JPH02244613A - 光cvd方法 - Google Patents

光cvd方法

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Publication number
JPH02244613A
JPH02244613A JP6201289A JP6201289A JPH02244613A JP H02244613 A JPH02244613 A JP H02244613A JP 6201289 A JP6201289 A JP 6201289A JP 6201289 A JP6201289 A JP 6201289A JP H02244613 A JPH02244613 A JP H02244613A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
gas
hydrogen
deuterium
cvd method
carrier gas
Prior art date
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Pending
Application number
JP6201289A
Other languages
English (en)
Inventor
Satoru Watanabe
悟 渡邊
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
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Publication of JPH02244613A publication Critical patent/JPH02244613A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔)既  要〕 光CVD方法に係り、特にH2ガスをキャリアガスとす
る光CVD方法に関し、 キャリアガスを活性化する光CVD方法を提供すること
を目的とし、 反応ガスに光を照射して薄膜を形成する光CVD方法に
おいて、該反応ガスのキャリアガスとして水素ガスと、
該水素ガスと重水素ガスの体積比(D 2 / H2)
が1%以上の重水素との混合ガスを用い、重水素光源か
らの光照射により励起された前記重水素ガスの励起エネ
ルギーを該水素へ変換して該キャリアガスを活性化させ
ることによって前記薄膜を形成することを構成とする。
〔産業上の利用分野〕
本発明は光CVD方法に係り、特にH2ガスをキャリア
ガスとする光CVD方法に関する。
〔従来の技術〕
従来の光CVD法で薄膜を形成する場合、反応ガスと基
板とを光励起可能な波長の光源(高圧・低圧水鋼溶、キ
セノン燈、重水素燈)が用いられている。また反応ガス
のキャリアガスとしては水素(H2)、ヘリウム(He
)、アルボ7 <Ar)、窒素(N、)等が用いられて
おり、これらのキャリアガスは上記光源が作り出す光と
は反応しない。
光CVD法では欠陥が少ない薄膜が堆積可能であり、こ
の特徴を更に向上させるには1)光源強度を向上させる
、2)より光吸収率の高い反応ガスを用いる、3)キャ
リアガスをも励起する、等の方法が考えられる。しかし
ながら、1)、2>の方法は技術的、化学的に困難であ
り、また3)の方法にはもっと短波長の光源が必要であ
るが現在適当な光源がない。
本発明はキャリアガスを活性化する光CVD方法を提供
することを目的とする。
〔発明が解決しようとする課題〕
上記課題は本発明によれば反応ガスに光を照射して薄膜
を形成する光CVD方法において、該反応ガスのキャリ
アガスとして水素ガスと、該水素ガスと重水素ガスの体
積比(D 2 / H2)が1%以上の重水素との混合
ガスを用い、重水素光源からの光照射により励起された
前記重水素ガスの励起エネルギーを該水素へ変換して該
キャリアガスを活性化させることによって前記薄膜を形
成することを特徴とする光CVD方法によって解決され
る。
〔作 用〕
本発明によれば、キャリアガスが単に水素でなく、重水
素を混合しているので重水素光源からの光により励起さ
れた重水素からエネルギーが水素に変換され反応ガス(
シリコン含有)のシリコン生成速度を増大させ欠陥を減
少させる作用がある。
〔実施例〕
以下本発明の実施例を図面に基づいて説明する。
第1図は本発明に係る光CVD方法を説明するだめの模
式断面図である。
第1図に示すように反応室1に設けられた例えばシリコ
ン(111)基板2上に、ガス供給管3を介して反応ガ
ス(例えばSiを成長させる場合、S 11+ 2 C
β2. SICE 4+ 5t)14等)及びキャリア
ガス(重水素(D2)及び水素(H2))を供給し、重
水素ランプ4を用いて、該反応ガス、キャリアガスに光
を照射してシリコンを生成する。基板2下方には基板加
熱用のヒータ5が設けられ、6はフッ化マグネシウム(
MgFz)である。本方法は基板に対して光が水平に入
射する水平入射型が考えられるが第1図左側垂直面に基
板を形成した垂直入射型も考えられる。
第2図には第1図に示した方法においてD2 /H2流
単比く体積%)を変化させた(H2中にD2を3%混入
させる迄)際の5i(111)基板上に見られたピラミ
ッドヒーロツタ密度を示す。なお反応ガスはS+H2C
12、反応温度は1000℃とした。
第2図から1%のD2添加により、表面欠陥が極めて減
少している。H2のみではピラミッドヒーロツタ密度が
極めて大となる。
本発明では100%D2ガスを用いても本発明同様の効
果が得られるがD2ガスは極めて高価であるためH2中
にD2を混合させるのが好ましい。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明によれば励起された重水素ガ
スのエネルギーが水素に変換され欠陥を減少させること
が可能となり、欠陥が極めて少ない良質のCVD薄膜が
形成される。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係る光CVD方法を説明するための模
式断面図であり、 第2図はD2 /H2(体積%)と、欠陥を示すピラミ
ッドヒーロック密度(cm□I)との関係を示す図であ
る。 1・・・反応室、   2・・・S i (111)基
板、3・・・ガス供給管、 4・・・重水素ランプ、5
・・・ヒータ、    6・・・フッ化マグネシウム窓

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、反応ガスに光を照射して薄膜を形成する光CVD方
    法において、該反応ガスのキャリアガスとして水素ガス
    と、該水素ガスと重水素ガスの体積比(D_2/H_2
    )が1%以上の重水素との混合ガスを用い、重水素光源
    からの光照射により励起された前記重水素ガスの励起エ
    ネルギーを該水素へ変換して該キャリアガスを活性化さ
    せることによって前記薄膜を形成することを特徴とする
    光CVD方法。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017076774A (ja) * 2015-10-12 2017-04-20 上海新昇半導體科技有限公司 エピタキシャル層を形成する方法

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