JPH02234191A - 液晶パネル検査装置 - Google Patents
液晶パネル検査装置Info
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- JPH02234191A JPH02234191A JP5535789A JP5535789A JPH02234191A JP H02234191 A JPH02234191 A JP H02234191A JP 5535789 A JP5535789 A JP 5535789A JP 5535789 A JP5535789 A JP 5535789A JP H02234191 A JPH02234191 A JP H02234191A
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- Japan
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims abstract description 21
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 9
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Landscapes
- Liquid Crystal Display Device Control (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は液晶パネル（以下ｒＬＣＤパネル」という）検
査装置に関し、特にＬＣＤパネルを櫛状の点灯を検出す
るＬＣＤバネル検査装置に関する． 〔従来の技術〕 従来のＬＣＤパネルを櫛状に点灯（ＬＣＤパネルの両面
のドレイン線を１本おきに駆動信号を与えた状態で以後
半点灯という）させたとき表われる欠陥（以後Ｄ−Ｄ欠
陥という）の検査は、駆動回路と、バックライトと、Ｌ
ＣＤパネル固定治具を含んで楕成される． 次に、図面を参照して、詳細に説明する．第４図は従来
の検査方法を示す説明図である。ＬＣＤバネル４１を、
ＬＣＤバネル固定治具４２にセットし、バックライト４
４の上に置き、駆動回路４３をマニュアルで半点灯駆動
信号値にセットし、バックライト４４の光をＬＣＤバネ
ル４１の液晶層に透過させ、ＬＣＤパネル４１の表示状
態を肉舞で検査していた． 〔発明が解決しようとする課題〕 上述した従来のＬＣＤパネルの検査方法は、肉眼で検査
するため、正確性に欠け、検査する人間により、検査結
果が異なる。また、人手により検査するなめ、検査工数
がかかるという欠点があった。
査装置に関し、特にＬＣＤパネルを櫛状の点灯を検出す
るＬＣＤバネル検査装置に関する． 〔従来の技術〕 従来のＬＣＤパネルを櫛状に点灯（ＬＣＤパネルの両面
のドレイン線を１本おきに駆動信号を与えた状態で以後
半点灯という）させたとき表われる欠陥（以後Ｄ−Ｄ欠
陥という）の検査は、駆動回路と、バックライトと、Ｌ
ＣＤパネル固定治具を含んで楕成される． 次に、図面を参照して、詳細に説明する．第４図は従来
の検査方法を示す説明図である。ＬＣＤバネル４１を、
ＬＣＤバネル固定治具４２にセットし、バックライト４
４の上に置き、駆動回路４３をマニュアルで半点灯駆動
信号値にセットし、バックライト４４の光をＬＣＤバネ
ル４１の液晶層に透過させ、ＬＣＤパネル４１の表示状
態を肉舞で検査していた． 〔発明が解決しようとする課題〕 上述した従来のＬＣＤパネルの検査方法は、肉眼で検査
するため、正確性に欠け、検査する人間により、検査結
果が異なる。また、人手により検査するなめ、検査工数
がかかるという欠点があった。
本発明のＬＣＤパネル検査装置は、画像を入力するため
のカラーカメラと、入力されたカラー画像情報をデジタ
ル信号に変換する入力回路と、デジタル信号に変換され
たカラー画像情報を赤・緑青の三色に分けて記憶する画
像メモリーと、あらかじめ指定したしきい値で二値化す
る二値化回路と、二値化された画像データに対してあら
かじめ指定したビット数だけ付加または削除するマスク
回路と、前記マスク回路で付加・削除された画像データ
の面積及びＸ方向（横方向）の座標の最小値．最大値，
ｙ方向《縦方向》の座標の最小値．Ｍ大値を計測する計
測回路と、液晶パネルの液晶層に透過する光を照射する
バックライトと、液晶パネルの液晶層に対して光の透過
率の決定及び液晶パネルの上下にあるドレイン線に１本
ごとに駆動信号を与えることのできる駆動回路と、前記
人力回路と前記二値化回路と前記マスク回路と前記計測
回路と前記駆動回路とを制御する制御部と、検査結果を
表示する表示部とを含んで構成される． 〔実施例〕 次に、本発明の実施例について、図面を参照して詳細に
説明する。
のカラーカメラと、入力されたカラー画像情報をデジタ
ル信号に変換する入力回路と、デジタル信号に変換され
