JPH02258694A - 酸化物超電導体の製造方法 - Google Patents
酸化物超電導体の製造方法Info
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- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
- Superconductors And Manufacturing Methods Therefor (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、YBCO系あるいはBi系などの酸化物超電
導体の製造方法に関し、特に、結晶の一方向凝固を可能
にした酸化物超電導体の製造方法に係わる。
導体の製造方法に関し、特に、結晶の一方向凝固を可能
にした酸化物超電導体の製造方法に係わる。
〔従来の技術及び発明が解決しようとする課題]従来か
ら、酸化物超電導体は、その特性が結晶方位により大き
く異なり異方性があることが知られている。特に、結晶
の垂直方向(C軸)は水平面(a、b面〕内に比べ電気
抵抗値が遥かに大きく、酸化物超電導体の特性はa、b
面の構造が支配していると考えられる。
ら、酸化物超電導体は、その特性が結晶方位により大き
く異なり異方性があることが知られている。特に、結晶
の垂直方向(C軸)は水平面(a、b面〕内に比べ電気
抵抗値が遥かに大きく、酸化物超電導体の特性はa、b
面の構造が支配していると考えられる。
ところで、通常の合成方法では、特に焼結体(バルク)
の場合、その結晶方位がランダムとなるため、電気・磁
気特性共に実用的なレベルに達していない。
の場合、その結晶方位がランダムとなるため、電気・磁
気特性共に実用的なレベルに達していない。
結晶の配向性を上げる方法として、酸化物超電導体を溶
融し、温度勾配を有する電気炉中で相対的に移動させて
再結晶させる方法がある。ここで結晶の配向性は温度勾
配が大きいほど一方向に揃うことが知られているが、電
気炉では熱伝導により均熱化され易く急峻な温度勾配を
形成することが不可能であり、配向性の制御は困難であ
る。
融し、温度勾配を有する電気炉中で相対的に移動させて
再結晶させる方法がある。ここで結晶の配向性は温度勾
配が大きいほど一方向に揃うことが知られているが、電
気炉では熱伝導により均熱化され易く急峻な温度勾配を
形成することが不可能であり、配向性の制御は困難であ
る。
また、酸化物超電導物質にレーザ光を照射して局部的に
加熱溶融し、それを移動(走査)させることにより走査
方向に温度勾配を付けて照射部分を順次結晶化させる試
みが行なわれているが、この場合、照射部分はその中心
部が最も高温になるため、この中心部から放射状に温度
勾配ができ、レーザ光を一方向に走査するにも拘らず、
結晶の配向は一方向に揃わない。従って、配向性の制御
ができないという難点があった。
加熱溶融し、それを移動(走査)させることにより走査
方向に温度勾配を付けて照射部分を順次結晶化させる試
みが行なわれているが、この場合、照射部分はその中心
部が最も高温になるため、この中心部から放射状に温度
勾配ができ、レーザ光を一方向に走査するにも拘らず、
結晶の配向は一方向に揃わない。従って、配向性の制御
ができないという難点があった。
さらに、YBCO系の酸化物超電導体では一般に溶融後
焼結させた場合、絶縁性の所謂211構造体になってし
まい123構遺体ができないという難点があった。
焼結させた場合、絶縁性の所謂211構造体になってし
まい123構遺体ができないという難点があった。
また、レーザ光により溶融再結晶化した場合、凝固した
結晶は非常に酸素が欠損した状態となっているため後処
理として酸素アニールを行なう必要がある。ここで、試
料全体を均一に加熱する従来のアニール方法では配向性
をもって凝固した結晶であっても加熱する際に結晶の方
向が乱れ、結果として所望の特性の超電導体を得ること
ができない。
結晶は非常に酸素が欠損した状態となっているため後処
理として酸素アニールを行なう必要がある。ここで、試
