JPH02242525A - 積層セラミックコンデンサ - Google Patents
積層セラミックコンデンサInfo
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- JPH02242525A JPH02242525A JP1062477A JP6247789A JPH02242525A JP H02242525 A JPH02242525 A JP H02242525A JP 1062477 A JP1062477 A JP 1062477A JP 6247789 A JP6247789 A JP 6247789A JP H02242525 A JPH02242525 A JP H02242525A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
3へ−7
本発明は誘電率、絶縁抵抗、絶縁破壊電圧が高く良好度
QKすぐれ、容量温度係数が小さく、かつ積層セラミッ
クコンデンサへの利用においては、内部電極の厚みを薄
くしたときの静電容量と良好度Qの低下を防ぎ、静電容
量と良好度Qのバラツキを小さくできる誘電体磁器組成
物に関するものである。
QKすぐれ、容量温度係数が小さく、かつ積層セラミッ
クコンデンサへの利用においては、内部電極の厚みを薄
くしたときの静電容量と良好度Qの低下を防ぎ、静電容
量と良好度Qのバラツキを小さくできる誘電体磁器組成
物に関するものである。
従来の技術
従来から誘電率、絶縁抵抗が高く、良好度Qにすぐれ、
容量温度係数が小さい誘電体磁器組成物として下記のよ
うな系が知られている。
容量温度係数が小さい誘電体磁器組成物として下記のよ
うな系が知られている。
−Ba0−TiO2−Nd203系
−BaO−Ti02− Sm 203系発明が解決しよ
うとする課題 しかし、これらの組成、例えば0.11 BuOO,6
8TiO2−0,21Nd203の組成比からなる誘電
体材料を使用し、パラジウムの内部電極厚み4/Zm、
誘電体厚み1271m、内部電極の重なジオ法1.2m
+nX0.γ団、誘電体層数19の積層構造をもつ積層
セラミックコンデンザを作製すると、静電容量の平均値
ニア42pF、良好度Qの平均値二8700、容量温度
係数の平均値: NN35pp/’C。
うとする課題 しかし、これらの組成、例えば0.11 BuOO,6
8TiO2−0,21Nd203の組成比からなる誘電
体材料を使用し、パラジウムの内部電極厚み4/Zm、
誘電体厚み1271m、内部電極の重なジオ法1.2m
+nX0.γ団、誘電体層数19の積層構造をもつ積層
セラミックコンデンザを作製すると、静電容量の平均値
ニア42pF、良好度Qの平均値二8700、容量温度
係数の平均値: NN35pp/’C。
絶縁抵抗の平均値: 6.OX 1012Ω、絶縁破壊
強度の平均値: 117 KV/、 であり、絶縁抵
抗と絶縁破壊強度において満足できる値で々い。
強度の平均値: 117 KV/、 であり、絶縁抵
抗と絶縁破壊強度において満足できる値で々い。
また、積層セラミックコンデンサのコスI−タウンを行
うため、及び素体内部の構造欠陥であるデラミネーショ
ンの発生を防ぐため、パラジウムの内部電極厚みを4μ
mから2μm に薄くすると、上記の組成比の誘電体拐
料を使用し、上記の誘電体厚み、内部電極重なシ寸法、
誘電体層数の積層構造をもつ積層セラミックコンデンサ
の静電容量の平均値が、610pFと小さくなるととも
に静電容量のバラツキが256〜713pFと大きくな
る。さらに、良好度Qの平均値も4000と低くなると
ともに良好度Qのバラツキが6o○〜8800と大きく
なるという課題があった。
うため、及び素体内部の構造欠陥であるデラミネーショ
ンの発生を防ぐため、パラジウムの内部電極厚みを4μ
mから2μm に薄くすると、上記の組成比の誘電体拐
料を使用し、上記の誘電体厚み、内部電極重なシ寸法、
誘電体層数の積層構造をもつ積層セラミックコンデンサ
の静電容量の平均値が、610pFと小さくなるととも
に静電容量のバラツキが256〜713pFと大きくな
る。さらに、良好度Qの平均値も4000と低くなると
