JPH0223550A - 光ディスク検査装置 - Google Patents
光ディスク検査装置Info
- Publication number
- JPH0223550A JPH0223550A JP63172231A JP17223188A JPH0223550A JP H0223550 A JPH0223550 A JP H0223550A JP 63172231 A JP63172231 A JP 63172231A JP 17223188 A JP17223188 A JP 17223188A JP H0223550 A JPH0223550 A JP H0223550A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- data
- optical disk
- write
- signals
- ram
- Prior art date
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- Pending
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- Thermal Transfer Or Thermal Recording In General (AREA)
- Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、光ディスクの記録特性を測定する光ディスク
検査装置に関するものである。
検査装置に関するものである。
さらに詳Ｌ＜は、ＩＳＯ規格に基づくデータフォーマッ
トで光ディスクにデータを書き込むとともに、このデー
タを読み出し、データエラーを測定する光ディスク検査
装置に関するものである。
トで光ディスクにデータを書き込むとともに、このデー
タを読み出し、データエラーを測定する光ディスク検査
装置に関するものである。
第２図および第３図はＩＳＯ規格に基づくセクタフォー
マットおよびデータフォーマットの一例を示すものであ
る。
マットおよびデータフォーマットの一例を示すものであ
る。
、二のように、光ディスクにおけるデータフォーマット
が規格化されたことにより、光ディスクの検査時にも、
実際に近い形で光ディスクにデータを書き込むことがで
き、光ディスクのエラーレイトに対する測定項目の−っ
として、データエラーレイトを測定することが可能とな
った。
が規格化されたことにより、光ディスクの検査時にも、
実際に近い形で光ディスクにデータを書き込むことがで
き、光ディスクのエラーレイトに対する測定項目の−っ
として、データエラーレイトを測定することが可能とな
った。
しかしなから、データフォーマットシ）規格化からまだ
間もないので、光ディスク検査装置においてデータエラ
ーレートを測定する機能を持ったものは、実用化されて
いない。
間もないので、光ディスク検査装置においてデータエラ
ーレートを測定する機能を持ったものは、実用化されて
いない。
本発明は、光ディスクのエラーレイトに対する測定項目
の一つとして、データエラーレイトを測定することので
きる光ディスク検査装置を簡単な構成により実現するこ
とを目的としたものである。
の一つとして、データエラーレイトを測定することので
きる光ディスク検査装置を簡単な構成により実現するこ
とを目的としたものである。
本発明の光ディスク検査装置は、光ディスクのデータ領
域に任意のデータを書き込むとともにそのデータを読み
出しデータエラーレートを測定するようにした光ディス
ク検査装置において、１セクタ分の書込み信号および読
出し信号を記憶するメモリ部と、このメモリ部側で汲う
パラレル信号と光ディスク側で扱うシリアル信号との間
の相互変換を行なうシリアル／パラレル変換部と、前記
メモリ部に記憶された書込み信号とこれに対応する読出
し信号とをバイト単位で順次読み出して比較を行ないエ
ラー数のカウントを行なうエラー検出部と、前記各部の
動作を制御する制御部とを具備するようにしたものであ
る。
域に任意のデータを書き込むとともにそのデータを読み
出しデータエラーレートを測定するようにした光ディス
ク検査装置において、１セクタ分の書込み信号および読
出し信号を記憶するメモリ部と、このメモリ部側で汲う
パラレル信号と光ディスク側で扱うシリアル信号との間
の相互変換を行なうシリアル／パラレル変換部と、前記
メモリ部に記憶された書込み信号とこれに対応する読出
し信号とをバイト単位で順次読み出して比較を行ないエ
ラー数のカウントを行なうエラー検出部と、前記各部の
動作を制御する制御部とを具備するようにしたものであ
る。
このように、１セクタ分の書込み信号と読出し信号とを
