JPH02223874A - 測定用ソケット - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は測定用ソケットに関し、特に電子デバイスを電
気的に選別、測定するための測定用ソケットに関する。

〔従来の技術〕

従来、この種の測定用ソケットは、たとえばＤ−＊Ｐ　
（Ｄｕａｌ−Ｉｎ−Ｌｉｎｅ　Ｐａｃｋａｇｅ）　Ｉ　
Ｃ用ソケットの場合、被測定用ＩＣの１本のリードに対
して、複数の電気的接続点は有していたが、複数の電気
的接続点は、お互いに電気的に導通していた（第３図参
照）。また、フラットパッケージＩＣ用ソケットでは、
電気的接続点は単数であった（第４図参照）。

〔発明が解決しようとする課題〕

上述した従来の測定用ソケットは、被測定素子の選別作
業等の測定をくり返し行っていると、ソケットの端子が
劣化し、接触抵抗が大となり、良品を不良と判断してし
まったり、あるいは、信頼性試験実施時、被測定素子の
見せかけ上の特性変動という型に表われ、問題である。

〔課題を解決するための手段〕

本発明の測定用ソケットは、被測定素子のリードと電気
的に接続するための端子及び該端子を保持するための母
体からなる測定用ソケットにおいて、前記被測定用素子
の１本のリードに対して、それぞれ電気的に接続されお
互いに絶縁された複数の端子を持つことを特徴とする。

〔実施例〕

次に、本発明について図面を参照して説明する。

第１図は、本発明の一実施例の断面図である。

本実施例はＤＩＰ型Ｉ型側Ｃ測定用ソケットである。■
はソケットの母体、２は端子（電気的接続点）、３は一
対の端子２をお互いに絶縁するための絶縁物である。第
２図は本発明の他の実施例の断面図である。本実施例は
フラッ）ＩＣ測定用ソケットの例である。フラットＩＣ
（ガルウィングタイプ）６は、ソケットの母体ｌにおけ
る端子２にフラットタイプＩＣ６の外部リード７を接触
してセットされ、ソケットのキャップ４を上からかぶせ
、ソケットのキャップ４はソケットキャップのフック５
をロックすることでソケットの母体ｌ上に固定される。

この時、■Ｃ６の外部リード７は、１本のリードに対し
て複数の点で端子２と導通する。一般に測定用のテスタ
は、測定時の接触抵抗による測定精度を向上するため、
センスとフォースの機能（４端子間のうち、２端子に電
流を流し、残りの２端子で電圧を測定する。）を有して
いる０本発明による測定用ソケットを利用すれば、前記
テスタのセンスとフォースの機能を有効に生かすことが
でき、ソケットの劣ずヒによる接触抵抗の増加や被測定
素子のリード折れによる接触不良をいち早く見出すこと
ができる。また、本発明による測定用ソケットの場合被
測定素子の１本とリードに対するお互いに絶縁された複
数の端子間で、簡易なオープン・ショートチエツクも実
施できる。

〔発明の効果〕

以上説明したように、本発明は、被測定素子の１本のリ
ードに対して、電気的に接続するためのお互いに絶縁さ
れた複数の端子（電気的接続点）を有しているため、接
触抵抗大等の測定上の問題防止に効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例のＤＩＰ型Ｉ型側Ｃ測定用ソ
ケット面図、第２図は本発明の他の実施例のフラッ）Ｉ
Ｃ測定用ソケットの断面図、第３図および第４図はそれ
ぞれ第１図、第２図に対応する従来構造のソケットの断
面図である。 １・・・・・・ソケットの母体、２・・・・・・端子、
３・・・・・・絶縁物、４・・・・・・ソケットのキャ
ップ、５・・・・・・ソケットキャップのフック、６・
・・・・・フラットタイプＩＣ１７・・・・・・フラッ
トタイプＩＣ６の外部リード、８・・・・・・フック５
を母体１へ固定するためのビン。 代理人　弁理士　　内　原　　　晋 １：　ソケットの８休 ２：端子 ３：　紀縁物 ソケットの母体 痛子 ソケットのベヤツブ ソケットへマツプのフ／り ７°　ワラ。２ト　タイプＩＣ６の７Ｆ部リード８、　
フ、７り５と８伴１へ固定するためのピン第３図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 被測定素子のリードと電気的に接続するための端子及び
   、該端子を保持するための母体からなる測定用ソケット
   において、前記被測定素子の１本のリードに対してそれ
   ぞれ電気的に接続されお互いに絶縁された複数の端子を
   持つことを特徴とする測定用ソケット。