料全体を均一に加熱する従来のアニール方法では配向性
をもって凝固した結晶であっても加熱する際に結晶の方
向が乱れ、結果として所望の特性の超電導体を得ること
ができない。
[発明の目的]
本発明は上記従来の難点に鑑みなされたもので、結晶の
一方向の配向性凝固が可能となる酸化物超電導体の製造
方法を提供することを目的とする。
一方向の配向性凝固が可能となる酸化物超電導体の製造
方法を提供することを目的とする。
[課題を解決するための手段]
このような目的を達成するために本発明の酸化物超電導
体の製造方法によれば、酸化物超電導物質または溶融・
焼結によって酸化物超電導物質を生成する物質にレーザ
光を照射して再結晶化または結晶化するにあたり、前記
レーザ光として走査方向と垂直方向に平行な帯状パター
ンを有するレーザ光を用いるものである。
体の製造方法によれば、酸化物超電導物質または溶融・
焼結によって酸化物超電導物質を生成する物質にレーザ
光を照射して再結晶化または結晶化するにあたり、前記
レーザ光として走査方向と垂直方向に平行な帯状パター
ンを有するレーザ光を用いるものである。
この場合、再結晶化または結晶化後の酸化物超電導物質
を、直ちに強制冷却することにより、−方向凝固がより
充分に達成できる。
を、直ちに強制冷却することにより、−方向凝固がより
充分に達成できる。
また、以上の製造方法により結晶化した配向性を有する
酸化物超電導物質の結晶を酸素アニールするにあたり、
酸素雰囲気下で帯状パターンを結晶の配向方向と同方向
に走査して酸素アニールするものである。
酸化物超電導物質の結晶を酸素アニールするにあたり、
酸素雰囲気下で帯状パターンを結晶の配向方向と同方向
に走査して酸素アニールするものである。
[発明の実施例]
以下、本発明による酸化物超電導体の製造方法の一実施
例を図面に従って詳述する。
例を図面に従って詳述する。
第1図に示すように試料1は、長尺の基板2上に形成さ
れた薄膜であり、試料1に対し略直角にレーザ光3を照
射しながら矢印六方向に走査することにより、照射部分
1aが加熱・溶融され、レーザ光3の移動に伴い後方よ
り冷却され再結晶化する。
れた薄膜であり、試料1に対し略直角にレーザ光3を照
射しながら矢印六方向に走査することにより、照射部分
1aが加熱・溶融され、レーザ光3の移動に伴い後方よ
り冷却され再結晶化する。
実際の操作においては、レーザ光3を固定し、基板2を
走査方向と逆の方向に移動せしめる。
走査方向と逆の方向に移動せしめる。
ここで、試料1は酸化物超電導物質または溶融・焼結に
よって酸化物超電導物質を生成する物質の何れでもよく
、後者の溶融・焼結によって酸化物超電導物質を生成す
る物質は、例えばYSBa。
よって酸化物超電導物質を生成する物質の何れでもよく
、後者の溶融・焼結によって酸化物超電導物質を生成す
る物質は、例えばYSBa。
Cuの酸化物などの超電導材料を固相法によりペレット
化したもの、金属アルコキシドその他の有機・金属化合
物および無機化合物を利用した超電導体溶融のコーテイ
ング膜、ドクターブレード法により作成した原料粉体と
有機バインダー等からなる溶液のスラリーの厚膜等であ
る。
化したもの、金属アルコキシドその他の有機・金属化合
物および無機化合物を利用した超電導体溶融のコーテイ
ング膜、ドクターブレード法により作成した原料粉体と
有機バインダー等からなる溶液のスラリーの厚膜等であ
る。
また、酸化物超電導体原料の高温溶融液中に基板を浸漬
し、急冷す、ることによって作成したアモルファスの厚
膜なども採用することができる。この場合、レーザ溶融
後の密度変化は小さく、クラック等が生じにくい。
し、急冷す、ることによって作成したアモルファスの厚
膜なども採用することができる。この場合、レーザ溶融
後の密度変化は小さく、クラック等が生じにくい。
また酸化物超電導物質としては、上記物質を溶融後焼結
させたものの他、エキシマレーザによるレーザスパッタ
法、CVD法、スプレーパイロリシス法などの方法で基
板2上に形成したもの等を用いることができる。