メモリ部に記憶させるとともに、対応する信号をバイト
単位で１１１次読み出し、比較を行なうようにすると、
データエラーをエラー検出部で検出することができ、こ
のエラー数をカランｌ−することにより、そのセクタに
おけるデータエラーレイトを測定することができる。
メモリ部に記憶させるとともに、対応する信号をバイト
単位で１１１次読み出し、比較を行なうようにすると、
データエラーをエラー検出部で検出することができ、こ
のエラー数をカランｌ−することにより、そのセクタに
おけるデータエラーレイトを測定することができる。
第１図は本発明の光ディスク検査装置の一実施例を示す
構成図である。図において、１は１セクタ分の書込み信
号および続出し信号を記憶するメモリ部、２はこのメモ
リ部１側で扱うパラレル信号と光ディスク側で汲うシリ
アル信号との間の相互変換を行なうシリアル／パラレル
変換部、３はメモリ部１に記憶された書込み信号とこれ
に対応する読出し信号とをバイト単位で順次読み出して
、比較を行ない、エラー数のカウントを行なうエラー検
出部、４は各部の動作を制御する制御部である。また、
ｌａはマスクコンピュータ（図示せず）からのアドレス
バス、ｚｂはデータバス、ｌｃは制御線である。
構成図である。図において、１は１セクタ分の書込み信
号および続出し信号を記憶するメモリ部、２はこのメモ
リ部１側で扱うパラレル信号と光ディスク側で汲うシリ
アル信号との間の相互変換を行なうシリアル／パラレル
変換部、３はメモリ部１に記憶された書込み信号とこれ
に対応する読出し信号とをバイト単位で順次読み出して
、比較を行ない、エラー数のカウントを行なうエラー検
出部、４は各部の動作を制御する制御部である。また、
ｌａはマスクコンピュータ（図示せず）からのアドレス
バス、ｚｂはデータバス、ｌｃは制御線である。
メモリ部１において、１１は書込み信号および読出し信
号を記録するＲＡＭ、１２はＲＡＭＩＩをアクセスする
ためのアドレスを生成するアドレス生成回路である。
号を記録するＲＡＭ、１２はＲＡＭＩＩをアクセスする
ためのアドレスを生成するアドレス生成回路である。
シリアル／パラレル変換部２において、２１はパラレル
信号とシリアル信号との間の相互変換を行なうシフトレ
ジスタ、２２は書込みクロックＷＣＬＫを生成する書込
みクロック生成回路である。
信号とシリアル信号との間の相互変換を行なうシフトレ
ジスタ、２２は書込みクロックＷＣＬＫを生成する書込
みクロック生成回路である。
エラー検出部３において、３１は１バイトの書込み信号
を記憶するライトデータレジスタ、３２は１バイトの読
出し信号を記憶するリードデータレジスタ、３３はこれ
らのレジスタ３１．３２に記憶された信号を比較するコ
ンパレータ、３４はコンパレータ３３から発生されたエ
ラー信号Ｓｅをカウントするエラーカウンタである。
を記憶するライトデータレジスタ、３２は１バイトの読
出し信号を記憶するリードデータレジスタ、３３はこれ
らのレジスタ３１．３２に記憶された信号を比較するコ
ンパレータ、３４はコンパレータ３３から発生されたエ
ラー信号Ｓｅをカウントするエラーカウンタである。
上記のように構成された光ディスク検査装置において、
データエラーレイトの測定動作は次の通りである。
データエラーレイトの測定動作は次の通りである。
データエラーレイトの測定動作には、大きく分けて、光
ディスクの所定のセクタにデータを書き込む書込みモー
ドと、書き込んだデータを読み出しながらデータエラー
を検出する読出しモードとがある。
ディスクの所定のセクタにデータを書き込む書込みモー
ドと、書き込んだデータを読み出しながらデータエラー
を検出する読出しモードとがある。
まず、書込みモードでは、１セクタ分の書込みデータが
マスクコンピュータからＲＡＭＩＩに書き込まれるとと
もに、測定（書込みモード）の開始か要求される。これ
に応じて、制御部４では、書込みモード信号Ｗｒｉｔ、
ｅ Ｍｏｄｅをアクティブにし、書込みクロック生成
回路２２では、書込み要求信号ＷＲＥＱに同期して書込
みパルスＷＣＬＫを生成する。また、制御部４はデータ
クロックＩ）ＣＬＫを基にしてＲＡＭ読出し信号Ｒ，Ａ
ＭＲＤを発生し、ＲＡＭ１１に書き込まれたデータをバ
ス上に出力させる。このデータ（パラレルデータ）はシ
リアル／パラレル変換部２（シフトレジスタ２１）によ
りシリアルデータＷＤＡＴＡに変換され、光ディスクに
書き込まれる。全データの書込みが終了すると、マスク
コンピュータへ別込みをかけ、書込みモードの終了を知
らせる。
マスクコンピュータからＲＡＭＩＩに書き込まれるとと
もに、測定（書込みモード）の開始か要求される。これ