ともに良好度Qのバラツキが6o○〜8800と大きく
なるという課題があった。
課題を解決するための手段
これらの課題を解決するために本発明は、一般式
%式%
と表わした時(ただし、X+7+Z=1.O○。
Re OばLa2O3,Pr201./3. Nd2O
3,Sm、、03の中から選ばれる少なくとも1種以上
の希土類元素の酸化物。)、x+ V r zが以下に
表わす各点色。
3,Sm、、03の中から選ばれる少なくとも1種以上
の希土類元素の酸化物。)、x+ V r zが以下に
表わす各点色。
b、c、d、e、fで囲まれるモル比の範囲からなる主
成分100重量部に対して、副成分としてニオブ酸化物
をNb2o5に換算して0.3〜8.0重量部含有した
ことを特徴とする誘電体磁器組成物を提案するものであ
る。
成分100重量部に対して、副成分としてニオブ酸化物
をNb2o5に換算して0.3〜8.0重量部含有した
ことを特徴とする誘電体磁器組成物を提案するものであ
る。
t1
作用
第1図は本発明にかかる組成物の主成分の組成範囲を示
す三元図でちゃ、主成分の組成範囲を限定した理由を第
1図を参照しながら説明する。すなわち、人領域では焼
結が著しく困難である。甘だ、B領域では良好度Qが低
下し実用的でなくなる。さらに、C,D領域では温度係
数がマイナス側に犬きくなり過ぎて実用的でなくなる。
す三元図でちゃ、主成分の組成範囲を限定した理由を第
1図を参照しながら説明する。すなわち、人領域では焼
結が著しく困難である。甘だ、B領域では良好度Qが低
下し実用的でなくなる。さらに、C,D領域では温度係
数がマイナス側に犬きくなり過ぎて実用的でなくなる。
そして、E領域では容量温度係数がプラス方向に移行す
るが誘電率が小さく実用的でなくなる。また、Re20
゜f La205. Pr20.、/3. Nd2O3
,Sm2O3から選ぶこトに、lI: り、La、、0
5. Pr20.、/3. Nd2O3,Sm203(
7)順で誘電率を大きく下げることなく温度係数全プラ
ス方向に移行することが可能であり、La2O3゜Pr
2011/3.Nd2o6,5m2o5ノ1種あるいは
組合せにより容量温度係数の調節が可能である。
るが誘電率が小さく実用的でなくなる。また、Re20
゜f La205. Pr20.、/3. Nd2O3
,Sm2O3から選ぶこトに、lI: り、La、、0
5. Pr20.、/3. Nd2O3,Sm203(
7)順で誘電率を大きく下げることなく温度係数全プラ
ス方向に移行することが可能であり、La2O3゜Pr
2011/3.Nd2o6,5m2o5ノ1種あるいは
組合せにより容量温度係数の調節が可能である。
第2図は本発明にかかる組成物の主成分に対し、副成分
Nb2O5の含有効果を積層セラミックコンデンサの特
性で示すグラフであり、Nb2O5の含有範囲を限定し
た理由をグラフを参照しながら説明7 △ する。第2図に示すようにNb2O5を含有することに
より、絶縁抵抗、絶縁破壊強度、良好度Qが向上し、捷
た静電容量を高め、静電容量のバラツキを小さくする効
果を有する。このNb2O5の含有により、絶縁抵抗、
絶縁破壊強度は向上するが、Nb2O5の含有量が主成
分100重量部に対し、0.3重量部未満ではそれほど
絶縁破壊強度が大きくなく、静電容量と良好度Qが低く
、また静電容量と良好度Qのバラツキが太きいため、こ
の発明の範囲から除外した。一方、Nb2o5の含有量
が主成分に対し、8,0重量部を超えると良好度Q、絶
縁抵抗が低下し、容量温度係数がマイナス側に太きくな
り、さらに静電容量の温度変化の直線性が失なわれ実用
的でなくなる。
Nb2O5の含有効果を積層セラミックコンデンサの特
性で示すグラフであり、Nb2O5の含有範囲を限定し
た理由をグラフを参照しながら説明7 △ する。第2図に示すようにNb2O5を含有することに
より、絶縁抵抗、絶縁破壊強度、良好度Qが向上し、捷
た静電容量を高め、静電容量のバラツキを小さくする効
果を有する。このNb2O5の含有により、絶縁抵抗、
絶縁破壊強度は向上するが、Nb2O5の含有量が主成
分100重量部に対し、0.3重量部未満ではそれほど