させたものの他、エキシマレーザによるレーザスパッタ
法、CVD法、スプレーパイロリシス法などの方法で基
板2上に形成したもの等を用いることができる。
また、基板2は板状体又はテープの何れでもよく、銀、
ジルコニウムなどの金属基板、金属基板上に酸化マグネ
シウム、イツトリウム安定化ジルコニウム(YSZ)、
チタン酸ストロンチウム等のバッファ層を設けたもの、
あるいは酸化マグネシウム、YSZ等の絶縁性基板の何
れも採用できる。但し、基板として金属基板を用いる場
合には、レーザ照射後、基板2を強制冷却し、基板表面
と試料1との反応を防止し、また冷却する際、放射状の
熱拡散が生じないようにする必要がある。
ジルコニウムなどの金属基板、金属基板上に酸化マグネ
シウム、イツトリウム安定化ジルコニウム(YSZ)、
チタン酸ストロンチウム等のバッファ層を設けたもの、
あるいは酸化マグネシウム、YSZ等の絶縁性基板の何
れも採用できる。但し、基板として金属基板を用いる場
合には、レーザ照射後、基板2を強制冷却し、基板表面
と試料1との反応を防止し、また冷却する際、放射状の
熱拡散が生じないようにする必要がある。
レーザ光3は第2図に示すようなレーザ源10、単レン
ズ11、シリンダリカルレンズ12およびミラー13を
用いた光学装置によって形成される帯状パターンを有す
るビームが用いられる。このビーム3は、第3図に示す
ようにその走査方向Aと直交する方向xSx’ に平行
に照射される。このようなビームのレーザ光としては、
試料の膜厚により異なるが、通常、例えばYAGレーザ
の場合、40〜50w以上の出力のものを使用する。
ズ11、シリンダリカルレンズ12およびミラー13を
用いた光学装置によって形成される帯状パターンを有す
るビームが用いられる。このビーム3は、第3図に示す
ようにその走査方向Aと直交する方向xSx’ に平行
に照射される。このようなビームのレーザ光としては、
試料の膜厚により異なるが、通常、例えばYAGレーザ
の場合、40〜50w以上の出力のものを使用する。
また、レーザ光の走査速度はビーム形1 mmX 50
μmの場合、5 cm71 sec程度とする。
μmの場合、5 cm71 sec程度とする。
このような形状のレーザビーム3を、試料1に対して照
射することにより加熱され溶融した領域は、レーザビー
ムが相対的に移動することにより移動方向に温度勾配が
生じ、後方から順次冷却し始め結晶化する。結晶化はこ
の温度勾配に沿って進行するのでほぼ単一相で走査方向
に一方向凝固した結晶が形成される。
射することにより加熱され溶融した領域は、レーザビー
ムが相対的に移動することにより移動方向に温度勾配が
生じ、後方から順次冷却し始め結晶化する。結晶化はこ
の温度勾配に沿って進行するのでほぼ単一相で走査方向
に一方向凝固した結晶が形成される。
この場合の冷却は空冷によるものであるが、−般に酸化
物の場合、熱伝導度が低く空冷だけでは急峻な温度勾配
をつけることが困難であるので、好ましい態様において
はレーザビームパターン(加熱領域)の直後に強制冷却
域を設けるものとする。
物の場合、熱伝導度が低く空冷だけでは急峻な温度勾配
をつけることが困難であるので、好ましい態様において
はレーザビームパターン(加熱領域)の直後に強制冷却
域を設けるものとする。
強制冷却域を設ける手段としては、例えば液体ガリウム
、液体窒素、液体空気等の冷媒が用いられる。これら冷
媒を試料1および/または基板2の表面よりノズル等に
よって吹きつけるか、これらの液体を収容した冷却槽に
浸漬して強制冷却を行なう。
、液体窒素、液体空気等の冷媒が用いられる。これら冷
媒を試料1および/または基板2の表面よりノズル等に
よって吹きつけるか、これらの液体を収容した冷却槽に
浸漬して強制冷却を行なう。
強制冷却域20は第4図に示すようにレーザビームパタ
ーン1aの後方に近接して設けることが好ましい。レー
ザビームパターン1aとの間隔は走査速度、レーザビー
ム出力、ビーム形状径等により適宜選択されるが、約1
mm程度が適当である。
ーン1aの後方に近接して設けることが好ましい。レー