に応じて、制御部４では、書込みモード信号Ｗｒｉｔ、
ｅ Ｍｏｄｅをアクティブにし、書込みクロック生成
回路２２では、書込み要求信号ＷＲＥＱに同期して書込
みパルスＷＣＬＫを生成する。また、制御部４はデータ
クロックＩ）ＣＬＫを基にしてＲＡＭ読出し信号Ｒ，Ａ
ＭＲＤを発生し、ＲＡＭ１１に書き込まれたデータをバ
ス上に出力させる。このデータ（パラレルデータ）はシ
リアル／パラレル変換部２（シフトレジスタ２１）によ
りシリアルデータＷＤＡＴＡに変換され、光ディスクに
書き込まれる。全データの書込みが終了すると、マスク
コンピュータへ別込みをかけ、書込みモードの終了を知
らせる。
次に、読出しモードでは、マスクコンピュータから測定
（読出しモード）の開始が要求され、制御部４は読出し
モード信号Ｒｅａｄ Ｍｏｄｅをアクティブにする。
（読出しモード）の開始が要求され、制御部４は読出し
モード信号Ｒｅａｄ Ｍｏｄｅをアクティブにする。
これにより、シリアル／パラレル変換部２は、光ディス
クから読み出された読出しデータＲＤ Ａ Ｔ Ａが与
えられると、読出しクロックＲＣＬＫに応じて、これを
１バイトずつのパラレルデータに変換する。この続出し
データＲＤ Ａ ’ＦＡは、バイト単位になる毎に、Ｒ
ＡＭＩＩに記憶されるとともに、リードデータレジスタ
３２にラッチされる。また、読出しデータＲＤ Ａ ’
Ｉ’Ａかパラレル変換される間に、読出しデータＲＤＡ
ＴＡに対応した書込みデータがＲＡＭＩＩから読み出さ
れ、ライトデータレジスタ３１にラッチされる。
クから読み出された読出しデータＲＤ Ａ Ｔ Ａが与
えられると、読出しクロックＲＣＬＫに応じて、これを
１バイトずつのパラレルデータに変換する。この続出し
データＲＤ Ａ ’ＦＡは、バイト単位になる毎に、Ｒ
ＡＭＩＩに記憶されるとともに、リードデータレジスタ
３２にラッチされる。また、読出しデータＲＤ Ａ ’
Ｉ’Ａかパラレル変換される間に、読出しデータＲＤＡ
ＴＡに対応した書込みデータがＲＡＭＩＩから読み出さ
れ、ライトデータレジスタ３１にラッチされる。
これらのレジスタ３１．３２にラッチされたデータはコ
ンパレータ３３により比較され、異なっていたときには
、エラー信号Ｓｅが発生される。
ンパレータ３３により比較され、異なっていたときには
、エラー信号Ｓｅが発生される。
このエラー信号Ｓｅはエラーカウンタ３４にカウントさ
れる。
れる。
このようにして全データが読み出され、これに対応した
書込みデータとの比較が終了すると、マスタコンピュー
タへ割込みをかけ、読出しモードの終了を知らせる。こ
こで、エラーカウンタ３４には測定したセクタにおける
データエラーの発生数がカウントされているので、マス
クコンピュータでは、これを基にしてデータエラーレイ
トを容易に計算することができる。このとき、書込みデ
ータと読出しデータとの比較をエラー検出部３で行なっ
ているので、多数のデータの処理を効率良く、高速で行
なうことができる。また、全ての読出しデータはＲＡＭ
ＩＩに記憶されているので、その記憶位置くアドレス）
から、エラー発生の状態および分布などを知ることかで
きる。
書込みデータとの比較が終了すると、マスタコンピュー
タへ割込みをかけ、読出しモードの終了を知らせる。こ
こで、エラーカウンタ３４には測定したセクタにおける
データエラーの発生数がカウントされているので、マス
クコンピュータでは、これを基にしてデータエラーレイ
トを容易に計算することができる。このとき、書込みデ
ータと読出しデータとの比較をエラー検出部３で行なっ
ているので、多数のデータの処理を効率良く、高速で行
なうことができる。また、全ての読出しデータはＲＡＭ
ＩＩに記憶されているので、その記憶位置くアドレス）
から、エラー発生の状態および分布などを知ることかで
きる。
なお、上記の説明においては、データのフォマットとし
て、第２図および第３図に示すごときフォーマットを例
示したが、測定する光ディスクのデータフォーマットは
これに限られるものではない。
て、第２図および第３図に示すごときフォーマットを例
示したが、測定する光ディスクのデータフォーマットは
これに限られるものではない。
以上説明したように、本発明の光ディスク検査装置では
、光ディスクのデータ領域に任意のデータを書き込むと
ともにそのデータを読み出しデータエラーレートを測定
するようにした光ディスク検査装置において、１セクタ
分の書込み信号および続出し信号を記憶するメモリ部と
、このメモリ部側で扱うパラレル信号と光ディスク側で
扱うシリアル信号との間の相互変換を行なうシリアル／
パラレル変換部と、前記メモリ部に記憶された書込み信
号とこれに対応する読出し信号とをバイト単位で順次読