絶縁破壊強度が大きくなく、静電容量と良好度Qが低く
、また静電容量と良好度Qのバラツキが太きいため、こ
の発明の範囲から除外した。一方、Nb2o5の含有量
が主成分に対し、8,0重量部を超えると良好度Q、絶
縁抵抗が低下し、容量温度係数がマイナス側に太きくな
り、さらに静電容量の温度変化の直線性が失なわれ実用
的でなくなる。
本発明はさらに、上記組成物に、マンガン、亜鉛、鉄及
びケイ素の酸化物から選ばれる少なくとも1種以上を、
それぞれMnO2,ZnO、Fe2O3及びSiO2に
換算して主成分と副成分を合わせた100重量部に対し
、0.05〜1.00玉量部添加せしめた構成とするこ
とができる。これらの添加物は磁器の焼結性を向上させ
る効果を有し、その添加量が0.05重量部未満では添
加効果はなく、1.00重量部を超えると誘電率が低下
し実用的でなくなる。
びケイ素の酸化物から選ばれる少なくとも1種以上を、
それぞれMnO2,ZnO、Fe2O3及びSiO2に
換算して主成分と副成分を合わせた100重量部に対し
、0.05〜1.00玉量部添加せしめた構成とするこ
とができる。これらの添加物は磁器の焼結性を向上させ
る効果を有し、その添加量が0.05重量部未満では添
加効果はなく、1.00重量部を超えると誘電率が低下
し実用的でなくなる。
実施例
以下に、本発明を具体的実施例によυ説明する。
(実施例1)
出発原料には化学的に高純度のBaCO2,TiO2゜
La205. Pr60.1. N4205. Sm2
05及びNb2O5粉末を下記の第1表に示す組成比に
なるように秤量し、めのうボールを備えたゴム内張ジの
ボールミルに純水とともに入れ、湿式混合後、脱水乾燥
した。この乾燥粉末を高アルミナ質のルツボに入れ、空
気中で1100℃にて2時間仮焼した。この仮焼粉末を
、めのうボールを備えたゴム内張りのポルミルに純水と
ともに入れ、湿式粉砕後、脱水乾燥した。この粉砕粉末
に、有機バインダーを加え、均質とした後、32メツシ
ユのふるいを通して整粒し、金型と油圧プレスを用いて
成型圧力1ton/iで直径15鮒、厚み0.4圏に成
型した。
La205. Pr60.1. N4205. Sm2
05及びNb2O5粉末を下記の第1表に示す組成比に
なるように秤量し、めのうボールを備えたゴム内張ジの
ボールミルに純水とともに入れ、湿式混合後、脱水乾燥
した。この乾燥粉末を高アルミナ質のルツボに入れ、空
気中で1100℃にて2時間仮焼した。この仮焼粉末を
、めのうボールを備えたゴム内張りのポルミルに純水と
ともに入れ、湿式粉砕後、脱水乾燥した。この粉砕粉末
に、有機バインダーを加え、均質とした後、32メツシ
ユのふるいを通して整粒し、金型と油圧プレスを用いて
成型圧力1ton/iで直径15鮒、厚み0.4圏に成
型した。
9 、、−、。
次いで、この成型円板をジルコニア粉末を敷いたアルミ
ナ質のザヤに入れ、空気中において第1表に示す温度で
2時間焼成し、第り表に示す組成比の誘電体磁器を得た
。
ナ質のザヤに入れ、空気中において第1表に示す温度で
2時間焼成し、第り表に示す組成比の誘電体磁器を得た
。
このようにして得られた誘電体磁器円板は、素子厚みと
直径を測定し、誘電率、良好度Q、容量温度係数測定用
試料は、誘電体磁器円板の両面全体に銀電極を焼き付け
、絶縁抵抗、絶縁破壊強度測定用試料は、誘電体磁器円
板の外周より内側に19の1〕で銀電極の無い部分を設
け、銀電極を焼き付けた。そして、誘電率、良好度Q、
温度係数はYHP社製デジタルLCFLメータのモデル
4276Aを使用し、測定温度20℃、測定電圧1、○
Vrms 、測定周波数1MHzでの測定により求めた
。なお、静電容量の温度変化は、−65℃。
直径を測定し、誘電率、良好度Q、容量温度係数測定用
試料は、誘電体磁器円板の両面全体に銀電極を焼き付け
、絶縁抵抗、絶縁破壊強度測定用試料は、誘電体磁器円
板の外周より内側に19の1〕で銀電極の無い部分を設
け、銀電極を焼き付けた。そして、誘電率、良好度Q、
温度係数はYHP社製デジタルLCFLメータのモデル
4276Aを使用し、測定温度20℃、測定電圧1、○
