JPH0223551A - 光ディスク検査装置 - Google Patents
光ディスク検査装置Info
- Publication number
- JPH0223551A JPH0223551A JP17223388A JP17223388A JPH0223551A JP H0223551 A JPH0223551 A JP H0223551A JP 17223388 A JP17223388 A JP 17223388A JP 17223388 A JP17223388 A JP 17223388A JP H0223551 A JPH0223551 A JP H0223551A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- data
- signals
- master computer
- memory section
- optical disk
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、光ディスクの記録特性を測定する光ディスク
検査装置に関するものである。
検査装置に関するものである。
さらに詳しくは、ＩＳＯ規格に基づくデータフォーマッ
トで光ディスクにデータを書き込むとともに、このデー
タを読み出し、データエラーを測定する光ディスク検査
装置に関するものである。
トで光ディスクにデータを書き込むとともに、このデー
タを読み出し、データエラーを測定する光ディスク検査
装置に関するものである。
第２図および第３図はＩＳＯ規格に基づくセクタフォー
マットおよびデータフォーマットの一例を示すものであ
る。
マットおよびデータフォーマットの一例を示すものであ
る。
このように、光ディスクにおけるデータフォーマットが
規格化されたことにより、光ディスクの検査時にも、実
際に近い形で光ディスクにデータを書き込むことができ
、光ディスクのエラーレイトに対する測定項目の一つと
して、データエラーレイトを測定することが可能となっ
た。
規格化されたことにより、光ディスクの検査時にも、実
際に近い形で光ディスクにデータを書き込むことができ
、光ディスクのエラーレイトに対する測定項目の一つと
して、データエラーレイトを測定することが可能となっ
た。
しかしながら、データフォーマットの規格化からまだ間
もないので、光ディスク検査装置においてデータエラー
レートを測定する機能を持ったものは、実用化されてい
ない。
もないので、光ディスク検査装置においてデータエラー
レートを測定する機能を持ったものは、実用化されてい
ない。
本発明は、光ディスクのエラーレイトに対する測定項目
の一つとして、データエラーレイトを測定することので
きる光ディスク検査装置を簡単な構成により実現するこ
とを目的としたものである。
の一つとして、データエラーレイトを測定することので
きる光ディスク検査装置を簡単な構成により実現するこ
とを目的としたものである。
本発明の光ディスク検査装置は、光ディスクのデータ領
域に任意のデータを書き込むとともにそのデータを読み
出しデータエラーレートを測定するようにしな光ディス
ク検査装置において、光ディスクに書き込むべき書込み
信号を発生するとともにデータエラーレートの測定を行
なうマスタコンピュータと、１セクタ分の書込み信号と
これに対応して光ディスクから読み出された読出し信号
とをシリアル信号のかたちで記憶するメモリ部と、この
メモリ部をアクセスするためのアドレス信号を発生する
アドレス部と、前記メモリ部側で扱うシリアル信号と前
記マスタコンピュータ側で扱うパラレル信号との間の相
互変換を行なうシリアル／パラレル変換部と、前記マス
タコンピュータからの指令により前記各部の動作を制御
する制御部とを具備し、前記マスタコンピュータと前記
メモリ部との間の信号のやり取りを前記シリアル／パラ
レル変換部を介して行なうようにしたものである。
域に任意のデータを書き込むとともにそのデータを読み
出しデータエラーレートを測定するようにしな光ディス
ク検査装置において、光ディスクに書き込むべき書込み
信号を発生するとともにデータエラーレートの測定を行
なうマスタコンピュータと、１セクタ分の書込み信号と
これに対応して光ディスクから読み出された読出し信号
とをシリアル信号のかたちで記憶するメモリ部と、この
メモリ部をアクセスするためのアドレス信号を発生する
