JPH02240842A - 溶融消去可能な相変化光ディスク - Google Patents
溶融消去可能な相変化光ディスクInfo
- Publication number
- JPH02240842A JPH02240842A JP1060930A JP6093089A JPH02240842A JP H02240842 A JPH02240842 A JP H02240842A JP 1060930 A JP1060930 A JP 1060930A JP 6093089 A JP6093089 A JP 6093089A JP H02240842 A JPH02240842 A JP H02240842A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- film
- phase change
- recording film
- recording
- erasing
- Prior art date
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- Pending
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- Optical Record Carriers And Manufacture Thereof (AREA)
- Thermal Transfer Or Thermal Recording In General (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔曲業上の利用分野〕
本発明は溶融消去可能な相涙化元ディスクにかかわり、
%に、単一ビームオーバライト時に高い消去比を得るの
に好適な溶融消去可能な相五化元ディスクに関する。
%に、単一ビームオーバライト時に高い消去比を得るの
に好適な溶融消去可能な相五化元ディスクに関する。
相変北方式元ディスクの単一ビームオーバライトについ
ては、電子情@Ag1学会ffL術情死報告、II 学
& 11、Vat 、 87 、 A 510、CPM
87−88 。
ては、電子情@Ag1学会ffL術情死報告、II 学
& 11、Vat 、 87 、 A 510、CPM
87−88 。
89.90に述べられている。
また、記録膜に隣倣して別の議を設けることについては
、%1lW360−1600.57号公報に、記録膜よ
り300℃以上融点の高い農を設けることか記載されて
いる。
、%1lW360−1600.57号公報に、記録膜よ
り300℃以上融点の高い農を設けることか記載されて
いる。
(発明が解決しようとする峰題〕
上記従来技術は、消去に融点以下の固相状態での結1化
を用い、記録層な相変化させる場合におい工記軸時にの
み融点以上に加熱しており、消し残りt−溶融消去する
とい5層想かなされ℃いないので、高い消去比が得られ
ないという問題かあった。また、記録膜の相変化a故で
の元吸収率変化についての配慮がなされておらず、浴−
消去方式単一ビームオーバライト時に動作が不安定にな
りて消し残りを生じ、データの置き換え後のエラーレー
)’t−A<してしま5゜このために、哄動作か生じる
という問題があった。
を用い、記録層な相変化させる場合におい工記軸時にの
み融点以上に加熱しており、消し残りt−溶融消去する
とい5層想かなされ℃いないので、高い消去比が得られ
ないという問題かあった。また、記録膜の相変化a故で
の元吸収率変化についての配慮がなされておらず、浴−
消去方式単一ビームオーバライト時に動作が不安定にな
りて消し残りを生じ、データの置き換え後のエラーレー
)’t−A<してしま5゜このために、哄動作か生じる
という問題があった。
本発明の目的は、溶融消去方式単一ビームオーパライト
の動作を安定にし、消し残りの発生を抑制して誤動作を
生じることのない相変化後ディスクを提供することにあ
る。
の動作を安定にし、消し残りの発生を抑制して誤動作を
生じることのない相変化後ディスクを提供することにあ
る。
上記目的は、溶融消去可能な相変化後ディスクにおいて
、相変化記録膜のレーザ光照射の反対側面に隣撤して光
吸収膜な設けることにより、連成される。
、相変化記録膜のレーザ光照射の反対側面に隣撤して光
吸収膜な設けることにより、連成される。
以下、上記構成による作用について詳説する。
まず、本願発明者らが行った溶融消去方式単一ビームオ
ーバライトにかかわる探索と見いだした事柄について説
明する。探索には、萬S図に示す樽成のディスクを用い
た。このディスクは、基板1上に、m1干渉M2として
S i 、N4g 、相変化記録編(以下記録編と記す
)5としてInSbTg 膜。
