JPH02260507A - 抵抗アレイ - Google Patents
抵抗アレイInfo
- Publication number
- JPH02260507A JPH02260507A JP1081150A JP8115089A JPH02260507A JP H02260507 A JPH02260507 A JP H02260507A JP 1081150 A JP1081150 A JP 1081150A JP 8115089 A JP8115089 A JP 8115089A JP H02260507 A JPH02260507 A JP H02260507A
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- Japan
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- resistor
- substrate
- holes
- board
- hole
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野1
この発明はコンピュータのCPU等に接続する抵抗アレ
イに関するものであり、特に、スルーホール内に抵抗体
を設けて、高密度化した抵抗アレイに関するものである
。
イに関するものであり、特に、スルーホール内に抵抗体
を設けて、高密度化した抵抗アレイに関するものである
。
[従来の技術]
コンピュータのCPUやIC等を接続する場合、静電気
やショート等による破壊を防止するために、CPUの各
端子に抵抗アレイを介装している。抵抗アレイは、ネッ
トワーク抵抗器或は抵抗モジュール等とも称され、別紙
第9図及び第1O図に従来の抵抗アレイを示す。エポキ
シ或はセラミック等の基板(1)の面上に、銀パラジウ
ムや銅等の電極端子(2X2)を対峙して複数組形成し
、夫々の電極端子(2)(2)間へ抵抗体(3)を設け
である。該抵抗体(3)は、CPUの端子に対応した数
mが形成され、チップ型抵抗でもよいが、通常は酸化ル
テニウム系のペーストを印刷した後に乾燥焼成して形成
される。そして、前記電極端子(2)(2)・・・ヘリ
ード端子(4)(4)・・・を接続し、絶縁材で被覆し
て抵抗アレイを形成している。
やショート等による破壊を防止するために、CPUの各
端子に抵抗アレイを介装している。抵抗アレイは、ネッ
トワーク抵抗器或は抵抗モジュール等とも称され、別紙
第9図及び第1O図に従来の抵抗アレイを示す。エポキ
シ或はセラミック等の基板(1)の面上に、銀パラジウ
ムや銅等の電極端子(2X2)を対峙して複数組形成し
、夫々の電極端子(2)(2)間へ抵抗体(3)を設け
である。該抵抗体(3)は、CPUの端子に対応した数
mが形成され、チップ型抵抗でもよいが、通常は酸化ル
テニウム系のペーストを印刷した後に乾燥焼成して形成
される。そして、前記電極端子(2)(2)・・・ヘリ
ード端子(4)(4)・・・を接続し、絶縁材で被覆し
て抵抗アレイを形成している。
[発明が解決しようとする課題]
従来の抵抗アレイは、基板の面上に設けられた電極端子
間に抵抗体を形成しであるため、抵抗アレイの厚みに影
響を与えると共に抵抗体の占める面積も大である。従っ
て、第9図に示した基板の幅(至)の小型化に限界があ
り、又、酸化ルテニウム系のペーストにはガラス成分が
含有されているので、焼成に当っては約850℃以上の
高温が必要とされ、基板の強度低下を招(ことになる。
間に抵抗体を形成しであるため、抵抗アレイの厚みに影
響を与えると共に抵抗体の占める面積も大である。従っ
て、第9図に示した基板の幅(至)の小型化に限界があ
り、又、酸化ルテニウム系のペーストにはガラス成分が
含有されているので、焼成に当っては約850℃以上の
高温が必要とされ、基板の強度低下を招(ことになる。
そこで、基板に於ける抵抗体の占める面積を小として、
抵抗アレイを小型化するために解決せられるべき技術的
課題が生じてくるのであり、本発明はこの課題を解決す
ることを目的とする。
抵抗アレイを小型化するために解決せられるべき技術的
課題が生じてくるのであり、本発明はこの課題を解決す
ることを目的とする。
[課題を解決するための手段]
この発明は上記目的を達成するために提案せられたもの
であり、基板に複数のスルーホールを開穿し、該スルー
ホール内に抵抗体を形成し、前記基板の両面に抵抗体の
電極端子を設け、該電極端子にリード端子を接続して形
成したことを特徴とする抵抗アレイを提供せんとするも
のである。
であり、基板に複数のスルーホールを開穿し、該スルー