アドレス部と、前記メモリ部側で扱うシリアル信号と前
記マスタコンピュータ側で扱うパラレル信号との間の相
互変換を行なうシリアル／パラレル変換部と、前記マス
タコンピュータからの指令により前記各部の動作を制御
する制御部とを具備し、前記マスタコンピュータと前記
メモリ部との間の信号のやり取りを前記シリアル／パラ
レル変換部を介して行なうようにしたものである。
このように、１セクタ分の書込み信号と読出し信号とを
メモリ部に記憶させるとともに、対応する信号を順次読
み出し、マスタコンピュータ内で比較を行なうようにす
ると、そのセクタにおけるデータエラーおよびデータエ
ラーレートを容易に測定することができる。
メモリ部に記憶させるとともに、対応する信号を順次読
み出し、マスタコンピュータ内で比較を行なうようにす
ると、そのセクタにおけるデータエラーおよびデータエ
ラーレートを容易に測定することができる。
また、書込み信号および読出し信号をシリアル信号のか
たちでメモリ部に記憶させておき、マスタコンピュータ
とのデータのやり取りはシリアル／パラレル変換部を介
して行なうようにするど、メモリ部に記憶される信号の
かたちは光ディスクに書き込まれる信号のかたちに一致
しているので、光ディスクへのアクセスを高速に行なう
ことができる。
たちでメモリ部に記憶させておき、マスタコンピュータ
とのデータのやり取りはシリアル／パラレル変換部を介
して行なうようにするど、メモリ部に記憶される信号の
かたちは光ディスクに書き込まれる信号のかたちに一致
しているので、光ディスクへのアクセスを高速に行なう
ことができる。
第１図は本発明の光ディスク検査装置の一実施例を示す
構成図である６図において、１は例えば、。
構成図である６図において、１は例えば、。
画像用デュアルポートメモリよりなり、１セクタ分の書
込み信号および続出し信号をシリアル信号のかたちで記
憶するメモリ部、２はこのメモリ部１をアクセスするた
めのアドレス信号を発生するアドレス部、３はメモリ部
１（光ディスク）側で扱うシリアル信号とマスタコンピ
ュータ（図示せず）側で汲うパラレル信号との間の相互
変換を行なうシリアル／パラレル変換部、４はマスタコ
ンピュータからの指令（ＲＤ、ＷＲ，・・・）に応じて
、書込み信号やシフトクロック５ＣＬＫＩ、５ＣＬＫ２
などを発生し、各部の動作を制御する制御部、５は書込
みクロックＷＣＬＫを生成する書込みタロツク生成回路
である。また、ｉａはマスタコンピュータからのアドレ
ス部（ス、１ｂはデータバス、１ｃ、ｌｄは制御線であ
る。Ｇｌ〜Ｇ４は制御線ｌｄの信号Ｃ８により制御され
、信号ラインの接続を切り換えるゲートである。
込み信号および続出し信号をシリアル信号のかたちで記
憶するメモリ部、２はこのメモリ部１をアクセスするた
めのアドレス信号を発生するアドレス部、３はメモリ部
１（光ディスク）側で扱うシリアル信号とマスタコンピ
ュータ（図示せず）側で汲うパラレル信号との間の相互
変換を行なうシリアル／パラレル変換部、４はマスタコ
ンピュータからの指令（ＲＤ、ＷＲ，・・・）に応じて
、書込み信号やシフトクロック５ＣＬＫＩ、５ＣＬＫ２
などを発生し、各部の動作を制御する制御部、５は書込
みクロックＷＣＬＫを生成する書込みタロツク生成回路
である。また、ｉａはマスタコンピュータからのアドレ
ス部（ス、１ｂはデータバス、１ｃ、ｌｄは制御線であ
る。Ｇｌ〜Ｇ４は制御線ｌｄの信号Ｃ８により制御され
、信号ラインの接続を切り換えるゲートである。
上記のように構成された光ディスク検査装置において、
データエラーレイトの測定動作は次の通りである。
データエラーレイトの測定動作は次の通りである。
データエラーレイトの測定動作には、大きく分けて、■
セクタ分のデータをメモリ部１に記憶させるとともに、
このデータを光ディスクの所定のセクタに書き込む書込
みモードと、書き込んだデータを読み出しながらメモリ
部ｌに記憶させる読出しモードと、書込み信号と読出し
信号とを比較して、データエラーレートを測定する測定
モードとがある。
セクタ分のデータをメモリ部１に記憶させるとともに、
このデータを光ディスクの所定のセクタに書き込む書込
みモードと、書き込んだデータを読み出しながらメモリ
部ｌに記憶させる読出しモードと、書込み信号と読出し
信号とを比較して、データエラーレートを測定する測定
モードとがある。