たカラー画像情報を赤・緑青の三色に分けて記憶する画
像メモリーと、あらかじめ指定したしきい値で二値化す
る二値化回路と、二値化された画像データに対してあら
かじめ指定したビット数だけ付加または削除するマスク
回路と、前記マスク回路で付加・削除された画像データ
の面積及びＸ方向（横方向）の座標の最小値．最大値，
ｙ方向《縦方向》の座標の最小値．Ｍ大値を計測する計
測回路と、液晶パネルの液晶層に透過する光を照射する
バックライトと、液晶パネルの液晶層に対して光の透過
率の決定及び液晶パネルの上下にあるドレイン線に１本
ごとに駆動信号を与えることのできる駆動回路と、前記
人力回路と前記二値化回路と前記マスク回路と前記計測
回路と前記駆動回路とを制御する制御部と、検査結果を
表示する表示部とを含んで構成される． 〔実施例〕 次に、本発明の実施例について、図面を参照して詳細に
説明する。
第１図は本発明の一実施例を示すブロック図である．
第１図に示すＬＣＤパネル検査装置は、画像を入力する
ためのカラーカメラ１と、入力されたカラー画像情報を
デジタル信号に変換する入力回路２と、デジタル信号に
変換されたカラー画像情報をＲ−Ｇ−Ｈの三色に分けて
記憶する画像メモリー３と、ある適当なしきい値で二値
化する二値化回路４と、二値化された画像データの画像
に対してあらかじめ定められたビット数だけ付加または
削除するマスク回路５と、拡大・縮小された画像データ
の面積及びＸ方向（横方向）の座標の最小値・最大値と
ｙ方向（縦方向）の座標の最小値・最大値とを計測する
計測回路６と、ＬＣＤバネル１２を固定するＩＬｃＤパ
ネル固定治具１１と、ＬＣＤパネル１２の液晶層に光を
透過させるバックライト９と、ＬＣＤパネルの液晶層に
対してバックライト９の光の透過率を決める駆動回路１
０と、入力回路２と、二値化回路４と、計測回路６と、
駆動回路１０とを制御する制御部７と、検査結果を表示
する表示部８を含んで構成される．ここで、ＬＣＤバネ
ル１２では、制御部７でＬＣＤパネル１２に対して、半
点灯状態になる信号ａが駆動回路１０を通して送られ、
半点灯状βになった個所が表示させられる．ＬＣＤバネ
ル１２の表示状態の画像はカラーカメラ１で撮像され、
その出力信号は入力回路２でＲ−Ｇ−Ｂのデジタル信号
に変換され、画像メモリー３に画像データとして記憶さ
れる．二値化回路４で、制御部７で決められた値を基に
二値化される． 第２図は、半点灯状態で二値化されたＬＣＤバネルの二
値化画像である．この二値化画像データを制御部７で決
められたビット数で、マスク回路５において、画像に付
加又は削除するとＤ−Ｄ欠陥のある画像データは、第３
図に示す通り、縦方向に画像データがつながった状態に
なる。
ためのカラーカメラ１と、入力されたカラー画像情報を
デジタル信号に変換する入力回路２と、デジタル信号に
変換されたカラー画像情報をＲ−Ｇ−Ｈの三色に分けて
記憶する画像メモリー３と、ある適当なしきい値で二値
化する二値化回路４と、二値化された画像データの画像
に対してあらかじめ定められたビット数だけ付加または
削除するマスク回路５と、拡大・縮小された画像データ
の面積及びＸ方向（横方向）の座標の最小値・最大値と
ｙ方向（縦方向）の座標の最小値・最大値とを計測する
計測回路６と、ＬＣＤバネル１２を固定するＩＬｃＤパ
ネル固定治具１１と、ＬＣＤパネル１２の液晶層に光を
透過させるバックライト９と、ＬＣＤパネルの液晶層に
対してバックライト９の光の透過率を決める駆動回路１
０と、入力回路２と、二値化回路４と、計測回路６と、
駆動回路１０とを制御する制御部７と、検査結果を表示
する表示部８を含んで構成される．ここで、ＬＣＤバネ
ル１２では、制御部７でＬＣＤパネル１２に対して、半
点灯状態になる信号ａが駆動回路１０を通して送られ、
半点灯状βになった個所が表示させられる．ＬＣＤバネ
ル１２の表示状態の画像はカラーカメラ１で撮像され、
その出力信号は入力回路２でＲ−Ｇ−Ｂのデジタル信号
に変換され、画像メモリー３に画像データとして記憶さ
れる．二値化回路４で、制御部７で決められた値を基に
二値化される． 第２図は、半点灯状態で二値化されたＬＣＤバネルの二
値化画像である．この二値化画像データを制御部７で決
められたビット数で、マスク回路５において、画像に付
加又は削除するとＤ−Ｄ欠陥のある画像データは、第３
図に示す通り、縦方向に画像データがつながった状態に
なる。
ここで、計測回路６で、画像データの面積及びＸ方向の
座標の最小値，最大値，ｙ方向の座標の最小値．最大値
を計測し、面積がある一定以上でかつｙ方向の長さく最
大値一最小値）が一定以上あるものの画像データを制御
部７で抽出することにより、Ｄ−Ｄ欠陥の検出ができる
．そして表示部８で制御部７の抽出結果を表示する．以
上でｙ方向欠陥が見付けられたがＸ方向の欠陥はＸとｙ
の座標を入替えて同様な方法を実施すればよい． 〔発明の効果〕 本発明のＬＣＤパネル検査装置は、二碩化回路と、二値