Vrms 、測定周波数1MHzでの測定により求めた
。なお、静電容量の温度変化は、−65℃。
−26℃、20’C、86℃、125℃の静電容量を測
定し、直線性を確認するとともに、容量温度係数は、2
0℃と86℃の静電容量を用い、次式により求めた。
定し、直線性を確認するとともに、容量温度係数は、2
0℃と86℃の静電容量を用い、次式により求めた。
10へ
co=20℃での静電容量(pF )
C,:a6℃での静電容量(pF’)
また、誘電率は次式により求めた。
を
誘電率−°°3°axe・x o・
Co:20℃での静電容量(pF)
D :誘電体磁器の直径(顛)
t :誘電体磁器の厚み(調)
さらに、絶縁抵抗は、YHP社製HRメータのモデル4
329Aを使用し、測定電圧60V、D、C,。
329Aを使用し、測定電圧60V、D、C,。
測定時間1分間による測定より求めた。
そして、絶縁破壊強度は、菊水電子工業(株)型窩電圧
電源PH836に一3形を使用し、試料をシリコンオイ
ル中に入れ、昇圧速度sob/seaによジ求めた絶縁
破壊電圧を誘電体厚みで除算し、1胡当た9の絶縁破壊
強度とした。
電源PH836に一3形を使用し、試料をシリコンオイ
ル中に入れ、昇圧速度sob/seaによジ求めた絶縁
破壊電圧を誘電体厚みで除算し、1胡当た9の絶縁破壊
強度とした。
試験条件及び結果を第1表に併せて示す。
13 ・\−・
(実施例2)
出発原料には化学的に高純度のBaCO3,TiO2゜
L2L203.Pr6O11.Nd205.Sm203
1NSm2O31Nb2051 、 Fe2O3及びS
in、、粉末を下記の第2表に示す組成比になるように
秤量し、それ以後は、実施例1の場合と同様に処理して
第2表に示す組成比の誘電体磁器を得た。
L2L203.Pr6O11.Nd205.Sm203
1NSm2O31Nb2051 、 Fe2O3及びS
in、、粉末を下記の第2表に示す組成比になるように
秤量し、それ以後は、実施例1の場合と同様に処理して
第2表に示す組成比の誘電体磁器を得た。
これらの試料の試験方法は実施例1と同様であυ、試験
条件及び結果全第2表に併せて示す。
条件及び結果全第2表に併せて示す。
(以 下金 白)
16へ
(実施例3)
出発原料には化学的に高純度のBaCO3,TiO2゜
Nd2O5,Sm2O3及びNb2o5 粉末を使用
し、主成分0.11BaO−0,68TiO2−0,2
1Nd2O3に対し、Nb205i 0 、0.1
、0.3 、0.5 、1.0 。
Nd2O5,Sm2O3及びNb2o5 粉末を使用
し、主成分0.11BaO−0,68TiO2−0,2
1Nd2O3に対し、Nb205i 0 、0.1
、0.3 、0.5 、1.0 。
6.0 、8.0 、10.Owt%含有した仮焼粉砕
粉を実施例1と同様の方法で作製する。但し、Nb2O
5含有量0,0.1.10.Owt%はこの発明の範囲
外であり、0.3 、0.5 、1.0 、5.○、s
、owt%ば、この発明の範囲内である。
粉を実施例1と同様の方法で作製する。但し、Nb2O
5含有量0,0.1.10.Owt%はこの発明の範囲
外であり、0.3 、0.5 、1.0 、5.○、s
、owt%ば、この発明の範囲内である。
との仮焼粉砕粉末に、有機バインダー、可塑剤。
分散剤、有機溶剤を加え、アルミナボールを備えたポリ
エチレン製ポットで混合し、スラリーを作製した。混合
後、300メツシユのナイロン布を使用し、沢過した。
エチレン製ポットで混合し、スラリーを作製した。混合
後、300メツシユのナイロン布を使用し、沢過した。
沢通抜のスラリーはドクターブレードにより、焼結後の
誘電体厚が約12μmとなるように、離型処理をしたポ
リエステルフィルム上にンートヲ成形した。次に、ポリ
エステルフィルムから剥したシート10枚を支持台の上
に積層した。この上に、昭栄化学(株)製陶部電極パラ
ジウムベース)ML−3724を、焼結後の内部電極厚
みが2μmとなるように、スクリーン印刷し、乾燥した
。この上にポリエステルフィルムから剥したシート1枚
を積層した。この上に、焼結後の内部電極重なり寸法が
約1.2mmX約0.7門となるように印刷位置をずら