まず、書込みモードでは、制御線１ｄの信号Ｃ８が１．
”レベルとなる。このため、ゲートＧ３゜Ｇ４がオープ
ンとなり、メモリ部１がシリアル／パラレル変換部３側
に接続される。したがって、マスタコンピュータから送
出されたデータ（書込みデータ）は、シフトクロック５
ＣＬＫＩに応じて、シリアル／パラレル変換部３でシリ
アル信号ＷＤＡＴＡに変換されるとともに、メモリ部１
のＷ／１０端子に印加され、シフトクロック５ＣＬＫ２
に応じてメモリ部１に記憶される。
”レベルとなる。このため、ゲートＧ３゜Ｇ４がオープ
ンとなり、メモリ部１がシリアル／パラレル変換部３側
に接続される。したがって、マスタコンピュータから送
出されたデータ（書込みデータ）は、シフトクロック５
ＣＬＫＩに応じて、シリアル／パラレル変換部３でシリ
アル信号ＷＤＡＴＡに変換されるとともに、メモリ部１
のＷ／１０端子に印加され、シフトクロック５ＣＬＫ２
に応じてメモリ部１に記憶される。
このようにして、１セクタ分の書込みデータがメモリ部
１に記憶されると、制御線１ｄの信号Ｃ８が“Ｈ”レベ
ルとなり、光ディスクへの書込みが行なわれる。すなわ
ち、今度は、ゲートＧｌ。
１に記憶されると、制御線１ｄの信号Ｃ８が“Ｈ”レベ
ルとなり、光ディスクへの書込みが行なわれる。すなわ
ち、今度は、ゲートＧｌ。
Ｇ２がオープンとなり、メモリ部１から読み出された書
込みデータＷＤＡＴＡは、順次光ディスクの書込み回路
に供給される。このとき、書込みクロック生成回路５は
、書込み要求信号ＷＲＥＱに同期して書込みクロックＷ
ＣＬＫを生成する。全データの書込みが終了すると、マ
スタコンピュータへ割込みをかけ、書込みモードの終了
を知らせる。
込みデータＷＤＡＴＡは、順次光ディスクの書込み回路
に供給される。このとき、書込みクロック生成回路５は
、書込み要求信号ＷＲＥＱに同期して書込みクロックＷ
ＣＬＫを生成する。全データの書込みが終了すると、マ
スタコンピュータへ割込みをかけ、書込みモードの終了
を知らせる。
次に、続出しモードでは、制御線１ｄの信号Ｃ８は“Ｈ
“レベルのままであり、光ディスクから読み出された続
出しデータＲＤＡＴＡはそのままメモリ部１のＷ／１０
端子に印加され、シフトクロック５ＣＬＫ２に応じて順
次メモリ部１に記憶される。
“レベルのままであり、光ディスクから読み出された続
出しデータＲＤＡＴＡはそのままメモリ部１のＷ／１０
端子に印加され、シフトクロック５ＣＬＫ２に応じて順
次メモリ部１に記憶される。
比較モードでは、制御線１ｄの信号Ｃ８は再度“Ｌ”レ
ベルとなり、メモリ部１からは書込みデータおよびこれ
に対応した続出しデータが読み出される。このとき、シ
リアル／パラレル変換部３では、読み出されたシリアル
信号をバイト単位のパラレル信号に変換して、マスタコ
ンピュータに送出する。マスタコンピュータでは、メモ
リ部１から取り込んだデータを比較して、データエラー
およびデータエラーレートを測定する。
ベルとなり、メモリ部１からは書込みデータおよびこれ
に対応した続出しデータが読み出される。このとき、シ
リアル／パラレル変換部３では、読み出されたシリアル
信号をバイト単位のパラレル信号に変換して、マスタコ
ンピュータに送出する。マスタコンピュータでは、メモ
リ部１から取り込んだデータを比較して、データエラー
およびデータエラーレートを測定する。
ここで、マスタコンピュータにおけるデータの比較は、
メモリ部１の全データを収り込んでから順次行なっても
良いし、バイト単位の書込みデータとこれに対応した読
出しデータとを逐次取り込みながら行なっても良い。
メモリ部１の全データを収り込んでから順次行なっても
良いし、バイト単位の書込みデータとこれに対応した読
出しデータとを逐次取り込みながら行なっても良い。
このように、１セクタ分の書込み信号と続出し信号とを
メモリ部１に記憶させるとともに、対応する信号をｊ頃
次読み出し、マスタコンピュータ内で比較を行なうよう
にすると、そのセクタにおけるデータエラーおよびデー
タエラーレートを容易に測定することができる。また、
書込み信号および読出し信号をシリアル信号のかたちで
メモリ部１に記憶させておき、マスタコンピュータとの
データのやり取りはシリアル／パラレル変換部３を介し
て行なうようにすると、メモリ部１に記憶される信号の
かたちは光ディスクに書き込まれる信号のかたちに一致