ホール内に抵抗体を形成し、前記基板の両面に抵抗体の
電極端子を設け、該電極端子にリード端子を接続して形
成したことを特徴とする抵抗アレイを提供せんとするも
のである。
[作用]
この発明は、基板に開穿された複数のスルーホール内に
抵抗体を形成している。該抵抗体の両端部は基板の両面
に設けた電極端子に接続され、夫々の電極端子にはリー
ド端子を接続しである。従って、前記抵抗体はリード端
子間で所定の抵抗値を有した抵抗素子としての機能を発
揮する。而して、複数のスルーホール内に夫々抵抗体を
形成したことから、基板の面上に抵抗素子が突出するこ
とがなく、基板の面積を可及的に小とすることができる
。依って、極めて小型の抵抗アレイが形成され、コンピ
ュータ等のCPUやICの回路基板を高密度化して、機
器本体の小型化に貢献できる。
抵抗体を形成している。該抵抗体の両端部は基板の両面
に設けた電極端子に接続され、夫々の電極端子にはリー
ド端子を接続しである。従って、前記抵抗体はリード端
子間で所定の抵抗値を有した抵抗素子としての機能を発
揮する。而して、複数のスルーホール内に夫々抵抗体を
形成したことから、基板の面上に抵抗素子が突出するこ
とがなく、基板の面積を可及的に小とすることができる
。依って、極めて小型の抵抗アレイが形成され、コンピ
ュータ等のCPUやICの回路基板を高密度化して、機
器本体の小型化に貢献できる。
[実施例]
以下、この発明の一実施例を別紙添付図面の第1図乃至
第8図に従って詳述する。尚、説明の都合上、従来公知
に属する技術事項も同時に説明し、対称部分は同一符号
を使用する。第1図は抵抗アレイの平面図、第2図はそ
の縦断面図であり、セラミック製の基板(10)の長手
方向に複数のスルーホール(l l)OI)・・・が開
穿されており、夫々のスルーホールQ +)Q +)・
・・内には抵抗体(+2(+2)・・・が埋設されてい
る。該抵抗体θネの両端部(12s)(12a)は、基
板(10)の両面に設けられた電極端子θ1(11に接
続され、夫々の電極端子0罎0創こはリード端子(ロ)
(ゆを接続しである。
第8図に従って詳述する。尚、説明の都合上、従来公知
に属する技術事項も同時に説明し、対称部分は同一符号
を使用する。第1図は抵抗アレイの平面図、第2図はそ
の縦断面図であり、セラミック製の基板(10)の長手
方向に複数のスルーホール(l l)OI)・・・が開
穿されており、夫々のスルーホールQ +)Q +)・
・・内には抵抗体(+2(+2)・・・が埋設されてい
る。該抵抗体θネの両端部(12s)(12a)は、基
板(10)の両面に設けられた電極端子θ1(11に接
続され、夫々の電極端子0罎0創こはリード端子(ロ)
(ゆを接続しである。
ここで、この抵抗アレイの製造法について説明する。第
3図はセラミックのマルチ白基板(1ツを示しており、
縦横にスナップライン(10(10・・・が穿設され、
複数個の基板(1000・・・に分割できるように形成
しである。そして、各基板(+o)Qo)・・・には夫
々複数のスルーホール(I l)01)・・・が開穿さ
れている。本実施例に於てはマルチ白基板6つの材料に
セラミック材を使用し、スルーホールO1)の孔径は2
50メ鵬程度にしであるが、特に之に限定せられるべき
ではなく、エポキシ、フェノール樹脂、ベークライト等
の基板であってもよい。セラミック材の場合にはスルー
ホール(10を最小50μ−程度の孔径まで加工できる
。
3図はセラミックのマルチ白基板(1ツを示しており、
縦横にスナップライン(10(10・・・が穿設され、
複数個の基板(1000・・・に分割できるように形成
しである。そして、各基板(+o)Qo)・・・には夫
々複数のスルーホール(I l)01)・・・が開穿さ
れている。本実施例に於てはマルチ白基板6つの材料に
セラミック材を使用し、スルーホールO1)の孔径は2
50メ鵬程度にしであるが、特に之に限定せられるべき
ではなく、エポキシ、フェノール樹脂、ベークライト等
の基板であってもよい。セラミック材の場合にはスルー
ホール(10を最小50μ−程度の孔径まで加工できる
。
第4図はマルチ白基板(へ)の中の1つの基板(ロ)を
拡大したも−ので、スルーホール01)00・・・は基
板(In)の長手方向に1列に開穿しであるが、用途に
応じて複数列にスルーホール(l I)(I t)・・
・を設けてもよい。尚、1つの基板(IIについて製造
工程を説明するが、これは前記マルチ白基板(至)に於
て同一工程で各基板(1Φ0Φ・・・に同時に加工する
ものである。
拡大したも−ので、スルーホール01)00・・・は基