ザビームパターン1aとの間隔は走査速度、レーザビー
ム出力、ビーム形状径等により適宜選択されるが、約1
mm程度が適当である。
このように強制冷却域20を設け、強制的に冷却するこ
とによりレーザ走査方向の温度勾配を大きくシ、結晶化
を高めると共に、任意に核生成して凝固するのを防ぎ所
望の配向性のある結晶化を図ることができる。
とによりレーザ走査方向の温度勾配を大きくシ、結晶化
を高めると共に、任意に核生成して凝固するのを防ぎ所
望の配向性のある結晶化を図ることができる。
更に、狭い加熱領域で走査速度を上げることにより、方
向性のある温度勾配を維持することができ、この場合、
通常の溶融、再結晶の過程からは生成できない固相をも
安定に結晶化できる。例えば、YBCO系超電導体の場
合、通常の溶融、凝固による方法では211相の結晶化
しかできないが、本発明の方法によれば123相のもの
が安定に結晶化できる。
向性のある温度勾配を維持することができ、この場合、
通常の溶融、再結晶の過程からは生成できない固相をも
安定に結晶化できる。例えば、YBCO系超電導体の場
合、通常の溶融、凝固による方法では211相の結晶化
しかできないが、本発明の方法によれば123相のもの
が安定に結晶化できる。
尚、上述のレーザによる溶融は酸素圧コントロール下で
行なうことが好ましい。
行なうことが好ましい。
又、レーザによる急激な加熱に伴う材料成分の蒸発、発
泡を防ぐと共に、再結晶化に伴ってクラックが生じるの
を防ぐ目的でレーザ照射に先行してハロゲンランプ等の
予熱源により予め熱処理を行なうことが望ましい。
泡を防ぐと共に、再結晶化に伴ってクラックが生じるの
を防ぐ目的でレーザ照射に先行してハロゲンランプ等の
予熱源により予め熱処理を行なうことが望ましい。
次に、以上のようにして再結晶させた超電導物質の酸素
アニールについて説明する。レーザ溶融により再結晶さ
せたものは非常に酸素欠損した結晶になり易いので、後
処理として酸素アニールを必要とする。この場合、配向
性結晶の方向性を維持して酸素アニールしなければなら
ない。例えば、比較的低温下(YBCO系の場合、40
0℃x10hrs程度)で高酸素圧雰囲気または酸素気
流中で熱処理を行なう。好ましくは、第5図(a)、(
b)に示すようにアニール用の熱源として、帯状パター
ン30のレーザを用いる。帯状のレーザはレーザ溶融に
よって一方向凝固した結晶1゛の配向方向Bに温度分布
Cを生じるようなエネルギー分布を有するものを用いる
。
アニールについて説明する。レーザ溶融により再結晶さ
せたものは非常に酸素欠損した結晶になり易いので、後
処理として酸素アニールを必要とする。この場合、配向
性結晶の方向性を維持して酸素アニールしなければなら
ない。例えば、比較的低温下(YBCO系の場合、40
0℃x10hrs程度)で高酸素圧雰囲気または酸素気
流中で熱処理を行なう。好ましくは、第5図(a)、(
b)に示すようにアニール用の熱源として、帯状パター
ン30のレーザを用いる。帯状のレーザはレーザ溶融に
よって一方向凝固した結晶1゛の配向方向Bに温度分布
Cを生じるようなエネルギー分布を有するものを用いる
。
このため、帯状パターンレーザはその幅が結晶の幅より
も広いスリットレーザが用いられる。レーザ出力はレー
ザ溶融に用いたものよりも小さいものが用いられる。こ
れにより結晶の方向性を乱すことなく加熱、酸素吸収が
可能となる。
も広いスリットレーザが用いられる。レーザ出力はレー
ザ溶融に用いたものよりも小さいものが用いられる。こ
れにより結晶の方向性を乱すことなく加熱、酸素吸収が
可能となる。
このような帯状のレーザを所定酸素分圧下で結品の配向
方向Bに複数回走査することにより結晶に酸素を吸収さ
せ酸素アニールを行なう。走査速度は溶融、焼結時と同
様であるが制御酸素分圧下では多数回走査することが必
要で、例えば酸素分圧が0.2気圧の場合、500回程
変電査する。
方向Bに複数回走査することにより結晶に酸素を吸収さ
せ酸素アニールを行なう。走査速度は溶融、焼結時と同
様であるが制御酸素分圧下では多数回走査することが必