しているので、光ディスクへのアクセスを高速に行なう
ことができる。さらに、全ての読出しデータはメモリ部
１に記憶されているので、その記憶位ｆｉ（アドレス）
から、エラー発生の状態および分布などを知ることがで
きる。
メモリ部１に記憶させるとともに、対応する信号をｊ頃
次読み出し、マスタコンピュータ内で比較を行なうよう
にすると、そのセクタにおけるデータエラーおよびデー
タエラーレートを容易に測定することができる。また、
書込み信号および読出し信号をシリアル信号のかたちで
メモリ部１に記憶させておき、マスタコンピュータとの
データのやり取りはシリアル／パラレル変換部３を介し
て行なうようにすると、メモリ部１に記憶される信号の
かたちは光ディスクに書き込まれる信号のかたちに一致
しているので、光ディスクへのアクセスを高速に行なう
ことができる。さらに、全ての読出しデータはメモリ部
１に記憶されているので、その記憶位ｆｉ（アドレス）
から、エラー発生の状態および分布などを知ることがで
きる。
なお、上記の説明においては、データのフォーマツ１〜
として、第２図および第３図に示すごときフォーマット
を例示したが、測定する光ディスクのデータフォーマッ
トはこれに限られるものではない。
として、第２図および第３図に示すごときフォーマット
を例示したが、測定する光ディスクのデータフォーマッ
トはこれに限られるものではない。
以上説明したように、本発明の光ディスク検査装置では
、光ディスクのデータ領域に任意のデータを書き込むと
ともにそのデータを読み出しデータエラーレートを測定
するようにした光ディスク検査装置において、光ディス
クに書き込むべき書込み信号を発生するとともにデータ
エラーレートの測定を行なうマスタコンピュータと、１
セクタ分の書込み信号とこれに対応して光ディスクから
読み出された続出し信号とをシリアル信号のかたちで記
憶するメモリ部と、このメモリ部をアクセスするための
アドレス信号を発生するアドレス部と、前記メモリ部側
で扱うシリアル信号と前記マスタコンピュータ側で扱う
パラレル信号との間の相互変換を行なうシリアル／パラ
レル変換部と、前記マスタコンピュータからの指令によ
り前記各部の動作を制御する制御部とを具備し、前記マ
スタコンピュータと前記メモリ部との間の信号のやり取
りを前記シリアル／パラレル変換部を介して行なうよう
にしているので、メモリ部に記・隠される信号のかたち
は光ディスクに書き込まれる信号のかたちに一致してお
り、光ディスクへのアクセスを高速に行なうことができ
るとともに、マスタコンピュータ側でデータエラーレー
トを測定することができ、光ディスクのエラーレイトに
対する測定項目の一つとして、データエラーレイトを測
定することのできる光ディスク検査装置を簡単な構成に
より実現することができる。
、光ディスクのデータ領域に任意のデータを書き込むと
ともにそのデータを読み出しデータエラーレートを測定
するようにした光ディスク検査装置において、光ディス
クに書き込むべき書込み信号を発生するとともにデータ
エラーレートの測定を行なうマスタコンピュータと、１
セクタ分の書込み信号とこれに対応して光ディスクから
読み出された続出し信号とをシリアル信号のかたちで記
憶するメモリ部と、このメモリ部をアクセスするための
アドレス信号を発生するアドレス部と、前記メモリ部側
で扱うシリアル信号と前記マスタコンピュータ側で扱う
パラレル信号との間の相互変換を行なうシリアル／パラ
レル変換部と、前記マスタコンピュータからの指令によ
り前記各部の動作を制御する制御部とを具備し、前記マ
スタコンピュータと前記メモリ部との間の信号のやり取
りを前記シリアル／パラレル変換部を介して行なうよう
にしているので、メモリ部に記・隠される信号のかたち
は光ディスクに書き込まれる信号のかたちに一致してお
り、光ディスクへのアクセスを高速に行なうことができ
るとともに、マスタコンピュータ側でデータエラーレー
トを測定することができ、光ディスクのエラーレイトに
対する測定項目の一つとして、データエラーレイトを測
定することのできる光ディスク検査装置を簡単な構成に
より実現することができる。
第１図は本発明の光ディスク検査装置の一実施例を示す
構成図、第２図および第３図はＩＳＯ規格に基づく光デ
ィスクのセクタフォーマットおよびデータフォーマット
の一例を示す図である。 １・・・・・・メモリ部、２・・・・・・アドレス部、