ーバライトにかかわる探索と見いだした事柄について説
明する。探索には、萬S図に示す樽成のディスクを用い
た。このディスクは、基板1上に、m1干渉M2として
S i 、N4g 、相変化記録編(以下記録編と記す
)5としてInSbTg 膜。
第2干渉ji5としてSt、N、膜、反射層6としてA
μ展、保護膜7としてS * 、N4農を、順vc成編
してなるものである。
μ展、保護膜7としてS * 、N4農を、順vc成編
してなるものである。
第2図は、このディスクを回転させながら元ピックアッ
プによりレーザ光を照射し、記録編を融点7’s以上に
加熱したとぎの加熱温良と、加熱恢の冷却過程で、記録
編が最も結晶化しゃすくなり【いる融点以下の結晶化温
度域を通過する際の冷却速度との関係を示した図である
。図中、実−21で示したように、加熱温良を尚(する
と、冷却速度Vcは速くなる。
プによりレーザ光を照射し、記録編を融点7’s以上に
加熱したとぎの加熱温良と、加熱恢の冷却過程で、記録
編が最も結晶化しゃすくなり【いる融点以下の結晶化温
度域を通過する際の冷却速度との関係を示した図である
。図中、実−21で示したように、加熱温良を尚(する
と、冷却速度Vcは速くなる。
ここで、記録膜を溶融後急冷することによりて非lII
質化できるか否かをきめる錫界冷却速[(記録編の物性
値)を図中破@22で示した値に選べは(すなわち所足
の臨界冷却速度を有する記録膜材料11−遺べば)、実
[1121と破@22の交点23に対応する温j[7’
s以上に加熱したときに、記録編の檜却速1[Vcは臨
界冷却速度より速くなり、記f&濃は急冷されて溶融状
態がクエンチされ、記録編は非晶質にすることかできる
。すなわち、記録ができる。
質化できるか否かをきめる錫界冷却速[(記録編の物性
値)を図中破@22で示した値に選べは(すなわち所足
の臨界冷却速度を有する記録膜材料11−遺べば)、実
[1121と破@22の交点23に対応する温j[7’
s以上に加熱したときに、記録編の檜却速1[Vcは臨
界冷却速度より速くなり、記f&濃は急冷されて溶融状
態がクエンチされ、記録編は非晶質にすることかできる
。すなわち、記録ができる。
−万、貢1ii121と@−22の交点25に対応する
温度18以下かつ融点T隅以上の温度で加熱したときは
、記録編はいったん溶融するものの、この場合には記録
編の冷却速PLfcは臨界冷却速度よりも遅くなり、記
録編は急冷されず徐冷されるために再結晶化を生じて、
記録膜な結晶和することができる。
温度18以下かつ融点T隅以上の温度で加熱したときは
、記録編はいったん溶融するものの、この場合には記録
編の冷却速PLfcは臨界冷却速度よりも遅くなり、記
録編は急冷されず徐冷されるために再結晶化を生じて、
記録膜な結晶和することができる。
すなわち、消去ができる。
上述のようK、溶融消去方式単一ビームオーバライトで
は□、記録膜をいりたん融点以上に加熱溶融して、オー
バライド前の記録編の前歴な溶融消去することによりて
%消し残りな抑制しながら、記録膜の非晶3![(記録
)と結晶(消去)間の相変化が可能となり、肯い消去比
と高いCAN比(=?ヤリア対ノイズ比)が得られる。
は□、記録膜をいりたん融点以上に加熱溶融して、オー
バライド前の記録編の前歴な溶融消去することによりて
%消し残りな抑制しながら、記録膜の非晶3![(記録
)と結晶(消去)間の相変化が可能となり、肯い消去比
と高いCAN比(=?ヤリア対ノイズ比)が得られる。
以上で溶融消去方式単一ビームオーバライトの基本原理
な、記録膜の加熱温良と冷却速度との関係を用いて説明
した。しかし、元ディスクでの翼体的加熱手段はレーザ
光の照射であり、刃口熱温度はレーザ光の照射パワーで
制御することになるが以下、この点について説明する。
な、記録膜の加熱温良と冷却速度との関係を用いて説明
した。しかし、元ディスクでの翼体的加熱手段はレーザ
光の照射であり、刃口熱温度はレーザ光の照射パワーで
制御することになるが以下、この点について説明する。
第4図は、第2図の加熱@置の代りにレーザ照射パワー
を横軸にとり1膏き改めた図である。図中、実巌41は
記録膜が非晶買状闇にあるときの、また実$42は記録
膜が結晶状態にあるときの、それぞれレーザ光照射パワ
ーと冷却速度との関係な示したものである。なお、記録
膜の臨界冷却速度は破−45で示した値である。
を横軸にとり1膏き改めた図である。図中、実巌41は
記録膜が非晶買状闇にあるときの、また実$42は記録
膜が結晶状態にあるときの、それぞれレーザ光照射パワ
ーと冷却速度との関係な示したものである。なお、記録
膜の臨界冷却速度は破−45で示した値である。
上図において、実蝋41と破@45の交点に対応するレ
ーザ照射パワー以上の領域においては、記録膜の冷却速