板(In)の長手方向に1列に開穿しであるが、用途に
応じて複数列にスルーホール(l I)(I t)・・
・を設けてもよい。尚、1つの基板(IIについて製造
工程を説明するが、これは前記マルチ白基板(至)に於
て同一工程で各基板(1Φ0Φ・・・に同時に加工する
ものである。
第5図に示すように、基板0Φの一面からスルーホール
0000・・・に抵抗ペースト(ロ)を−回又は数回印
刷し、スルーホール(I I)(I I)・・・内の略
珂の深さまで埋込む。この抵抗ペースト(ロ)はカーボ
ンと樹脂を混合したカーボン系ペーストを使用している
が、之に限定せられるべきではなく、ルテニウム系ペー
ストを使用してもよい。カーボン系ペーストを使用した
場合は、約100〜150℃の温度で乾燥させ、更に、
基板0Φの他面からも抵抗ベース)(r7)を−回又は
数回印刷し、スルーホールQ +)Q 9・・・内の残
った空間部を埋込んで乾燥する。
0000・・・に抵抗ペースト(ロ)を−回又は数回印
刷し、スルーホール(I I)(I I)・・・内の略
珂の深さまで埋込む。この抵抗ペースト(ロ)はカーボ
ンと樹脂を混合したカーボン系ペーストを使用している
が、之に限定せられるべきではなく、ルテニウム系ペー
ストを使用してもよい。カーボン系ペーストを使用した
場合は、約100〜150℃の温度で乾燥させ、更に、
基板0Φの他面からも抵抗ベース)(r7)を−回又は
数回印刷し、スルーホールQ +)Q 9・・・内の残
った空間部を埋込んで乾燥する。
然る後に、250℃程度の温度で焼付けを行って、第6
図に示すように各スルーホール(l 1)(l l)・
・・内に抵抗体(LD<12・・・を形成する。該抵抗
体(ロ)の抵抗値はカーボンの含有量を適宜調整して任
意に設定でき、スルーホールQ +)の孔径の大小によ
っても抵抗値を変更できる。尚、ルテニウム系ペースト
を使用する場合はペーストにガラス成分が含有されてい
るので、印刷後に約850℃程度で焼成を行って抵抗体
(ロ)を形成する。而して、スルーホール(I +)内
に抵抗体(12を埋設した基板(l[f)の両面へニッ
ケル又は銅の化学メツキを施し、これを電極としてその
表面に銅の電気メツキを施す。
図に示すように各スルーホール(l 1)(l l)・
・・内に抵抗体(LD<12・・・を形成する。該抵抗
体(ロ)の抵抗値はカーボンの含有量を適宜調整して任
意に設定でき、スルーホールQ +)の孔径の大小によ
っても抵抗値を変更できる。尚、ルテニウム系ペースト
を使用する場合はペーストにガラス成分が含有されてい
るので、印刷後に約850℃程度で焼成を行って抵抗体
(ロ)を形成する。而して、スルーホール(I +)内
に抵抗体(12を埋設した基板(l[f)の両面へニッ
ケル又は銅の化学メツキを施し、これを電極としてその
表面に銅の電気メツキを施す。
斯くして、第7図に示すように、基板(10)の両面に
銅の導電層(四(峰が形成され、導電層(時と抵抗体(
0とは電気的に導通する。然る後、エツチング処理によ
って該導電層@(財)の不要部分を除去し、第8図に示
すように電極端子θ→θ専・・・を形成する。上記製造
工程までは、前記マルチ白基板(へ)に於て同時に各基
板(l[o (IQ)・・・に加工され、然る後、第3
図に示したスナップライン(II(1→・・・を切欠し
下側々の基板Qo)θの・・・に分割し、夫々の電極端
子θI(In・・・にり一ド端子(→(ゆ・・・を接続
して絶縁材で被覆すれば、第1図及び第2図に示したよ
うな抵抗アレイが形成される。
銅の導電層(四(峰が形成され、導電層(時と抵抗体(
0とは電気的に導通する。然る後、エツチング処理によ
って該導電層@(財)の不要部分を除去し、第8図に示
すように電極端子θ→θ専・・・を形成する。上記製造
工程までは、前記マルチ白基板(へ)に於て同時に各基
板(l[o (IQ)・・・に加工され、然る後、第3
図に示したスナップライン(II(1→・・・を切欠し
下側々の基板Qo)θの・・・に分割し、夫々の電極端
子θI(In・・・にり一ド端子(→(ゆ・・・を接続
して絶縁材で被覆すれば、第1図及び第2図に示したよ
うな抵抗アレイが形成される。
而して、上記抵抗アレイは基板00)のスルーホールQ
Q Q t)・・・内に抵抗体(6)を埋設したこと
によって基板θ0)の面上に抵抗素子が突出せず、抵抗
素子の占める面積を小とすることができる。又、デジタ
ル回路に於ける抵抗アレイは、抵抗値の誤差の許容範囲
が比較的広いためカーボン系の抵抗ペーストで十分であ
り、アナログ回路では必要に応じて基板面上に抵抗体を
形成してもよい。
Q Q t)・・・内に抵抗体(6)を埋設したこと