３・・・・・・シリアル／パラレル変換部、４・・・・
・・制御部、５・・・・・・書込みクロック生成回路、
０１〜Ｇ４・・・・・・ゲート。
構成図、第２図および第３図はＩＳＯ規格に基づく光デ
ィスクのセクタフォーマットおよびデータフォーマット
の一例を示す図である。 １・・・・・・メモリ部、２・・・・・・アドレス部、
３・・・・・・シリアル／パラレル変換部、４・・・・
・・制御部、５・・・・・・書込みクロック生成回路、
０１〜Ｇ４・・・・・・ゲート。
Claims (1)
- 光ディスクのデータ領域に任意のデータを書き込むと
ともにそのデータを読み出しデータエラーレートを測定
するようにした光ディスク検査装置において、光ディス
クに書き込むべき書込み信号を発生するとともにデータ
エラーレートの測定を行なうマスタコンピュータと、１
セクタ分の書込み信号とこれに対応して光ディスクから
読み出された読出し信号とをシリアル信号のかたちで記
憶するメモリ部と、このメモリ部をアクセスするための
アドレス信号を発生するアドレス部と、前記メモリ部側
で扱うシリアル信号と前記マスタコンピュータ側で扱う
パラレル信号との間の相互変換を行なうシリアル／パラ
レル変換部と、前記マスタコンピュータからの指令によ
り前記各部の動作を制御する制御部とを具備し、前記マ
スタコンピュータと前記メモリ部との間の信号のやり取
りを前記シリアル／パラレル変換部を介して行なうよう
にしてなる光ディスク検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17223388A JPH0223551A (ja) | 1988-07-11 | 1988-07-11 | 光ディスク検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17223388A JPH0223551A (ja) | 1988-07-11 | 1988-07-11 | 光ディスク検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0223551A true JPH0223551A (ja) | 1990-01-25 |
Family
ID=15938076
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17223388A Pending JPH0223551A (ja) | 1988-07-11 | 1988-07-11 | 光ディスク検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0223551A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7041416B2 (en) | 2001-10-22 | 2006-05-09 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Photosensitive resin composition, transfer material, image forming method, color filter and producing method thereof and photomask and producing method thereof |
-
1988
- 1988-07-11 JP JP17223388A patent/JPH0223551A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7041416B2 (en) | 2001-10-22 | 2006-05-09 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Photosensitive resin composition, transfer material, image forming method, color filter and producing method thereof and photomask and producing method thereof |
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