度は非晶質の場合も結晶の場合も臨界冷却速度以上とな
り、記録編は前歴&l1%なく非晶質に相変化する。ま
た、実−42と破@42の交点に対応するレーザ照射パ
ワー以下の領域においては、記録編の冷却速度は非晶質
の場合も結晶の場合も臨界冷却速度以下となり、記録膜
は111aK−係なく再結晶化し【結11&に相変化す
る。しかしながら、上記2つの交点間に対応するレーザ
照射パワーの領域においては、結晶相の冷却速度は臨界
冷却速度を越え非晶質化するものの、非晶質相の冷却速
度は臨界冷却速F!Lを越えないために再結晶化してし
まう。すなわち、このレーザ照射パワー領域では、記録
膜の相変化なレーザ照射パワーによりて決定することが
できず、相変化は前歴によって異なってくる。このため
、前歴による消し残りが発生し、誤動作を生じることに
なる。
ーザ照射パワー以上の領域においては、記録膜の冷却速
度は非晶質の場合も結晶の場合も臨界冷却速度以上とな
り、記録編は前歴&l1%なく非晶質に相変化する。ま
た、実−42と破@42の交点に対応するレーザ照射パ
ワー以下の領域においては、記録編の冷却速度は非晶質
の場合も結晶の場合も臨界冷却速度以下となり、記録膜
は111aK−係なく再結晶化し【結11&に相変化す
る。しかしながら、上記2つの交点間に対応するレーザ
照射パワーの領域においては、結晶相の冷却速度は臨界
冷却速度を越え非晶質化するものの、非晶質相の冷却速
度は臨界冷却速F!Lを越えないために再結晶化してし
まう。すなわち、このレーザ照射パワー領域では、記録
膜の相変化なレーザ照射パワーによりて決定することが
できず、相変化は前歴によって異なってくる。このため
、前歴による消し残りが発生し、誤動作を生じることに
なる。
溶融消去方式単一ビームオーバライトにおいて前歴によ
る消し残りを抑さえ、誤動作をな(すためには、前記し
た前歴に依存した相変化が発生するレーザ照射パワーの
領域の幅を極力抑制しなければならない。このためには
、記録膜の相変化に伴な5党吸収率の変化を小さくする
ことが必要である。
る消し残りを抑さえ、誤動作をな(すためには、前記し
た前歴に依存した相変化が発生するレーザ照射パワーの
領域の幅を極力抑制しなければならない。このためには
、記録膜の相変化に伴な5党吸収率の変化を小さくする
ことが必要である。
本発明では、記録[l!に隣接してft、ta収襄を設
けた構成により、記録膜と光吸収膜とは熱的に一体とな
って動作する。このため、記録膜を加熱する熱源は、記
録膜が吸収するレーザ光パワーと、光吸収膜が吸収する
レーザ光パワーとの和になる。
けた構成により、記録膜と光吸収膜とは熱的に一体とな
って動作する。このため、記録膜を加熱する熱源は、記
録膜が吸収するレーザ光パワーと、光吸収膜が吸収する
レーザ光パワーとの和になる。
このよ5に、熱源光パワーの一定量を記録膜の相変化に
関係のない光吸収膜に分担されることにより、相変化に
よりて生じる光吸収率の変化を小さく抑えることができ
る。
関係のない光吸収膜に分担されることにより、相変化に
よりて生じる光吸収率の変化を小さく抑えることができ
る。
〔冥21III例〕
以下、本発明による元ディスクの一実施例を纂1図を用
いて説明する。
いて説明する。
この光ディスクは、案内111を設けた透明な基板1上
に、第1干渉裏2としてSh九膜7Q3m、記録膜5と
してIn5bT−系相変化展を55綿、光吸収調整用の
光吸収膜4としてF換t10nm、第2干渉[5として
S * 、N、膜を70關、反射M6としてAtb@を
100綿、保1に族7としてSi 、N、jglを11
00aの厚すで、順次スパッタリングにより成展した構
成となっている。
に、第1干渉裏2としてSh九膜7Q3m、記録膜5と
してIn5bT−系相変化展を55綿、光吸収調整用の
光吸収膜4としてF換t10nm、第2干渉[5として
S * 、N、膜を70關、反射M6としてAtb@を
100綿、保1に族7としてSi 、N、jglを11
00aの厚すで、順次スパッタリングにより成展した構
成となっている。
本実施例においては、光吸収ja4が記録膜5にi4g
!シて形成されているために、光吸収膜4と記録膜3と
は熱的に一体となり℃動作することができる。このため
、前に作用の橢で説明したよ5K。
!シて形成されているために、光吸収膜4と記録膜3と
は熱的に一体となり℃動作することができる。このため
、前に作用の橢で説明したよ5K。
光吸収の機能の一部をとの相変化に依存しない光吸収膜
4に分担させることにより、全体の光吸収率の変゛化を
小さくすることができる。
4に分担させることにより、全体の光吸収率の変゛化を
小さくすることができる。
具体例を述べると1光吸収属4な設けない場合、記録膜