み出して比較を行ないエラー数のカウントを行なうエラ
ー検出部と、前記各部の動作を制御する制御部とを具備
するようにしているので、データエラーをエラー検出部
で検出することができ、光ディスクのエラーレイトに対
する測定項目の一つとして、データエラーレイトを測定
することのできる光ディスク検査装置を簡単な構成によ
り実現することができる。
、光ディスクのデータ領域に任意のデータを書き込むと
ともにそのデータを読み出しデータエラーレートを測定
するようにした光ディスク検査装置において、１セクタ
分の書込み信号および続出し信号を記憶するメモリ部と
、このメモリ部側で扱うパラレル信号と光ディスク側で
扱うシリアル信号との間の相互変換を行なうシリアル／
パラレル変換部と、前記メモリ部に記憶された書込み信
号とこれに対応する読出し信号とをバイト単位で順次読
み出して比較を行ないエラー数のカウントを行なうエラ
ー検出部と、前記各部の動作を制御する制御部とを具備
するようにしているので、データエラーをエラー検出部
で検出することができ、光ディスクのエラーレイトに対
する測定項目の一つとして、データエラーレイトを測定
することのできる光ディスク検査装置を簡単な構成によ
り実現することができる。
第１図は本発明の光ディスク検査装置の一実施例を示す
構成図、第２図および第３図はＩＳＯ規格に基づく光デ
ィスクのセクタフォーマットお上びデータフォーマット
の一例を示す図である。 ■・・・・・・メモリ部、１１・・・・・・ＲＡＭ、１
２・・・・・・アドレス生成回路、２・・・・・・シリ
アル／パラレル変換部、２１・・・晶シフトレジスタ、
２２・・・・・・書込みクロック生成回路、３・・・・
・・エラー検出部、３１・旧・・ライトデータレジスタ
、３２・・・・・・リードデータレジスタ、３３・・・
・・・コンパレータ、３４・・川・エラカウンタ、４・
・・・・・制御部。
構成図、第２図および第３図はＩＳＯ規格に基づく光デ
ィスクのセクタフォーマットお上びデータフォーマット
の一例を示す図である。 ■・・・・・・メモリ部、１１・・・・・・ＲＡＭ、１
２・・・・・・アドレス生成回路、２・・・・・・シリ
アル／パラレル変換部、２１・・・晶シフトレジスタ、
２２・・・・・・書込みクロック生成回路、３・・・・
・・エラー検出部、３１・旧・・ライトデータレジスタ
、３２・・・・・・リードデータレジスタ、３３・・・
・・・コンパレータ、３４・・川・エラカウンタ、４・
・・・・・制御部。
Claims (1)
- 光ディスクのデータ領域に任意のデータを書き込むとと
もにそのデータを読み出しデータエラーレートを測定す
るようにした光ディスク検査装置において、１セクタ分
の書込み信号および読出し信号を記憶するメモリ部と、
このメモリ部側で扱うパラレル信号と光ディスク側で扱
うシリアル信号との間の相互変換を行なうシリアル／パ
ラレル変換部と、前記メモリ部に記憶された書込み信号
とこれに対応する読出し信号とをバイト単位で順次読み
出して比較を行ないエラー数のカウントを行なうエラー
検出部と、前記各部の動作を制御する制御部とを具備し
てなる光ディスク検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63172231A JPH0223550A (ja) | 1988-07-11 | 1988-07-11 | 光ディスク検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63172231A JPH0223550A (ja) | 1988-07-11 | 1988-07-11 | 光ディスク検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0223550A true JPH0223550A (ja) | 1990-01-25 |
Family
ID=15938034
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63172231A Pending JPH0223550A (ja) | 1988-07-11 | 1988-07-11 | 光ディスク検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0223550A (ja) |
-
1988
- 1988-07-11 JP JP63172231A patent/JPH0223550A/ja active Pending
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