して内部電極パラジウムペーストラ印刷し、乾燥後ポリ
エステルフィルムから剥したシート1枚を積層した。こ
れらの操作を、誘電体層数が19となるまで繰返した。
誘電体厚が約12μmとなるように、離型処理をしたポ
リエステルフィルム上にンートヲ成形した。次に、ポリ
エステルフィルムから剥したシート10枚を支持台の上
に積層した。この上に、昭栄化学(株)製陶部電極パラ
ジウムベース)ML−3724を、焼結後の内部電極厚
みが2μmとなるように、スクリーン印刷し、乾燥した
。この上にポリエステルフィルムから剥したシート1枚
を積層した。この上に、焼結後の内部電極重なり寸法が
約1.2mmX約0.7門となるように印刷位置をずら
して内部電極パラジウムペーストラ印刷し、乾燥後ポリ
エステルフィルムから剥したシート1枚を積層した。こ
れらの操作を、誘電体層数が19となるまで繰返した。
この上に、ポリエステルフィルムから剥したシー)10
枚を積層した。この積層体を焼結後、内部電極重なり寸
法が約1.2mX約0.7 m 、誘電体厚が約127
zm、誘電体層数が19の積層構造をもつ積層セラミッ
クコンデンサとなるように切断した。この切断した試料
は、ジルコニア粉末を敷いたアルミナ質のサヤに入れ、
空気中において、室温から350′C,までを5℃/h
rで昇温し、360℃よジ100℃/hrで昇温し、1
270℃で2時間焼成後、100℃/hrで室温まで降
温した。
枚を積層した。この積層体を焼結後、内部電極重なり寸
法が約1.2mX約0.7 m 、誘電体厚が約127
zm、誘電体層数が19の積層構造をもつ積層セラミッ
クコンデンサとなるように切断した。この切断した試料
は、ジルコニア粉末を敷いたアルミナ質のサヤに入れ、
空気中において、室温から350′C,までを5℃/h
rで昇温し、360℃よジ100℃/hrで昇温し、1
270℃で2時間焼成後、100℃/hrで室温まで降
温した。
そして、焼結後の試料は、耐水サンドベーパーを1 7
1、−7 内側に貼ったポリエチレンポットに純水とともに入れ、
ポリエチレンポットヲ回転させ焼結後の試料面を研磨し
、外部電極と接合する内部電極部分を充分露出させた。
1、−7 内側に貼ったポリエチレンポットに純水とともに入れ、
ポリエチレンポットヲ回転させ焼結後の試料面を研磨し
、外部電極と接合する内部電極部分を充分露出させた。
次いで、試料はポリエチレンポットより取り出し乾燥後
、内部電極露出部分に銀の外部電極を焼き付け、内部電
極と導通させ、積層セラミックコンデンサ全作製した。
、内部電極露出部分に銀の外部電極を焼き付け、内部電
極と導通させ、積層セラミックコンデンサ全作製した。
これらの試料の静電容量、良好度Q、容量温度係数、絶
縁抵抗、絶縁破壊強度は実施例1と同様の条件での測定
により求めた。また、積層構造の確認は、積層セラミッ
クコンデンサの長さ方向及び幅方向の約1/2の研磨断
面を、内部電極重な夛寸法は倍率100.誘電体厚みと
内部電極厚みは倍率400での観察より求めた。
縁抵抗、絶縁破壊強度は実施例1と同様の条件での測定
により求めた。また、積層構造の確認は、積層セラミッ
クコンデンサの長さ方向及び幅方向の約1/2の研磨断
面を、内部電極重な夛寸法は倍率100.誘電体厚みと
内部電極厚みは倍率400での観察より求めた。
その測定結果を第2図に示す。
なお、実施例における誘電体磁器の作製方法ではBaC
O3,TiO2,La2O3,Pr60. 、 、 N
d2O3゜Sm、、03. Nb2O5,MnO2,Z
nO、Fe2O2及び5102を使用したが、この方法
に限定されるものではなく、所望の組成比になるように
、B a T 103などの18へ−7 化合物、あるいは炭酸塩、水酸化物など空気中での加熱
により、Ba0ITi02.La2o5.Pr6O11
゜Nd2O3,Sm2o51Nb205.MnO□1Z
nO9Fe203及びSiO2となる化合物を使用して
も実施例と同程度の特性を得ることができる。また、主
成分をあらかじめ仮焼し、副成分を添加しても実施例と
同程度の特性を得ることができる。
O3,TiO2,La2O3,Pr60. 、 、 N