5が非晶質のときの光吸収率が58−%紀鯨膜5が結晶
のときの光吸収率が80%で、その変化比が約1・4倍
であったものが1本夾厖゛例においては、記録@Sが非
晶質のときの光吸収率が74%。
5が非晶質のときの光吸収率が58−%紀鯨膜5が結晶
のときの光吸収率が80%で、その変化比が約1・4倍
であったものが1本夾厖゛例においては、記録@Sが非
晶質のときの光吸収率が74%。
記録W!45が結晶のときの光吸収率が88%となり、
その変化比を約1.2倍と小さくすることができた。
その変化比を約1.2倍と小さくすることができた。
上記の結果として、第5図に示すよ5に、相変化が前歴
に依存する領域(実$151と破@550交点く対応す
るレーザ照射パワーと、実権52と破線5Sの交点に対
応するレーザ照射パワーとの間の領域)を、WL4図に
比べて狭(することができ、これによって、溶融消去動
作方式による畳き換え(結晶化あるいは非晶質化)の動
作に余裕をもたせ【安定圧することができるという効果
かある。
に依存する領域(実$151と破@550交点く対応す
るレーザ照射パワーと、実権52と破線5Sの交点に対
応するレーザ照射パワーとの間の領域)を、WL4図に
比べて狭(することができ、これによって、溶融消去動
作方式による畳き換え(結晶化あるいは非晶質化)の動
作に余裕をもたせ【安定圧することができるという効果
かある。
第6図は、上記実施例の元ディスクを1800rp講で
回転させ、波長850ル隅のレーザ光を消去パワー9r
4;’ 、記録パワー1 saFで、前歴依存パワー域
の内外gaK動作点!r:設定するとともに、これらの
動作点が記録膜の融点600℃(レーザパワーでは錦l
相当)以上にし、溶融消去動作にょるオーバライドを行
ったとぎの、Vぎ換え回数(オーバライド回数)とノイ
ズレベルおよび消去比との関係を示した図である。
回転させ、波長850ル隅のレーザ光を消去パワー9r
4;’ 、記録パワー1 saFで、前歴依存パワー域
の内外gaK動作点!r:設定するとともに、これらの
動作点が記録膜の融点600℃(レーザパワーでは錦l
相当)以上にし、溶融消去動作にょるオーバライドを行
ったとぎの、Vぎ換え回数(オーバライド回数)とノイ
ズレベルおよび消去比との関係を示した図である。
図において、実−61および62は本実施例でのそれぞ
れノイズレベルと消去比を示し、破418!65および
64は光吸収膜のない場合のそれぞれノイズレベルと消
去比を示している。図に示すよ5に、本実施例では前歴
に依存する不安定な領域が小さ(できているために、従
来例よりも低ノイズかつ高消去比となり、また、普き喪
えを繰り返した恢のノイズの増加、消去比の低下も抑制
されている。
れノイズレベルと消去比を示し、破418!65および
64は光吸収膜のない場合のそれぞれノイズレベルと消
去比を示している。図に示すよ5に、本実施例では前歴
に依存する不安定な領域が小さ(できているために、従
来例よりも低ノイズかつ高消去比となり、また、普き喪
えを繰り返した恢のノイズの増加、消去比の低下も抑制
されている。
以上、本発明の一部り例を説明したが、本発明は上記実
施例で用いた膜材料、m厚vc@足されるものではない
。すなわち、記録製材料としては、In5bT−系材料
以外にも、Inch 、 SbTg 、 Gg5bTa
、Sham、Sb5gB1 f使用することができ、ま
た、干渉膜材料としては、s=、s、以外にもAIN、
5iO1ZnS 、 7”amOsを使用することか
でき、さらに、反射膜とし【は、Aμ以外の^反射率の
金属を使用することができる。なお、光吸収膜とし℃は
、高融点金属が好ましく、lI’ 、 Me 、 Cr
がよい。
施例で用いた膜材料、m厚vc@足されるものではない
。すなわち、記録製材料としては、In5bT−系材料
以外にも、Inch 、 SbTg 、 Gg5bTa
、Sham、Sb5gB1 f使用することができ、ま
た、干渉膜材料としては、s=、s、以外にもAIN、
5iO1ZnS 、 7”amOsを使用することか
でき、さらに、反射膜とし【は、Aμ以外の^反射率の
金属を使用することができる。なお、光吸収膜とし℃は
、高融点金属が好ましく、lI’ 、 Me 、 Cr
がよい。
本発明によれば、浴#Ii消去方式相涙化元ディスクに
おいて、記録膜の相変化による光吸収率の菱化を小さく
できるので、溶融消去動作における書き換え後の相変化
が前歴に依存するレーザ照射パワーの領域を続くするこ
とができ、従ってレーザ照射パワーのみによりて相変化
が決定する安定動作域を拡大できるので、前歴の消し残
りに基因する誤動作をなくすことができる効果がある。
おいて、記録膜の相変化による光吸収率の菱化を小さく