要で、例えば酸素分圧が0.2気圧の場合、500回程
変電査する。
このように結晶の配向方向に温度分布を持たせた帯状ビ
ームで酸素を吸収させることにより、結晶の配向性は維
持され、高度に配向した酸化物超電導体を得ることがで
きる。
ームで酸素を吸収させることにより、結晶の配向性は維
持され、高度に配向した酸化物超電導体を得ることがで
きる。
実施例1
厚さ1μ、幅400μmの基板状に形成した長尺のYB
CO系超電導物質の薄膜に出力50W1ビーム形1 r
nmX 50μmのビームを用いて走査速度5 cm/
secで照射し、再結晶化させた。この時ビームに平行
に1mmの間隔を置いて強制冷却域を設けた。
CO系超電導物質の薄膜に出力50W1ビーム形1 r
nmX 50μmのビームを用いて走査速度5 cm/
secで照射し、再結晶化させた。この時ビームに平行
に1mmの間隔を置いて強制冷却域を設けた。
再結晶化用のa−b軸配向の制御性及び臨界電流密度J
c (A/crtr)の値(外部磁界0T177K(
以下同じ))をシングルビーム(1つの丸ビーム)を用
いた場合(比較例1)と比較した。
c (A/crtr)の値(外部磁界0T177K(
以下同じ))をシングルビーム(1つの丸ビーム)を用
いた場合(比較例1)と比較した。
このシングルビームの場合の出力は5W、ビーム半径5
0μmで複数回走査させた。
0μmで複数回走査させた。
表1
実施例2
実施例1で得られた再結晶膜に酸素分圧0.2気圧下で
出力5W、1mmx50μmの帯状レーザパターンを走
査速度10 am/ secで500回走査し、酸素ア
ニールを行なった。一方、比較例2として同酸素分圧下
で400℃で均一アニールを行ない、配向性の維持及び
臨界電流密度Jc(A/Cボ)を比較した。
出力5W、1mmx50μmの帯状レーザパターンを走
査速度10 am/ secで500回走査し、酸素ア
ニールを行なった。一方、比較例2として同酸素分圧下
で400℃で均一アニールを行ない、配向性の維持及び
臨界電流密度Jc(A/Cボ)を比較した。
表2
表2からも明らかなように、本発明のアニール方法によ
れば結晶の配向性を損うことなく酸素アニールでき、し
かも高いJc値を得ることが出来た。
れば結晶の配向性を損うことなく酸素アニールでき、し
かも高いJc値を得ることが出来た。
[発明の効果]
以上の実施例からも明らかなように、本発明による酸化
物超電導体の製造方法によれば、試料を溶融する熱源と
して特定のビーム形状を有するレーザを用い、これを試
料に対し高速で走査するようにしたので試料上に走査方
向に揃った急峻な温度勾配を形成することができ、結晶
方向の制御が容易で高い一方向凝固が可能である。
物超電導体の製造方法によれば、試料を溶融する熱源と
して特定のビーム形状を有するレーザを用い、これを試
料に対し高速で走査するようにしたので試料上に走査方
向に揃った急峻な温度勾配を形成することができ、結晶
方向の制御が容易で高い一方向凝固が可能である。
又、本発明の酸化物超電導体の製造方法によれば、この
ように一方向凝固した結晶を酸素アニールするにあたり
、帯状レーザを走査させることにより酸素アニールする
ようにしたので、酸素アニール後も結晶の配向性が維持
でき高度に一方向凝固した酸化物超電導体を得ることが
できる。
ように一方向凝固した結晶を酸素アニールするにあたり
、帯状レーザを走査させることにより酸素アニールする
ようにしたので、酸素アニール後も結晶の配向性が維持
でき高度に一方向凝固した酸化物超電導体を得ることが
できる。
第1図は本発明による酸化物超電導体の製造方法におけ
るレーザ溶融の状態を示す斜視図、第2図は特定のビー
ム形状を有するレーザ光の発生装置の概略図、第3図は
レーザ光の加熱領域を示す図、第4図はレーザビームパ
ターンと強制冷却域を示す図、第5図(a) 、(b)
はそれぞれ本発明の酸化物超電導体の製造方法における
酸素アニールを示す平面図及び温度分布を示す図である
。 1・・・酸化物超電導物質(試料) 3・・・レーザ光 1°・・・配向性を有する結晶 30・・・帯状パターン B・・・配向方向 A・・・走査方向