d2O3゜Sm、、03. Nb2O5,MnO2,Z
nO、Fe2O2及び5102を使用したが、この方法
に限定されるものではなく、所望の組成比になるように
、B a T 103などの18へ−7 化合物、あるいは炭酸塩、水酸化物など空気中での加熱
により、Ba0ITi02.La2o5.Pr6O11
゜Nd2O3,Sm2o51Nb205.MnO□1Z
nO9Fe203及びSiO2となる化合物を使用して
も実施例と同程度の特性を得ることができる。また、主
成分をあらかじめ仮焼し、副成分を添加しても実施例と
同程度の特性を得ることができる。
1だ、銹電体磁器用として一般に使用される工業用原料
の酸化チタン、例えばチタン工業(株)膜酸化チタンK
A−10.古河鉱業(株)膜酸化チタンFA−56Wに
は最大0.46重量%のNb2O5が含まれるが、これ
らの酸化チタンを使用して主成分の誘電体磁器を作製し
ても主成分100重量部に対して、Nb2O5の含有量
は最大でo、23重量部であり、この発明の範囲外であ
るが、工業用原料の酸化チタン中のNb2O5量を考慮
し、不足分のWb205全含有させることにより、実施
例と同程度の特性を得ることができる。
の酸化チタン、例えばチタン工業(株)膜酸化チタンK
A−10.古河鉱業(株)膜酸化チタンFA−56Wに
は最大0.46重量%のNb2O5が含まれるが、これ
らの酸化チタンを使用して主成分の誘電体磁器を作製し
ても主成分100重量部に対して、Nb2O5の含有量
は最大でo、23重量部であり、この発明の範囲外であ
るが、工業用原料の酸化チタン中のNb2O5量を考慮
し、不足分のWb205全含有させることにより、実施
例と同程度の特性を得ることができる。
発明の効果
以上のように本発明によれば、誘電率、絶縁抵19 /
、 抗、絶縁破壊電圧が高く、良好塵Qにすぐれ、容量温度
係数が小さく、かつ積層セラミックコンデンサへの利用
においては、内部電極の厚みを薄くしたときの静電容量
と良好塵Qの低下を防ぎ、静電容量と良好塵Qのバラツ
キを小さくできるため、内部電極の厚みを薄くして、積
層セラミックコンデンサのコストダウンが行えるととも
に内部構造欠陥であるデラミネーションの発生を防ぐこ
とができる。捷た、絶縁破壊電圧が高いため、誘電体層
の厚みを薄くし、素体の小形化、大容量化が可能である
。
、 抗、絶縁破壊電圧が高く、良好塵Qにすぐれ、容量温度
係数が小さく、かつ積層セラミックコンデンサへの利用
においては、内部電極の厚みを薄くしたときの静電容量
と良好塵Qの低下を防ぎ、静電容量と良好塵Qのバラツ
キを小さくできるため、内部電極の厚みを薄くして、積
層セラミックコンデンサのコストダウンが行えるととも
に内部構造欠陥であるデラミネーションの発生を防ぐこ
とができる。捷た、絶縁破壊電圧が高いため、誘電体層
の厚みを薄くし、素体の小形化、大容量化が可能である
。
さらに、マンガン、亜鉛、鉄及びケイ素の酸化物の添加
により、焼成温度を低下させることができる。
により、焼成温度を低下させることができる。
第1図は本発明にかかる主成分の組成範囲を説明する三
元図、第2図は本発明にかかる主成分o、11BaO−
o、6 s TiO2−0,21Nd203VC対−f
る副成分Nb2O5の含有効果を、誘電体厚:12μm
。 内部電極型なり寸法:1.2mmX0.7m+誘電体層
数二19の積層構造をもつ積層セラミックコンデンサの
電気特性で示すグラフである。
元図、第2図は本発明にかかる主成分o、11BaO−
o、6 s TiO2−0,21Nd203VC対−f
る副成分Nb2O5の含有効果を、誘電体厚:12μm
。 内部電極型なり寸法:1.2mmX0.7m+誘電体層
数二19の積層構造をもつ積層セラミックコンデンサの
電気特性で示すグラフである。
Claims (2)
- (1)一般式 xBaO−yTiO_2−zRe_2O_3と表わした
時(ただし、x+y+z=1.00。 Re_2O_3は、La_2O_3,Pr_2O_1_
1_/_3,Nd_2O_3,Sm_2O_3から選ば
れる少なくとも1種以上の希土類元素の酸化物。)、x
,y,zが以下に表わす各点a,b,c,d,e,fで