化回路で二値化された画像データを拡大・縮小するマス
ク回路と、画像データの面積及びＸ，Ｙの座標値を計測
する計測回路を設けることにより、ＬＣＤバネルのＤ−
Ｄ欠陥の検査が自動にできるため、人手による検査の不
正確や、検査工数の削減ができるという効果がある。
座標の最小値，最大値，ｙ方向の座標の最小値．最大値
を計測し、面積がある一定以上でかつｙ方向の長さく最
大値一最小値）が一定以上あるものの画像データを制御
部７で抽出することにより、Ｄ−Ｄ欠陥の検出ができる
．そして表示部８で制御部７の抽出結果を表示する．以
上でｙ方向欠陥が見付けられたがＸ方向の欠陥はＸとｙ
の座標を入替えて同様な方法を実施すればよい． 〔発明の効果〕 本発明のＬＣＤパネル検査装置は、二碩化回路と、二値
化回路で二値化された画像データを拡大・縮小するマス
ク回路と、画像データの面積及びＸ，Ｙの座標値を計測
する計測回路を設けることにより、ＬＣＤバネルのＤ−
Ｄ欠陥の検査が自動にできるため、人手による検査の不
正確や、検査工数の削減ができるという効果がある。
モリー、４・・・二値化回路、５・・・マスク回路、６
・・・計測回路、７・・・制御部、８・・・表示部、９
・・・バックライト、１０・・・駆動回路、１１・・・
ＬＣＤパネル固定治具、１２・・・ＬＣＤパネル．
・・・計測回路、７・・・制御部、８・・・表示部、９
・・・バックライト、１０・・・駆動回路、１１・・・
ＬＣＤパネル固定治具、１２・・・ＬＣＤパネル．
Claims (1)
- 画像を入力するためのカラーカメラと、入力されたカ
ラー画像情報をデジタル信号に変換する入力回路と、デ
ジタル信号に変換されたカラー画像情報を赤・緑・青の
三色に分けて記憶する画像メモリーと、あらかじめ指定
したしきい値で二値化する二値化回路と、二値化された
画像データに対してあらかじめ指定したビット数だけ付
加または削除するマスク回路と、前記マスク回路で付加
削除された画像データの面積及びｘ方向（横方向）の座
標の最小値、最大値、ｙ方向（縦方向）の座標の最小値
、最大値を計測する計測回路と、液晶パネルの液晶層に
透過する光を照射するバックライトと、液晶パネルの液
晶層に対して光の透過率の決定及び液晶パネルの上下に
あるドレイン線に１本ごとに駆動信号を与えることので
きる駆動回路と、前記入力回路と前記二値化回路と前記
マスク回路と前記計測回路と前記駆動回路とを制御する
制御部と、検査結果を表示する表示部とを含んで成るこ
とを特徴とする液晶パネル検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5535789A JPH02234191A (ja) | 1989-03-07 | 1989-03-07 | 液晶パネル検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5535789A JPH02234191A (ja) | 1989-03-07 | 1989-03-07 | 液晶パネル検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02234191A true JPH02234191A (ja) | 1990-09-17 |
Family
ID=12996245
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5535789A Pending JPH02234191A (ja) | 1989-03-07 | 1989-03-07 | 液晶パネル検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02234191A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6683974B1 (en) * | 2000-01-12 | 2004-01-27 | Sharp Kabushiki Kaisha | Image defect detection apparatus and image defect detection method |
-
1989
- 1989-03-07 JP JP5535789A patent/JPH02234191A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6683974B1 (en) * | 2000-01-12 | 2004-01-27 | Sharp Kabushiki Kaisha | Image defect detection apparatus and image defect detection method |
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