できるので、溶融消去動作における書き換え後の相変化
が前歴に依存するレーザ照射パワーの領域を続くするこ
とができ、従ってレーザ照射パワーのみによりて相変化
が決定する安定動作域を拡大できるので、前歴の消し残
りに基因する誤動作をなくすことができる効果がある。
#!1図は本発明による元ディスクの一実施例の構成を
示す断面図、畠2図は溶融消去動作を説明するための図
、萬5図は籐2図の動作説明のために用いた元ディスク
の#llll1.な示す断面図、論4図および@5図は
元ディスクの動作を説明するための図、第6図は前記実
施例の効果を示す図である。 1・・・基板 2・・・纂1干渉膜s−&
:嫌114 4 ”・ftaJj$c換5・
・・第2干渉11 6・・・反射膜7・・・保護
膜 紀f東ALの社、!、Ttn 殆3図
示す断面図、畠2図は溶融消去動作を説明するための図
、萬5図は籐2図の動作説明のために用いた元ディスク
の#llll1.な示す断面図、論4図および@5図は
元ディスクの動作を説明するための図、第6図は前記実
施例の効果を示す図である。 1・・・基板 2・・・纂1干渉膜s−&
:嫌114 4 ”・ftaJj$c換5・
・・第2干渉11 6・・・反射膜7・・・保護
膜 紀f東ALの社、!、Ttn 殆3図
Claims (1)
- 1、透明基板上に相変化記録膜を有し、レーザ光照射に
よって該記録膜をその融点以上に加熱したときに、加熱
温度に従って非晶質と溶融後の再結晶化により生じる結
晶との間で相変化をすることを利用した溶融消去可能な
相変化後ディスクにおいて、前記記録膜のレーザ光照射
の反対側面に隣接して光吸収膜を設けたことを特徴とす
る溶融消去可能な相変化光ディスク。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1060930A JPH02240842A (ja) | 1989-03-15 | 1989-03-15 | 溶融消去可能な相変化光ディスク |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1060930A JPH02240842A (ja) | 1989-03-15 | 1989-03-15 | 溶融消去可能な相変化光ディスク |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02240842A true JPH02240842A (ja) | 1990-09-25 |
Family
ID=13156594
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1060930A Pending JPH02240842A (ja) | 1989-03-15 | 1989-03-15 | 溶融消去可能な相変化光ディスク |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02240842A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05159360A (ja) * | 1991-12-10 | 1993-06-25 | Nec Corp | 相変化型光ディスク |
| EP0683485A1 (en) | 1994-05-20 | 1995-11-22 | Nec Corporation | Phase change type optical disk |
-
1989
- 1989-03-15 JP JP1060930A patent/JPH02240842A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05159360A (ja) * | 1991-12-10 | 1993-06-25 | Nec Corp | 相変化型光ディスク |
| EP0683485A1 (en) | 1994-05-20 | 1995-11-22 | Nec Corporation | Phase change type optical disk |
| JPH07320298A (ja) * | 1994-05-20 | 1995-12-08 | Nec Corp | 相変化型光ディスク |
| US5521901A (en) * | 1994-05-20 | 1996-05-28 | Nec Corporation | Re-writable phase change type optical disk with suppressed recording mark distortion |
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