るレーザ溶融の状態を示す斜視図、第2図は特定のビー
ム形状を有するレーザ光の発生装置の概略図、第3図は
レーザ光の加熱領域を示す図、第4図はレーザビームパ
ターンと強制冷却域を示す図、第5図(a) 、(b)
はそれぞれ本発明の酸化物超電導体の製造方法における
酸素アニールを示す平面図及び温度分布を示す図である
。 1・・・酸化物超電導物質(試料) 3・・・レーザ光 1°・・・配向性を有する結晶 30・・・帯状パターン B・・・配向方向 A・・・走査方向
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、酸化物超電導物質または溶融・焼結によって酸化物
超電導物質を生成する物質にレーザ光を照射して再結晶
化または結晶化するにあたり、前記レーザ光として走査
方向と垂直方向に平行な帯状パターンを有するレーザ光
を用いたことを特徴とする酸化物超電導体の製造方法。 2、再結晶化または結晶化された酸化物超電導物質は、
直ちに強制冷却されてなる請求項1記載の酸化物超電導
体の製造方法。 3、再結晶化または結晶化された酸化物超電導物質は、
冷却後酸素雰囲気下で走査方向と垂直方向に平行な帯状
パターンを有するレーザ光の反復照射により、酸素アニ
ールすることを特徴とする請求項1または2記載の酸化
物超電導体の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8214989A JPH02258694A (ja) | 1989-03-31 | 1989-03-31 | 酸化物超電導体の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8214989A JPH02258694A (ja) | 1989-03-31 | 1989-03-31 | 酸化物超電導体の製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02258694A true JPH02258694A (ja) | 1990-10-19 |
Family
ID=13766382
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8214989A Pending JPH02258694A (ja) | 1989-03-31 | 1989-03-31 | 酸化物超電導体の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02258694A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008518783A (ja) * | 2004-11-09 | 2008-06-05 | コミッサリア タ レネルジー アトミーク | 熱分解レーザ作用により連続するフラックス中でナノメートルサイズ又はサブミクロンサイズの粉体を製造するシステム及び方法 |
-
1989
- 1989-03-31 JP JP8214989A patent/JPH02258694A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008518783A (ja) * | 2004-11-09 | 2008-06-05 | コミッサリア タ レネルジー アトミーク | 熱分解レーザ作用により連続するフラックス中でナノメートルサイズ又はサブミクロンサイズの粉体を製造するシステム及び方法 |
| JP2012040555A (ja) * | 2004-11-09 | 2012-03-01 | Commissariat A L'energie Atomique & Aux Energies Alternatives | 熱分解レーザ作用により連続するフラックス中でナノメートルサイズ又はサブミクロンサイズの粉体を製造するシステム及び方法 |
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