囲まれるモル比の範囲からなる主成分100重量部に対
し、副成分としてニオブ酸化物をNb_2O_5に換算
して0.3〜8.0重量部含有したことを特徴とする誘
電体磁器組成物。 ▲数式、化学式、表等があります▼ - (2)主成分と副成分を合わせた100重量部に対して
、マンガン,亜鉛,鉄及びケイ素の酸化物から選ばれる
少なくとも1種以上を、それぞれMnO_2,ZnO,
Fe_2O_3及びSiO_2に換算して0.05〜1
.00重量部添加したことを特徴とする特許請求の範囲
第1項記載の誘電体磁器組成物。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1062477A JP2933635B2 (ja) | 1989-03-15 | 1989-03-15 | 積層セラミックコンデンサ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1062477A JP2933635B2 (ja) | 1989-03-15 | 1989-03-15 | 積層セラミックコンデンサ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02242525A true JPH02242525A (ja) | 1990-09-26 |
| JP2933635B2 JP2933635B2 (ja) | 1999-08-16 |
Family
ID=13201308
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1062477A Expired - Lifetime JP2933635B2 (ja) | 1989-03-15 | 1989-03-15 | 積層セラミックコンデンサ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2933635B2 (ja) |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5790808A (en) * | 1980-11-28 | 1982-06-05 | Fujitsu Ltd | Porcelain composition having high permittivity |
| JPS61291457A (ja) * | 1985-06-14 | 1986-12-22 | タム・セラミックス・インコーポレイテッド | 誘電体組成物 |
| JPS6217069A (ja) * | 1985-07-15 | 1987-01-26 | 三菱電機株式会社 | 誘電体磁器材料 |
| JPS6256361A (ja) * | 1985-09-05 | 1987-03-12 | 富士チタン工業株式会社 | 誘電体磁器組成物 |
-
1989
- 1989-03-15 JP JP1062477A patent/JP2933635B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5790808A (en) * | 1980-11-28 | 1982-06-05 | Fujitsu Ltd | Porcelain composition having high permittivity |
| JPS61291457A (ja) * | 1985-06-14 | 1986-12-22 | タム・セラミックス・インコーポレイテッド | 誘電体組成物 |
| JPS6217069A (ja) * | 1985-07-15 | 1987-01-26 | 三菱電機株式会社 | 誘電体磁器材料 |
| JPS6256361A (ja) * | 1985-09-05 | 1987-03-12 | 富士チタン工業株式会社 | 誘電体磁器組成物 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2933635B2 (ja) | 1999-08-16 |
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