によって基板θ0)の面上に抵抗素子が突出せず、抵抗
素子の占める面積を小とすることができる。又、デジタ
ル回路に於ける抵抗アレイは、抵抗値の誤差の許容範囲
が比較的広いためカーボン系の抵抗ペーストで十分であ
り、アナログ回路では必要に応じて基板面上に抵抗体を
形成してもよい。
尚、この発明は、この発明の精神を逸脱しない限り種々
の改変を為す事ができ、そして、この発明が該改変せら
れたものに及ぶことは当然である。
の改変を為す事ができ、そして、この発明が該改変せら
れたものに及ぶことは当然である。
[発明の効果]
この発明は上記一実施例に詳述したように、基板に開穿
した複数のスルーホール内に抵抗体を設けて抵抗アレイ
が形成されている。依って、基板の面上に抵抗体が突出
せず、基板を薄型且つ小型に形成することができる。又
、カーボン系抵抗ペーストを使用する場合には、比較的
低温度で乾燥定着ができるので基板強度に悪影響を与え
ず、且つ、材料が安価で作業性も良好でありコストダウ
ンとなる。而して、従来型の抵抗アレイと比較して可及
的に小型化したことによって、コンピュータのCPtJ
やICなどの電子回路の小型化に貢献できる等諸種の効
果を奏する発明である。
した複数のスルーホール内に抵抗体を設けて抵抗アレイ
が形成されている。依って、基板の面上に抵抗体が突出
せず、基板を薄型且つ小型に形成することができる。又
、カーボン系抵抗ペーストを使用する場合には、比較的
低温度で乾燥定着ができるので基板強度に悪影響を与え
ず、且つ、材料が安価で作業性も良好でありコストダウ
ンとなる。而して、従来型の抵抗アレイと比較して可及
的に小型化したことによって、コンピュータのCPtJ
やICなどの電子回路の小型化に貢献できる等諸種の効
果を奏する発明である。
【図面の簡単な説明】
第1図乃至第8図は本発明の一実施例を示しており、第
1図は抵抗アレイの平面図、第2図は第1図のA−A線
断面図、第3図はマルチ白基板の平面図、第4図は基板
の平面図、第5図乃至第8図は夫々抵抗アレイの製造法
の手順を示す第4図B−B線位置の縦断面図である。第
9図は従来型の抵抗アレイの平面図、第1O図は同側面
図である。 Qo)・・・・・・M 板(l 1)・・・・・・スル
ーホール(か・・・・・抵抗体 (11・・・
・・・電極端子(14)・・・・・・リード端子 第1図
1図は抵抗アレイの平面図、第2図は第1図のA−A線
断面図、第3図はマルチ白基板の平面図、第4図は基板
の平面図、第5図乃至第8図は夫々抵抗アレイの製造法
の手順を示す第4図B−B線位置の縦断面図である。第
9図は従来型の抵抗アレイの平面図、第1O図は同側面
図である。 Qo)・・・・・・M 板(l 1)・・・・・・スル
ーホール(か・・・・・抵抗体 (11・・・
・・・電極端子(14)・・・・・・リード端子 第1図
Claims (1)
- 基板に複数のスルーホールを開穿し、該スルーホール
内に抵抗体を形成し、前記基板の両面に抵抗体の電極端
子を設け、該電極端子にリード端子を接続して形成した
ことを特徴とする抵抗アレイ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1081150A JPH02260507A (ja) | 1989-03-31 | 1989-03-31 | 抵抗アレイ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1081150A JPH02260507A (ja) | 1989-03-31 | 1989-03-31 | 抵抗アレイ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02260507A true JPH02260507A (ja) | 1990-10-23 |
Family
ID=13738405
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1081150A Pending JPH02260507A (ja) | 1989-03-31 | 1989-03-31 | 抵抗アレイ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02260507A (ja) |
-
1989
- 1989-03-31 JP JP1081150A patent/JPH02260507A/ja active Pending
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