μ−になるよう焼結体4に塗布し、これを再び空気
中にて1100℃に加熱焼成して半導体化して形成する
。これにより抵抗値が減少した導出層6が形成され、該
導出層6と上記内部電極3の一端面3aとが接続される
こととなる。
第4工程 iマ 次に、上記焼結体4の導出層6以外の部分にマス
クを被覆し、この状態で電解めっき処理を施して上記導
出層6の外表面に外部電極5を形成する。これにより、
本実施例の積層型バリスタlが製造される。
このように本実施例の製造方法においても、内部電極3
の一端面3aが露出した積層体を焼成して焼結体4を形
成し、該焼結体4の左、右端面4a、4bに導出層6を
形成した後、これを再度加熱焼成して半導体化したので
、該導出層6によって内部電8i3の露出面を完全に隠
すことができ、その結果高湿度の雰囲気による!R1j
tやめっき液による侵入を防止でき、バリスタ特性の悪
化を回避でき、上記実施例と同様の効果が得られる。
なお、上記実施例では、内部電極の一端面が焼粘体の左
、右端面に露出した場合を例にとって説明したが、本発
明の積層型バリスタは、例えば焼結体の上面の両端部に
内部電極の一端面を露出させてワイヤボンディングによ
る実装ができるようにした構造においても、上記内部電
極の露出部分に導出層を形成することにより、内部電極
の変質を防止でき、上記実施例と同様な効果が得られる
〔発明の効果〕
以上のように、本願第1項の発明に係る積層型バリスタ
の製造方法によれば、セラミクス層と内部電極とが交互
に積層された積層体の内部[極の露出面に導出層を形成
した後、これを一体焼成して導出層の半導体化と焼結体
とを同時に形成し、また第2項の発明では、上記積層体
を焼成して焼結体を形成した後、該焼結体の内部電極の
露出面に導出層を形成し、しかる後この焼結体を焼成し
て導出層を半導体化したので、内部電極の露出面を完全
に覆うことができ、高湿度やめっき液の侵入による内部
電極の変質を防止でき、バリスタ特性の悪化を回避でき
、ひいては品買の信鎖性を向上できる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図ないし第4図は本発明の一実施例による積層型バ
リスタの製造方法を説明するための図であり、第1図は
その積層型バリスタを示す断面図、第2図はその斜視図
、第3図はその製造工程を示す分解斜視図、第4図はそ
の断面図、第5図及び第6図はそれぞれ本実施例の効果
を示す特性図、第7図は従来の積層型バリスタを示す断
面図である。 図において、1は積層型バリスタ、2はセラミクス層、
3は内部電極、3aは内部電極の一端面、4は積層体、
焼結体、4a、4bはその左、右端面、6は導出層であ
る。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)バリスタ機能を発現するセラミクス層と内部電極
    とを交互に、かつ該内部電極の一端面が上記セラミクス
    層の外縁に交互に露出するよう積層して積層体を形成す
    る第1工程と、該積層体の上記内部電極の露出面に焼成
    時に半導体化するセラミクス導出層を形成する第2工程
    と、該導出層が形成された積層体を一体焼成して、上記
    導出層を半導体化する第3工程とからなることを特徴と
    する積層型バリスタの製造方法。
  2. (2)バリスタ機能を発現するセラミクス層と内部電極
    とを交互に、かつ該内部電極の一端面が上記セラミクス
    層の外縁に交互に露出するよう積層して積層体を形成す
    る第1工程と、該積層体を所定の焼成温度で焼成する第
    2工程と、これにより成形された焼結体の上記内部電極
    の露出面に焼成時に半導体化するセラミクス導出層を形
    成する第3工程と、該導出層が形成された焼結体を焼成
    して、上記導出層を半導体化する第4工程とからなるこ
    とを特徴とする積層型バリスタの製造方法。
JP1041316A 1988-09-08 1989-02-21 積層型バリスタの製造方法 Pending JPH02220405A (ja)

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US07/404,838 US5075665A (en) 1988-09-08 1989-09-08 Laminated varistor
DE3930000A DE3930000A1 (de) 1988-09-08 1989-09-08 Varistor in schichtbauweise

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